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天线板及其测试方法

时间:2025-05-04    作者: 管理员

专利名称:天线板及其测试方法
技术领域:
本发明是有关于一种天线板,特别是有关于一种天线板的测试方法。
背景技术:
天线板(Sensor Board)应用于电磁感应式的手写输入用数字板,在天线板制作完成后,需进行电性测试,借以确保天线板的质量。图IA与图IB分别显示传统天线板100的示意图与测试方法300的流程图。如图IA所示,该传统天线板100包含一测试区域110、一连接器区域120、一第一天线回路130以及一第二天线回路140。其中,多数的测试点位于该测试区域110,例如,该等测试点可包含一共同测试点111、一第一测试点112以及一第二测试点113。
连接器区域120具有一连接器121,测试区域110位于该连接器区域120附近。第一天线回路130包含一第一回路部分131、一第一导线132以及一第二导线133。其中,第一导线132穿过连接器121电性连接至第一测试点112,第二导线133穿过连接器121电性连接至共同测试点111。另外,第二天线回路140包含一第二回路部分141、一第三导线142以及一第四导线143。其中,第三导线142穿过连接器121电性连接至第二测试点113,第四导线143穿过连接器121电性连接至共同测试点111。如图IB所示,传统天线板100的测试方法300包含下列步骤。首先,进行步骤310,提供前述的天线板100,该天线板100包含一测试区域110,其中,多数的测试点位于该测试区域110。接着,进行步骤320,进行一电性测试,测试装置的电测探针分别电性接触位于测试区域110的测试点,例如,共同测试点111、第一测试点112以及第二测试点113。其中,每一天线回路均经由两测试点检测出回路的电性状态,回路的电性状态可以是断路、短路等。例如,第一天线回路130经由共同测试点111与第一测试点112进行检测,第二天线回路140经由共同测试点111与第二测试点113进行检测。最后,进行步骤330,完成电性测试后,借由一切割工艺,将测试区域110切除。上述传统天线板100的测试方法300具有一些缺点。例如,电性连接测试点的导线需通过连接器区域120再连接位于测试区域110的测试点,在连接器区域120的导线非常密集,容易造成线路设计困难;连接器区域120通常位于传统天线板100的边缘,可设置测试点的区域有限,无法在连接器区域120设置大量测试点;额外设置测试区域110,完成测试后再将测试区域110切除的作法则会造成传统天线板100的成本增加。鉴于上述先前技术所存在的缺点,有必要提出一种天线板及其测试方法,不需额外设置测试区域,并且可降低天线板的成本。由此可见,上述现有的天线板在方法、设备的结构及使用上,显然仍存在有不便与缺陷,而亟待加以进一步改进。因此如何能创设一种新的天线板及其测试方法,亦成为当前业界极需改进的目标
发明内容
本发明的目的在于,克服现有的天线板存在的缺陷,而提供一种新的天线板及其测试方法,所要解决的技术问题是使其不需额外设置测试区域,并且可降低天线板的成本,非常适于实用。本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本发明提出的一种天线板,其中包含一连接器区域,该连接器区域具有一连接器;一第一天线回路,该第一天线回路包含一第一回路部分、一第一导线以及一第二导线,该第一导线连接至该连接器,该第二导线连接至该连接器的一共同接点;一共同测试点,该共同测试点连接至该连接器的该共同接点;以及一第一测试点,该第一测试点连接至该第一导线。本发明的目的及解决其技术问题 还可采用以下技术措施进一步实现。前述的天线板结构,其中所述的该共同测试点邻近设置于该连接器区域。前述的天线板结构,其中所述的该第一测试点邻近设置于该第一回路部分。前述的天线板结构,其中所述的更包含一第二天线回路与一第二测试点,其中,该第二天线回路包含一第二回路部分、一第三导线以及一第四导线,该第三导线连接至该连接器,该第四导线连接至该连接器的该共同接点,该第二测试点连接至该第三导线。前述的天线板结构,其中所述的该第二测试点邻近设置于该第二回路部分。本发明的目的及解决其技术问题还采用以下技术方案来实现。依据本发明提出的一种天线板的测试方法,其中包含提供一天线板,该天线板包含一连接器区域、一第一天线回路、一共同测试点以及一第一测试点,该连接器区域具有一连接器,该第一天线回路包含一第一回路部分、一第一导线以及一第二导线,该第一导线连接至该连接器,该第二导线连接至该连接器的一共同接点,该共同测试点连接至该连接器的该共同接点,该第一测试点连接至该第一导线;以及进行一电性测试,其中,一测试装置分别电性连接至该共同测试点与该第一测试点。本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。前述的天线板的测试方法,其中所述的该共同测试点邻近设置于该连接器区域。前述的天线板的测试方法,其中所述的该第一测试点邻近设置于该第一回路部分。前述的天线板的测试方法,其中所述的该天线板更包含一第二天线回路与一第二测试点,其中,该第二天线回路包含一第二回路部分、一第三导线以及一第四导线,该第三导线连接至该连接器,该第四导线连接至该连接器的该共同接点,该第二测试点连接至该
