专利名称：一种用于固体变温荧光测试的样品夹具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种样品夹具，尤其是涉及用于片状或薄膜变温荧光光谱测试时，液氦闭循环系统的一种用于固体变温荧光测试的样品夹具。
背景技术：
荧光光谱仪是检测物质荧光或磷光发光的一种仪器设备。由于具有灵敏度高、选择性好、有利于分析复杂的多组分混合物、特异性好、操作简便等优点，已被广泛应用于生命科学、环境科学、食品科学、公安情况、工农业生产以及材料科学等诸多领域。进行荧光分析的样品可以是液体，装在荧光比色皿中检测，也可以使固体(包括片状、块状粉末或者薄膜)，放在固体样品夹具上测试。荧光光谱仪通常会连接一个温度控制系统，用于实时监测样品在温度变化条件下的光谱光谱。借助变温荧光分析可以研究温度对材料相关性能的影响。如高分子材料的相分离、结晶、无机发光材料的温度依赖性等。液氦闭循环控温系统，其固体样品温控范围为4.2 450K，常被用于荧光光谱仪的固体变温控制。该系统的固体样品夹具由两个空心不锈钢金属圆环组成，夹具组件的内槽直径为21.5mm,夹具抒合时环内空隙为1.5mm 样品固定在两环之间,通过金属圆环向样品传热来实现样品温度的变化。在这种情况下，热的传导方式是通过金属圆环从样品边缘向中心传导，然而样品一般为热的不良导体，这样的传热方式往往会导致控温仪上显示的温度(金属环的温度)和样品测试点的温度有很大的差异，出现严重的样品温度滞后问题。
发明内容[0005]本实用新型的目的在于针对现有的用于固体变温荧光测试的样品夹具存在系统在控温时存在的样品温度滞后问题，提供改进的一种用于固体变温荧光测试的样品夹具。本实用新型设有前夹具组件、后夹具组件和金属圆垫片，所述金属圆垫片设在前夹具组件和后夹具组件之间，金属圆垫片的直径与前夹具组件和后夹具组件的圆环内槽配接。所述金属圆垫片的厚度可为0.5 1.5mm。所述金属圆垫片可采用金、钼、银、铜等导热系数高的金属圆片。由于在前夹具组件和后夹具组件之间设有金属圆垫片，而且金属圆垫片采用导热系数高的金属圆片，金属圆片的直径与前夹具组件和后夹具组件的圆环内槽配接，因此在液氦闭循环控温系统原有样品夹具的基础上改善了传热效果，使热通过垫片均匀快速地向样品传导，显著改善了原有夹具给样品传热时存在的样品温度滞后问题。尤其是所述垫片可经精细打磨，表面非常光滑，这样样品与垫片可以贴合很紧密。本实用新型可让使用者更好地知道固体样品测试时的真实温度。变温荧光光谱测试是通过不同温度下光谱的特性变化来分析样品的性能，因此即使是垫片对样品的光谱产生影响，但是对整个变化趋势不会有影响，也不会影响使用者对性能变化的分析。本实用新型尤其适合于片状和薄膜样品的变温光谱测试。
图1为本实用新型实施例的结构组成分解示意图。图2为本实用新型实施例的结构组成剖面图。图3为本实用新型实施例的前夹具组件结构示意图。
具体实施方式
参见图1 3，本实用新型实施例设有前夹具组件1、后夹具组件2和铜圆垫片3，所述铜圆垫片3设在前夹具组件I和后夹具组件2之间，铜圆垫片3的直径与前夹具组件I和后夹具组件2的圆环内槽配接。所述前夹具组件I和后夹具组件2由螺钉4固接，所述铜圆垫片3的厚度为1.5mm,铜圆垫片直径为21.5mm。当用于测试薄膜样品时，样品直接贴附在铜圆垫片上；样品为片状(厚度比较大时)，可将样品夹在厚度小于1.5_的铜圆垫片和同直径的荧光片中间，再固定在夹具中测试。
权利要求1.一种用于固体变温荧光测试的样品夹具，其特征在于设有前夹具组件、后夹具组件和金属圆垫片，所述金属圆垫片设在前夹具组件和后夹具组件之间，金属圆垫片的直径与前夹具组件和后夹具组件的圆环内槽配接。
2.如权利要求1所述一种用于固体变温荧光测试的样品夹具，其特征在于所述金属圆垫片的厚度 为0.5 1.5_。
专利摘要一种用于固体变温荧光测试的样品夹具，涉及一种样品夹具。设有前夹具组件、后夹具组件和金属圆垫片，所述金属圆垫片设在前夹具组件和后夹具组件之间，金属圆垫片的直径与前夹具组件和后夹具组件的圆环内槽配接。由于在前夹具组件和后夹具组件之间设有金属圆垫片，而且金属圆垫片采用导热系数高的金属圆片，金属圆片的直径与前夹具组件和后夹具组件的圆环内槽配接，因此在液氦闭循环控温系统原有样品夹具的基础上改善了传热效果，使热通过垫片均匀快速地向样品传导，显著改善了原有夹具给样品传热时存在的样品温度滞后问题。尤其适合于片状和薄膜样品的变温光谱测试。
文档编号G01N21/64GK203083916SQ201320120308
公开日2013年7月24日 申请日期2013年3月15日 优先权日2013年3月15日
发明者罗伟昂, 戴李宗, 程玲, 毛杰, 余世荣, 曾碧榕, 许一婷, 何凯斌, 刘新瑜 申请人:厦门大学
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