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    一种逐点刻度电成像资料计算视地层水电阻率谱及参数的方法

    时间:2025-05-10    作者: 管理员

    专利名称:一种逐点刻度电成像资料计算视地层水电阻率谱及参数的方法
    技术领域:
    本发明涉及石油地质勘探、地下水勘探的测井技术。特别是一种用于根据石油测 井测量中的电成像测井资料识别碳酸盐岩储层,火成岩储层及低孔隙度裂缝性砂岩储层流 体性质的方法。
    背景技术:
    电成像测井仪在井筒中通过安装在极板上的钮扣电极测量得到井眼附近地层随 深度变化的微电阻率图像信息资料,测量的多条曲线反映地层微电导率的变化。由于井 壁附近不同地质体的电导率不同,因而成像测井资料以图像的形式反映井壁附近地层的层 理、裂缝、溶蚀孔洞等地质现象。泥岩泥质条带的电阻率低,溶蚀孔洞,裂缝等与储层相关的 地质现象电阻率也比基块岩石的电阻率低。为表达这些不同的地质现象,在成像资料的图 像上用不同的颜色表达。浅色表示低电导率,深色表示高电导率。电成像资料在地层评价中要按照如下步骤进行①根据测井时测量的井斜、磁方 位、测井速度、数据增益等对原始数据进行校正;②由于电成像测井仪的钮扣电极系是非聚 焦电极系,也就是其测量值仅与井壁附近地质体的电导率成比例变化,因而要用浅电阻率 测井资料进行标定。③电成像资料的应用。浅电阻率对电成像资料的标定是实际定量分析的重要步骤。已有的浅电阻率标定 方法是分段线性方法。首先根据成像测井资料计算一条平均电流曲线,用此平均电流曲线 与浅电阻率曲线进行深度匹配;然后根据深度匹配点对应的测井值,以平均电流为横坐标, 浅电阻率为纵坐标绘制交会图。在交会图上,通过人机交互获得一个分段线性关系。最后, 根据这个分段线性关系将原始测量的转换为电导率值。这种方法存在的问题一是步骤较多 软件实现工作量大,二是成像资料的刻度效果取决于分段线性拟合效果。而刻度结果的好 坏又直接影响在此基础上的电成像资料应用效果。在电成像资料的应用方面,目前的大多数应用主要集中在储层的定性评价方面, 如裂缝识别、地层倾角解释等;在储层定量评价方面,见到的工作有PorSpecta)孔隙度谱 分析用于评价原生隙与次生孔隙,裂缝宽度计算等。

    发明内容
    本发明的目的是提出一种用浅电阻率资料逐点刻度电成像资料,根据刻度结果计 算视地层水谱及谱均值和方差的方法识别低孔隙度碳酸盐岩储层、火成岩储层、低孔隙度 裂缝砂岩储层流体性质。对于电成像测井资料的预处理,为了克服已有的浅电阻率资料刻度电成像资料方 法存在的步骤较多,软件工作量大及刻度效果等问题,发明了浅电阻率逐点刻度成像资料 的方法,以及在此基础上计算电成像资料视地层水电阻率谱及参数的方法评价储层流体性 质。
    1逐点刻度方法步骤(1)用测井资料编辑工具将电成像资料与浅电阻率深度拉齐;(2)计算电成像资料图像的平均电流值;
    权利要求
    1. 一种逐点刻度电成像资料计算视地层水电阻率谱及参数的方法,其特征在于1)逐点刻度步骤(1)用测井资料编辑工具将电成像资料与浅电阻率深度拉齐;(2)计算电成像资料图像的平均电流值;
    全文摘要
    本发明涉及一种逐点刻度电成像资料计算视地层水电阻率谱及参数的方法;逐点刻度步骤用测井资料编辑工具将电成像资料与浅电阻率深度拉齐;计算电成像资料图像的平均电流值;对每一个图像框,由相同深度点浅电阻率值对应的电导率值计算一个刻度系数;电成像资料的视地层水电阻率谱计算经过浅电阻率刻度的电成像实质上是井壁冲洗带的电导率图像,定义电成像资料一个像素点的视地层水电阻率;电成像资料的视地层水电阻率谱参数计算引入均值表达视地层水电阻率分布谱中主峰偏离基线的程度;用方差表达视地层水电阻率分布谱的宽窄;应用浅电阻率逐点刻度电成像资料,计算电成像资料视地层水电阻率谱,提取视地层水电阻率谱的均值与方差评价储层流体性质有显著的应用效果。
    文档编号G01V3/18GK102033247SQ20101052223
    公开日2011年4月27日 申请日期2010年10月22日 优先权日2010年10月22日
    发明者信毅, 冯周, 刘兴礼, 刘瑞林, 吴兴能, 张承森, 李宁, 杨海军, 肖承文, 郭秀丽 申请人:中国石油天然气股份有限公司

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