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射线检测系统以及利用射线进行无损检测物体的方法

时间:2025-06-03    作者: 管理员

专利名称:射线检测系统以及利用射线进行无损检测物体的方法
技术领域:
本发明涉及无损检测物体的系统和方法,特别是利用辐射成像技术来无损检测物
体的系统和方法。
背景技术:
现有的无损检测技术主要有射线、超声波、磁粉、渗透检测等。近些年来不同种类 的工业CT不断问世,大大丰富了检测手段,例如参见申请人共有的CN1936554A。但是,现有 技术中的检测设备多属于低能射线或专用检测设备,对于通用型的大型工件检测的高能射 线检测设备,还存在诸多缺陷,尤其是检测的准确性还很低。

发明内容
本发明的目的是提供一种射线检测系统以及利用射线进行无损检测物体的方法, 其可以对被检测物体实现任意角度的DR扫描,提高检测的准确性。
本发明的射线检测系统包括辐射源,用于发射扫描射线;探测器阵列,沿竖直方
向与所述辐射源隔开并相对于所述辐射源固定安装,用于接收由所述辐射源发射的射线;
运载器,用于运载被检测物体;第一平动装置,能够使所述运载器运载的被检测物体在所述
辐射源与所述探测器阵列之间沿第一方向水平运动;和第二平动装置,能够使所述运载器
运载的被检测物体在所述辐射源与所述探测器阵列之间沿基本垂直于第一方向的第二方
向水平运动。第二平动装置设置在第一平动装置上,而运载器设置在第二平动装置上。
第一平动装置可包括第一水平导轨;滑座,可在第一水平导轨上滑动;第一丝
杠,与所述滑座连接;和第一驱动电机,驱动第一丝杠运动并由此带动所述滑座在第一水平
导轨上滑动。第二平动装置为所述滑座,其设置有与第一水平导轨基本垂直的第二水平导
轨,所述运载器可在第二水平导轨上往复运动;第二丝杠,与所述运载器连接;和第二驱动
电机,驱动第二丝杠运动并由此带动所述运载器在第二水平导轨上滑动。 本发明的射线检测系统还可以包括安装在地基或者固定建筑物上的主机架,其中
所述辐射源安装在所述主机架的顶部,所述探测器阵列对应安装在所述主机架的下部,并
且第一水平导轨相对于所述主机架固定安装。 运载器可以设置有回转装置,能够使被检测物体自转。
回转装置可以包括设置在运载器主体上的、通过丝杠可调整间距的两个卡盘座;
安装在所述卡盘座上的、用于固定被检测物体的可回转卡盘;和回转驱动机构,用于驱动所
述可回转卡盘以带动被检测物体转动。 辐射源可采用直线电子加速器或者同位素源。 本发明的利用射线进行无损检测物体的方法包括步骤将辐射源和探测器阵列沿 竖直方向间隔设置;提供第一平动装置和设在第一平动装置上的第二平动装置;将用于运 载被检测物体的运载器设置在第二平动装置上;在运载器上运载被检测物体;通过第一平 动装置使第二平动装置沿第一水平方向运动;和/或通过第二平动装置使所述运载器沿基本垂直于第一方向的第二方向水平运动。由此,可以使被检测物体在所述辐射源和所述探 测器阵列之间平动。 本发明可以对被检测物体的重点部位进行二代、三代CT断层扫描,从而可以对内 部缺陷做出准确判断。


