专利名称：一种用于磁共振设备性能测试模具的高度调节装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及医疗器械领域，尤其涉及一种用于磁共振设备性能测试模具的高度调节装置。
背景技术：
现有技术在使用磁共振设备对患者进行扫描检查之前，设备操作者(例如医师)需要对磁共振设备的性能进行测试。在磁共振设备各项性能参数测试的过程中，需要将模拟人体各身体部位的测试模具(例如水模)放在梯度信号接收线圈内，信号接收线圈放置在磁场中心，为保证磁共振系统各项参数指标校准正确，图像性能测试(如层间距误差测试、定位误差测试)能够得到正确的结果，就要求测试模具在X、Y、Z三个方向上与磁场中心重合。现有的测试模具按照如下的方式进行定位，水平方向(X、Y方向)上主要是依靠移动检查床进行激光灯定位，高度方向(Z方向)上主要是靠测试模具支架厚度进行调节。上述高度调节的方式存在如下缺点1)测试模具在磁场中的具有唯一高度不能改变，但每台磁共振设备平面基准都不相同或与理论基准平面有误差，所以在高度方向上很难保证测试模具中心与磁场中心重合；2)如需保证在高度方面上测试模具中心与磁场中心重合或在可接受的误差范围之内，就必须反复的更换不同厚度的支架或在支架上各种厚度的垫片，这种调节方式效率低下，精度不易保证。
实用新型内容本实用新型所要解决的技术问题在于，提供一种用于磁共振设备性能测试模具的高度调节装置，可以快速准确的调节测试模具的高度使之与磁场中心重合而不受基准面的限制，减少定位时间，提高性能测试质量和效率。为了解决上述技术问题，本实用新型的实施例提供了一种磁共振设备性能测试模具的高度调节装置，包括托盘、连接在所述托盘上的托盘支架、滑块以及驱动单元；所述托盘用于承托测试模具，所述滑块夹持并承载所述托盘支架，所述滑块与所述托盘支架至少其中之一具有一斜坡面，所述驱动单元驱动滑块沿水平方向运动而使托盘支架与所述滑块之间沿所述斜坡面相对运动。优选的，所述托盘支架的端侧设置楔形槽，所述滑块设置在所述楔形槽中。优选的，所述滑块包括第一滑块和第二滑块；所述第一滑块和/或所述第二滑块的底部分别开设螺纹孔。优选的，所述驱动单元包括距离调节螺杆，所述距离调节螺杆设置与所述螺纹孔的旋向相适配的螺纹，所述距离调节螺杆穿插在所述螺纹孔中；所述第一滑块和/或所述第二滑块沿所述距离调节螺杆平移。[0014]优选的，所述斜坡面包括所述第一滑块和/或所述第二滑块具有的斜面，所述斜面支撑在所述楔形槽上。优选的，所述斜坡面包括所述楔形槽具有的顶壁，所述滑块支撑在所述楔形槽的所述顶壁上。优选的，所述第一滑块和/或所述第二滑块的侧体上开设导向槽；所述托盘支架开设螺钉孔，多个导向螺钉贯穿所述螺钉孔限位在所述导向槽中。优选的，所述距离调节螺杆的端部具有转柄。优选的，所述楔形槽相贯设置用以增加提升或降低空间的槽。优选的，在所述槽的中部设置支架卡耳。优选的，所述托盘上设置夹持耳；在所述托盘的端部设置方孔。本实用新型所提供的用于磁共振设备性能测试模具的高度调节装置，由于滑块与托盘支架至少其中之一具有一斜坡面，驱动单元驱动滑块沿水平方向运动而使托盘支架与滑块之间沿斜坡面相对运动，从而实现对测试模具高度的调节。本实用新型可以快速准确的调节测试模具高度使之与磁场中心重合而不受基准面的限制，减少定位时间，提高性能测试质量和效率。
