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专利名称：导电云母粉密度阻值测量设备及其测量方法
技术领域：
本发明涉及一种测量设备及其测量方法，具体是一种导电云母粉密度阻值测量设备及其测量方法。
背景技术：
导电云母粉作为一种抗静电添加材料，为社会各界广泛应用。该材料在使用过程中，导电能力与其密度条件成正比关系。如何实现一次检测过程完成一系列密度条件下产品导电率测试，成为一个迫切需要解决的技术方法。目前针对该材料的电阻率测量受到材料特性，测试要求影响还没有一种切实有效、可行的方法。在类似电阻率测量中较为类似的是碳素粉末材料电阻率测量技术。该技 术是通过压力机对待测粉末进行加载，在一个固定压力条件下读取待测粉末的电阻值。然而该技术在导电云母粉不同密度条件下的连续性测试测量中存在以下技术不足1.加载过程不能按照位移速度加载，致使较高密度条件下，读数偏差大；2.定压力加载不能精确计算导电云母压制密度水平，使导电率测算误差变大；3.设备不能给出导电率数值。因此该设备在实际测试过程中无法实现正常测试功能。通过针对导电云母粉密度导电率测试要求以及方法的研究，本发明专门应用于导电云母粉电阻率的测量，同时也可以应用与其他超细粉状物质的密度电阻率的测量。通过伺服压力机对试样槽内的导电云母粉进行加压，通过多种传感器技术，实现对不同质量密度、体积密度的导电云母粉的导电能力与硬度系数进行自动测定。本发明为实现产业自动化，提高产品质量控制水平提供了一种有效的技术方法。

发明内容
为了解决导电云母粉不同密度条件下的连续性测试测量中存在的一些技术不足的问题。本发明提供了一种导电云母粉密度阻值测量设备及其测量方法，该发明通过伺服加载，对被测试导电云母粉进行等位移模式加载。设备自动记录加载位移量，压力变化，电阻率变化，并以此计算出导电云母粉密度电阻率，并绘制密度-电阻率曲线，给定工程使用过程中，添加量与导电能力之间的关系。本发明解决其技术问题所采用的技术方案是该发明包括框架、激光测距仪、测试电极、试样槽、底座电极、绝缘垫、电子天平、加载系统、形变监测器，该导电云母粉密度阻值测量设备有一个矩形的一侧开口的钢制框架，在框架的顶部，向下垂直设有一个加载端，该加载端内置激光测距仪，且加载端的端头固定设有测试电极；在框架的底部，向上固定设有一个加载系统，在加载系统内部设有一个电子天平，在加载系统顶部，向上固定设有一个矩形内凹的陶瓷试样槽，该试样槽底部顺序向上分别设有陶瓷绝缘垫和底座电极，所述绝缘垫用以隔离测试物体与加载系统，所述测试电极和底座电极形成一个电极对；在试样槽外侦牝设置一个形变监测器，用于检测测试过程中受压力影响试样槽的形变程度，根据形变量实时做出数值调整，以保证最终数据段可靠性。
本发明的测量方法为(I)对试样槽进行注样，注样完毕后，电子天平进行测定待测试样质量。(2)加载系统按照固定测试要求进行震动试样，使得待测样达到统一密度水平。(3)通过激光测距仪，测量试样槽中试样基准高度，将位移量传至加载系统，使得加载系统获得位移记录起始点。(4)参照第3步数据，加载系统以O. lmm/s速度对待测样进行加载。(5)加载过程中，系统记录位移量、加载压强、电阻值、试样槽形变率以及加载时间等数据。 (6)系统通过位移量、形变监测器测量的试样槽形变率计算当前试样体积，结合质量数据、目数与当前电阻值，计算质量密度电阻率与体积密度电阻率。(7)加载系统持续加载到试样槽形变系数最大值止启动结束测试过程。(8)同时加载系统根据加载压强与试样槽形变率给出理论电阻率水平、实际应用最大电阻率水平和导电云母粉硬度系数。(9)完成测试，系统给出报表，包含质量密度电阻率，体积密度电阻率，工程可实现最小电阻率，该试样导电云母粉硬度系统。同时系统根据历史数据进行比对，将以上三个数据进行计算，给出产品质量偏差水平和偏差原因。本发明的有益效果是该导电云母粉密度阻值测量设备及其测量方法通过伺服压力机对试样槽内的导电云母粉进行加压，通过多种传感器技术，实现对不同质量密度、体积密度的导电云母粉的导电能力与硬度系数进行自动测定。该技术为实现产业自动化，提高产品质量控制水平提供了一种有效的技术方法，同时也可以应用与其他超细粉状物质的密度电阻率的测量，极具实用价值。


下面结合附图及实施例对本发明作进一步说明。附图I为该导电云母粉密度阻值测量设备及其测量方法的结构原理示意图。图中，I.框架、2.激光测距仪、3.测试电极、4.试样槽、5.底座电极、6.绝缘垫、7.电子天平、8.加载系统、9.形变监测器。