图1是本发明无损检测系统的正面视图;
图2是本发明无损检测系统的左侧视图;以及
图3是本发明无损检测系统的俯视平面图。
具体实施例方式
下面参照附图对本发明作进一步说明,其中各图中相同的标记表示相同的部件。
参看图1-图3,本发明的高精度高能射线DR/CT无损检测系统包括用于发射X射 线束的辐射源1和用于接收X射线信号的探测器阵列2,辐射源和探测器阵列相对安装在主 机架3的顶部和下部。在探测器横梁的下方地基上安装有设备底座4,所述设备底座4上 安装有导轨4-l、丝杠4-2和驱动电机4-3,所述导轨4-1的滑块上连接着滑座5,并通过丝 杠4-2和驱动电机4-3带动滑座5在所述设备底座4上沿导轨4-1做精密往复运动;在所 述滑座5的上方有运载小车6,所述运载小车6在所述滑座5上的丝杠5-2和驱动电机5-3 的带动下,可以沿所述滑座5上的导轨5-1做精密往复运动,同时又可与滑座5同步地沿所 述设备底座4上的导轨4-l作与5-1导轨垂直方向的精密水平往复运动,所述运载小车6 上安装有可通过丝杠6-1调节间距的两个卡盘座6-2,所述卡盘座6-2上装有可回转的卡盘 6-4,所述卡盘6-4上装有卡具6-5,所述卡具6-5用来固定被检测物体,所述两个卡盘6_4 之一带有回转驱动装置6-3,可使卡盘6-4带动卡具6-5及被检测物体实现精密旋转。当 被检物体装卡后,位于探测器横臂的上方,即位于辐射源1与探测器阵列2构成的扫描区域 内。 上面所述的高精度高能射线DR/CT无损检测系统的检测过程如下
DR扫描过程首先将被检测物体装卡在卡具6-5上,运载小车6沿滑座5上的导 轨5-1运动到射线扫描区域内,启动设备底座4上的驱动电机4-3,滑座5、运载小车6和被 检测物体同步地沿导轨4-1座做精密匀速扫描运动,由于该运动受控于高精度的导轨和滚 珠丝杠,因此具有非常稳定的运动速度,可以获得高质量的检测图像。通过旋转卡盘6-4和 卡具6-5,可以获得任意角度的扫描图像。 CT断层扫描过程通过运载小车6沿互相垂直的两个水平方向的运动,可以精确 地将被检测物体的重点检测部位定位在射线束流上,然后启动运载小车6上的回转驱动电 机6-3,带动卡盘6-4、卡具6-5和被检物体做精密旋转,即可实现对被检测物体的三代CT 断层扫描。利用卡具6-5的旋转和运载小车6沿导轨5-1的运动,可实现对被检测物体的 二代CT断层扫描。 本领域技术人员应当理解,图示内容以及上述实施例仅是示例性的,并非要对本 发明的保护范围进行任何限制。例如,虽然本发明的实施例只是描述为用于DR/CT扫描,但 是本发明还可以实现更多种的扫描模式及其组合流程。
权利要求
一种射线检测系统,包括辐射源,用于发射扫描射线;探测器阵列,沿竖直方向与所述辐射源隔开并相对于所述辐射源固定安装,用于接收由所述辐射源发射的射线;运载器,用于运载被检测物体;第一平动装置,能够使所述运载器运载的被检测物体在所述辐射源与所述探测器阵列之间沿第一方向水平运动;和第二平动装置,能够使所述运载器运载的被检测物体在所述辐射源与所述探测器阵列之间沿基本垂直于第一方向的第二方向水平运动,其中第二平动装置设置在第一平动装置上,而所述运载器设置在第二平动装置上。
2. 根据权利要求1的射线检测系统,其中第一平动装置包括 第一水平导轨;滑座,可在第一水平导轨上滑动; 第一丝杠,与所述滑座连接;禾口第一驱动电机,驱动第一丝杠运动并由此带动所述滑座在第一水平导轨上滑动; 其中第二平动装置为所述滑座,其设置有与第一水平导轨基本垂直的第二水平导轨,所述运载器可在第二水平导轨上往复运动;第二丝杠,与所述运载器连接;禾口第二驱动电机,驱动第二丝杠运动并由此带动所述运载器在第二水平导轨上滑动。
3. 根据权利要求2的射线检测系统,还包括安装在地基或者固定建筑物上的主机架, 其中所述辐射源安装在所述主机架的顶部,所述探测器阵列对应安装在所述主机架的下 部,并且第一水平导轨相对于所述主机架固定安装。
4. 根据权利要求l-3之一的射线检测系统,其中所述运载器设置有回转装置,能够使 被检测物体自转。
5. 根据权利要求4的射线检测系统,其中所述回转装置包括 设置在运载器主体上的、通过丝杠可调整间距的两个卡盘座; 安装在所述卡盘座上的、用于固定被检测物体的可回转卡盘;禾口 回转驱动机构,用于驱动所述可回转卡盘以带动被检测物体转动。
6. 根据权利要求l-3之一的射线检测系统,其中所述辐射源采用直线电子加速器或者 同位素源。
7. —种利用射线进行无损检测物体的方法,包括步骤 将辐射源和探测器阵列沿竖直方向间隔设置; 提供第一平动装置和设在第一平动装置上的第二平动装置; 将用于运载被检测物体的运载器设置在第二平动装置上; 在运载器上运载被检测物体;通过第一平动装置使第二平动装置沿第一水平方向运动;和/或 通过第二平动装置使所述运载器沿基本垂直于第一方向的第二方向水平运动, 由此,可以使被检测物体在所述辐射源和所述探测器阵列之间平动。
8. 根据权利要求7的方法,其中第一平动装置包括 第一水平导轨;滑座,可在第一水平导轨上滑动; 第一丝杠,与所述滑座连接;禾口第一驱动电机,驱动第一丝杠运动并由此带动所述滑座在第一水平导轨上滑动; 其中第二平动装置为所述滑座,其设置有与第一水平导轨基本垂直的第二水平导轨,所述运载器可在第二水平导轨上往复运 第二丝杠,与所述运载器连接;禾口第二驱动电机,驱动第二丝杠运动并由此带动所述运载器在第二水平导轨上滑动。
9. 根据权利要求8的方法,其中将辐射源和探测器阵列沿竖直方向间隔设置的步骤包在地基或者固定建筑物上安装主机架; 在所述主机架的顶部安装所述辐射源;禾口 在所述主机架的下部对应安装所述探测器阵列, 其中第一水平导轨相对于所述主机架固定安装。
10. 根据权利要求7-9之一的方法,还包括步骤在所述运载器上设置回转装置,禾口 通过所述回转装置使被检测物体自转。
全文摘要
射线检测系统以及利用射线进行无损检测物体的方法该检测系统包括辐射源,用于发射扫描射线;探测器阵列,沿竖直方向与辐射源隔开并相对于辐射源固定安装,用于接收由辐射源发射的射线;运载器,用于运载被检测物体;第一平动装置,能够使被检测物体在辐射源与探测器阵列之间沿第一方向水平运动;和第二平动装置,能够使被检测物体在辐射源与探测器阵列之间沿基本垂直于第一方向的第二方向水平运动。第二平动装置设置在第一平动装置上,而运载器设置在第二平动装置上。本发明可以对被检测物体实现任意角度的DR扫描,提高检测的准确性;还可以对被检测物体的重点部位进行二代、三代CT断层扫描,从而对内部缺陷做出准确判断。
文档编号G01N23/18GK101738405SQ20081022700
公开日2010年6月16日 申请日期2008年11月18日 优先权日2008年11月18日
发明者万静, 何正军, 叶梁, 叶青, 吴玉成, 周立英, 姜海涛, 孙尚民, 张克, 李元景, 李建军, 李荐民, 杨光, 王东宇, 肖永顺, 苏建军, 陆宏宇, 陈少锋, 陈志强, 雍涛 申请人:同方威视技术股份有限公司;清华大学;北京固鸿科技有限公司

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