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本实用新型一实施例的用于磁共振设备性能测试模具的高度调节装置的爆破结构示意图；图2是本实用新型一实施例的用于磁共振设备性能测试模具的高度调节装置的托盘的立体结构示意图；图3是本实用新型一实施例的用于磁共振设备性能测试模具的高度调节装置的托盘支架的俯视结构示意图；图4是本实用新型实施例的用于磁共振设备性能测试模具的高度调节装置的托盘支架的沿图3所示A-A方向的剖视结构示意图；图5是本实用新型实施例的用于磁共振设备性能测试模具的高度调节装置的托盘支架的沿图4所示B-B方向的剖视结构示意图；图6是本实用新型实施例的用于磁共振设备性能测试模具的高度调节装置的托盘支架的沿图4所示C-C方向的剖视结构示意图；图7是本实用新型一实施例的用于磁共振设备性能测试模具的高度调节装置的滑块的剖视结构示意图；图8是本实用新型实施例的用于磁共振设备性能测试模具的高度调节装置的滑块的沿图7所示D-D方向的剖视结构示意图；图9是本实用新型一实施例的用于磁共振设备性能测试模具的高度调节装置的托盘支架和滑块与距离调节螺杆进行装配的剖视结构示意图；[0033]图10是本实用新型一实施例的用于磁共振设备性能测试模具的高度调节装置的使用状态示意图。
具体实施方式
下面参考附图对本实用新型的优选实施例进行描述。参见图1，本实用新型实施例提供了一种用于磁共振设备性能测试模具的高度调节装置，包括托盘1、连接在托盘1上的托盘支架2、滑块以及驱动单元5。托盘1具有定位部11，置于定位部11中的一测试模具8由托盘支架2支撑。托盘支架2相对的两端侧对称设置两楔形槽21，在两楔形槽21中分别具有滑块， 滑块夹持并承载所述托盘支架2，滑块与托盘支架2至少其中之一具有一斜坡面，驱动单元 5驱动滑块沿水平方向运动而使托盘支架2与所述滑块之间沿斜坡面相对运动。本实用新型的一种优选实施方式中，滑块包括对称设置的第一滑块3和第二滑块 4，连接在第一滑块3和第二滑块4上的驱动单元5可改变第一滑块3和第二滑块4间的相对距离；实施时，第一滑块3和第二滑块4挤压两楔形槽21的顶壁211使托盘支架2整体升高，第一滑块3和第二滑块4滑离两楔形槽21的顶壁211使托盘支架2整体降低。托盘1是用于定位测试模具的一板件，如图2所示。具体实施时，托盘1端侧具有的夹持耳12可对信号接收线圈9的侧壁91 (参考图10)进行夹持固定，两者固定后便可校准托盘1上的测试模具的各项参数指标。夹持耳12的作用是克服常见的调高装置由底部进行固定带来的调节精度不准的缺点，在保持调节装置与信号接收圈进行稳固固定的前提下，实现高度的精确调节。实施时，通过改变托盘1的尺寸以及夹持耳12的宽度可以适应不同型号(尺寸)的信号接收线圈9，只需满足夹持耳12能够夹持在信号接收线圈9的侧壁 91上即可。由于校准测试模具各项参数的过程中，需要保持整个装置的水平状态。此外，夹持耳12还具有保持高度调节装置水平而不侧翻的功用。托盘1的中部设置定位部11，该定位部11是一与本实施例中的球形待测试模具相适配的圆孔，该圆孔可以起到当球形待测试模具置放在托盘1上时定位待测试模具的作用。托盘1的端部位于定位部11的邻侧设置一方孔13，该方孔13主要起到提手的作用，便于整个调节装置的安放和携带。托盘支架2连接在托盘1的下部，两者通过螺固的方式进行连接。具体的，托盘1 和托盘支架2上分别开设位置相对应的螺纹孔14、20。其中，托盘1上的螺纹孔14为贯通孔，多个螺钉7穿过螺纹孔14螺固在螺纹孔20中将托盘1与托盘支架2固定连接。其他方式中，托盘1和托盘支架2可以采用常用的干涉方式进行连接，并不影响实施。结合参见图3-图6所示，托盘支架2是中间低、两侧高且具有支撑弧面25的一块状承接件。当托盘1由托盘支架2固定后，上述定位部11和该支撑弧面25刚好成为测试模具的受力点可对测试模具进行支撑。其他实施方式中，可以根据测试模具的形状对应调整托盘1定位部11和托盘支架2支撑弧面25的形状以满足支撑要求，两者装配后可以支撑规则或不规则形状的测试模具，如方形、椭圆形以及其他异形形态的测试模具。托盘支架2相对两侧端的底部分别对称开设两楔形槽21，该两楔形槽21亦是中部低、两侧高的槽体结构，两滑块(第一滑块3和第二滑块4)可分别从两相对楔形槽21的底部开口端置入其中。