专利名称：射频�？�、采样装置、天线测试系统及天线测试方法
技术领域：
本发明涉及无线通讯设备生产技术领域，特别是涉及一种射频�？�、采样装置、天线测试系统及天线测试方法。
背景技术：
对于一款移动通信事业使用的基站射频天线，在投入到基站使用前，要对基站射频天线的各项指标进行测试，其中，该各项指标包括驻波、相位以及隔离等，当这些指标全部确认合格之后，该基站射频天线才可以出货到应用客户端。现有的测试装置基本以研发型为主，其能够提供基本指标的基本测量，但是在整个基站射频天线的测试验证过程中，很多环节需要依靠人工进行操作、控制以及观察等，不但测试效率较低，而且容易因为人为的误判断从而导致不合格的基站射频天线流转至应用客户端。
发明内容
本发明主要解决的技术问题是提供一种射频�？�、采样装置、天线测试系统及天线测试方法，在用于测试天线相位时，能够提高测试效率和测试质量。为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是提供一种用于天线测试用的射频�？椋ㄉ淦当咎搴蜕柚糜谏淦当咎迳系那缏罚缏飞柚糜行藕攀淙攵�、信号输出端以及至少一个参数接收端；其中，信号输入端作为旁通端用以连接另一射频�？橹星缏返男藕攀淙攵耍问邮斩肆佑刑酵罚酵酚靡圆杉馓煜叩牟饬坎问煌獠靠刂菩藕抛孕藕攀淙攵耸淙氲角缏罚缏犯萃獠靠刂菩藕叛≡裥允鼓苄藕攀涑龆�、或者选择性使能至少一个参数接收端中的其中一个。其中，射频本体一端设置有连接口、另一端设置有连接件，连接件用于连接另一射频模块的连接口进而将射频�？楹土硪簧淦的？榱庸潭�。其中，射频本体内部设置有容置空间，容置空间用于收容连接件。为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是提供一种用于天线测试用的采样装置，至少包括第一射频�？楹偷诙淦的？椋坏谝簧淦的？榘ǖ谝簧淦当咎搴蜕柚糜诘谝簧淦当咎迳系牡谝磺缏罚谝磺缏飞柚糜械谝恍藕攀淙攵�、第一信号输出端以及至少一个第一参数接收端；外部控制信号自第一信号输入端输入到第一驱动电路，第一驱动电路根据外部控制信号选择性使能第一信号输出端、或者选择性使能至少一个第一参数接收端中的其中一个；第二射频模块包括第二射频本体和设置于第二射频本体上的第二驱动电路，第二驱动电路设置有第二信号输入端、第二信号输出端以及至少一个第二参数接收端，第一参数接收端和第二参数接收端连接有探头，探头用以采集待测天线的测量参数，并且，第一驱动电路的第一信号输出端连接第二驱动电路的第二信号输入端；在第一驱动电路使能第一信号输出端时，第一信号输出端将外部控制信号自第二信号输入端输入到第二驱动电路，第二驱动电路根据外部控制信号选择性使能第二信号输出端、或者选择性使能至少一个第二参数接收端中的其中一个。其中，第一射频�？榈牡谝簧淦当咎搴偷诙淦的？榈牡诙淦当咎逡欢司柚糜辛涌凇⒘硪欢司柚糜辛蛹谝簧淦当咎宓牧蛹拥诙淦当咎宓牧涌诮谝簧淦的？楹偷诙淦的？榱庸潭�。其中，第一射频本体和第二射频本体内部均设置有容置空间，第一射频本体的容置空间用于收容第一射频本体的连接件，第二射频本体的容置空间用于收容第二射频本体的连接件。其中，采样装置包括壳体，第一射频�？楹偷诙淦的？榫柚糜诳翘迥诓浚渲校翘迳仙柚糜械谝欢丝诤偷诙丝冢谝磺缏返牡谝恍藕攀淙攵丝诹拥谝欢丝冢谝簧淦的？楹偷诙淦的？榈母髯缘拿扛鎏酵肪拥诙丝�。其中，壳体为可穿透电磁的壳体。为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是提供一种天线测试系统，包括如上述任一项实施方式所描述的采样装置。其中，天线测试系统包括控制终端、网络分析仪、矩阵开关�？