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专利名称：一种自动光学检测方法
技术领域：
本发明设计光学检测领域，尤其是一种进行图像对比的自动光学检测方法。
背景技术：
自动光学检查(AOI, Automated Optical Inspection)为工业自动化有效的检测方法，使用机器视觉做为检测标准技术，大量应用于LCD/TFT、半导体与PCB以及菲林印刷工业制程上，在民生用途则可延伸至保全系统。自动光学检查是工业制程中常见的代表性手法，利用光学方式取得成品的表面状态，以影像处理来检出异物或图案异常等瑕疵，因为是非接触式检查，所以可在中间工程检查半成品。现有的光学检测方式一般包括两类，一种为线牲扫描的方式对产品表面进行扫描，其获取的整幅图像中一行内的像素由线扫描图像传感器曝光拍摄直接获得，而每一行的拍摄位置是通过精密机械走位实现，然后触发曝光拍摄获得一行图像。将扫描的结果图像与CAD理论数据进行比对来判断产品合格与否。·这中间由于光学镜头存在的畸变的原因，在比对前还需要畸变的修正，这需要很高的计算能力。此类设备由于对机械走位精度、线扫描传感器及光学镜头要求很高，所以价格异常的昂贵；第二种是通过照相机对产品表面进行拍摄，然后与CAD理论数据进行比对。通过拼接方式完成整幅图像的比对检测。由于拼接的精度要求比起线扫描低很多，所以此类设备的成本相对于线性扫描而言较为低廉，但是由于同样面临光学镜头引入的畸变问题，所以还是需要高规格的精密光学镜头以及后续的畸变修正运算。整个设备的成本依然很高。

发明内容
本发明提供了一种成本低，受畸变影响小、测试准确性高的自动光学检测方法。为了实现以上目的，本发明采用如下技术方案它包括步骤A、对合格产品进行扫描拍照获取合格产品图像；B、将待测产品放入检测位并对其定位，使其与合格产品的检测位一致；C、对定位后的待测产品进行扫描拍照，获取待测产品图像；D、将待测产品图像与合格产品图像进行比对。上述步骤中，所述的步骤B进一步包括步骤BI、确定出合格产品拍照时参考点所处位置；B2、将待测产品相应的参考点移动并调整角度使其与合格产品参考点相同的检测位置并重合。优选地，待测产品通过自动进料机构送入到测试位。优选地，所述的自动进料机构为设于检测位之前的传送带。由于采用了上述方法，本发明的自动光学检测方法使用检测图像与合格图像的比对方式取代以往的检测图像与CAD理论数据的比对方式，由于同一相机所产生的镜头畸变也大致相同，所以合格产品图像的畸变与待测产品图像的畸变也相同，所以本方法不需要使用高端的工业相机及光学镜头进行图像采集，也不需要后续的畸变修正计算，即可保证待测图像与合格图像的精确对比，不仅大幅降低了自动光学检测的成本，同时也保证了检测的精确性和合理性，即使由于定位导致细小误差也在可接受的范围内。


图I是本发明的总体步骤 流程示意图；图2是本发明的步骤B的具体流程图。
具体实施例方式如图I所示，本发明的自动光学检测方法提供了一种新的自动光学检测中的图像对比的算法，取代以往的检测图像与CAD理论数据的比对方式，利用同一相机所产生的畸变大致相同的原理，缩小检测图像与比对参照之间的误差，使检测结果更加接近真实情况，具体的，自动光学检测方法本实施例的包括步骤A、对合格产品进行扫描拍照获取合格产品图像，获取的合格产品图像作为后续的检测过程中拍摄的图像进行比对的参照，检测时设置一定的误差值，若比对结果在误差值范围内即视为待测产品合格，否则为不合格；B、将待测产品放入检测位并对其定位，使其与合格产品的检测位一致；由于在自动光学测试设备中光学相机镜头的位置是固定的，产品放置的位置不同即得到不同的拍摄结果，为了是保证产品测试的精确性，需要使待测产品拍照位置尽量与合格产品图像拍摄时的位置相同，所以需要对待测产品进行定位，具体的，如图2所示，本步骤进一步包括如下步骤BI、确定出合格产品拍照时参考点所处位置；B2、将待测产品相应的参考点移动并调整角度使其与合格产品参考点相同的检测位置并重合；上述的，参考点是图形中要对准一些关键点。此步骤可在拍摄工位上设置偏移位置和偏移角调整结构，在中心点重合后，通过调整偏移角度，使待测产品调整至与合格产品拍照时相同的X-Y坐标以及相同的角度，从而最大限度的保证待测产品拍照位置与合格产品图像的拍摄位置一致，精度在误差可接受范围内即可。上述的待测产品位置调整也可以通过先固定产品角度，然后通过X-Y轴调整结构来调整，无论上述哪种方式进行定位，其采用的机械结构在机械定位领域中均有涉及，可以进行参照和扩展。C、在待测产品定位好后，控制照相机对定位后的待测产品进行扫描拍照，获取待测产品图像；D、将待测产品图像与合格产品图像进行比对。在将待测产品放入检测位时，为了提高批量检测的效率并减少人工操作，可以通过自动进料结构来实现，例如通过传送带批量的将待测产品输送到检测位时，在通过调整机构进行调整对位。上述方法可以利用现有的采用照相机拍照的自动光学检测设备实现，对设备的控制程序和比对算法进行改动即可，所以不对具体的硬件进行展开说明。由上述具体实施方式
可知，本实施例中的自动光学检测方法中以合格产品的拍照图像作为对比参照，由于对比参照中已经存在了由于相机镜头畸变而造成的图像变形问题，所以这种比较算法的还原性更好，是检测结果更接近与真实结果，准确性更高。
以上所述仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
权利要求
1.一种自动光学检测方法，其特征在于，包括步骤 A、对合格产品进行扫描拍照获取合格产品图像； B、将待测产品放入检测位并对其定位，使其与合格产品的检测位一致； C、对定位后的待测产品进行扫描拍照，获取待测产品图像； D、将待测产品图像与合格产品图像进行比对
2.如权利要求I所述的自动光学检测方法，其特征在于，所述的步骤B进一步包括步骤 BI、确定出合格产品拍照时参考点所处位置； B2、将待测产品相应的参考点移动并调整角度使其与合格产品参考点相同的检测位置并重合。
3.如权利要求2所述的自动光学检测方法，其特征在于待测产品通过自动进料机构送入到测试位。
4.如权利要求3所述的自动光学检测方法，其特征在于所述的自动进料机构为设于检测位之前的传送带。
全文摘要
本发明设计光学检测领域，尤其是一种进行图像学习对比的自动光学检测方法。包括步骤对合格产品进行拍照获取合格产品图像；将待测产品放入检测位并对其定位，使其与合格产品的检测位置一致；对定位后的待测产品进行拍照，获取待测产品图像；将待测产品图像与合格产品图像进行比对。本发明的自动光学检测方法使用检测图像与合格图像的比对方式取代以往的检测图像与CAD理论数据的比对方式，不需要使用高端的工业相机镜头进行图像采集即可保证待测图像与合格图像的精确对比，不仅大幅降低了自动光学检测的成本，同时也保证了检测的精确性和合理性，即使由于定位导致细小误差也在可接受的范围内。
文档编号G01N21/956GK102901737SQ20111021307
公开日2013年1月30日 申请日期2011年7月27日 优先权日2011年7月27日
发明者邹旭东, 何忠亮 申请人:何忠亮