专利名称：压降测试系统、压降控制装置及其压降测试方法
技术领域：
本发明涉及一种测试系统，更具体地，涉及一种基于Labview开发平台的压降测试系统、压降控制装置及其压降测试方法。
背景技术：
电子设备在出厂前都需要做EMI电磁干扰压降测试，通常使用压降测试仪对电子设备作压降测试，如PLD (Power line disturbance)电源线干扰测试仪。在PLD测试仪测试之前，用户通常会准备好一张如图3所示的记录表，该记录表中记录提供的电源电压、多个压降百分比及多个测试时间。每当测试时，电子设备电连接该PLD测试仪后，用户手动在PLD测试仪上输入记录表中的各个测试数据来做压降测试，用户通过观察判断来测试结果及记录该测试结果到记录表相应位置中。然而，整个测试过程都需要用户一直手动输入测试数据及时刻盯着测试仪来获取测试结果，这样大大浪费人力和时间。
发明内容
为了解决上述存在的问题，本发明的目的在于，提供一种压降测试系统，其用于对一待测电子设备做电磁干扰压降测试，该压降测试系统运行于一连接该待测电子设备的PLD (Power line disturbance)电源线干扰测试仪及一 Labview开发平台之间，该Labview开发平台提供一压降测试图框，该压降测试图框定义有实现压降测试所需的测试参数区域及测试结果标识区域，所述测试参数区域包括供电电压区域、压降百分比区域及测试时间区域；该压降测试系统包括:一参数载入�？椋糜谙煊τ没У氖淙氚迅鞑馐允菰厝氲礁醚菇挡馐酝伎蛑懈鞲霾馐圆问蚰冢灰皇荽淠？椋糜诮醚菇挡馐酝伎蛑懈鞲霾馐圆问蚰诘牟馐允莘肿榈拇涞礁肞LD测试仪进行对该待测电子设备的压降测试，每一组测试数据包括一供电电压、一压降百分比和一测试时间；一判断�？椋糜诘备檬荽淠？榇湟蛔椴馐允莸礁肞LD测试仪测试时，判断该组测试数据的测试时间结束后一预定时间内是否接收到来自该PLD测试仪的一电压信号；一结果标识�？椋糜诘备迷ざㄊ奔淠诮邮盏礁玫缪剐藕攀保诟醚菇挡馐酝伎蛑薪米椴馐允荻杂Φ牟馐越峁晔肚虮晔兑徊馐越峁馐酝ü坏备迷ざㄊ奔淠诿挥薪邮盏礁玫缪剐藕攀保诟醚菇挡馐酝伎蛑薪米椴馐允荻杂Φ牟馐越峁晔肚虮晔兑徊馐越峁馐允О埽患耙皇涑隹刂颇？椋糜诮鞑馐越峁涑鱿允居诟醚菇挡馐酝伎蛑校黄渲校备门卸夏？樵诟迷ざㄊ奔淠诮邮盏嚼醋愿肞LD测试仪的电压信号时，该数据传输�？榇涓醚菇挡馐酝伎蛑械牧硪蛔椴馐允莸礁肞LD测试仪测试。一种压降控制装置,其连接一PLD(Power line disturbance)电源线干扰测试仪共同对一待测电子设备做电磁干扰压降测试，该压降控制装置运行于一 Labview开发平台上，该Labview开发平台提供一压降测试图框，该压降测试图框定义有实现压降测试所需的测试参数区域及测试结果标识区域，所述测试参数区域包括供电电压区域、压降百分比区域及测试时间区域；该压降控制装置包括:一参数载入�？椋糜谙煊τ没У氖淙氚迅鞑馐允菰厝氲礁醚菇挡馐酝伎蛑懈鞲霾馐圆问蚰冢灰皇荽淠？椋糜诮醚菇挡馐酝伎蛑懈鞲霾馐圆问蚰诘牟馐允莘肿榈拇涞礁肞LD测试仪进行对该待测电子设备的压降测试，每一组测试数据包括一供电电压、一压降百分比和一测试时间；一判断�？椋糜诘备檬荽淠？榇湟蛔椴馐允莸礁肞LD测试仪测试时，判断该组测试数据的测试时间结束后一预定时间内是否接收到来自该PLD测试仪的一电压信号；一结果标识�？椋糜诘备迷ざㄊ奔淠诮邮盏礁玫缪剐藕攀保诟醚菇挡馐酝伎蛑薪米椴馐允荻杂Φ牟馐越峁晔肚虮晔兑徊馐越峁馐酝ü坏备迷ざㄊ奔淠诿挥薪邮盏礁玫缪剐藕攀保诟醚菇挡馐酝伎蛑薪米椴馐允荻杂Φ牟馐越峁晔肚虮晔兑徊馐越峁馐允О埽患耙皇涑隹刂颇？椋糜诮鞑馐越峁涑鱿允居诟醚菇挡馐酝伎蛑校黄渲校备门卸夏？樵诟迷ざㄊ奔淠诮邮盏嚼醋愿肞LD测试仪的电压信号时，该数据传输�？榇涓醚菇挡馐酝伎蛑械牧硪蛔椴馐允莸礁肞LD测试仪测试。