专利名称：Led背光源检测系统的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及发光二极管(Light Emitting Diode,LED)面板领域,尤其是涉及一种LED背光源检测系统。
背景技术：
目前高端液晶面板都采用白光LED作为背光源。LED实现白光的方法有RGB三晶LED实现，或者用蓝光或紫外光激发荧光粉实现白光。现在 实现市场化的是用蓝光激发荧光粉实现白光的技术。与传统光源属于连续光谱相比较，白光LED是由蓝光和荧光光谱组成，其为不连续的光谱。这样，当白光LED的光色參数一致即在同一个Bin吋，由于其光谱的差异，经过液晶面板之后的RGB光色參数还是会产生差异，使得液晶面板出现色彩偏差及不均匀的现象。目前对应LED背光源的检测并没有特别有效及简便的方法，一般都是只是检测LED的白光光度參数和色度參数的一致性。但由于白光LED光谱的不连续性，造成经过液晶面板之后仍然存在色彩偏差。针对上述问题，现有技术有采用滤光片技术来对白光LED进行检测。其方法是采用4个探测器来同时检测LED背光源的光度參数和色度參数，其中一个探测器为检测白光光度、色度參数，另外三个分别安装滤光片，用来模拟经过液晶面板的R、G、B光谱。然后根据这4个探测器得到的数据对白光LED进行检測。该技术方案里然可以部分解决LED作为液晶面板背光源的色彩偏差的问题，但是仍然存在着如下问题I、由于每个液晶面板厂家或液晶面板型号的彩膜的透过率曲线不一致，因此该技术方案为了满足各个液晶面板厂家或液晶面板型号，需要设计一系列对应的滤光片来满足要求，检测相当繁琐，而且浪费资源。2、该技术方案采用多个探测器来模拟液晶面板的彩膜，每个探測器之间的差异将对测量带来一系列难以预见的问题。
实用新型内容本实用新型实施例提供了ー种LED背光源检测系统，用于有效地检测出LED背光源的问题，从而解决液晶面板色偏的问题，为液晶面板提供了高品质的LED背光源。本实用新型实施例提供了ー种LED背光源检测系统，系统包括检测控制装置、光谱测量仪、位移台、LED电源、LED背光源和光学探头，所述检测控制装置分别和所述光谱分析仪、所述位移台和所述LED电源相连，所述LED背光源和所述LED电源相连，且设置于所述位移台上，所述光学探头和所述光谱測量仪相连，用于测量所述LED背光源所发出的光谱信号。优选地，本实用新型实施例中背光源的发光面和所述光学探头的检测面相对，且彼此可以相对移动。优选地，本实用新型实施例中检测系统通过模拟液晶面板彩膜透过率算法来将所述光学探头测得的光谱信号分解成RGB光谱，进而得到RGB光度參数和色度參数。优选地，本实用新型实施例中检测系统还通过所述RGB光度參数、色度參数判断所述LED背光源是否合格。本实用新型实施例采用了一个光谱測量仪以及ー个光学探头来探測背光源LED的光谱，不但可以有效地检测出LED背光源的问题，解决液晶面板色彩偏差的问题，为液晶面板提供了高品质的LED背光源，而且不需要准备一系列滤光片，減少了成本。
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅·是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图I为本实用新型实施例提供的ー种LED背光源检测系统的结构示意图；图2为本实用新型实施例提供的LED背光源检测流程示意图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合具体实施方式
和附图，对本实用新型做进ー步详细说明。在此，本实用新型的示意性实施方式及其说明用于解释本实用新型，但并不作为对本实用新型的限定。如图I所示为本实用新型实施例提供的ー种LED背光源检测系统的结构示意图，该系统包括检测控制装置110、光谱测量仪120、位移台130、LED电源140、LED背光源150和光学探头160。检测控制装置110分别和光谱分析仪120、位移台130及LED电源140相连，LED背光源150和LED电源140相连，LED背光源150设置于位移台130上，光学探头160和光谱测量仪120相连。