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专利名称：高效籽晶检测工具的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种在常规环境下检测籽晶尺寸的工具。
背景技术：
籽晶是生长单晶的种子，也叫晶种，它取自单晶中部的无位错、无损伤、无应力部 分，硅单晶用的籽晶如图1所示籽晶整体为圆柱体，在圆柱体上半部分有一小缺口，用于 在拉单晶时固定籽晶。通常我们使用的籽晶直径在17.45~17.50mm之间，长度在150mm左 右。采用提拉法生长晶体时，籽晶与熔融的硅材料相互接触，然后缓慢提拉籽晶，在籽晶的 下面就会生长出新的单晶来。因此，籽晶的获取是非常重要的，培养优质的单晶应选择优良 的籽晶，籽晶上的缺陷，如位错，开裂，晶格畸变等在一定的范围内会“遗传”给新生长的晶 体。避免使用有宏观缺陷的籽晶，有时还要借助于物理光学的方法来挑选籽晶，以减少不利 的“遗传”作用。通常采用游标卡尺对籽晶的直径进行检查，在使用游标卡尺时，钢制的卡尺 与籽晶的碰撞易引起籽晶表面的裂纹，带来籽晶表面的缺陷，不利于后续优质单晶的生长。

发明内容
本发明的目的是克服现有技术中存在的不足，提供一种籽晶检测工具，使用简便。按照本发明提供的技术方案，所述高效籽晶检测工具包括本体，其特征是在本体 的两端对称地设置第一通孔和第二通孔。所述本体的形状为长圆体，所述第一通孔和第二通孔的圆心与所述长圆体上对应 端部的半圆形同心。所述第一通孔的直径为17. 50mm ；所述第二通孔的直径为17. 45mm。所述本体的材质为塑料。所述本体的高度h为50 100mm。本发明的优点是结构简单，能够简便快速的检测籽晶尺寸且不会损坏籽晶，同时 由于所使用的检测工具为塑料材质，避免了金属对其污染。


图1为本发明的结构示意图。图2为图1的俯视图。
具体实施例方式下面结合具体附图和实施例对本发明作进一步说明。如图1、2所示所述本体1是一种塑料长圆体，其高度h为5(Tl00mm。在本体1的 两端对称地设置第一通孔2和第二通孔3。第一通孔2的直径为17. 50mm ；第二通孔3的直 径为17. 45mm。所述第一通孔2和第二通孔3的圆心与所述长圆体上对应端部的半圆形同 心。
太阳能行业使用的籽晶的直径通常在17. 45^17. 50mm之间。使籽晶分别穿过第一 通孔2和第二通孔3，若籽晶不能穿过第一通孔2，表明籽晶直径过大，需进行酸腐处理；若 籽晶能通过第一通孔2但不能通过第二通孔3，表明籽晶直径在允许范围；若籽晶能分别通 过第一通孔2和第二通孔3，则表明籽晶尺寸过小。通过 这种方法，很容易就可以判断出籽 晶是否是我们所需要的规格，且避免了对籽晶的污染和损伤。
权利要求
高效籽晶检测工具，包括本体，其特征是在本体(1)的两端对称地设置第一通孔(2)和第二通孔(3)。
2.如权利要求1所述的高效籽晶检测工具，其特征是所述本体的形状为长圆体，所述 第一通孔(2)和第二通孔(3)的圆心与所述长圆体上对应端部的半圆形同心。
3.如权利要求1或2所述的高效籽晶检测工具，其特征是所述第一通孔(2)的直径为 17. 50mm ；所述第二通孔(3)的直径为17. 45mm。
4.如权利要求1所述的高效籽晶检测工具，其特征是所述本体的材质为塑料。
5.如权利要求1所述的高效籽晶检测工具，其特征是所述本体的高度h为5(Tl00mm。
全文摘要
本发明涉及一种在常规环境下检测籽晶尺寸的工具。按照本发明提供的技术方案，高效籽晶检测工具，包括本体，其特征是在本体的两端对称地设置第一通孔和第二通孔。本发明的优点是结构简单，能够简便快速的检测籽晶尺寸且不会损坏籽晶，同时由于所使用的检测工具为塑料材质，避免了金属对其污染。
文档编号G01B1/00GK101963488SQ20101028714
公开日2011年2月2日 申请日期2010年9月20日 优先权日2010年9月20日
发明者何勤忠, 俞振明, 曾静, 杨乐 申请人:高佳太阳能股份有限公司