专利名称：一种pcb板测试的复合治具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种半导体器件的电性能测试设备，尤其是涉及一种PCB板测试的复合治具。
背景技术：
对于印刷电路板，其常采用的测试治具是一种以PCB板为模型而设计的、用于电性能通断测试的一种专用夹具，有单面治具、双面治具之分，治具具有针盘，针盘上的探针直接决定电性能测试的稳定性以及效率；在实际生产中，PCB板多为批量制造、批量测试， 需要保证针盘上探针始终处于良好的状态，一旦探针出现故障、尤其是间歇性故障，将导致误测试而造成质量事故，往往需要将大批量的产品收回重新测试。对于传统结构的开短路测试治具，其探针与套筒均设于针板上，以人工将各套筒尾端用电线缠绕至牛角接头，而一套治具往往必须缠绕二、三百条以上，如此大量的缠绕动作必然耗费极长的工时，相对制造成本必然相当高，而且由于更换探针难度过大而常常将整个针板废弃。
发明内容本实用新型主要目的是提供一种PCB板测试的复合治具，其工艺性良好易于制造和安装、易于更换探针。本实用新型的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的一种PCB板测试的复合治具，其包括上治具、由针盘和底座组成的下治具，底座设有牛角接头，针盘上斜置有若干副探针；其特征在于所述底座上设有与探针对应的若干套筒，探针可滑动地进入套筒内；牛角接头电连接于套筒。套筒、探针分置于底座和针盘上，方便套筒与牛角接头的接线，便于制造和装配；另外，仅探针设于针盘的针板上，使探针的更换较为方便；使用时，将针盘置于底座上，各个探针滑入对应的套筒内，并构成电接触，操作简单方便。作为优�。稣肱贪ㄕ氚濉⑻秸耄徽氚迳柚梦�4-6层结构，包括顶板、底板和两者之间的若干中间板；针板各层间距自顶部至底部逐渐增大。由于探针为斜置状态，而探针受到来自PCB板的外力为竖直方向，探针需要将输入力分解为轴向分力和径向分力，轴向分力传递给外部的弹簧套筒，而径向分力需要针板承担；由于探针直径微�。揖哂幸欢ǖ牡砸资芰Ρ湫危虼嗽谑导适褂弥校断蚍至Ω嗟丶性谔秸胪凡壳颍栽诖馐訮CB板下压与探针头部接触时，与探针接触的针板间距越�。蛱峁└秸胪凡康闹С旁胶茫嗉刺秸虢淙肓Φ木断蚍至】赡艿卦谔秸胪凡壳虼莞氚澹苊馓秸胝胩灞湫味谥嵯蛞贫惺芩稹Ｕ氚迳栉�4-6层结构，为探针提供多个径向支撑，使探针尾部保持为较大密度的情况下，其头部可以设置为更小密度，也可使探针直径更小，这种结构下探针最小直径可达0. 12MM，使测试精度高。探针头部和尾部需要分别于外部接触受力，作为优�。龆グ搴偷装宓暮穸却笥谥屑浒宓暮穸�。这种结构，使探针头尾两个的受力输入端得到更好的支撑。所述针板为玻璃纤维材质，中间板之间以及中间板与底板之间设置铜质连接件。层与层之间用铜件紧
3密结合，使针盘更加稳固，测试更加稳定。为了便于探针头部和尾部与外部较为可靠地接触，作为优�。秸胪凡客钩鲇诙グ�0. 3-0. 6mm,底部伸出于底板。作为优�。鞲鎏淄灿胩秸虢哟サ慕哟ザ讼嗤鞲鎏秸胪凡烤哂腥舾芍植煌本洞笮」娓�、可滑动进入套筒的尾部直径相等。套筒与探针接触的接触端相同，套筒规格统一，使套筒易于制造，也便于探针与套筒的装配；同时，探针尾部直径相等，可以方便地更换探针，对于损坏的探针，可更换相应的探针即可，尤其是某些仅需更换部分探针就可采用同一治具的测试板，这种治具结构，可节省大量的成本、并提高生产效率。因此，本实用新型具有结构合理、易于制作等特点，尤其是具有工艺性良好易于制造和安装、易于更换探针等有益效果。
附图1是本实用新型的一种结构示意图；附图2是附图1的俯视图；附图3是针盘的一种结构示意图；附图4是探针的一种结构示意图。
具体实施方式
下面通过实施例，并结合附图，对本实用新型的技术方案作进一步具体的说明。实施例本实用新型的一种PCB板测试的复合治具，如附图1、附图2所示，其包括上治具4、由针盘和底座5组成的下治具，底座5设有牛角接头6，针盘上斜置有若干探针3 ； 底座5上设有与探针3对应的若干套筒7，探针3可滑动地进入套筒7内；牛角接头6电连接于套筒7。如附图3所示，针盘包括针板1、探针3。针板1包括顶板101、底板102和两者之间的若干中间板103 ；探针3可滑动地斜置在针板1上的过孔中。针板1设置为4-6层结构，各层间距自顶部至底部逐渐增大。顶板101和底板102的厚度大于中间板103的厚度。 针板1为玻璃纤维材质，中间板103之间以及中间板103与底板102之间设置铜质连接件。 如附图4所示，探针3头部凸出于顶板101的表面0. 3-0. 6mm，底部伸出于底板102并可插入套筒7。套筒7与探针3接触的接触端可以各不相同，也可以分组为若干个规格，较佳的方案是各个套筒7与探针3接触的接触端相同，各个探针3头部具有若干种不同直径大小规格。安装使用时，将针盘置于底座5上，针盘上的各个探针3滑入对应的套筒7内，并构成电接触，操作简单方便。
权利要求1.一种PCB板测试的复合治具，包括上治具G)、由针盘和底座( 组成的下治具，底座(5)设有牛角接头(6)，针盘上斜置有若干副探针(3)；其特征在于所述底座( 上设有与探针C3)对应的若干套筒(7)，探针C3)可滑动地进入套筒(7)内；牛角接头(6)电连接于套筒(7)。
2.根据权利要求1所述的一种PCB板测试的复合治具，其特征在于所述针盘包括针板⑴、探针⑶；针板⑴设置为4-6层结构，包括顶板(101)、底板(102)和两者之间的若干中间板(103)；针板(1)各层间距自顶部至底部逐渐增大。
3.根据权利要求2所述的一种PCB板测试的复合治具，其特征在于所述顶板(101)和底板(102)的厚度大于中间板(103)的厚度。
4.根据权利要求1所述的一种PCB板测试的复合治具，其特征在于探针C3)头部凸出于顶板(101)0. 3-0. 6mm。
5.根据权利要求1或2或3或4所述的一种PCB板测试的复合治具，其特征在于各个套筒(7)与探针C3)接触的接触端相同，各个探针C3)头部具有若干种不同直径大小规格。
专利摘要本实用新型涉及一种PCB板测试的复合治具，其包括上治具、由针盘和底座组成的下治具，底座设有牛角接头，针盘上斜置有若干副探针；其特征在于所述底座上设有与探针对应的若干套筒，探针可滑动地进入套筒内；牛角接头电连接于套筒。套筒、探针分置于底座和针盘上，方便套筒与牛角接头的接线，便于制造和装配；另外，仅探针设于针盘的针板上，使探针的更换较为方便；使用时，将针盘置于底座上，各个探针滑入对应的套筒内，并构成电接触，操作简单方便。
文档编号G01R1/073GK202075387SQ201120120648
公开日2011年12月14日 申请日期2011年4月22日 优先权日2011年4月22日
发明者张正太, 彭梅春, 文东升 申请人:苏州市科林源电子有限公司
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