实施时，通过第一滑块3和第二滑块4的斜面33、43抵顶两楔形槽21的顶壁211实现托盘支架2相对位置的改变。参见图7、图8使示，第一滑块3和第二滑块4是形状与两楔形槽21的形状相适配的两楔块。两滑块3、4侧体上对称开设与楔形槽21的顶壁211相平行的导向槽32、42，且托盘支架2的相对两侧壁分别开设贯通楔形槽21的螺钉孔M，多个导向螺钉6可贯穿螺钉孔M限位在所述导向槽32、42中。进一步的，当两滑块3、4置放在两楔形槽21中并通过距离调节螺杆5旋转改变两滑块相对距离的过程中，如两滑块3、4件的距离变�。谝换�3和第二滑块4可挤压两楔形槽21的顶壁211使托盘支架2的相对位置升高；如两滑块3、4间的距离变大，两楔形槽 21的顶壁211可随第一滑块3和第二滑块4滑落使托盘支架2的相对位置降低。通过距离调节螺杆5旋转改变两滑块3、4间的相对距离是通过如下方式实现的 第一滑块3和第二滑块4的底部分别开设螺纹旋向相反(如正反螺纹)的螺纹孔31、41，距离调节螺杆5的两端分别设置与螺纹孔31、41的旋向相适配的螺纹并且装配在上述螺纹孔 31、41中。由于螺纹旋向相反，当旋转距离调节螺杆5时，第一滑块3和第二滑块4将沿距离调节螺杆5做相向或相背的同步平移。上述对两滑块3、4进行平移的目的是改变第一滑块3和第二滑块4位于楔形槽21中的相对位置，使两滑块3、4的斜面33、43能够挤压或滑脱两楔形槽21的顶壁211。优选的，距离调节螺杆5的端部具有用于增大旋转扭矩的转柄52。所设置的转柄 52可以迅速、轻松的实现对距离调节螺杆5旋转的同时，也可在其上设置刻度，便于托盘支架2高度的精确调节。该精确调节的具体实施方式
，后续说明。优选的，驱动单元5可以采用除通过上述距离调节螺杆改变两滑块间距离结构外的其他形式，如齿条。优选的，两楔形槽21之间相贯设置用以增加托盘支架2提升或降低空间的槽23。 在所述槽23的中部设置用于对所述距离调节螺杆5进行限位的支架卡耳22。本实用新型实施例所提供的用于磁共振设备性能测试模具的高度调节装置在具体装配时，如图9所示。首先，通过多个螺钉7穿过螺纹孔14螺固在螺纹孔20中将托盘1 与托盘支架2固定连接。然后，把第一滑块3和第二滑块4通过距离调节螺杆5连接起来， 注意设置好第一滑块3和第二滑块4间的初始距离，两滑块3、4间的初始距离决定了整个高度调节装置的初始高度。调节好初始距离后，将两滑块3、4从楔形槽21的底部开口端滑入其中。由于两滑块3、4的相对侧体上对称开设与楔形槽21顶壁211相平行的导向槽32、 42，且托盘支架2的相对两侧壁分别开设贯通楔形槽21的螺钉孔24，当两滑块3、4置于两楔形槽21的相应位置后，多个导向螺钉6贯穿在螺钉孔M中并限位在导向槽32、42中。导向螺钉6限位在导向槽32、42中的作用是使两滑块3、4能够沿距离调节螺杆5所在直线以及导向螺钉6与导向槽32、42间共同限位的轨迹上进行滑行，具有限定两滑块3、4从两楔形槽21相对的两侧端滑进或滑出进行往复移动的效果。本实用新型实施例所提供的用于磁共振设备性能测试模具的高度调节装置在具体实施过程是当需要调节测试模具在信号接收线圈9中的位置时，通过高度调节装置自身高度的提升或下降联动其上的测试模具8运动，使其能够在空间内与磁场中心重合。参见图10，信号接收线圈9是一大致呈立方状的具有中空内腔的测试装置，将其放置在磁场中心后便可实施对磁共振系统的各项参数指标进行校准的操作。实施时，高度调节装置100具有的两对称布置的夹持耳12夹持在所述信号接收线圈9的侧壁91上进行固定，测试模具8安放在装置的高度调节装置100上。当进行磁共振设备性能参数测试时，装置整体放置在磁场中心，当检测到测试模具8的中心高度与磁场中心高度有高度不重合时，转动高度调节装置100的转柄52即可迅速实现高度重合。