专利名称：一种非晶带材厚度的测量方法及装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及非晶带材领域，尤其涉及一种非晶带材厚度的测量方法及装置。
背景技术：
非晶合金带材采用的是冷却速度大约106°C /秒的超急冷凝固技术，从钢液到薄带成品的一次成型制备而成的。与传统的金属磁性材料相比，由于非晶合金原子排列无序，没有晶体的各向异性，且电阻率高，因此具有高的导磁率和低的铁损，是优良的软磁材料，代替硅钢、坡莫合金和铁氧体等作为变压器铁芯、互感器等，可大大提高变压器效率、缩小体积、降低能耗。由于非晶合金制造过程节能，同时其磁性能优良，并能够降低变压器使用过程中的损耗，因此被称为二十一世纪绿色材料、电子材料。目前多采用X射线法和激光法对非晶带材进行在线测厚，它们具有相同的优点，既能够实现对带材厚度实时检测，从而对生产过程起到指导作用，但它们各自也存在很多缺陷。X射线法的缺陷主要包括x射线测厚仪体积庞大、不易维护、使用时需要经常校准且射线发射管易老化、辐射污染强等；在线测厚时由于刚喷制出的带材表面热量未完全散去，导致测量所得厚度值误差较大。激光法测厚则对测量环境要求相对较高，如温度、空气中粉尘度等，而非晶带材生产过程中高温、粉尘多的恶劣环境会影响测量结果的准确性。要想准确把握生产出的非晶带材的厚度，从而为客户提供准确的带材信息，提高市场竞争力，则需要克服上述现有技术存在的弊端，探索出一种能够准确测量非晶带材厚度的方法，保证所得结果准确率高、误差小。
发明内容
本发明的目的是克服以上现有技术存在的缺陷，实现对带材厚度的准确测量，测
量精度高、误差小。为此，在第一方面，本发明提供一种非晶带材厚度的准确测量方法，所述方法采用高精度电磁式微位移传感器，在非晶带材生产的分卷环节，在接近导辊的位置安装高精度电磁式微位移传感器，通过检测微位移传感器探头到导辊表面的距离变化，根据检测得到的传感器探头到导辊表面的距离变化确定非晶带材厚度。为此，在第二方面，本发明提供一种非晶带材厚度的测量装置，其特征在于，所述装置包括带材分卷装置、电磁式微位移传感器、PLC控制器，所述带材分卷装置的主要作用是将自动卷取后的带材进行分卷；所述电磁式微位移传感器用于测量非晶带材厚度的变化；所述PLC控制器从测量得到的非晶带材厚度的变化中计算得到非晶带材厚度；优选地，测量装置包括上位机，所述上位机接收来自PLC控制器的结果，直观的显示带材的厚度结果及变化曲线。优选地，所述带材分卷装置包括放卷机、收卷机及过渡辊系，其中过渡辊系又包括三个导辊，主要作用是将自动卷取后的带材进行分卷。优选地，所述电磁式微位移传感器安装在带材分卷装置过渡辊系中第二个导辊的正上方，精准捕捉物体的微小位移变化。优选地，所述上位机还具有存储数据、自动生成厚度检测报告的功能。根据本发明实施例可精确地表征带材的厚度，测量环境良好，干扰较少。
图1是根据本发明实施例的一种非晶带材厚度的测量方法的逻辑框图。图2是根据本发明实施例的一种非晶带材厚度的测量装置的结构示意图。
具体实施例方式下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。为了准确测量非晶带材的厚度，本发明采用高精度电磁式微位移传感器，在非晶带材生产的分卷环节，在例如接近导辊的位置安装高精度电磁式微位移传感器，通过检测微位移传感器探头到导辊表面的距离变化，及时反馈给PLC进行信号转换、数据处理，传送给上位机，在上位机上即可精确的表征带材的厚度，测量环境良好，干扰较少。图2是根据本发明实施例的一种非晶带材厚度的测量装置的结构示意图。如图2所示，该实施例的一种非晶带材厚度的准确测量装置，包括带材分卷装置、电磁式微位移传感器、PLC控制器及上位机，所述带材分卷装置包括放卷机、收卷机及过渡辊系，其中过渡辊系又包括三个导辊。所述分卷装置的主要作用是将自动卷取后的带材进行分卷，即大卷分卷成卷径相同的小卷；过渡辊系主要起减震、提高平稳性的作用，减小从放卷机轴传递出的带材的抖动、颠簸。所述电磁式微位移传感器可以采用目前世界上较先进的电磁传感器，分辨率可达
