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专利名称：一种精密圆锥体的测量方法
技术领域：
本发明涉及測量器具设计技术领域，更具体地说，涉及ー种精密圆锥体的測量方法。
背景技术：
在生产实践中，对于精密圆锥体零件的锥体部分各尺寸的制造精度要求比较严格，锥形的长度、斜度及直径尺寸公差应该满足精密圆锥体零件几何公差要求。精密圆锥体零件在精加工前，先平磨两端面使两端面不平行度不大于0.01毫米，将该两端面作为校正和测量的基准。请參阅

图1，在精加工吋，精密圆锥体的斜角a的加工精度可以通过调整加 エ装置的小刀架的转动角度来达到，锥形的长度L3的加工精度可以通过深度卡尺来达到， 所以保证精密圆锥体零件的精度的关键在于如何保证精密圆锥体较小一端的端面直径L1 和较大一端的端面直径L2的加工精度。目前，很多公司生产精密圆锥体零件都属于小批量生产，所以公司内部没有针对精密圆锥体零件加工的专业机床夹具和測量工具，因此在加工过程中通常采用游标卡尺的方法来直接測量精密圆锥体的较小一端的端面直径L1,再利用较小一端的端面直径L1、锥形斜角a和锥形长度L3換算得到较大一端的端面直径L2，进而得出精密圆锥体零件的加工精度，然而使用游标卡尺测量较小一端的端面直径L1吋，由于精密圆锥体的斜面有一定角度，所以往往不能将游标卡尺的卡脚正好卡在较小一端端面直径的两端，而是卡在距离较小一端端面一段距离的地方，所以直接测量较小一端的端面直径L1得出的结果往往误差比较大，不能准确地得到精密圆锥体零件较小一端的端面直径L1的加工精度。因此，如何提供ー种精密圆锥体的測量方法，能够更加准确地得到精密圆锥体较小一端的端面直径L1,从而准确的得到精密圆锥体较小一端的端面直径L1的加工精度，是目前本技术领域的人员亟待解决的问题。

发明内容
有鉴于此，本发明的目的在于提供ー种精密圆锥体的測量方法，该方法能够更加准确地得到精密圆锥体较小一端的端面直径，从而准确的得到精密圆锥体较小一端的端面直径的加工精度。为了达到上述目的，本发明提供如下技术方案—种精密圆锥体的測量方法，具体步骤为1)将精密圆锥体较小一端端面紧贴在平板的測量基准面上；2)将两个圆柱量棒分別置于所述精密圆锥体小端的两侧，且使得两个所述圆柱量棒平行，每个所述圆柱量棒与该精密圆锥体的斜面和所述测量基准面贴合；3)測量两个所述圆柱量棒相背离的两个最外侧点的垂直距离，得到測量数据D ；4)按照以下公式得出所述精密圆锥体的较小一端的端面直径；
权利要求
1.ー种精密圆锥体的測量方法，其特征在干，具体步骤为。1)将精密圆锥体(4)较小一端端面紧贴在平板(1)的測量基准面上；。2)将两个圆柱量棒( 分別置于所述精密圆锥体(4)小端的两侧，且使得两个所述圆柱量棒平行，每个所述圆柱量棒与该精密圆锥体的斜面和所述测量基准面贴合；。3)測量两个所述圆柱量棒( 相背离的两个最外侧点的垂直距离，得到測量数据D；。4)按照以下公式得出所述精密圆锥体的较小一端的端面直径；
2.根据权利要求1所述的精密圆锥体的測量方法，其特征在干，步骤幻具体为用千分尺C3)測量两个所述圆柱量棒( 相背离的两个最外侧点的垂直距离，得到测量数据D。
3.根据权利要求2所述的精密圆锥体的測量方法，其特征在干，在步骤1)和步骤2)之间还包括用千分尺(3)的活顶针顶住平板(1)的定位孔。
4.根据权利要求1所述的精密圆锥体的測量方法，其特征在干，在步骤幻和步骤3)之间还包括用压条( 将两个所述圆柱量棒O)固定。
5.根据权利要求1所述的精密圆锥体的測量方法，其特征在干，步骤4)之后，还包括 測量精密圆锥体的长度和精密圆锥体斜角的角度；按照以下公式得出精密圆锥体(4)较大一端端面直径； D0 = d+2Ltgα其中，Dtl为较大一端端面的实际直径尺寸； d为较小一端端面的实际直径尺寸； L为精密圆锥体的实际长度尺寸； α为精密圆锥体斜角的实际角度。
全文摘要
本发明公开了一种精密圆锥体的测量方法，具体步骤为将精密圆锥体较小一端端面紧贴在平板的测量基准面上；将两个圆柱量棒分别置于所述精密圆锥体小端的两侧，且使得两个所述圆柱量棒平行，每个所述圆柱量棒与该精密圆锥体的斜面和所述测量基准面贴合；测量两个所述圆柱量棒相背离的两个最外侧点的垂直距离，得到测量数据D；按照公式得出所述精密圆锥体的较小一端的端面直径。本发明提供的精密圆锥体的测量方法不是直接测量精密圆锥体的较小一端的端面直径，而是利用圆柱量棒间接的测量计算得到较小一端的端面直径，能够更加准确地得到精密圆锥体零件较小一端的端面直径，从而准确的得到精密圆锥体零件较小一端的端面直径的加工精度。
文档编号G01B5/08GK102538633SQ20111041854
公开日2012年7月4日 申请日期2011年12月14日 优先权日2011年12月14日
发明者尹茂建, 杨爱华, 贾秀梅, 颜莉 申请人:莱芜钢铁集团有限公司