实施过程如下当旋转距离调节螺杆5时，因距离调节螺杆5具有两段螺纹旋向相反的但与两滑块3、4的螺纹孔31、41相适配的螺纹。两滑块3、4沿距离调节螺杆5进行平移，其间的水平距离增大时，两楔形槽21的顶壁211可随第一滑块3和第二滑块4滑落使托盘支架2的相对位置降低，整个装置(含测试模具)随之下降；如其间的水平距离变�。谝换�3和第二滑块4可挤压两楔形槽21的顶壁211使托盘支架2的相对位置升高，整个装置(含测试模具)随之上升。在两滑块3、4上升或下降过程中，两楔形槽21之间相贯设置的圆弧槽23能够增加托盘支架2提升或降低空间，不至于发生两滑块3、4卡死不能移动的情况；在圆弧槽23中部设置的支架卡耳22用助于对距离调节螺杆5进行限位，防止距离调节螺杆5在旋转过程中发生窜动。实施上述结构的高度调节装置进行高度调节时，可以实现高度调节装置高度的精确调节，亦即托盘支架2提升或降低的距离可以与转柄52的旋转角度设置关联。本实施例中，第一滑块3和第二滑块4具有坡角角度与两楔形槽21的坡角角度相同的斜面33、43，并且斜面对应支撑在两楔形槽21的顶壁211上，如该坡角为45 时(滑块斜面33、43与水平面的夹角为45 )、距离调节螺杆5的螺距为2毫米，当螺柱5旋转一周后，第一滑块3和第二滑块4之间的距离变化L为4毫米，托盘1的高度变化H为H= (L/2) *tan45当距离调节螺杆5旋转一周之后，整个高度调节装置高度上升或下降了一个螺距 (2毫米)的高度。其他实施方式中，也可以根据该转换关系，H=(L/2)*tani3 (其中，所述楔形槽的坡角为β，所述两滑块间的距离变化值为L，所述托盘支架提升或降低的位移值为H)，将托盘支架2提升或降低的距离关联转换到转柄52的转动角度大小上来，从而实现高度的精确控制。本实用新型用于磁共振设备性能测试模具的高度调节装置的其他实施方式中托盘支架2也可通过一个滑块(第一滑块3或第二滑块4)进行运动。实施时，托盘支架2的一端可沿垂直方向进行滑动的连接在固定块上，相对的另一端连接具有上述结构的任一滑块，实现滑块的水平运动；两滑块3、4不一定设置为与楔形槽21相适配的楔块，其可设置成其他可以抵顶斜坡面(楔形槽21斜面)的块体结构，例如，长方体。托盘支架2的顶壁211也可以是斜面外的其他形状，如弧面，只要满足托盘支架2 与所述滑块之间沿所述斜坡面(顶壁)相对运动既可。托盘支架2也可不设置楔形槽21，其仅需设置一个外露的斜面(相当于顶壁211)， 并将滑块设置成具有导向功能的块体在其上滑动即可。楔形槽21的开口方向并不限定同时开设在端侧和底部。可以是仅在底部开口，封闭端部并只留下供螺杆通过的圆孔的结构，该结构仅对移动距离产生限制，并不会影响实施。也可以是仅在端部开口，封闭底部的结构，亦即楔形槽21与底部紧挨着的时候是高度调节装置的最高位置，当滑块滑出时，实现托盘支架下降；返回的过程则可视为托盘支架升高，以此实现高度调节装置的调节。可以理解的是，上述设定的距离调节螺杆的螺距和坡角的大小仅是本实用新型高度精确控制的一个具体实施方式
，两者也可根据实际情况更换为其他参数，但转柄52的旋转角度(以及其上的刻度)与托盘支架2提升或降低的距离可以按照上述的托架高度变化公式进行换算，距离调节螺杆螺距和坡角的大小不解释为对本实用新型保护范围的限定。本实用新型磁共振设备性能测试模具的高度调节装置的其他实施方式中，由于托盘支架具有力矩传动和/或支撑的作用，其他具有该相同功能的机构，如任意形式的底座， 可以等同为本实用新型实施例的托盘支架。实施本实用新型的磁共振设备性能测试模具的高度调节装置，由于滑块与托盘支架至少其中之一具有一斜坡面，驱动单元驱动滑块沿水平方向运动而使托盘支架与滑块之间沿斜坡面相对运动，从而实现对测试模具高度的调节。本实用新型可以快速准确的调节测试模具高度使之与磁场中心重合而不受基准面的限制，减少定位时间，提高性能测试质量和效率。以上所揭露的仅为本实用新型较佳实施例而已，当然不能以此来限定本实用新型之权利范围，因此依本实用新型权利要求所作的等同变化，仍属本实用新型所涵盖的范围。