O.02um,测量精度达O. 5um，能够精准捕捉物体的微小位移变化，测量精度高，将其安装在带材分卷装置过渡辊系中第二个导辊的正上方。所述PLC控制器为实现本测量装置的信号采集处理、分析计算等功能。所述上位机接收来自PLC控制器的结果，现场操作人员能够通过上位机直观的看到带材的厚度结果及变化曲线。在非晶带材分卷装置中，将电磁式微位移传感器I固定在过渡辊系第二个导辊4的正上方，电磁式微位移传感器I米集电磁式微位移传感器探头至第二个导棍4表面之间的距离信号。在无带材通过导辊时，PLC采集距离信号，经过信号的转换处理，换算成第一位移信号SI ;同理，当有带材通过导辊时，得到的距离信号换算成第二位移信号S2，PLC将第一位移信号SI和第二位移信号S2进行运算处理，得到带材厚度AS = S1-S2，将计算结果传输至上位机，现场操作人员即可通过上位机直观的得到带材的厚度及变化曲线。同时上位机还可存储数据结果，以便后续进行查找或追溯；出具检测出的厚度报告，为客户提供准确、直观的带材厚度信息。应当理解，根据本发明的一种非晶带材厚度的准确测量装置，可以包括采样�？楹驮怂隳？椋衔换梢园ㄏ允酒鳎糜谙允臼莺捅浠�。以上所述的具体实施方式
，对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本发明的具体实施方式
而已，并不用于限定本发明的保护范围，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
权利要求
1.一种非晶带材厚度的测量方法，所述方法:采用高精度电磁式微位移传感器，在非晶带材生产的分卷环节，在接近导辊的位置安装高精度电磁式微位移传感器，通过检测传感器探头到导辊表面的距离变化，根据检测得到的传感器探头到导辊表面的距离变化确定非晶带材厚度。
2.一种非晶带材厚度的测量装置，其特征在于，所述装置包括:带材分卷装置、电磁式微位移传感器、PLC控制器， 所述带材分卷装置的主要作用是将自动卷取后的带材进行分卷； 所述电磁式微位移传感器用于测量非晶带材厚度的变化； 所述PLC控制器从测量得到的非晶带材厚度的变化中计算得到非晶带材厚度。
3.根据权利要求2所述的一种非晶带材厚度的测量装置，其特征在于，包括上位机，所述上位机接收来自PLC控制器的结果，直观的显示带材的厚度结果及变化曲线。
4.根据权利要求2所述的一种非晶带材厚度的测量装置，其特征在于，所述带材分卷装置包括放卷机、收卷机及过渡辊系，其中过渡辊系又包括三个导辊，主要作用是将自动卷取后的带材进行分卷。
5.根据权利要求2所述的一种非晶带材厚度的测量装置，其特征在于，所述电磁式微位移传感器安装在带材分卷装置过渡辊系中第二个导辊的正上方，精准捕捉物体的微小位移变化。
6.根据权利要求2所述的上位机，其特征在于，所述上位机还具有存储数据、自动生成厚度检测报告的功能 。
全文摘要
本发明公开一种非晶带材厚度的测量方法及装置。包括带材分卷装置、电磁式微位移传感器、PLC控制器，所述带材分卷装置的主要作用是将自动卷取后的带材进行分卷；所述电磁式微位移传感器用于测量非晶带材厚度的变化；所述PLC控制器从测量得到的非晶带材厚度的变化中计算得到非晶带材厚度。测量环境良好，干扰较少，从而为客户提供非晶带材准确的厚度信息。
文档编号G01B7/06GK103075956SQ201210583310
公开日2013年5月1日 申请日期2012年12月28日 优先权日2012年12月28日
发明者李晓雨, 王玲, 姜宁, 李晨, 王安庆 申请人:青岛云路新能源科技有限公司
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