橐约白悠鳎渲校悠饔糜诮玌SB信号转换成TTL信号；其中，控制终端通过转接器与采样装置连接，并且控制终端分别连接网络分析仪的控制端和矩阵开关模块的控制端；并且，网络分析仪的输出端、输入端分别对应连接矩阵开关�？榈氖淙攵�、输出端，其中，矩阵开关�？榛拱ǘ喔霾馐远丝冢喔霾馐远丝诰≡裥粤泳卣罂啬？榈氖淙攵撕褪涑龆耍渲校卣罂啬？榈氖淙攵擞攵喔霾馐远丝谥械囊桓霾馐远丝诹庸钩傻谝徊馐酝ǖ溃卣罂啬？榈氖涑龆擞攵喔霾馐远丝谥辛硪桓霾馐远丝诹庸钩傻诙馐酝ǖ溃⑶遥诙馐酝ǖ懒硬裳爸玫牡谝欢丝冢痪卣罂啬？楦菘刂浦斩朔⑺凸吹牡谝豢刂菩藕叛⊥ǖ谝徊馐酝ǖ篮偷诙馐酝ǖ溃谝徊馐酝ǖ烙靡越邮兆酝绶治鲆堑氖涑龆朔⒊龅牟馐孕藕牛馓煜吒鞣⑸涞ピ缘谝徊馐酝ǖ阑袢〔馐孕藕挪⒔馐孕藕欧⑸涑鋈ィ裳爸酶菘刂浦斩司悠鞣⑺凸吹牡诙刂菩藕叛≡裣嘤Φ奶酵芬缘ザ�、依次采集待测天线各发射单元的相位参数，网络分析仪的输入端自第二测试通道获取相位参数。其中，天线测试系统包括吸波墙；吸波墙用于吸收待测天线自采样装置中泄漏出的电磁波，其中，吸波墙吸收700MHz-3GHz的电磁波。其中，吸波墙吸收电磁波的部分采用高磁导率铁氧体材料。其中，转接器是USB-TTL控制器。为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是提供一种天线测试方法，包括如上述任一实施方式所描述的天线测试系统，包括如下步骤矩阵开关�？楦莸谝豢刂菩藕叛⊥ǖ谝徊馐酝ǖ篮偷诙馐酝ǖ溃谝徊馐酝ǖ烙靡越邮胀绶治鲆堑氖涑龆朔⑺凸吹牟馐孕藕牛淮馓煜吒鞣⑸涞ピ缘谝徊馐酝ǖ阑袢〔馐孕藕挪⒎⑸涑鋈ィ徊裳爸酶莸诙刂菩藕攀鼓芷湎嘤ξ恢玫奶酵芬缘ザ馈⒁来尾杉馓煜吒鞣⑸涞ピ南辔徊问⒉⒔辔徊问拥诙馐酝ǖ婪⑺椭镣绶治鲆堑氖淙攵耍黄渲校卣罂啬？榘ǘ喔霾馐远丝冢喔霾馐远丝诰≡裥粤泳卣罂啬？榈氖淙攵撕褪涑龆耍渲校卣罂啬？榈氖淙攵擞攵喔霾馐远丝谥械囊桓霾馐远丝诹庸钩傻谝徊馐酝ǖ溃卣罂啬？榈氖涑龆擞攵喔霾馐远丝谥辛硪桓霾馐远丝诹庸钩傻诙馐酝ǖ溃⑶遥诙馐酝ǖ懒硬裳爸玫牡谝欢丝�。
本发明的有益效果是区别于现有技术的情况，本发明射频�？橥ü谕桓錾淦的？榈那缏飞仙柚眯藕攀淙攵�、信号输出端以及至少一个参数接收端，其中，每个参数接收端相应连接采样用的探头，并且射频�？榭梢源嘞嗤峁沟纳淦的？椋ü獠靠刂菩藕叛≡裥允鼓芟嘤ι淦的？榍缏分械娜我徊问邮斩�、或者选择性使能信号输出端，不需要人工逐步移动探头进而实现对待测天线各发射单元的测试参数的采集，能够实现对待测天线各发射单元的测试参数的自动化采集且精度可调，能够降低人力成本、时间成本和测试设备成本，进而能够提高测试效率和测试质量。
图1是本发明射频�？槭凳┓绞降慕峁故疽馔迹煌�2是图1所示射频�？槭凳┓绞街星缏返牡缏吠迹煌�3是图1所示射频�？橛肓硪簧淦的？榈牧邮疽馔迹煌�4是本发明采样装置实施方式的结构示意图；图5是图4所示采样装置实施方式中驱动电路的电路图；图6是本发明采样装置另一实施方式的结构示意图；图7是本发明天线测试系统实施方式的结构示意图；图8是图7所示天线测试系统实施方式中USB-TTL控制器的电路图；图9是本发明天线测试系统实施方式中吸波墙的结构示意图；图10是本发明天线测试方法实施方式的流程图。
