专利名称：基于光开关的半导体激光器通道代价自动测试系统的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种半导体激光器通道代价测试系统，尤其是一种操作简单、测试效率高、可减少人为误差、提高测试结果可靠性的基于光开关的半导体激光器通道代价自动测试系统。
技术背景半导体激光器的通道代价测量值是衡量半导体激光器�？�(EML或T0SA)传输性能的重要指标，半导体激光器的调制进度以及传输过程中的插入损耗稍有变动，通道代价测量值就会有非常大的变化。如通道代价测量值不能达到行业内指标(一般为2dB以下)， 激光器就不能正常传输信号。目前，对于通信用半导体激光器通道代价的测试方法主要有如下三种(1)全手动式测量特点整套测试系统中的相关组件及设备都相对独立，各设备切换灵活，测试过程灵活。缺点由于测试过程中光纤跳线要不定时的切换，反复切换的过程中引入的插入损耗较大，而且会引入不少的系统误差和操作误差，测试重复性不好，测试结果的可靠性及测试效率不高。同时由于高频率的插拔，对设备以及适配器等测试配件的磨损也会降低测试的可靠性。(2)基于标准激光器BTB (Back To Back)误码测试，只测试其他激光器经长距离光纤传输后的误码率特点在认为测试系统完全可靠的情况下，基于标准激光器BTB误码测试，只测试其他激光器经长距离光纤传输后的误码率，测试效率高，测试引入的系统误差小。缺点由于不测试每个激光器的BTB误码率，测试结果的可靠性不高。(3)测试灵敏度在1E-12时的误码率特点调整激光器的出光功率，只测试接收器灵敏度在1E-12时的误码率，测试效率非常高，引入的系统误差及操作误差少。缺点只能在已经过精确测试的基础上做验证性测试，如果单纯以此法测试，其测
试可靠性较差。
发明内容本实用新型是为了解决现有技术所存在的上述技术问题，提供一种操作简单、测试效率高、可减少人为误差、提高测试结果可靠性的基于光开关的半导体激光器通道代价自动测试系统。本实用新型的技术解决方案是一种基于光开关的半导体激光器通道代价自动测试系统，其特征在于设有第一光开关，与第一光开关相接有示波器及光谱分析仪；与第一光开关还相接有第二光开关，第二光开关的输出依次通过衰减器、接收器与误码分析仪相接。本实用新型的每次测试通道代价时，只需要更换被测激光器即可，无需再次插拔测试设备，操作简单、测试效率高，可大大减少了人为误差和系统误差，从而提高了测试结果的可靠性。
图1是本实用新型实施例的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合附图说明本实用新型的具体实施方式
。如图1所示设有第一光开关， 与第一光开关相接有示波器及光谱分析仪；与第一光开关还相接有第二光开关，第二光开关的输出依次通过衰减器、接收器与误码分析仪相接，所有测试设备均可外购。每次测量时，只需要更换被测激光器即可。可通过示波器、光谱分析仪及误码分析仪的测试结果，得出准确的半导体激光器通道代价测量值。
权利要求1. 一种基于光开关的半导体激光器通道代价自动测试系统，其特征在于设有第一光开关，与第一光开关相接有示波器及光谱分析仪；与第一光开关还相接有第二光开关，第二光开关的输出依次通过衰减器、接收器与误码分析仪相接。
专利摘要本实用新型公开一种基于光开关的半导体激光器通道代价自动测试系统，设有第一光开关，与第一光开关相接有示波器及光谱分析仪；与第一光开关还相接有第二光开关，第二光开关的输出依次通过衰减器、接收器与误码分析仪相接。每次测试通道代价时，只需要更换被测激光器即可，无需再次插拔测试设备，操作简单、测试效率高，可大大减少了人为误差和系统误差，从而提高了测试结果的可靠性。
文档编号G01M11/02GK201993223SQ20102067596
公开日2011年9月28日 申请日期2010年12月23日 优先权日2010年12月23日
发明者于晶, 张文斌, 张笑天, 杨炳雄 申请人:大连艾科科技开发有限公司
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