专利名称：电玩具中激光器或发光二极管辐射测试方法及装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及ー种电玩具中激光器或发光二极管辐射测试方法及装置。
背景技术：
随着玩具制造业的发展，各种各样的电玩具被发明制造出来，电玩具给人们带来快乐的同时，也带来了�：�。因为电玩具中激光器或发光二极管的辐射易含有高能量光辐射，过多的光能量传导到生物组织中，产生的光热伤害会导致器官损伤。过量的光辐射主要对人的眼睛和皮肤造成伤害，短时间曝光会对眼睛造成角膜或视网膜被灼伤，使皮肤出现红斑；经常遭受超过一定限度能量的曝光，会引起角膜炎或者晶状体混浊及视网膜损伤； 高能量光辐射的强曝光可能会造成皮肤灼烧，而某些特定波长的紫外线会对皮肤产生致癌作用，还会造成不能恢复的视カ减退，并且这种伤害是生理性的不能修复。人们为了减少电玩具中激光器或发光二极管的光辐射对人体造成的伤害，许多国家先后制定了电玩具安全检测标准。目前，对电玩具中激光器或发光二极管辐射测试采用的是近似測量法，其測量出来的热�：Ψ渚嗬胧签`种近似測量，与实际值存在很大的误差，导致测量的电玩具中激光器或发光二极管辐射值不准确。
发明内容
本发明的目的是针对上述问题，向社会提供ー种能精确测量出热�：Ψ渚嗬耄佣返玫降缤婢咧屑す馄骰蚍⒐舛芊渲档牡缤婢咧屑す馄骰蚍⒐舛芊洳馐苑椒ā１痉⒚鞯牡诙瞿渴翘峁┮恢质迪稚鲜龇椒ǖ牡缤婢咧屑す馄骰蚍⒐舛芊洳馐宰爸�。本发明的技术方案是提供ー种电玩具中激光器或发光二极管辐射测试方法，包括支架和第一试样平台，转动平面通过转动轴与所述支架的Z轴连接，所述转动平面上设有在同一平面内的第一成像装置的镜头和第一光功率计探头，所述第一试样平台通过平行移动装置设在支架ー侧，具体测试如下方法
100.将被测试的电玩具固定在所述第一试样平台上，用光谱仪测出激光器或发光二极管的波长ス，使所述波长为ス的激光器或发光二极管光轴垂直于所述第一成像装置的镜头;
200.沿所述平行移动装置移动所述第一试样平台，使所述波长为ス的激光器或发光ニ极管在所述第一成像装置上成像，当所成的像为清晰图像时，停止移动所述第一试样平台；
300.根据所述波长为ス的激光器或发光二极管对应的波长、光谱带宽和所述第一成像装置的放大倍数，查询预先制定的激光器或发光二极管的表观光源清晰成像物距校准表，得到所述波长为ス的激光器或发光二极管的表观光源到所述第一成像装置镜头的物距 /;
400.通过所述第一成像装置測量出所述波长为ス的激光器或发光二极管的表观光源清晰成像时的图像尺寸め'、<，井根据所述第一成像装置放大倍数爲，按式
①和式@计算出所述波长为ス的激光器或发光二极管的表观光源垂直方向实际尺寸尤、
dy ；
式①d= d； / M1 ；
式@ ,dy = d; I M1 ；
500.依据所述波长为ス的激光器或发光二极管的表观光源垂直方向实际尺寸め、4的值，根据式@计算出所述波长为ス的激光器或发光二极管的表观光源对向角a的值；
式味
权利要求
1.一种电玩具中激光器或发光二极管辐射测试方法，其特征在于，包括支架和第一试样平台，转动平面通过转动轴与所述支架的Z轴连接，所述转动平面上设有在同一平面内的第一成像装置的镜头和第一光功率计探头，所述第一试样平台通过平行移动装置设在支架一侧，具体测试方法包括 100.将被测试的电玩具固定在所述第一试样平台上，用光谱仪测出激光器或发光二极管的波长』，使所述波长为』的激光器或发光二极管光轴垂直于所述第一成像装置的镜头; 200.沿所述平行移动装置移动所述第一试样平台，使所述波长为』的激光器或发光二极管在所述第一成像装置上成像，当所成的像为清晰图像时，停止移动所述第一试样平台； 300.根据所述波长为』的激光器或发光二极管对应的波长、光谱带宽和所述第一成像装置的放大倍数，查询预先制定的激光器或发光二极管的表观光源清晰成像物距校准表，得到所述波长为』的激光器或发光二极管的表观光源到所述第一成像装置镜头的物距V; 400.通过所述第一成像装置测量出所述波长为』的激光器或发光二极管的表观光源清晰成像时的图像尺寸尤'、(，并根据所述第一成像装置放大倍数爲，按式0)和式②计算出所述波长为』的激光器或发光二极管的表观光源垂直方向实际尺寸尤、Cly ；