具体实施例方式下面结合附图和实施方式对本发明进行详细说明。结合图1至图3，图1是本发明射频�？槭凳┓绞降慕峁故疽馔迹�2是图1所示射频�？槭凳┓绞街星缏返牡缏吠迹�3是图1所示射频模块与另一射频�？榈牧邮疽馔肌１痉⒚魃淦的？槭凳┓绞桨ㄉ淦当咎�11和驱动电路12。驱动电路12设置于射频本体11上，驱动电路12设置有信号输入端121、信号输出端122以及三个参数接收端123、124、125，参数接收端123连接探头131，参数接收端124连接探头132，参数接收端125连接探头133，探头131、132、133用以采集待测天线的测量参数，其中，测量参数至少包括相位参数。通常，探头131、探头132以及探头133可以等间距或者不等间距设置。其中，结合图3，信号输入端121作为旁通端用以连接另一射频�？镮’中驱动电路(图未示)的信号输入端(图未示)，举例而言，驱动电路12可选择单刀四掷射频开关(SP4T射频开关)。探头的数量取决于参数接收端的数量，全文中每个射频�？橹胁问邮斩说氖恐辽偕柚梦桓觯囊砸桓錾淦的？橹胁问邮斩耸课鼋芯倮得�。外部控制信号自信号输入端121输入到驱动电路12，驱动电路12根据外部控制信号选择性使能信号输出端122、或者选择性使能参数接收端123、124、125中的其中一个。即，要么信号输出端122被使能，要么参数接收端123、124、125中任意一个被使能，参数接收端123、124、125任意一个被使能时，其对应连接的探头进行采样。本发明实施方式，通过在同一个射频�？镮的驱动电路12上设置信号输入端121、信号输出端122以及参数接收端123、124、125，其中，参数接收端123、124、125相应连接用于采样的探头131、132、133，并且射频�？镮可以串联更多相同结构的射频模块，通过外部控制信号选择性使能相应射频�？榍缏分械娜我徊问邮斩�、或者选择性使能信号输出端，不需要人工逐步移动探头进而实现对待测天线各发射单元的测试参数的采集，能够实现对待测天线各发射单元的测试参数的自动化采集且精度可调，能够降低人力成本、时间成本和测试设备成本，进而能够提高测试效率和测试质量。继续参阅图1和图3，在一应用实施方式中，射频本体11 一端设置有连接口 111、另一端设置有连接件112，连接件112用于连接另一射频模块I’的连接口(图未示)进而将射频模块I和另一射频模块I’连接固定。可以在射频本体11内部设置有容置空间113，在不需要使用连接件112或者不需要使用连接件112的全部长度时，容置空间113可收容连接件112全部或者部分。设置连接口 111与连接件112能够方便射频�？镮的连接，提高组装效率；而在射频本体11内部设置容置空间113以收容连接件112，可使得射频本体11的长度可调，不仅方便调整每个射频�？镮之间的间距以适于不同测试环境，还可方便包装、运输。结合图4和图5，图4是本发明采样装置实施方式的结构示意图，图5是图4所示采样装置实施方式中驱动电路的示意图。本发明实施方式的采样装置至少包括第一射频�？�2和第二射频�？�3。第一射频�？�2包括第一射频本体21和设置于第一射频本体21上的第一驱动电路22,第一驱动电路22设置有第一信号输入端221、第一信号输出端222以及第一参数接收端223、224、225，并且，第一参数接收端223、224、225分别相应连接探头231、232、233。外部控制信号自第一信号输入端221输入到第一驱动电路22,第一驱动电路22根据外部控制信号选择性使能第一信号输出端222、或者选择性使能第一参数接收端223、224,225中的其中一个。第二射频�？�3包括第二射频本体31和设置于第二射频本体31上的第二驱动电路32，第二驱动电路32设置有第二信号输入端321、第二信号输出端322以及第二参数接收端323、324、325，第二参数接收端323、324、325分别相应连接探头331、332、333。并且，第一驱动电路22的第一信号输出端222连接第二驱动电路32的第二信号输入端321。