第三导线。前述的天线板的测试方法,其中所述的该第二测试点邻近设置于该第二回路部分。本发明与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。由以上技术方案可知,本发明的主要技术内容如下提出一种天线板,该天线板包含一连接器区域、一第一天线回路、一共同测试点以及一第一测试点,该连接器区域具有一连接器,该第一天线回路包含一第一回路部分、一第一导线以及一第二导线,该第一导线连接至该连接器,该第二导线连接至该连接器的一共同接点,该共同测试点连接至该连接器的该共同接点,该第一测试点连接至该第一导线。另提出一种天线板的测试方法。首先,提供一天线板,该天线板包含一连接器区域、一第一天线回路、一共同测试点以及一第一测试点,该连接器区域具有一连接器,该第一天线回路包含一第一回路部分、一第一导线以及一第二导线,该第一导线连接至该连接器,该第二导线连接至该连接器的一共同接点,该共同测试点连接至该连接器的该共同接点,该第一测试点连接至该第一导线。最后,进行一电性测试,其中,一测试装置分别电性连接至该共同测试点与该第一测试点。借由上述技术方案,本发明天线板及其测试方法至少具有下列优点及有益效果由于测试点的线路不需通过连接器区域到达测试点,使得线路设计的难度大幅降低,同时,不需要额外设置测试区域,因此,使得本发明的天线板的成本可大幅降低。上述说明仅是本发明技术方案的概述,为了能够更清楚了解本发明的技术手段,而可依照说明书的内容予以实施,并且为了让本发明的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂,以下特举较佳实施例,并配合附图,详细说明如下。


图IA与图IB分别显示传统天线板的示意图与测试方法的流程图。 图2A与图2B分别显示本发明一较佳实施例的天线板的示意图与测试方法的流程图。
100: 传统天线板110: 测试区域
111: 共同测试点112: 第一测试点113:第二测试点120: 连接器区域
121连接器130: 第一天线回路
131:第一回路部分132: 第一导线
133:第二导线140: 第二天线回路
141第二回路部分142: 第三导线
143:第四导线200: 天线板
211共同测试点212: 第一测试点
213:第二测试点220: 连接器区域
221连接器230: 第一天线回路
231:第一回路部分232: 第一导线
233:第二导线240: 第二天线回路
241:第二回路部分242: 第三导线
243:第四导线300: 传统天线板的测试方法
310:提供一天线板,该天线板包含一测试区域,其中,多数的测试点位于该测试区域
320:进行一电性测试,其中,一测试装置电性连接该等测试点
330:借由一切割工艺,将该测试区成切除
400:天线板的测试方法
410提供一天线板,其中,多数的测试点位于该天线板
420进行一电性测试,其中,一测试装置电性连接该等测试点
具体实施例方式为更进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效,以下结合附图及较佳实施例,对依据本发明提出的天线板及其测试方法其具体实施方式
、方法、步骤、结构、特征及其功效,详细说明如后。图2A与图2B分别显示本发明一较佳实施例的天线板200的示意图与测试方法400的流程图。如图2A所示,该天线板200包含一连接器区域220、一第一天线回路230、一共同测试点211以及一第一测试点212。连接器区域220具有一连接器221,第一天线回路230包含一第一回路部分231、一第一导线232以及一第二导线233,其中,第一导线232电性连接至连接器221,第二导线233电性连接至该连接器221的一共同接点,共同测试点211电性连接至连接器221的共同接点,第一测试点212电性连接至第一导线232。天线板200可进一步包含一第二天线回路240与一第二测试点213,其中,第二天线回路240包含一第二回路部分241、一第三导线242以及一第四导线243。其中,第三导线242电性连接至连接器221,第四导线243电性连接至连接器221的共同接点,第二测试点213电性连接至第三导线242。根据本实施例,共同测试点211可邻近设置于连接器区域220,第一测试点212邻近设置于第一回路部分231,第二测试点213邻近设置于第二回路部分241。但并不以此为限,例如,第一测试点212可设置于第一回路部分231与连接器221之间,第二测试点213可设置于第二回路部分241与连接器221之间。
