专利名称：一种pcb板上细间距排针的测试装置的制作方法
技术领域：
—种PCB板上细间距排针的测试装置
技术领域：
本实用新型涉及一种PCB板上插座的测试装置，特别涉及一种PCB板上细间距排针的测试装置。
背景技术：
在PCB测试行业中，有一种标准通用的测试点规程，四密度和双密度，每一个测试点必须与等测试电路连接。现有的PCB板测试方法都是通过连线将测试电路引脚直接焊接在测试接触点，进行测试工作，然而现在的电路板集成度越来越高，焊点越来越�。芏仍嚼丛矫�。PCB板的布局空间越来越小。引出测试点越发困难。因此现有的测试装置难以适应高密度的测试，或者由于测试间距太近时，针套容易弯折，导致烧毁PCB板上器件。
发明内容本实用新型要解决的技术问题，在于提供一种PCB板上细间距排针的测试装置， 它能够用于高密度插座的测试，而且克服了相邻两根针之间接触导致短路的问题。本实用新型是这样实现的一种PCB板上细间距排针的测试装置，它包括一针床， 所述针床上设置有PCB定位销，所述针床的面板上设置有与所述插座相对应的插座定位框，所述插座定位框内设置有与插座中的插针相对应的探针，相邻两探针之间通过探针定位框相隔离，所述探针对应连接于测试装置上的测试电路。进一步的，所述探针的顶端设置为与插针的形状大小相对应的漏斗形。本实用新型的优点在于本实用新型采用插座定位框，实现探针与插座插针的初步定位，所述探针的顶端设置为与插针的形状大小相对应的漏斗形，使得插针和对应的探针会一一对应，本实用新型使用了探针定位框，测试时相对应的探针和插针都退入探针定位框中，保证相邻两根针之间完全隔离，保证相邻探针不接触，因此本发明无需引出测试点，可以直接测试高密度插座，并防止烧毁PCB板上器件。
下面参照附图结合实施例对本实用新型作进一步的说明。图I是本实用新型的剖面结构示意图。
具体实施方式请参阅图I所示，对本实用新型的实施例进行详细的说明。如图I，本实用新型一种PCB板上细间距排针的测试装置，它包括一针床I，所述针床I上设置有PCB定位销2，所述针床I的面板上设置有与所述插座3相对应的插座定位框
4，所述插座定位框4内设置有与插座3中的插针5相对应的探针6，所述探针6的顶端设置为与插针5的形状大小相对应的漏斗形。相邻两探针6之间通过探针定位框7相隔离，所述探针6对应连接于测试装置上的测试电路。将待测PCB8放置在针床I面板上，开始测试的时候，将待测PCB8紧密的压在针床 I面板上，PCB定位销2的弹性被抵消，此时，插座3内的插针5与针床I上的插座定位框4 内的探针6—一对应接触，而探针6与针床I上的开关卡(测试装置的主测试单元)上的对应的点接触，即在待测PCB8和开关卡之间形成了一个回路。此时，测试装置就可以对该待测PCB8的电气性能进行判定了。在测试的时候，通过插座定位框4的预定位，使得插座3内的插针5与探针6达到初步定位；因为所述探针6的顶端设置为与插针5的形状大小相对应的漏斗形，插针5会进入对应探针6顶端的漏斗形内，因此插针5和对应的探针6会——对应。将待测PCB8继续压下的时候，相对应的探针6和插针5都退入探针定位框7中， 从而保证了相邻两根插针5或者探针6不会短路，影响测试。本实用新型测试适用于PCB板上高密度插座的测试，比如1. 27间距引线的测试。以上所述，仅为本实用新型较佳实施例而已，故不能依此限定本实用新型实施的范围，即依本实用新型专利范围及说明书内容所作的等效变化与修饰，皆应仍属本实用新型涵盖的范围内。
权利要求1.一种PCB板上细间距排针的测试装置，它包括一针床，所述针床上设置有PCB定位销，其特征在于所述针床的面板上设置有与所述插座相对应的插座定位框，所述插座定位框内设置有与插座中的插针相对应的探针，相邻两探针之间通过探针定位框相隔离，所述探针对应连接于测试装置上的测试电路。
2.根据权利要求I所述的一种PCB板上细间距排针的测试装置，其特在于所述探针的顶端设置为与插针的形状大小相对应的漏斗形。
专利摘要本实用新型提供了一种PCB板上细间距排针的测试装置，它包括一针床，所述针床上设置有PCB定位销，所述针床的面板上设置有与所述插座相对应的插座定位框，所述插座定位框内设置有与插座中的插针相对应的探针，相邻两探针之间通过探针定位框相隔离，所述探针对应连接于测试装置上的测试电路。本实用新型能够用于高密度插座的测试，而且克服了相邻两根针之间接触导致短路的问题。
文档编号G01R31/00GK202351345SQ201120449188
公开日2012年7月25日 申请日期2011年11月14日 优先权日2011年11月14日
发明者曹小苏, 李登希, 苏龙, 许宗庚 申请人:福建联迪商用设备有限公司
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