要使能第二驱动电路32中的第二信号输出端322或者第二参数接收端323、324、325中的其中一个时,需要第一驱动电路22使能第一信号输出端222,第一信号输出端222将外部控制信号自第二信号输入端321输入到第二驱动电路32，第二驱动电路32根据外部控制信号选择性使能第二信号输出端322、或者选择性使能第二参数接收端323、324、325中的其中一个。当然，采样装置可以包括三个或三个以上的射频模块，要选择性使能后一个射频模块中驱动电路的信号输出端、或者要选择性使能至少一个参数接收端中的其中一个时，需要先使能该后一个射频�？榍懊嫠猩淦的？榈男藕攀涑龆耍庋煤笠桓錾淦的？榈那缏凡拍芑袢〉酵獠靠刂菩藕牛咛骞炭刹慰记拔�。串联更多射频�？榭梢愿哺遣煌拇馓煜�。本发明实施方式，通过外部控制信号选择性使能相应射频�？榍缏分械娜我徊问邮斩恕⒒蛘哐≡裥允鼓苄藕攀涑龆耍恍枰斯ぶ鸩揭贫酵方迪侄源馓煜吒鞣⑸涞ピ牟馐圆问牟杉芄皇迪侄源馓煜吒鞣⑸涞ピ牟馐圆问淖远杉揖瓤傻鳎芄唤档腿肆Τ杀�、时间成本和测试设备成本，进而能够提高测试效率和测试质量。当然，在具体应用实施方式中，如图5所不，第一射频�？�2的第一射频本体21—端设置有连接口 211、另一端设置有连接件212和第二射频模块3的第二射频本体31 —端设置有连接口 311、另一端设置有连接件312，第一射频本体21的连接件212连接第二射频本体31的连接口 311进而将第一射频�？�2和第二射频�？�3连接固定。并且，可在第一射频本体21内部设置容置空间213，在第二射频本体31内部设置容置空间313，第一射频本体21的容置空间213用于收容第一射频本体21的连接件212，第二射频本体31的容置空间313用于收容第二射频本体31的连接件312。进一步地，如图6所示，图6是本发明采样装置另一实施方式的结构示意图，并请结合图4。采样装置还包括壳体100。第一射频�？�2和第二射频�？�3均设置于壳体100内部，其中，壳体100上设置有第一端口(图未不)和第二端口(图未不)，第一驱动电路22的第一信号输入端221连接第一端口，第一射频�？�2和第二射频�？�3的各自的每个探头均连接第二端口，如图6所示，第一射频模块2的探头231、232、233以及第二射频�？�3的探头331、332、333等。当射频�？榈氖课喔鍪保洳握盏谝簧淦的？�2和第二射频�？�3设置于壳体100内部，此处不作一一赘述。壳体100为可穿透电磁的壳体,壳体100不会对待测天线发射出的信号产生反射，能够有效降低由于信号反射对测量参数的影响，提高测试准确性。参阅图7，图7是本发明天线测试系统实施方式的结构示意图。并请结合图5和图6，本发明天线测试系统实施方式不仅包括如上述实施方式所描述的采样装置10，还包括网络分析仪20、矩阵开关�？�30、转接器40、GPIB�？�50以及控制终端60。其中，控制终端60通过转接器40与采样装置10连接，转接器40用于将USB信号转换成TTL信号，其通常采用USB-TTL控制器。具体地，如图8所示，USB-TTL控制器40包括依次连接的USB输入端口 401、USB输出端口 402、TTL输入端口 403以及TTL输出端口404，USB输入端口 401连接控制终端60的USB接口 601，TTL输出端口 404连接采样装置10的第二端口 102 ;并且控制终端60通过GPIB�？�50分别连接网络分析仪20和矩阵开关�？�30。通常，控制终端60为计算机终端。并且，网络分析仪20的输出端201、输入端202分别对应连接矩阵开关�？�30的输入端301、输出端302，其中，矩阵开关�？�30还包括多个测试端口(如图7示出的测试端口 303、304、305)，多个测试端口均可选择性连接矩阵开关�？�30的输入端301和输出端302，即矩阵开关�？�30的输入端301连接其所有测试端口、矩阵开关模块30的输出端302亦连接其所有测试端口，在用于待测天线70的相位测试时，矩阵开关�？