由于电性连接测试点的导线不需通过连接器区域220,连接器区域220的线路密度大幅降低,使得线路设计的难度大幅降低,同时,不需要额外设置测试区域,因此,本发明的天线板200的成本可大幅降低。本发明的另一实施例提出天线板200的测试方法400。如图2B所示,首先,进行步骤410,提供前述的天线板200,其中,多数的测试点位于该天线板200。该天线板200包含一连接器区域220、一第一天线回路230、一共同测试点211以及一第一测试点212。连接器区域220具有一连接器221,第一天线回路230包含一第一回路部分231、一第一导线232以及一第二导线233,其中,第一导线232电性连接至连接器221,第二导线233电性连接至该连接器221的一共同接点,共同测试点211电性连接至连接器221的共同接点,第一测试点212电性连接至第一导线232。天线板200可进一步包含一第二天线回路240与一第二测试点213,其中,第二天线回路240包含一第二回路部分241、一第三导线242以及一第四导线243。其中,第三导线242电性连接至连接器221,第四导线243电性连接至连接器221的共同接点,第二测试点213电性连接至第三导线242。最后,进行步骤420,进行一电性测试,测试装置的电测探针分别电性接触位于该天线板200的测试点,例如,共同测试点211、第一测试点212以及第二测试点213。其中,每一天线回路均经由两测试点检测出回路的电性状态,回路的电性状态可以是断路、短路等。例如,第一天线回路230经由共同测试点211与第一测试点212进行检测,第二天线回路240经由共同测试点211与第二测试点213进行检测。借由本发明的天线板200与测试方法400,测试点的线路不需通过连接器区域220,使得线路设计的难度大幅降低,同时,不需要额外设置测试区域,因此,本发明的天线板200的成本可大幅降低。以上所述,仅是本发明的较佳实施例而已,并非对本发明作任何形式上的限制,虽然本发明已以较佳实施例揭露如上,然而并非用以限定本发明,任何熟悉本专业的技术人员,在不脱离本发明技术方案范围内,当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例,但凡是未脱离本发明技术方案内容,依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰,均仍属于本发明技术方案的范围内。
权利要求
1.一种天线板,其特征在于包含 一连接器区域,该连接器区域具有一连接器; 一第一天线回路,该第一天线回路包含一第一回路部分、一第一导线以及一第二导线,该第一导线连接至该连接器,该第二导线连接至该连接器的一共同接点; 一共同测试点,该共同测试点连接至该连接器的该共同接点;以及 一第一测试点,该第一测试点连接至该第一导线。
2.如权利要求I所述的天线板结构,其特征在于该共同测试点邻近设置于该连接器区域。
3.如权利要求I所述的天线板结构,其特征在于该第一测试点邻近设置于该第一回路部分。
4.如权利要求I所述的天线板结构,其特征在于更包含一第二天线回路与一第二测试点,其中,该第二天线回路包含一第二回路部分、一第三导线以及一第四导线,该第三导线连接至该连接器,该第四导线连接至该连接器的该共同接点,该第二测试点连接至该第三导线。
5.如权利要求4所述的天线板结构,其特征在于该第二测试点邻近设置于该第二回路部分。
6.一种天线板的测试方法,其特征在于包含 提供一天线板,该天线板包含一连接器区域、一第一天线回路、一共同测试点以及一第一测试点,该连接器区域具有一连接器,该第一天线回路包含一第一回路部分、一第一导线以及一第二导线,该第一导线连接至该连接器,该第二导线连接至该连接器的一共同接点,该共同测试点连接至该连接器的该共同接点,该第一测试点连接至该第一导线;以及 进行一电性测试,其中,一测试装置分别电性连接至该共同测试点与该第一测试点。
7.如权利要求6所述的天线板的测试方法,其特征在于该共同测试点邻近设置于该连接器区域。
8.如权利要求6所述的天线板的测试方法,其特征在于,该第一测试点邻近设置于该第一回路部分。
9.如权利要求6所述的天线板的测试方法,其特征在于该天线板更包含一第二天线回路与一第二测试点,其中,该第二天线回路包含一第二回路部分、一第三导线以及一第四导线,该第三导线连接至该连接器,该第四导线连接至该连接器的该共同接点,该第二测试点连接至该第三导线。
10.如权利要求9所述的天线板的测试方法,其特征在于该第二测试点邻近设置于该第二回路部分。
全文摘要
本发明是有关于一种天线板,该天线板包含一连接器区域、一第一天线回路、一共同测试点以及一第一测试点,该连接器区域具有一连接器,该第一天线回路包含一第一回路部分、一第一导线以及一第二导线,该第一导线电性连接至该连接器,该第二导线电性连接至该连接器的一共同接点,该共同测试点电性连接至该连接器的该共同接点,该第一测试点电性连接至该第一导线。
文档编号G01R31/00GK102868014SQ20111019385
公开日2013年1月9日 申请日期2011年7月5日 优先权日2011年7月5日
发明者谢政良, 柯宥辰 申请人:太瀚科技股份有限公司

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