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专利名称：探针的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种探针，特别有关一种用来测试电路板的探针。
背景技术：
一般而言，在电路板的制造过程中，有许多外在因素会影响生产中的电路板，例如组件的损坏、缺件、线路短路、线路开路、零件不良、机台的异常或人为疏失等。因此，为了对电子产品的出货质量进行控管，在完成电路板的制造过程后，通常制造商会先藉由自动化设备对电路板进行电性测试，并利用测量的数据来加以判断电路板上各组件的电性参数是否正常，藉以预先确认电路板的质量是否符合规范，让使用电路板的电子产品合乎质量标准。因此，考虑到电路板生产完成后的测试需求，在电路设计时，便会在电路板上设置许多的测试点，以利后续利用自动化设备对电路板进行测试。具体而言，当电路板在进行测试时，可藉由设置于自动化设备上的探针接触电路板的测试点，并输入测试信号至电路板进行测试，并根据自动化设备计算机测量的信号来判断电路板的功能是否正常。此外，在电路板上的测试点一般为零件脚或焊接点(soldering point)。常见的电路板测试点是在各测试点的表面附着锡膏以形成球状的凸起结构。之后，通过自动化设备的探针直接接触位于测试点的球状的凸起结构，再加以测量相关的电性参数，例如电阻值、电容值或电感值等。此外，由于电路板的组件仅设置于同一表面已成为发展的趋势，为了减少锡膏印刷设备与人力成本，测试点上膏的方式已由传统的锡膏印刷改为波峰焊上锡。然而，若使用波峰焊上锡的方式，大量的助焊剂可能会残留在电路板上的测试点与零件脚上，使得自动化设备上未经设计的探针易被助焊剂附着，导致测量时探针与零件脚接触不良，影响自动化设备测试时的稳定性。也就是说，当探针易被助焊剂附着时，可能会造成测量错误而使产能降低，并增加制造的成本。因此，需要提供一种探针以解决上述问题。

实用新型内容本实用新型的一技术方式为一种探针。根据本实用新型一实施方式，一种探针包括一针头部以及多个测试丘；该多个测试丘形成于该针头部上，每二相邻的该些测试丘之间形成一 V形山谷部，且每一该V形山谷部具有50度至55度的夹角。在本实用新型一实施方式中，其中上述每一测试丘具有山峰部，且山峰部的顶端与V形山谷部的底端之间的垂直距离为115mm至1. 35mm。本实用新型一实施方式中，其中上述每一山峰部具有43度至47度的夹角。本实用新型一实施方式中，其中上述测试丘具有螺旋状的外形。本实用新型一实施方式中，其中上述测试丘的数量为7个。[0013]本实用新型一实施方式中，其中上述探针还包含针身部连接于针头部，且与测试丘位于针头部的相反两侧。本实用新型一实施方式中，其中上述针身部与针头部分别具有圆柱状的外形。本实用新型一实施方式中，其中上述针头部的截面积大于针身部的截面积。本实用新型一实施方式中，其中上述测试丘的其中之一由其余测试丘围绕。本实用新型一实施方式中，其中上述测试丘与针头部为一体成形的金属块体。在本实用新型上述实施方式中，由于二相邻测试丘之间的V形山谷部具有50度至阳度的夹角，且山峰部的顶端与V形山谷部的底端之间的垂直距离为1. 15mm至1. 35mm。这样的设计有利于助焊剂的排出，使助焊剂或其他异物不易残留于探针的测试丘上，进而提升探针的使用寿命，降低产品制造的成本。此外，探针的测试丘具有螺旋状的外形，可确保探针可稳定地接触于电路板上的测试点与零件脚，不易滑开。另一方面，此探针具有镀金且光滑的表面，使探针容易清洁，因此当探针应用于自动化设备时，可提升测试时的稳定性。

图1绘示根据本实用新型一实施方式的探针的立体图。图2绘示图1的探针连接于自动化设备的侧视图。图3绘示图1的探针使用时的侧视图。主要组件符号说明100:探针110:针头部120 测试丘 122 :V形山谷部124:山峰部 130 针身部200:自动化设备 300:电路板310 测试点 Al 截面积A2 截面积D 垂直距离θ i 夹角θ 2 夹角
具体实施方式
以下将以附图公开本实用新型的多个实施方式，为明确说明起见，许多实务上的细节将在以下叙述中一并说明。然而，应了解到，这些实务上的细节不应当用以限制本实用新型。也就是说，在本实用新型部分实施方式中，这些实务上的细节是非必要的。此外，为简化附图起见，一些公知惯用的结构与组件在附图中将以简单示意的方式绘示。图1绘示根据本实用新型一实施方式的探针100的立体图。如图所示，探针100包含针头部110与多个测试丘120。测试丘120形成于针头部110上，每二相邻的测试丘120 之间形成V形山谷部122，且每一 V形山谷部122具有50度至55度的夹角θ 10每一测试丘120具有山峰部124，且山峰部IM的顶端与V形山谷部122的底端之间(以虚线表示)的垂直距离D可以为1.15mm至1.35mm。此外，每一山峰部1 可以具有 43度至47度的夹角θ2。在较佳的实施方式中，V形山谷部122的夹角Q1SSS度，山峰部124的顶端与V形山谷部122的底端之间的垂直距离D为1. 3mm，而山峰部IM具有45度的夹角θ2。然而，在制造时可能会产生些微的误差，例如V形山谷部122的夹角9工的公差可以为士 1度。此外，测试丘120具有螺旋状的外形且测试丘120的数量为七个。举例来说，测试丘120的排列方式可以为六个测试丘120围绕位于中央的一个测试丘120。另一方面，测试丘120与针头部110可以为一体成形的金属块体，且探针100的针头部110与测试丘120