在本实施例中，位于移位台130上的LED背光源150和光学探头160之间可以相对移动，LED背光源150的发光面和光学探头160的检测面相对，LED背光源150所发出的光谱信号可以被光学探头160所检测到，而后光学探头160会将检测到的光谱信号发送给光谱测量仪120。在本实施例中，检测控制装置110用于控制光谱分析仪120开始或停止光谱分析，也可以控制移位台130进行移动，另外还可以控制LED电源140的开启和断开。在本实施例中，检测控制装置110可以为计算机，或者ー专门的控制电路，或者是其他具有控制功能的器件，这在本实施例中并不加以限定。在本实施例中，LED背光源150可以为单个白光LED或由若干白光LED组成的LED灯条，当采用LED灯条时，通过控制移位台130移动，可以实现快速检测多个白光LED的功倉^:。光谱测量仪120内置ー处理器，该处理器可以通过模拟液晶面板彩膜透过率算法来将所述光学探头测得的光谱信号分解成RGB光谱，进而得到RGB光度參数和色度參数，最后通过该RGB光度參数和色度參数判断LED背光源是否合格。在本实施例中，光谱测量仪120可以采用现有的一些光谱测量仪，而且模拟算法除了可以由光谱测量仪内置的处理器来完成外，还可以由光谱测量仪外部的处理器，比如计算机来完成。下面对本实用新型实施例的工作流程进行说明，如图2所示为本实用新型实施例提供的LED背光源检测流程示意图，该检测流程包括如下步骤SlOl :光学探头接收LED背光源发出的光信号，并将该光信号传输给光谱测量仪。S102 :光谱测量仪根据得到的光信号计算得到光谱信号，并利用模拟液晶面板的彩膜透过率将该光谱信号分解为RGB光谱信号。S103 :检测系统根据RGB光谱信号计算得到RGB信号的光度參数和色度參数。S104 :检测系统以RGB信号的光度參数和色度參数为依据对背光源的品质进行判 定。同样的，步骤S103和步骤S104比如可以由光谱测量仪内置的处理器来完成，也可以由外部处理器来完成。本实用新型实施例采用了一个光谱測量仪以及ー个光学探头来探測背光源LED的光谱，不但可以有效地检测出LED背光源的问题，解决液晶面板色偏的问题，为液晶面板提供了高品质的LED背光源，而且不需要准备一系列滤光片，減少了成本。以上所述的具体实施方式
，对本实用新型的目的、技术方案和有益效果进行了进一歩详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本实用新型的具体实施方式
而已，并不用于限定本实用新型的保护范围，凡在本实用新型的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1.ー种LED背光源检测系统，其特征在于，所述系统包括检测控制装置、光谱测量仪、位移台、LED电源、LED背光源和光学探头，所述检测控制装置分别和所述光谱分析仪、所述位移台和所述LED电源相连，所述LED背光源和所述LED电源相连，且设置于所述位移台上，所述光学探头和所述光谱測量仪相连，用于测量所述LED背光源所发出的光谱信号。
2.如权利要求I所述的LED背光源检测系统，其特征在于，所述背光源的发光面和所述光学探头的检测面相对，且彼此可以相对移动。
3.如权利要求I所述的LED背光源检测系统，其特征在于，还包括用于通过模拟液晶面板彩膜透过率算法来将所述光学探头测得的光谱信号分解成RGB光谱，进而得到RGB光度參数和色度參数的处理器。
专利摘要本实用新型实施例提供了一种LED背光源检测系统，该系统包括检测控制装置、光谱测量仪、位移台、LED电源、LED背光源和光学探头，所述检测控制装置分别和所述光谱分析仪、所述位移台和所述LED电源相连，所述LED背光源和所述LED电源相连，且设置于所述位移台上，所述光学探头和所述光谱测量仪相连，用于测量所述LED背光源所发出的光谱信号。本实用新型实施例可以有效地检测出LED背光源的问题，从而解决液晶面板色偏的问题，为液晶面板提供了高品质的LED背光源。
文档编号G01M11/02GK202511958SQ20112050934
公开日2012年10月31日 申请日期2011年12月8日 优先权日2011年12月8日
发明者叶磊, 蔡宏太 申请人:北京卓立汉光仪器有限公司
专业数控铣床产品供应商
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