2.如权利要求I所述的电玩具中激光器或发光二极管辐射测试方法，其特征在于所述预先制定的激光器或发光二极管的表观光源清晰成像物距校准表，通过激光器或发光二极管的表观光源清晰成像物距校准装置测量得出，所述物距校准装置包括第一安装台、第二试样台和第一直线导轨副，所述第一安装台设有第二成像装置，所述第一直线导轨副上设有所述第一安装台和所述第二试样台，所述第二试样平台上设有已知中心波长和光谱带宽的标准光源；具体测量方法包括 在所述标准光源的前端设有分化板，使所述标准光源的光轴垂直于所述第二成像装置的镜头； ·900.沿所述第一直线导轨副移动所述第二试样平台，当所述标准光源在所述第二成像装置上成清晰图像时，停止移动所述第二试样平台； ·1000.测量出所述标准光源在清晰成像时的图像尺寸《，在所述分化板上读出所述标准光源的垂直方向实际尺寸K，根据式⑤计算出标准光源的放大倍数I; 式⑤-M二uIV ； · 1100.当所述标准光源成清晰图像时，把此时所述第二试样平台的位置视为第二坐标原点，移动所述标准光源到所述第二成像装置的镜头位置，此位置到第二坐标原点的距离是物距V。
3.如权利要求I或2所述的电玩具中激光器或发光二极管辐射测试方法，其特征在于当所述电玩具中激光器或发光二极管的波长在400nm — 600nm范围时，还要测量光化学�：Ψ洌饣：Ψ淼牟馐苑椒ㄊ墙獻. Imm视场光阑垂直放置于所述波长为』的激光器或发光二极管前端，并使所述I. Imm视场光阑中心对准所述波长为』的激光器或发光二极管光轴，根据式⑧算出光化学�：Ψ洳饬烤嗬隵 ;式1E1 T2=IQQ a Jll ■ 是所述电玩具中激光器或发光二极管的波长在400nm—600nm范围时的表观光源对象角； 用第一光功率计测量出所述波长为』的激光器或发光二极管的表观光源在所述化学�：Ψ洳饬烤嗬氲奈恢玫幕Х渲�。
4.一种电玩具中激光器或发光二极管辐射测试装置，其特征在于，包括支架、第一试样平台和第一光功率计，转动平面通过转动轴与所述支架的Z轴连接，所述转动平面上设有在同一平面内的第一成像装置的第一镜头和第一孔径光阑，所述第一孔径光阑紧贴第一光功率计探头，所述第一孔径光阑中心对准所述第一光功率计探头中心，所述支架的一侧设有平行移动装置，所述第一试样平台设置在所述平行移动装置上；所述第一光功率计与所述第一光功率计探头电气连接。
5.如权利要求4所述的电玩具中激光器或发光二极管辐射测试装置，其特征在于所述第一成像装置包括第一镜头、第一光束衰减器、第一 (XD图像传感器和第一光束分析仪，所述第一镜头设置转动平面上，在所述第一镜头后端依次设有所述第一光束衰减器和所述第一 CCD图像传感器，所述第一 CCD图像传感器与所述第一光束分析仪电气连接。
6.如权利要求4或5所述的电玩具中激光器或发光二极管辐射测试装置，其特征在于所述转动平面还可以用移动装置代替，所述移动装置包括第二直线导轨副，所述第二直线导轨副与所述支架的Z轴固定连接，在同一平面内的所述第一成像装置的镜头与所述第一光功率计探头设置在所述第二直线导轨副的第三滑块上。
7.如权利要求4或5所述的电玩具中激光器或发光二极管辐射测试装置，其特征在于所述第一孔径光阑的直径是7mm，所述孔径光阑与所述第一成像装置的镜头分布在同一个圆周上。
8.如权利要求4或5所述的电玩具中激光器或发光二极管辐射测试装置，其特征在于当所述激光器或发光二极管的波长在400nm — 600nm范围时，还要测量光化学危害辐射，包括视场光阑，所述视场光阑的直径是I. 1mm，所述I. Imm视场光阑垂直放置于所述波长为』的激光器或发光二极管前端，并使所述I. Imm视场光阑中心对准所述波长为』的激光器或 发光二极管光轴。
9.如权利要求4或5所述的电玩具中激光器或发光二极管辐射测试装置，其特征在于所述转动平面是圆形转动平面、三角形转动平面或多边形转动平面。
10.如权利要求4或5所述的电玩具中激光器或发光二极管辐射测试装置，其特征在于所述平行移动装置是直线导轨副、丝杆副或光杆。
全文摘要
一种电玩具中激光器或发光二极管辐射测试方法及装置，其中装置包括支架、第一试样平台和第一光功率计，转动平面通过转动轴与支架的Z轴连接，转动平面上设有在同一平面内的第一成像装置的第一镜头和第一孔径光阑，第一孔径光阑紧贴第一光功率计探头，第一孔径光阑中心对准第一光功率计探头中心，支架的一侧设有平行移动装置，第一试样平台设置在所述平行移动装置；第一光功率计与第一光功率计探头电气连接。这种电玩具中激光器或发光二极管辐射测试装置，操作简单，能精确测量出热�：Ψ渚嗬耄佣返玫降缤婢咧屑す馄骰蚍⒐舛艿墓夥�。
文档编号G01M11/00GK102853993SQ201210366729
公开日2013年1月2日 申请日期2012年9月28日 优先权日2012年9月28日
发明者徐晓光, 徐勤, 张栋, 钟勇, 尹丽娟, 杨丽丹, 杨欢 申请人:中华人民共和国深圳出入境检验检疫局
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