具有镀金且光滑的表面。应当了解到，在以下叙述中，已经在上述实施方式中叙述过的探针100各部分的连接关系将不再重复赘述，仅就针头部110连接于外部自动化设备的结构以及连接方式加以补充，合先叙明。图2绘示图1的探针100连接于自动化设备200的侧视图。如图所示，探针100可选择性地包含针身部130。其中，针身部130连接于针头部110，且与测试丘120位于针头部110的相反两侧。此外，针身部130连接于针头部110的方式可以为焊接、卡合、或一体成形的，只要针身部130可以搭配自动化设备200便可。在使用时，可以由自动化设备200 来控制针身部130伸长或缩短，也可以固定针身部130于自动化设备200上，依照自动化设备200的设计而定。在本实施方式中，针身部130与针头部110分别具有圆柱状的外形，且针头部110 的截面积Al大于针身部130的截面积Α2。举例来说，针头部110可以具有1. 4mm的直径， 而针身部130可以具有0. 9mm的直径，但并不限制本实用新型。在以下叙述中，将详细说明探针100测量电路板时的使用情形。图3绘示图1的探针100使用时的侧视图。同时参阅图1与图3，电路板300的线路上设置有测试点310，在本实施方式中，测试点310的表面为凸起的结构。具体而言，使用者可通过设置于自动化设备200上的探针100直接接触测试点310，再加以测量相关的电性参数回传至自动化设备200的计算机(未绘示在图中)，以确认电路板300的线路有无导通或空焊。上述电性参数例如电阻值、电容值或电感值等。此外，由于测试点310上膏的方式已由传统的锡膏印刷改为波峰焊上锡，若使用公知的探针则助焊剂可能会残留在电路板300的测试点310上。然而在本实施方式中，自动化设备200使用探针100，V形山谷部122具有50度至55度的夹角θ i，且山峰部124的顶端与V形山谷部122的底端之间的垂直距离D为1. 15mm至1. 35mm。这样的设计因切口较大，有利于助焊剂的排出，使助焊剂或其他异物不易残留于探针100的测试丘120上，以确保下一次使用时的测试质量。在本实施方式中，探针100具有七个测试丘120，且测试丘120具有螺旋状的外形， 这样的设计可确保探针100可稳定地接触于电路板300上的测试点310，而不易在测试点 310上滑开。另一方面，探针100具有镀金且光滑的表面，使探针100容易清洁，并具有较高的强度。如此一来，当探针100应用于自动化设备200时，探针100可提升测量时的稳定性。再者，经由自动化设备200使用此种探针100后的统计结果显示，探针100的使用寿命(测量次数)可提升至22万至M万次，与传统探针相比较可节省57%的探针花费，进而降低产品的制造成本。本实用新型上述实施方式的探针100与先前技术相比较，具有以下优点[0044](I)V形山谷部具有50度至55度的夹角，且山峰部的顶端与V形山谷部的底端之间的垂直距离为1. 15mm至1. 35mm，这样的设计有利于助焊剂的排出，使助焊剂或其他异物不易残留于探针的测试丘上，进而提升探针的使用寿命，降低产品制造的成本。(2)探针的测试丘具有螺旋状的外形，这样的设计可确保探针可稳定地接触于电路板上的测试点与零件脚，而不易滑开。(3)探针具有镀金且光滑的表面，使探针在使用后容易清洁，因此当探针应用于自动化设备时，可提升测试时的稳定性。虽然本实用新型已以实施方式公开如上，然而其并非用以限定本实用新型，任何本领域技术人员，在不脱离本实用新型的精神和范围内，应当可作各种的更动与润饰，因此本实用新型的保护范围应当视后附的权利要求书的范围所界定者为准。
权利要求1.一种探针，其特征在于，该探针包括 一针头部；以及多个测试丘，该多个测试丘形成于该针头部上，每二相邻的该些测试丘之间形成一 V 形山谷部，且每一该V形山谷部具有50度至55度的夹角。
2.如权利要求1所述的探针，其特征在于，每一该测试丘具有一山峰部，且该山峰部的顶端与该V形山谷部的底端之间的垂直距离为1. 15mm至1. 35mm。
3.如权利要求2所述的探针，其特征在于，每一该山峰部具有43度至47度的夹角。
4.如权利要求1所述的探针，其特征在于，该些测试丘具有螺旋状的外形。
5.如权利要求1所述的探针，其特征在于，该些测试丘的数量为七个。
6.如权利要求1所述的探针，其特征在于，该探针还包括一针身部，该针身部连接于该针头部，且与该些测试丘位于该针头部的相反两侧。
7.如权利要求6所述的探针，其特征在于，该针身部与该针头部分别具有圆柱状的外形。
8.如权利要求6所述的探针，其特征在于，该针头部的截面积大于该针身部的截面积。
9.如权利要求1所述的探针，其特征在于，该些测试丘的其中之一由其余该些测试丘围绕。
10.如权利要求1所述的探针，其特征在于，该些测试丘与该针头部为一体成形的金属块体。
专利摘要一种探针。该探针包括一针头部以及多个测试丘；该多个测试丘形成于该针头部上，每二相邻的该些测试丘之间形成一V形山谷部，且每一该V形山谷部具有50度至55度的夹角。本实用新型的探针有利于助焊剂的排出，使助焊剂或其他异物不易残留于探针的测试丘上，进而提升探针的使用寿命，降低产品制造的成本。此外，探针可稳定地接触于电路板上的测试点与零件脚，不易滑开，且本实用新型的探针容易清洁，能提升测试时的稳定性。
文档编号G01R1/067GK202256408SQ20112041736
公开日2012年5月30日 申请日期2011年10月27日 优先权日2011年10月27日
发明者李勇, 林晓佳, 蔡哲翔 申请人:纬创资通股份有限公司