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专利名称：精密顶针测试治具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种精密顶针测试治具。
技术背景 现有的顶针测试治具都采用单头顶针(只有一端可伸缩)，由于单头顶针不易焊接，且在测试过程中容易出现断针及顶针与产品接触不良等现象，故需针对此类顶针测试治具进行改进。

实用新型内容本实用新型的目的是克服现有技术存在的缺陷，提供一种其顶针不易断针，并与产品接触良好的精密顶针测试治具。本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是一种精密顶针测试治具，包括测试主板、底座和压盖，所述底座固定在测试主板上，所述压盖与底座转动连接并盖在底座上表面上，所述底座上表面上开有产品放置槽，在该产品放置槽的四周均设置有若干顶针孔，所述顶针孔中设置有顶针，所述顶针下端与测试主板上的测试点接触，其上端伸出顶针孔，所述顶针的上端和下端均为可伸缩结构。所述顶针由上下开口中空筒状的套筒、上顶针体、下顶针体和线性弹性体构成，所述上顶针体和下顶针体分别套接在套筒两端的开口内，且都伸出套筒，所述套筒内设置有线性弹性体，该线性弹性体的一端抵住上顶针体，其另一端抵住下顶针体。所述线性弹性体为线性弹簧。所述顶针孔为沉头孔。有益效果由于本治具的顶针两头都可伸缩，能与产品稳固接触，使产品点亮率有明显提升，且该种顶针不易断针，延长了治具的使用寿命。
以下结合附图
和具体实施方式
对本实用新型作进一步详细的说明。图I是本实用新型的优选实施例的结构示意图；图2是图I中顶针的放大结构示意图。其中1、测试主板；2、底座；21、产品放置槽；3、压盖；4、顶针；41、套筒；42、上顶针体；43、下顶针体；44、线性弹性体。
具体实施方式
如图I、图2所示的一种精密顶针测试治具，包括测试主板I、底座2和压盖3，所述底座2固定在测试主板I上，所述压盖3与底座2转动连接并盖在底座2上表面上，所述底座2上表面上开有产品放置槽21，在该产品放置槽21的四周均设置有若干顶针孔，所述顶针孔中设置有顶针4，所述顶针4下端与测试主板I上的测试点接触，其上端伸出顶针孔。[0014]所述顶针4的上端和下端均为可伸缩结构，优选实施方式所述顶针4由上下开口中空筒状的套筒41、上顶针体42、下顶针体43和线性弹性体44构成，所述上顶针体42和下顶针体43分别套接在套筒41两端的开口内，且都伸出套筒41，所述套筒41内设置有线性弹性体44，该线性弹性体44的一端抵住上顶针体42，其另一端抵住下顶针体43。所述线性弹性体44 为线性弹簧。所述顶针孔为沉头孔。应当理解，以上所描述的具体实施例仅用于解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。由本实用新型的精神所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本实用新型的保护范围之中。
权利要求1.一种精密顶针测试治具，包括测试主板(I)、底座(2)和压盖(3)，所述底座(2)固定在测试主板(I)上，所述压盖(3)与底座(2)转动连接并盖在底座(2)上表面上，所述底座(2)上表面上开有产品放置槽(21)，在该产品放置槽(21)的四周均设置有若干顶针孔，所述顶针孔中设置有顶针(4)，所述顶针(4)下端与测试主板(I)上的测试点接触，其上端伸出顶针孔，其特征在于所述顶针(4)的上端和下端均为可伸缩结构。
2.根据权利要求I所述的精密顶针测试治具，其特征在于所述顶针(4)由上下开口中空筒状的套筒(41)、上顶针体(42)、下顶针体(43)和线性弹性体(44)构成，所述上顶针体(42)和下顶针体(43)分别套接在套筒(41)两端的开口内，且都伸出套筒(41)，所述套筒(41)内设置有线性弹性体(44)，该线性弹性体(44)的一端抵住上顶针体(42)，其另一端抵住下顶针体(43)。
3.根据权利要求2所述的精密顶针测试治具，其特征在于所述线性弹性体(44)为线性弹黃。
4.根据权利要求I所述的精密顶针测试治具，其特征在于所述顶针孔为沉头孔。
专利摘要本实用新型涉及一种精密顶针测试治具，包括测试主板、底座和压盖，所述底座固定在测试主板上，所述压盖与底座转动连接并盖在底座上表面上，所述底座上表面上开有产品放置槽，在该产品放置槽的四周均设置有若干顶针孔，所述顶针孔中设置有顶针，所述顶针下端与测试主板上的测试点接触，其上端伸出顶针孔，所述顶针的上端和下端均为可伸缩结构。本实用新型提供了一种其顶针不易断针，并与产品接触良好的精密顶针测试治具。
文档编号G01R1/02GK202372529SQ201120536308
公开日2012年8月8日 申请日期2011年12月20日 优先权日2011年12月20日
发明者董超 申请人:群光电子(苏州)有限公司