专利名称：Qfn芯片重力式测试装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及精密机械领域，尤其涉及一种应用于重力式测试分选机的测试装置。
背景技术：
目前旺盛的封测市场需求对封测企业的生产能力以及生产的稳定性都提出了新的要求。但现有的封测设备(如自动检测分类机等)难以满足生产的要求。其主要原因在于，旧有的封测设备自动性能较差，一般都是采用人工或半自动上料机构，难以满足目前IC 封装形式、型号快速多变的实际需要。现有的测试机构由于测试装置机构的外型尺寸偏大，操作不便。而且，测试时对料的冲击力较大，噪音也大，容易对产品造成损伤。因此，本领域的技术人员一直致力于开发一种换向平稳、冲击力小、空间占用小的应用于自动检测分选机的测试装置。
发明内容
有鉴于现有技术的上述缺陷，本发明所要解决的技术问题是提供一种定位精确、 冲击力小、空间占用小的应用于自动检测分选机的测试装置。为实现上述目的，本发明提供了一种重力式测试分选机的测试装置；至少包括本体，所述本体上设置有第一气缸、两导轨滑块、弹簧、导柱、挡块；所述本体上还设置有真空吸杆；所述真空吸杆的首端设置有定位槽，所述真空吸杆的尾端设置有第二气缸。较佳地，所述定位槽的上方设置有导轨块。较佳地，利用所述真空吸杆吸附芯片产品的一侧面，所述测试装置适用于四面具有管腿的芯片产品。本发明由于上述结构设计，具有结构简单，定位精确，自动化程度高，效率高，冲击力小、空间占用小等有益效果。以下将结合附图对本发明的构思、具体结构及产生的技术效果作进一步说明，以充分地了解本发明的目的、特征和效果。
图1是本发明一具体实施例的立体结构示意图；图2是图1所示实施例的另一立体结构示意图；图3是图1中一局部结构示意图；图4是图1所示实施例在工作状态与插座的位置关系结构示意图。
具体实施例方式在IC封装领域，重力式测试分选机是用于检测流水线上生产出的微小的卡类零件(即待检工件)。由于待检工件体积较�。喔龃旃ぜ亲爸迷诠ぷ髁瞎苤幸黄鸨蛔嘶虬仓�。待检工件仅在检测工位时从工作料管中滑出，检测后，又被分选机根据良品、次品分类送入不同的空工作料管中，并被分类运往不同的下一工序。装有良品的工作料管可以直接包装出厂，装有次品的工作料管中的卡类零件被回收再做分析或销毁。本发明的测试装置是用于重力式测试分选机中。如图1、图2、图3所示为本发明一具体实施例的结构示意图，一种重力式测试分选机的测试装置，至少包括本体1，本体1上设置有第一气缸21、两个导轨滑块22、两个弹簧 23、导柱M、挡块25。本体1上还设置有真空吸杆3 ；真空吸杆3的首端设置有定位槽31，真空吸杆3的尾端设置有第二气缸26。定位槽31的上方设置有导轨块27。如图4所示，本装置把QFN芯片固定在检测装置中，之后推送到插座5 (socket) 处，通过外界软件对其进行特性测试。本装置主要解决芯片的精确定位及工位变换问题。本装置的具体操作如下说明一 QFN芯片产品10从上而下滑入导轨块27中，最终滑到真空吸杆3的定位槽31 内。预先有第一气缸21推动挡块25，把芯片产品10卡在定位槽31中以精确定位。同时，真空吸杆3的端部(端部设置有精确的定位槽31)把芯片产品10吸�。〉耐钡诙�26把真空吸杆3继续向前推。此后，两侧导轨滑块22在弹簧23的作用下向两边张开，真空吸杆3推向插座5方向进行测试。此后，本发明上有精密导柱M与插座5上的导套(图中未示出)精密定位后，待测试的芯片产品10与测试用的精密连接器(pogopin)接触，通过外接的信号测试部将测试结果输出。当测试结束后，测试的芯片产品10随真空吸杆3退回到待测状态。然后真空吸气断开，芯片产品10顺着导轨从真空吸杆3上而下滑出导轨块27，进入好品料管。如果是次品，将被送入次品料管中。现有技术中，当芯片产品只具有一左一右，或一上一下的管脚布置时，可以在其空闲的侧面定位，然后做测试。但对于具有四个管脚的芯片产品，现有设备无法定位。本发明的测试装置利用真空吸杆3吸附住芯片产品10的一个侧面(如本实施例中是芯片产品10 的后侧面)，尤其适用于四面具有管腿的芯片产品，解决了现有技术未解决的技术问题。本发明可以采用四轨同时测试，可以大幅度提高产量，每小时单轨的产量可达到 6K 7K。综上所述，本说明书中所述的只是本发明的几种较佳具体实施例，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制。凡本技术领域中技术人员依本发明的构思在现有技术的基础上通过逻辑分析、推理或者有限的实验可以得到的技术方案，皆应在本发明的权利要求保护范围之内。
权利要求
1.一种重力式测试分选机的测试装置；至少包括本体，所述本体上设置有第一气缸、 两导轨滑块、弹簧、导柱、挡块；其特征在于所述本体上还设置有真空吸杆；所述真空吸杆的首端设置有定位槽，所述真空吸杆的尾端设置有第二气缸。
2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于所述定位槽的上方设置有导轨块。
3.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于利用所述真空吸杆吸附芯片产品的一侧面，所述测试装置适用于四面具有管腿的芯片产品。
全文摘要
本发明公开了一种重力式测试分选机的测试装置；至少包括本体，所述本体上设置有第一气缸、两导轨滑块、弹簧、导柱、挡块；所述本体上还设置有真空吸杆；所述真空吸杆的首端设置有定位槽，所述真空吸杆的尾端设置有第二气缸。本发明由于上述结构设计，具有结构简单，定位精确，自动化程度高，效率高等有益效果。
文档编号G01R1/02GK102175960SQ20111000886
公开日2011年9月7日 申请日期2011年1月14日 优先权日2011年1月14日
发明者崔学峰, 贺怀珍 申请人:上海微曦自动控制技术有限公司
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