专利名称：光透沉降式粒度分析仪光扫描机构的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及的是光透沉降式粒度分析仪的结构改进技术。
背景技术：
光透沉降式粒度分析仪广泛地应用于金属、非金属、金属氧化物、催化剂、荧光粉、陶瓷材料、耐火材料、各种浆料、悬浮液等测试领域中。在光定点扫描粒度分析仪中，其光扫描测试部分的结构组成为包括有凸轮式光扫描机构、透镜样品槽、积分球光电转换器，其凸轮式光扫描机构用于将平方凸轮的旋转运动转化为由悬臂带动凹面反光镜在一定转角范围内反射光线的上下往复运行，实现光线在透镜样品槽的往复扫描，经透镜样品槽侧面设置的凸透镜使光线平行均匀透过样品，再通过另一侧的凸透镜聚焦于积分球上，由光电转换器采集电信号值、由中央控制单元进行数据处理实现测量分析。由上可知，该测试结构极为复杂，特别是平方凸轮的加工、安装以及光路调整上均较为困难，其繁琐的光路结构导致其光学器件加工难度大、安装操作要求高，也会因此加大测量误差，而且还存在整体仪器制造成本高等技术问题。
实用新型内容本实用新型的发明目的在于提供一种光路结构简单的光透沉降式粒度分析仪光扫描机构。本实用新型的光透沉降式粒度分析仪光扫描机构技术方案，其主要技术内容是一种光透沉降式粒度分析仪光扫描机构，该机构中的光源透射部分和光接收部分位于样品槽的两相对侧同一直线光路设置，光源透射部分和光接收部分固定设置在平行于样品槽直线运行的一升降平台上，其光源透射部分是由光源和升降平台支撑架镜筒中设置的准直透镜和狭缝构成。
本实用新型公开的光透沉降式粒度分析仪光扫描机构技术方案，其光源透射部分和光接收部分共同设置于随着直线上下运行的升降平台上，由其直线光路对样品槽的样品实施往复光扫描测试，取代了原有平方凸轮及悬臂的机械构造，由一准直透镜和狭缝及光接收器件替代了原有复杂的光路和光电转换结构，因而极大地简化了光扫描机构组成，对其零部件加工、安装和调试等都极为简便，且易于对光扫描机构的运行实施更为方便和灵活地精确控制，因此大大提高了测试精度、扩大了测试范围。由于本技术结构简单、构成元件少、易于组装和调试，其成本也明显随之降低。
附图为本实用新型光透沉降式粒度分析仪光扫描机构的总装结构示意图。
具体实施方式
如图所示，本实用新型的光透沉降式粒度分析仪光扫描机构，该机构中的光源透射部分和光接收部分12位于样品槽11的两相对侧同一直线光路设置，两部分均固定设置于同一升降平台13上，该升降平台13由步进电机2带动作与样品槽相平行的直线运行，在本实施例中，该升降平台13螺旋设置于电机螺杆输出轴3上，为实现直线导向运行，与升降平台13一体设有由直线运行滑道9导向的滑块8。设置于样品槽11一侧为光源透射部分，由光源5和升降平台支撑架镜筒7中设置的准直透镜6与狭缝10构成；升降平台13上位于样品槽11的另一侧为光接收部分12，在本实施例中，该光接收部分12采用的是光电池。其光扫描工作是由仪器的中央控制单元对步进电机驱动电路输出相应的控制信号，精确控制步进电机的运行，驱动光扫描部分对样品槽内的样品进行严格的光扫描。
权利要求1.一种光透沉降式粒度分析仪光扫描机构，其特征在于该机构中的光源透射部分和光接收部分(12)位于样品槽(11)的两相对侧同一直线光路设置，光源透射部分和光接收部分固定设置在平行于样品槽直线运行的升降平台(13)上，其光源透射部分是由光源(5)和升降平台支撑架镜筒中设置的准直透镜(6)和狭缝(10)构成。
专利摘要为解决现有光透沉降式粒度分析仪光扫描测试部分结构复杂、光学器件加工难度大、安装操作要求高等技术难题，本实用新型提供的光透沉降式粒度分析仪光扫描机构技术方案，将同一光路设置的光源透射部分和光接收部分设置于样品槽的两侧同步升降平台上，由直线光路对样品槽的样品实施往复光扫描测试，由一准直透镜和狭缝及光接收器件替代了原有复杂的光路和光电转换结构，整体结构大为简化，并易于组装和调试，成本明显降低。
文档编号G01N21/17GK2867338SQ200520146119
公开日2007年2月7日 申请日期2005年12月30日 优先权日2005年12月30日
发明者贾界东, 张俊国, 吴庆贺, 邢宇铮 申请人:辽宁仪表研究所有限责任公司
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