一种压降测试系统的压降测试方法，一种压降测试系统的压降测试方法，该压降测试系统用于对一待测电子设备做电磁干扰压降测试，该压降测试系统运行于一连接该待测电子设备的PLD (Power line disturbance)电源线干扰测试仪及一 Labview开发平台之间，该方法包括步骤:提供一压降测试图框，该压降测试图框定义有实现压降测试所需的测试参数区域及测试结果标识区域，所述测试参数区域包括供电电压区域、压降百分比区域及测试时间区域；响应用户的输入把各测试数据载入到该压降测试图框中各个测试参数区域内；传输该压降测试图框中的一组测试数据到该PLD测试仪进行对该待测电子设备的压降测试，该组测试数据包括一供电电压、一压降百分比和一测试时间；判断在该组测试数据的测试时间结束后一预定时间内是否接收到来自该PLD测试仪的一电压信号；如果该预定时间内接收到该电压信号，在该压降测试图框中将该组测试数据对应的测试结果标识区域标识一测试结果为测试通过及传输该压降测试图框中的另一组测试数据到该PLD测试仪；如果该预定时间内没有接收到该电压信号，在该压降测试图框中该组测试数据对应的测试结果标识区域标识一测试结果为测试失败；及将各测试结果输出显示于该压降测试图框中。本发明涉及一种压降测试系统、压降控制装置及其压降测试方法，该压降测试系统的Labview开发平台运行时，各测试数据通过通讯链路传递到PLD测试仪，PLD测试仪测试完把测试结果反馈到Labview开发平台，该Labview开发平台利用其自带的函数库实时对传递数据进行处理、分析得到该测试完成的压降测试图框。通过该测试完成的压降测试图框，用户很容易得知该待测电子设备的压降测试情况。因此，本发明的压降测试系统方便的将软件硬件系统和软件控制算法建立在一个图形化平台上，通过图形化的操作，大大的简化了软硬件投入，实现了电子设备压降测试的自动化，大大节省了成本开支且提高了测试效率。
图1是本发明一压降测试系统的硬件结构示意图；图2是图1压降测试系统的处理单元的硬件结构示意图；图3是传统做压降测试所准备的记录表的示意图；图4是图1的压降测试系统通过Labview开发平台编译的压降测试图框的示意图；及图5是图1的压降测试系统做压降测试的方法流程图。主要元件符号说明
权利要求
1.一种压降测试系统，其用于对一待测电子设备做电磁干扰压降测试，该压降测试系统运行于一连接该待测电子设备的PLD(Power line disturbance)电源线干扰测试仪及一Labview开发平台之间，其特征在于， 该Labview开发平台提供一压降测试图框，该压降测试图框定义有实现压降测试所需的测试参数区域及测试结果标识区域，所述测试参数区域包括供电电压区域、压降百分比区域及测试时间区域； 该压降测试系统包括: 一参数载入�？椋糜谙煊τ没У氖淙氚迅鞑馐允菰厝氲礁醚菇挡馐酝伎蛑懈鞲霾馐圆问蚰冢� 一数据传输�？椋糜诮醚菇挡馐酝伎蛑懈鞲霾馐圆问蚰诘牟馐允莘肿榈拇涞礁肞LD测试仪进行对该待测电子设备的压降测试，每一组测试数据包括一供电电压、一压降百分比和一测试时间； 一判断�？椋糜诘备檬荽淠？榇湟蛔椴馐允莸礁肞LD测试仪测试时，判断该组测试数据的测试时间结束后一预定时间内是否接收到来自该PLD测试仪的一电压信号; 一结果标识�？椋糜诘备迷ざㄊ奔淠诮邮盏礁玫缪剐藕攀保诟醚菇挡馐酝伎蛑薪米椴馐允荻杂Φ牟馐越峁晔肚虮晔兑徊馐越峁馐酝ü坏备迷ざㄊ奔淠诿挥薪邮盏礁玫缪剐藕攀保诟醚菇挡馐酝伎蛑薪米椴馐允荻杂Φ牟馐越峁晔肚虮晔兑徊馐越峁馐允О埽患� 一输出控制�？椋糜诮鞑馐越峁涑鱿允居诟醚菇挡馐酝伎蛑校� 其中，当该判断�？樵诟迷ざㄊ奔淠诮邮盏嚼醋愿肞LD测试仪的电压信号时，该数据传输模块传输该压降测试图框中的另一组测试数据到该PLD测试仪测试。`
2.根据权利要求1所述的压降测试系统，其特征在于，当该判断模块判断出该预定时间内没有接收到来自该PLD测试仪的电压信号时，该数据传输�？橥Ｖ勾涓醚菇挡馐酝伎蛑械钠渌椴馐允莸礁肞LD测试仪。