�30根据控制终端60发送过来的控制信号使能相应端口，即选择相应测试通道发送或接收参数，具体地，矩阵开关模块30的输入端301与多个测试端口(303、304、305)中的一个测试端口(如304)连接构成第一测试通道，而矩阵开关�？�30的输出端302与多个测试端口(303、304、305)中另一个测试端口(303)连接构成第二测试通道。其中，矩阵开关�？�30的测试端口 303与采样装置10的第一端口 101相连，即第二测试通道连接采样装置10的第一端口 101。
矩阵开关�？�30根据控制终端60经GPIB�？�50发送过来的第一控制信号选通第一测试通道和第二测试通道，以接收网络分析仪20的输出端201发出的测试信号，待测天线70各发射单元701自第一测试通道获取该测试信号并将测试信号发射出去，采样装置10根据控制终端60经USB-TTL控制器40发送过来的第二控制信号选择相应的探头(可参阅图4-图6)以单独、依次采集待测天线70各发射单元701的相位参数，网络分析仪20的输入端202自第二测试通道获取相位参数，即矩阵开关�？�30的测试端口 303经采样装置10的第一端口 101获取相位参数并通过第二测试通道将相位参数发送至网络分析仪20的输入端202。如图9所示，天线测试系统还包括吸波墙80。吸波墙80用于吸收待测天线70自采样装置10中泄漏出的电磁波，其中，吸波墙80吸收700MHZ-3GHZ的电磁波。吸波墙80吸收电磁波的部分采用高磁导率铁氧体材料，吸波墙80通过共振的方式吸收电磁波大部分的辐射能量，再通过耦合把电磁波的能量转变成热能。增设吸波墙80可吸收泄露的电磁波，能极大程度地消除电磁干扰对探头采样数据精确性的影响。上述实施方式中，需要对待测天线70进行位置设置和连接，具体地，需要将待测天线70各发射单元701的的发射面对应采样装置10的各探头进行设置，即需要将采样装置覆盖待测天线70，然后在采样装置10的外侧设置吸波墙80以吸收探头完成采样后自采样装置10泄漏的电磁波。并且，待测天线70至少包括第一端口 702，对待测天线70进行相位测试时，该待测天线70的第一端口 702连接矩阵开关模块30中测试端口 304 (或测试端口 305)。控制终端60通过GPIB模块50发送第一控制信号给矩阵开关�？�30以选择相应测试通道，该测试通道接收用以接收自网络分析仪20的输出端201发出的测试信号，待测天线70的第一端口 702获取该测试信号并将该信号发射出去。并且，在进行相位测试时，还需要选择采样装置10中相应的探头以采集待测天线70各发射单元701的相位参数，具体地，控制终端60通过USB-TTL控制器40发送第二控制信号(第二控制信号为TTL信号)选择采样装置10中相应的探头，最终能够使得待测天线70各发射单元701能够与探头进行一一对应，值得注意的是，为确保测试精度，同一时刻只能对一个发射单元701的相位参数进行采样，即控制终端60在同一时刻只能使能采样装置10中某一射频�？榈哪骋桓鎏酵方胁裳�。当然，实际操作中，对于第二控制信号的选择需要综合考虑各探头的间距以及待测天线70的尺寸等参数。最终，矩阵开关�？�30的测试端口 303经采样装置10的第一端口 101获取相位参数并通过测试通道将相位参数自矩阵开关�？�30的输出端302发送至网络分析仪20的输入端202，以供网络分析仪20进行相位分析。当然，本发明天线测试系统还可以用于对待测天线70的隔离度和驻波比等性能进行测试。