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专利名称：一种对铝电解电容器的低电压方式短路检测电路及其检测方法
技术领域：
本发明涉及一种对铝电解电容器的低电压方式短路检测电路及其检测方法。
背景技术：
电容器是各种电子产品终端必不可少的元件，在电子系统中起着至关重要的作用。在エ业、电源等应用中，系统厂商对高容量、低ESR、小体积的电容器的需求更加迫切，而在汽车、医疗、军エ和航空航天等应用中，则对电容器寿命、耐压、可靠性等提出了更高的要求。电容器品种繁多，品质各异，在出厂之前，必须做检测、分级工作，才能满足质量要求。针对老化机分选进料部分以往进料部分对电容器短路的5V电压检测，不能适应高频低阻抗铝电解电容器的情況。采用低电压0. 5V检测，才能有效区分老化前短路品和高压测试造成的假性短路品。

发明内容
本发明ー种对铝电解电容器的低电压方式短路检测电路及其检测方法，其目的是提供一种可靠的检测方法，解决有效区分老化前短路品和高压测试造成的假性短路品的问题。本发明是通过以下技术方案实现的，一种对铝电解电容器的低电压方式短路检测方法，包括エ位I、エ位2、エ位3，所述エ位I是充电电路，有R1、Cl ;所述エ位2是充电电路，有R2、C2 ;所述エ位3是检测电路，有R3、C3 ;该短路检测方法是在铝电解电容器全自动老化机分选机设备上，エ位I、エ位2分别通过Rl和R2对电容器进行充电，エ位3通过R3对电容器进行检测，采用低电压检测，选用金属膜电阻，控制电流最大不超过2. 5mA。作为本发明的进ー步改进在于所述エ位I与エ位2中，电源电压 U1=U2=0. 5VRl= R2=400 Q 11=12=1. 25mA,在エ位 3 中，电源电压 U3= 0. 5V R3=200 Q13=2. 5mA。一种对铝电解电容器的低电压方式短路检测电路，所述エ位I电路中电阻Rl和电容Cl串联；エ位2中电阻R2和电容C2串联；エ位3中电阻R3和电容C3串联；所述的エ位I、エ位2、エ位3的一端电路并联后与电源串联。
本发明的有益效果是通过这样设置可以有效的排除箔粉、毛刺、假性短路等对高频低阻抗铝电解电容器老化前的影响，提高检测的准确率和生产过程中的成品率。


图I是本发明检测电路的结构示意图。
具体实施例方式下面结合附图对本发明作进ー步的详细描述如图I所示本实施例的一种对铝电解电容器的低电压方式短路检测方法，包括エ位
I、エ位2、エ位3，所述エ位I是充电电路，有R1、Cl ;所述エ位2是充电电路，有R2、C2 ;所述エ位3是检测电路，有R3、C3 ;该短路检测方法是在铝电解电容器全自动老化机分选机设备上，エ位I、エ位2分别通过Rl和R2对电容器进行充电，エ位3通过R3对电容器进行检测，采用低电压检测，选用金属膜电阻，控制电流最大不超过2. 5mA。一种对铝电解电容器的低电压方式短路检测电路，所述エ位I电路中电阻Rl和电容Cl串联；エ位2中电阻R2和电容C2串联；エ位3中电阻R3和电容C3串联；所述的エ位I、エ位2、エ位3的一端电路并联后与电源串联。
其中所述控制电流按下列公式测算I=U/R其中U——电源电电压；R——电阻。例如，在エ位I与エ位2中，电源电压 U1=U2=0. 5V Rl= R2=400 Q11=12=1. 25mA
在エ位 3 中，电源 电压 U3=0.5V R3=200 Q 13=2. 5mA。本实施例的有益效果是可以有效的排除箔粉、毛刺、假性短路等对高频低阻抗铝电解电容器老化前的影响，提高检测的准确率和生产过程中的成品率。
权利要求
1.一种对铝电解电容器的低电压方式短路检测方法，其特征在于包括エ位I、エ位2、エ位3，所述エ位I是充电电路，包括有R1、C1 ;所述エ位2是充电电路，包括有R2、C2 ;所述エ位3是检测电路，包括有R3、C3 ;该短路检测方法是在铝电解电容器全自动老化机分选机设备上，エ位I、エ位2分别通过Rl和R2对电容器进行充电，エ位3通过R3对电容器进行检测，采用低电压检测，选用金属膜电阻，控制电流最大不超过2. 5mA。
2.根据权利要求I所述ー种对铝电解电容器的低电压方式短路检测方法，其特征在于所述エ位I与エ位2中，电源电压U1=U2=0.5V Rl= R2=400Q 11=12=1. 25mA，在エ位 3 中，电源电压 U3=0.5V R3=200 Q 13=2. 5mA。
3.一种对铝电解电容器的低电压方式短路检测电路，其特征在于所述エ位I电路中电阻Rl和电容Cl串联；エ位2中电阻R2和电容C2串联；エ位3中电阻R3和电容C3串联；所述的エ位I、エ位2、エ位3的一端电路并联后与电源串联。
全文摘要
本发明公开了一种对铝电解电容器的低电压方式短路检测电路及其检测方法，包括工位1、工位2、工位3，所述工位1是充电电路，包括有R1、C1；所述工位2是充电电路，包括有R2、C2；所述工位3是检测电路，包括有R3、C3；该短路检测方法是在铝电解电容器全自动老化机分选机设备上，工位1、工位2分别通过R1和R2对电容器进行充电，工位3通过R3对电容器进行检测，所述工位1电路中电阻R1和电容C1串联；工位2中电阻R2和电容C2串联；工位3中电阻R3和电容C3串联；所述的工位1、工位2、工位3的一端电路并联后与电源串联。通过这样设置可以有效的排除箔粉、假性短路等对高频低阻抗铝电解电容器老化前的影响，提高检测准确率。
文档编号G01R31/02GK102830306SQ20121029407
公开日2012年12月19日 申请日期2012年8月17日 优先权日2012年8月17日
发明者颜奇旭, 王坤亮, 朱胜利 申请人:常州华威电子有限公司