3.一种压降控制装置,其连接一 PLD(Power line disturbance)电源线干扰测试仪共同对一待测电子设备做电磁干扰压降测试，该压降控制装置运行于一 Labview开发平台上，其特征在于， 该Labview开发平台提供一压降测试图框，该压降测试图框定义有实现压降测试所需的测试参数区域及测试结果标识区域，所述测试参数区域包括供电电压区域、压降百分比区域及测试时间区域； 该压降控制装置包括: 一参数载入�？椋糜谙煊τ没У氖淙氚迅鞑馐允菰厝氲礁醚菇挡馐酝伎蛑懈鞲霾馐圆问蚰冢� 一数据传输�？椋糜诮醚菇挡馐酝伎蛑懈鞲霾馐圆问蚰诘牟馐允莘肿榈拇涞礁肞LD测试仪进行对该待测电子设备的压降测试，每一组测试数据包括一供电电压、一压降百分比和一测试时间； 一判断模块，用于当该数据传输�？榇湟蛔椴馐允莸礁肞LD测试仪测试时，判断该组测试数据的测试时间结束后一预定时间内是否接收到来自该PLD测试仪的一电压信号; 一结果标识�？椋糜诘备迷ざㄊ奔淠诮邮盏礁玫缪剐藕攀保诟醚菇挡馐酝伎蛑薪米椴馐允荻杂Φ牟馐越峁晔肚虮晔兑徊馐越峁馐酝ü坏备迷ざㄊ奔淠诿挥薪邮盏礁玫缪剐藕攀保诟醚菇挡馐酝伎蛑薪米椴馐允荻杂Φ牟馐越峁晔肚虮晔兑徊馐越峁馐允О� '及 一输出控制�？椋糜诮鞑馐越峁涑鱿允居诟醚菇挡馐酝伎蛑校� 其中，当该判断�？樵诟迷ざㄊ奔淠诮邮盏嚼醋愿肞LD测试仪的电压信号时，该数据传输�？榇涓醚菇挡馐酝伎蛑械牧硪蛔椴馐允莸礁肞LD测试仪测试。
4.根据权利要求3所述的压降控制装置，其特征在于，当该判断�？榕卸铣龈迷ざㄊ奔淠诿挥薪邮盏嚼醋愿肞LD测试仪的电压信号时，该数据传输�？橥Ｖ勾涓醚菇挡馐酝伎蛑械钠渌椴馐允莸礁肞LD测试仪。
5.一种压降测试系统的压降测试方法，该压降测试系统用于对一待测电子设备做电磁干扰压降测试，该压降测试系统运行于一连接该待测电子设备的PLD(PoWer linedisturbance)电源线干扰测试仪及一 Labview开发平台之间，其特征在于,该方法包括步骤: 提供一压降测试图框，该压降测试图框定义有实现压降测试所需的测试参数区域及测试结果标识区域，所述测试参数区域包括供电电压区域、压降百分比区域及测试时间区域； 响应用户的输入把各测试数据载入到该压降测试图框中各个测试参数区域内； 传输该压降测试图框中的一组测试数据到该PLD测试仪进行对该待测电子设备的压降测试，该组测试数据包括 一供电电压、一压降百分比和一测试时间； 判断在该组测试数据的测试时间结束后一预定时间内是否接收到来自该PLD测试仪的一电压信号； 如果该预定时间内接收到该电压信号，在该压降测试图框中将该组测试数据对应的测试结果标识区域标识一测试结果为测试通过及传输该压降测试图框中的另一组测试数据到该PLD测试仪； 如果该预定时间内没有接收到该电压信号，在该压降测试图框中该组测试数据对应的测试结果标识区域标识一测试结果为测试失败；及 将各测试结果输出显示于该压降测试图框中。
6.根据权利要求5所述的压降测试方法，其特征在于，还包括步骤:如果该预定时间内没有接收到来自该PLD测试仪的电压信号时，停止传输该压降测试图框中的其他组测试数据到该PLD测试仪。
全文摘要
本发明涉及一种压降测试系统、压降控制装置及其压降测试方法，该压降测试系统的Labview开发平台运行时，各测试数据通过通讯链路传递到PLD测试仪，PLD测试仪测试完把测试结果反馈到Labview开发平台，该Labview开发平台利用其自带的函数库实时对传递数据进行处理、分析得到该测试完成的压降测试图框。通过该测试完成的压降测试图框，用户很容易得知该待测电子设备的压降测试情况。因此，本发明的压降测试系统方便的将软件硬件系统和软件控制算法建立在一个图形化平台上，通过图形化的操作，大大的简化了软硬件投入，实现了电子设备压降测试的自动化，大大节省了成本开支且提高了测试效率。
文档编号G01R31/00GK103105546SQ20111036196
公开日2013年5月15日 申请日期2011年11月15日 优先权日2011年11月15日
发明者陈聪渊, 侯贵智, 蒋文凯 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司
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