简要而言通常，待测天线70包括多个发射单元701，各发射单元701进一步包括一个高频部分7011和一个低频部分7012，各发射单元701的高频部分7011均连接至待测天线70的第一端口 702，各发射单元701的低频部分7012均连接至待测天线70的第二端口 703。(I)测试隔离度时，先将待测天线70与矩阵开关�？�30进行线路连接，具体地，矩阵开关�？�30的测试端口 304 (或测试端口 305)连接至待测天线70的第一端口 702，矩阵开关�？�30的测试端口 305 (或测试端口 304)连接至待测天线70的第二端口 703。比如，网络分析仪20自其输出端201发送高频信号、并依次经过矩阵开关�？�30的输入端301、矩阵开关�？�30的测试端口 304输入至待测天线70的第一端口 702，待测天线70的第二端口 703获取该高频信号并依次经过矩阵开关�？�30的测试端口 304、矩阵开关�？�30的输出端302输入至网络分析仪20的输入端202，以供网络分析仪20进行分析。相应地，网络分析仪20自其输出端201发送低频信号、并依次经过矩阵开关�？�30的输入端301、矩阵开关�？�30的测试端口 305输入至待测天线70的第二端口 703，待测天线70的第一端口 702获取该低频信号并依次经过矩阵开关�？�30的测试端口 305、矩阵开关�？�30的输出端302输入至网络分析仪20的输入端202，以供网络分析仪20进行分析。在具体判断待测天线70是否满足隔离度要求时，如果分析得到待测天线70的第二端口 703获取到的高频信号强度小于一定值时，且如果分析得到矩阵开关模块30的第一端口 702获取到的低频信号强度小于一定值时，即可判断得到待测天线70的隔离度满足要求。当然，网络分析仪20可以同时发送包括高频信号和低频信号的混合信号，其工作原理可参阅前文。(2)测试驻波比时，也需要先将待测天线70与矩阵开关�？�30进行线路连接。具体地，矩阵开关模块30的测试端口 304、305中任意一个测试端口连接至待测天线70的第一端口 702 (或第二端口 703)，网络分析仪20自其输出端201发送测试信号(该测试信号可以是高频信号、低频信号或者包括高频信号和低频信号的混合信号)、并依次经过矩阵开关�？�30的输入端301、矩阵开关�？�30的测试端口 304 (或测试端口 305)输入至待测天线70的第一端口 702 (或第二端口 703)，待测天线70的第一端口 702 (或第二端口 703)获取该低频信号相应的反射信号并依次经过矩阵开关�？�30的测试端口 304(或测试端口305)、矩阵开关�？�30的输出端302输入至网络分析仪20的输入端202，以供网络分析仪20进行分析。在具体判断待测天线70是否满足驻波比要求时，只需判断输入信号与反射信号的比值是否小于端口反射系数即可。即如果输入信号与反射信号的比值小于端口反射系数，即可判断待测天线70满足驻波比要求。本发明实施方式，不需要人工逐步移动探头进而实现对待测天线70各发射单元701的测试参数的采集，能够实现对待测天线70各发射单元701的测试参数的自动化采集且精度可调，能够降低人力成本、时间成本和测试设备成本，进而能够提高测试效率和测试质量。另外，本发明实施方式不仅能实现对待测天线70的相位测试，还能实现对待测天线70隔离度和驻波比等测试。本发明还提供一种天线测试方法。参阅图10，图10是本发明天线测试方法实施方式的流程图。基于上述实施方式的天线测试系统，本发明天线测试方法实施方式包括如下步骤步骤S101，矩阵开关�？楦莸谝豢刂菩藕叛⊥ǖ谝徊馐酝ǖ篮偷诙馐酝ǖ溃谝徊馐酝ǖ烙靡越邮胀绶治鲆堑氖涑龆朔⑺凸吹牟馐孕藕�。