权利要求1.一种用于磁共振设备性能测试模具的高度调节装置，其特征在于，包括托盘(1)、 连接在所述托盘(1)上的托盘支架(2 )、滑块以及驱动单元(5 )；所述托盘用于承托测试模具，所述滑块夹持并承载所述托盘支架(2)，所述滑块与所述托盘支架(2)至少其中之一具有一斜坡面，所述驱动单元(5)驱动滑块沿水平方向运动而使托盘支架(2)与所述滑块之间沿所述斜坡面相对运动。
2.如权利要求1所述的用于磁共振设备性能测试模具的高度调节装置，其特征在于， 所述托盘支架(2)的端侧设置楔形槽(21)；所述滑块包括第一滑块(3)和第二滑块(4)，所述第一滑块(3)和/或所述第二滑块 (4)设置在所述楔形槽(21)中。
3.如权利要求2所述的用于磁共振设备性能测试模具的高度调节装置，其特征在于， 所述第一滑块(3)和/或所述第二滑块(4)的底部开设螺纹孔；所述驱动单元(5)包括距离调节螺杆，所述距离调节螺杆设置与所述螺纹孔的旋向相适配的螺纹，所述距离调节螺杆(5)穿插在所述螺纹孔中；所述第一滑块(3)和/或所述第二滑块(4)沿所述距离调节螺杆(5)平移。
4.如权利要求2或3所述的用于磁共振设备性能测试模具的高度调节装置，其特征在于，所述斜坡面包括所述第一滑块(3)和/或所述第二滑块(4)具有的斜面，所述斜面支撑在所述楔形槽(21)上。
5.如权利要求2或3任一项所述的用于磁共振设备性能测试模具的高度调节装置，其特征在于，所述斜坡面包括所述楔形槽(21)具有的顶壁(211)，所述滑块支撑在所述楔形槽(21)的所述顶壁(211)上。
6.如权利要求4所述的用于磁共振设备性能测试模具的高度调节装置，其特征在于， 所述第一滑块(3)和/或所述第二滑块(4)的侧体上开设导向槽；所述托盘支架(2)开设螺钉孔(24)，多个导向螺钉(6)贯穿所述螺钉孔(24)限位在所述导向槽中。
7.如权利要求6所述的用于磁共振设备性能测试模具的高度调节装置，其特征在于， 所述距离调节螺杆(5)的端部设置转柄(52)。
8.如权利要求6或7所述的用于磁共振设备性能测试模具的高度调节装置，其特征在于，所述楔形槽(21)相贯设置用以增加提升或降低空间的槽(23)。
9.如权利要求8所述的用于磁共振设备性能测试模具的高度调节装置，其特征在于， 在所述槽(23)的中部设置支架卡耳(22)。
10.如权利要求1-3任一项所述的用于磁共振设备性能测试模具的高度调节装置，其特征在于，所述托盘(1)上设置夹持耳(12 )；在所述托盘(1)的端部设置方孔(13 )。
专利摘要本实用新型公开了一种磁共振设备性能测试模具的高度调节装置，包括托盘、连接在所述托盘上的托盘支架、滑块以及驱动单元，所述托盘用于承托测试模具，所述滑块夹持并承载所述托盘支架，所述滑块与所述托盘支架至少其中之一具有一斜坡面，所述驱动单元驱动滑块沿水平方向运动而使托盘支架与所述滑块之间沿所述斜坡面相对运动。实施本实用新型的磁共振设备性能测试模具的高度调节装置，可以快速准确的调节测试模具的高度使之与磁场中心重合而不受基准面的限制，减少定位时间，提高性能测试质量和效率。
文档编号G01R35/00GK202275156SQ201120335509
公开日2012年6月13日 申请日期2011年9月8日 优先权日2011年9月8日
发明者周小明, 杨能飞 申请人:深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