具体实施例方式在图中，该发明包括框架I、激光测距仪2、测试电极3、试样槽4、底座电极5、绝缘垫6、电子天平7、加载系统8、形变监测器9，该导电云母粉密度阻值测量设备有一个矩形的一侧开口的钢制框架1，在框架I顶部，向下垂直设有一个加载端，该加载端内置激光测距仪2，且加载端的端头固定设有测试电极3 ;在框架I的底部，向上固定设有一个加载系统8，在加载系统8内部设有一个电子天平7，在加载系统8的顶部，向上固定设有一个矩形内凹的陶瓷试样槽4，该试样槽4底部顺序向上分别设有陶瓷绝缘垫6和底座电极5，所述绝缘垫6用以隔离测试物体与加载系统8，所述测试电极3和底座电极5形成一个电极对；在试样槽4外侧，设置一个形变监测器9，用于检测测试过程中受压力影响试样槽4的形变程度，根据形变量实时做出数值调整，以保证最终数据段可靠性。本发明的测量方法为(I)对试样槽进行注样，注样完毕后，电子天平进行测定待测试样质量。(2)加载系统按照固定测试要求进行震动试样，使得待测样达到统一密度水平。(3)通过激光测距仪，测量试样槽中试样基准高度，将位移量传至加载系统，使得加载系统获得位移记录起始点。(4)参照第3步数据，加载系统以O. lmm/s速度对待测样进行加载。(5)加载过程中，系统记录位移量、加载压强、电阻值、试样槽形变率以及加载时间等数据。(6)系统通过位移量、形变监测器测量的试样槽形变率计算当前试样体积，结合质量数据、目数与当前电阻值，计算质量密度电阻率与体积密度电阻率。(7)加载系统持续加载到试样槽形变系数最大值止自动结束测试过程。 (8)同时加载系统根据加载压强与试样槽形变率给出理论电阻率水平、实际应用最大电阻率水平和导电云母粉硬度系数。(9)完成测试，系统给出报表，包含质量密度电阻率，体积密度电阻率，工程可实现最小电阻率，该试样导电云母粉硬度系统。同时系统根据历史数据进行比对，将以上三个数据进行计算，给出产品质量偏差水平和偏差原因。
权利要求
1.导电云母粉密度阻值测量设备及其测量方法，本发明包括框架(I)、激光测距仪(2)、测试电极(3)、试样槽(4)、底座电极(5)、绝缘垫(6)、电子天平(7)、加载系统⑶、形变监测器(9)，其特征是该导电云母粉密度阻值测量设备有一个矩形的一侧开口的钢制框架(1)，在框架(I)顶部，向下垂直设有一个加载端，该加载端内置激光测距仪(2)，且加载端的端头固定设有测试电极(3);在框架(I)的底部，向上固定设有一个加载系统(8)，在加载系统(8)内部设有一个电子天平(7)，在加载系统(8)的顶部，向上固定设有一个矩形内凹的陶瓷试样槽(4)，该试样槽(4)底部顺序向上分别设有陶瓷绝缘垫(6)和底座电极(5),所述测试电极(3)和底座电极(5)形成一个电极对；在试样槽⑷外侧，设置一个形变监测器(9)。
2.根据权利要求I所述的导电云母粉密度阻值测量设备及其测量方法，其测量方法特征是(I)对试样槽进行注样，注样完毕后，电子天平进行测定待测试样质量。
(2)加载系统按照固定测试要求进行震动试样，使得待测样达到统一密度水平。
(3)通过激光测距仪，测量试样槽中试样基准高度，将位移量传至加载系统，使得加载系统获得位移记录起始点。
(4)参照第3步数据，加载系统以0.lmm/s速度对待测样进行加载。
(5)加载过程中，系统记录位移量、加载压强、电阻值、试样槽形变率以及加载时间等数据。
(6)系统通过位移量、形变监测器测量的试样槽形变率计算当前试样体积，结合质量数据、目数与当前电阻值，计算质量密度电阻率与体积密度电阻率。
(7)加载系统持续加载到试样槽形变系数最大值止自动结束测试过程。
(8)同时加载系统根据加载压强与试样槽形变率给出理论电阻率水平、实际应用最大电阻率水平和导电云母粉硬度系数。
(9)完成测试，系统给出报表，包含质量密度电阻率，体积密度电阻率，工程可实现最小电阻率，该试样导电云母粉硬度系统。同时系统根据历史数据进行比对，将以上三个数据进行计算，给出产品质量偏差水平和偏差原因。
全文摘要
本发明公布了一种导电云母粉密度阻值测量设备及其测量方法。该导电云母粉密度阻值测量设备有一个矩形的一侧开口的钢制框架，在框架顶部，向下垂直设有一个加载端，该加载端内置激光测距仪；在框架底部向上固定设有一个加载系统，在加载系统内部设有一个电子天平，在加载系统顶部，向上固定设有一个矩形内凹的陶瓷试样槽。该导电云母粉密度阻值测量设备及其测量方法通过伺服压力机对试样槽内的导电云母粉进行加压，通过多种传感器技术，实现对不同质量密度、体积密度的导电云母粉的导电能力与硬度系数进行自动测定，同时也可以应用与其他超细粉状物质的密度电阻率的测量，极具实用价值。
文档编号G01R27/02GK102778607SQ20111012029
公开日2012年11月14日 申请日期2011年5月7日 优先权日2011年5月7日
发明者王保军, 王永俊 申请人:徐州金亚粉体有限责任公司