专利名称：一种闭环自适应测距工作方法
技术领域：
本发明涉及一种闭环自适应测距工作方法。
背景技术：
传统测试方法是采用专用测试仪器将设备内部的各个�？�(含信号处理�？�、频综�？椤⑹辗⒛？�、连接电缆等)分别测量，然后进行累加得到内部延时，并进行修正。该方法测试繁琐，且只能针对个体测量，当采用�？榛セ皇保蛐枰匦虏饬浚馐孕始停沂芡獠炕肪�(如温度、气候)影响较大，测距精度很难满足指标要求。
发明内容
而本设计的算法在每次开机时，设备会自动发出数据进行多次测试并自动配置修 正值，由信号处理�？槟Ｄ獗栈贩⑸浣邮展蹋馐孕藕庞煞⑸渫ǖ婪⑺椭撂煜叨丝冢� 制信号反馈回接收通道，形成闭环测试。设计原理
时间延迟包括以下内容 a)发射端的时间延迟
1)基带调制信号处理的时间延迟；
2)中频处理�？橥瓿杀淦荡恚嗦飞淦敌藕藕铣傻氖奔溲映伲�
3)连接线缆的长短对时间延迟的影响。b) 接收端的时间延迟
1)多路射频信号合成的时间延迟，中频处理�？橥瓿杀淦荡恚�
2)AD采样电路、解调和同步电路信号处理的时间延迟；
3)连接线缆的长短对时间延迟的影响。
信号处理�？槎圆馐孕藕诺难映俳卸饬浚鲜雒扛隹赡芊⑸氖奔溲映僮芎� 计算出来，即T(延迟时间)。当正式测距时，将总时间T (总)减去测出的延迟时间T(延迟 时间)，再乘以光速C就是测距精度L，公式如下 L= (T (总)一T(延迟时间))XC。其中所测定的整个延迟T (延迟时间)等于(int-发射端，transp-接收端)
T(延迟时间)=(TX处理延迟)int+(距离延迟)int-Hransp+(射频/中频延迟) transp+ (同步处理延迟)transp+ (处理与稳定时间)transp+ (确定性延迟)transp+ (随机 延迟)transp+ (TX处理延迟)transp+ (距离延迟)transp-〉int+ (射频/中频延迟)int+ (同步处理延迟)int ；
测试时，如果系统需更换�？榛蛴肫渌Ъ医心？榛セ唬刹捎么怂惴ā１栈凡馐曰芈吩砜蛲�1如下
基带信号处理�？榫鼺PGA处理得到时间差，再由DSP从FPGA中读取时间差(T(总)一T(延迟时间))即可。本设计的优点
与传统测试方法相比，此算法测试效率极高，且不受外部环境(如温度、气候)影响，测 距精高。并且此算法可固化在信号处理�？橹校耆远校冉谑×瞬馐允奔溆旨蚧� 了测试方法，而且还降低了测试成本，极大提高了整个系统的效率和可靠性。
本发明将通过例子并参照附图的方式说明，其中 图1是闭环测试回路原理框图。
具体实施例方式本说明书中公开的所有特征，或公开的所有方法或过程中的步骤，除了互相排斥 的特征和/或步骤以外，均可以以任何方式组合。本说明书(包括任何附加权利要求、摘要和附图)中公开的任一特征，除非特别叙 述，均可被其他等效或具有类似目的的替代特征加以替换。即，除非特别叙述，每个特征只 是一系列等效或类似特征中的一个例子而已。本设计可以应用于对时间精度具有严格限制和要求的设备和系统�？榛纳璞�。 信号处理模块对测试信号的延迟进行动态测量，将上述每个可能发生的时间延迟总和计算 出来，即T(延迟时间)。当正式测距时，将总时间T (总)减去测出的延迟时间τ(延迟时 间)，再乘以光速C就是测距精度L，公式如下
L= (Τ (总)一Τ(延迟时间))XC。其中所测定的整个延迟T (延迟时间)等于(int-发射端，transp-接收端)
T(延迟时间)=(TX处理延迟)int+(距离延迟)int-Hransp+(射频/中频延迟) transp+ (同步处理延迟)transp+ (处理与稳定时间)transp+ (确定性延迟)transp+ (随机 延迟)transp+ (TX处理延迟)transp+ (距离延迟)transp-〉int+ (射频/中频延迟)int+ (同步处理延迟)int。
本发明并不局限于前述的具体实施方式
。本发明扩展到任何在本说明书中披露的新特 征或任何新的组合，以及披露的任一新的方法或过程的步骤或任何新的组合。
权利要求
一种闭环自适应测距工作方法，其特征在于在每次开机时，设备会自动发出数据进行多次测试并自动配置修正值，由信号处理�？槟Ｄ獗栈贩⑸浣邮展蹋馐孕藕庞煞⑸渫ǖ婪⑺椭撂煜叨丝冢刂菩藕欧蠢』亟邮胀ǖ溃纬杀栈凡馐裕恍藕糯砟？槎圆馐孕藕诺难映俳卸饬浚鲜雒扛隹赡芊⑸氖奔溲映僮芎图扑愠隼矗碩。
2.根据权利要求1所述的闭环自适应测距工作方法，其特征在于当正式测距时，将总 时间T (总)减去测出的延迟时间T (延迟时间)，再乘以光速C就是测距精度L，公式如下L= (T (总)一 T(延迟时间))XC ；其中所测定的整个延迟T (延迟时间)等于(int-发射端，transp-接收端) T(延迟时间)=(TX处理延迟)int+(距离延迟)int-Hransp+(射频/中频延迟) transp+ (同步处理延迟)transp+ (处理与稳定时间)transp+ (确定性延迟)transp+ (随机 延迟)transp+ (TX处理延迟)transp+ (距离延迟)transp-〉int+ (射频/中频延迟)int+ (同步处理延迟)int。
3.根据权利要求1所述的闭环自适应测距工作方法，其特征在于基带信号处理�？� 经过FPGA处理得到时间差，再由DSP从FPGA中读取时间差(T (总)一 T(延迟时间))即可。
全文摘要
本发明闭环自适应测距算法采用的是信号处理�？榫Ｄ獗栈贩⑸浣邮展蹋纬杀栈凡馐�。每次开机时自动对测试信号的延迟进行动态测量并进行修正，使修正值更加精确，从而提高测距精度。本设计是由发射端和接收端块经过模拟闭环发射接收过程，将测试信号由发射通道发送至天线端口，控制信号反馈回接收通道，形成闭环测试。该算法固化在信号处理�？橹校耆远校唤鼋谑×瞬馐允奔浠辜蚧瞬馐苑椒ǎ筇岣吡诵屎拖低车目煽啃�。
文档编号G01R31/00GK101995530SQ20101054868
公开日2011年3月30日 申请日期2010年11月18日 优先权日2010年11月18日
发明者罗琨 申请人:四川九洲电器集团有限责任公司
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