步骤S102，待测天线各发射单元自第一测试通道获取测试信号并发射出去。步骤S103，采样装置根据第二控制信号使能其相应位置的探头以单独、依次采集待测天线各发射单元的相位参数、并将相位参数从第二测试通道发送至网络分析仪的输入端。其中，矩阵开关�？榘ǘ喔霾馐远丝冢喔霾馐远丝诰≡裥粤泳卣罂啬？榈氖淙攵撕褪涑龆耍渲校卣罂啬？榈氖淙攵擞攵喔霾馐远丝谥械囊桓霾馐远丝诹庸钩傻谝徊馐酝ǖ溃卣罂啬？榈氖涑龆擞攵喔霾馐远丝谥辛硪桓霾馐远丝诹庸钩傻诙馐酝ǖ溃⑶遥诙馐酝ǖ懒硬裳爸玫牡谝欢丝�。本发明实施方式，能够实现对待测天线各发射单元的测试参数的自动化采集且精度可调，能够降低人力成本、时间成本和测试设备成本，进而能够提高测试效率和测试质量。另外，本发明实施方式不仅能实现对待测天线的相位测试，还能实现对待测天线隔离度和驻波比等测试。以上所述仅为本发明的实施方式，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
权利要求
1.一种用于天线测试用的射频模块，其特征在于: 所述射频�？榘ㄉ淦当咎搴蜕柚糜谒錾淦当咎迳系那缏罚銮缏飞柚糜行藕攀淙攵�、信号输出端以及至少一个参数接收端； 其中，所述信号输入端作为旁通端用以连接另一射频�？橹星缏返男藕攀淙攵耍霾问邮斩肆佑刑酵罚鎏酵酚靡圆杉馓煜叩牟饬坎问� 外部控制信号自所述信号输入端输入到所述驱动电路，所述驱动电路根据所述外部控制信号选择性使能所述信号输出端、或者选择性使能至少一个所述参数接收端中的其中一个。
2.根据权利要求1所述的射频模块，其特征在于， 所述射频本体一端设置有连接口、另一端设置有连接件，所述连接件用于连接所述另一射频�？榈牧涌诮錾淦的？楹退隽硪簧淦的？榱庸潭�。
3.根据权利要求2所述的射频�？椋涮卣髟谟冢� 所述射频本体内部设置有容置空间，所述容置空间用于收容所述连接件。
4.一种用于天线测试用的采样装置，其特征在于， 至少包括第一射频�？楹偷诙淦的？椋� 所述第一射频模块包括第一射频本体和设置于所述第一射频本体上的第一驱动电路，所述第一驱动电路设置有第一信号输入端、第一信号输出端以及至少一个第一参数接收端; 外部控制信号自所述第一信号输入端输入到所述第一驱动电路，所述第一驱动电路根据所述外部控制信号选择性使能所述第一信号输出端、或者选择性使能至少一个所述第一参数接收端中的其中一个； 所述第二射频�？榘ǖ诙淦当咎搴蜕柚糜谒龅诙淦当咎迳系牡诙缏罚龅诙缏飞柚糜械诙藕攀淙攵�、第二信号输出端以及至少一个第二参数接收端，所述第一参数接收端和所述第二参数接收端连接有探头，所述探头用以采集待测天线的测量参数，并且，所述第一驱动电路的所述第一信号输出端连接所述第二驱动电路的所述第二信号输入端； 在所述第一驱动电路使能所述第一信号输出端时，所述第一信号输出端将所述外部控制信号自所述第二信号输入端输入到所述第二驱动电路，所述第二驱动电路根据所述外部控制信号选择性使能所述第二信号输出端、或者选择性使能至少一个所述第二参数接收端中的其中一个。
5.根据权利要求4所述的采样装置，其特征在于， 所述第一射频�？榈乃龅谝簧淦当咎搴退龅诙淦的？榈乃龅诙淦当咎逡欢司柚糜辛涌凇⒘硪欢司柚糜辛蛹龅谝簧淦当咎宓乃隽蛹铀龅诙淦当咎宓牧涌诮龅谝簧淦的？楹退龅诙淦的？榱庸潭�。
6.根据权利要求5所述的采样装置，其特征在于， 所述第一射频本体和所述第二射频本体内部均设置有容置空间，所述第一射频本体的所述容置空间用于收容所述第 一射频本体的连接件，所述第二射频本体的所述容置空间用于收容所述第二射频本体的 连接件。
7.根据权利要求4所述的采样装置，其特征在于，所述采样装置包括壳体，所述第一射频�？楹退龅诙淦的？榫柚糜谒隹翘迥诓浚渲校隹翘迳仙柚糜械谝欢丝诤偷诙丝冢龅谝磺缏返乃龅谝恍藕攀淙攵丝诹铀龅谝欢丝冢龅谝簧淦的？楹退龅诙淦的？榈母髯缘拿扛鏊鎏酵肪铀龅诙丝�。
8.根据权利要求7所述的采样装置，其特征在于， 所述壳体为可穿透电磁的壳体。
9.一种天线测试系统，其特征在于，包括如权利要求4-8任一项所述的采样装置。
10.根据权利要求9所述的天线测试系统，其特征在于， 所述天线测试系统包括控制终端、网络分析仪、矩阵开关�？橐约白悠鳎渲校鲎悠饔糜诮玌SB信号转换成TTL信号； 其中，所述控制终端通过所述转接器与所述采样装置连接，并且所述控制终端分别连接所述网络分析仪的控制端和所述矩阵开关�？榈目刂贫耍� 并且，所述网络分析仪的输出端、输入端分别对应连接所述矩阵开关�？榈氖淙攵�、输出端，其中，所述矩阵开关�？榛拱ǘ喔霾馐远丝冢喔鏊霾馐远丝诰≡裥粤铀鼍卣罂啬？榈氖淙攵撕褪涑龆耍渲校鼍卣罂啬？榈氖淙攵擞攵喔鏊霾馐远丝谥械囊桓霾馐远丝诹庸钩傻谝徊馐酝ǖ溃鼍卣罂啬？榈氖涑龆擞攵喔鏊霾馐远丝谥辛硪桓霾馐远丝诹庸钩傻诙馐酝ǖ溃⑶遥龅诙馐酝ǖ懒铀霾裳爸玫牡谝欢丝冢� 所述矩阵开关�？楦菟隹刂浦斩朔⑺凸吹牡谝豢刂菩藕叛⊥ㄋ龅谝徊馐酝ǖ篮偷诙馐酝ǖ溃龅谝徊馐酝ǖ烙靡越邮兆运鐾绶治鲆堑氖涑龆朔⒊龅牟馐孕藕牛馓煜吒鞣⑸涞ピ运龅谝徊馐酝ǖ阑袢∷霾馐孕藕挪⒔霾馐孕藕欧⑸涑鋈ィ霾裳爸酶菟� 控制终端经所述转接器发送过来的第二控制信号选择相应的探头以单独、依次采集所述待测天线各发射单元的相位参数，所述网络分析仪的输入端自所述第二测试通道获取所述相位参数。
11.根据权利要求10所述的天线测试系统，其特征在于， 所述天线测试系统包括吸波墙； 所述吸波墙用于吸收所述待测天线自所述采样装置中泄漏出的电磁波，其中，所述吸波墙吸收700MHz-3GHz的电磁波。
12.根据权利要求11所述的天线测试系统，其特征在于， 所述吸波墙吸收电磁波的部分采用高磁导率铁氧体材料。
13.根据权利要求10所述的天线测试系统，其特征在于， 所述转接器是USB-TTL控制器。
14.一种天线测试方法，包括如权利要求10-13任一项所述的天线测试系统，其特征在于，包括如下步骤: 矩阵开关�？楦莸谝豢刂菩藕叛⊥ǖ谝徊馐酝ǖ篮偷诙馐酝ǖ溃龅谝徊馐酝ǖ烙靡越邮胀绶治鲆堑氖涑龆朔⑺凸吹牟馐孕藕牛� 待测天线各发射单元自所述第一测试通道获取所述测试信号并发射出去； 采样装置根据第二控制信号使能其相应位置的探头以单独、依次采集所述待测天线各发射单元的相位参数、并将所述相位参数从第二测试通道发送至所述网络分析仪的输入端; 其中，所述矩阵开关模块包括多个测试端口，多个所述测试端口均选择性连接所述矩阵开关模块的输入端和输出端，其中，所述矩阵开关�？榈氖淙攵擞攵喔鏊霾馐远丝谥械囊桓霾馐远丝诹庸钩傻谝徊馐酝ǖ溃鼍卣罂啬？榈氖涑龆擞攵喔鏊霾馐远丝谥辛硪桓霾馐远丝诹� 构成第二测试通道，并且，所述第二测试通道连接所述采样装置的第一端口。
全文摘要
本发明公开了一种射频�？椤８蒙淦的？榘òㄉ淦当咎搴蜕柚糜谏淦当咎迳系那缏罚缏飞柚糜行藕攀淙攵恕⑿藕攀涑龆艘约爸辽僖桓霾问邮斩耍渲校藕攀淙攵俗魑酝ǘ擞靡粤恿硪簧淦的？橹星缏返男藕攀淙攵耍问邮斩肆佑刑酵罚酵酚靡圆杉馓煜叩牟饬坎问煌獠靠刂菩藕抛孕藕攀淙攵耸淙氲角缏罚缏犯萃獠靠刂菩藕叛≡裥允鼓苄藕攀涑龆�、或者选择性使能至少一个参数接收端中的其中一个。本发明还公开了一种采样装置、天线测试系统及天线测试方法。通过上述方式，本发明能够在测试天线相位时，提高测试效率和测试质量。
文档编号G01R29/08GK103076507SQ20121058522
公开日2013年5月1日 申请日期2012年12月28日 优先权日2012年12月28日
发明者刘湘萍 申请人:苏州市大富通信技术有限公司
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