专利名称：Mts通用总线集成电路测试系统的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及集成电路测试领域，尤其涉及一种MTS通用总线集成电路测试 系统。
背景技术：
请参阅图1，现有技术中MTS通用总线集成电路测试系统主要包括上位控制电 脑、系统电源、VXI通用总线背板、专用插槽、测试选件以及测试卡接口。上位控制电 脑和系统电源分别与VXI通用总线背板连接，VXI通用总线背板上设有专用插槽，分别 一一对应插接不同的测试选件，每个测试选件通过线缆(Cable)和测试卡接口连接。上位控制电脑作为主控部分，负责运行和控制整个MTS通用总线集成电路测试 系统。所述测试选件模组包括多个测试选件，每个测试选件负责完成不同的功能，如 电压测试、电流测试、频率测试、数字测试等。所有的测试选件统一插在VXI通用总线 背板上，与上位机电脑通讯。测试信号通过测试卡接口输出到外部目标器件，或输入到测试头内部的各个测 试选件中进行处理。上位控制电脑根据各个测试选件测得的数据，分析目标器件的各个测试参数是 否符合测试程序预设的要求，判断目标器件是否合格，并将测试结果通过GPIB或TTL、 RS232等接口与外部的探针台(Prober)或机械手(Handler)通讯，实现目标器件的测试分选。现有技术存在以下问题测试选件采用线缆(Cable)方式与测试卡接口连接，容易产生信号衰减、引入
干扰等，另外，由于不同的线缆接口是不一样的，所以也会造成外部测试卡接口的不统 测试选件采用自定义总线结构与VXI通用总线背板连接，每个测试选件固定在 特定的VXI通用总线背板槽位中，不具有系统的灵活扩展性与灵活配置性。本实用新型则提供一种新的集成电路测试系统用以改善或解决上述问题。
实用新型内容本实用新型要解决的技术问题是提供一种MTS通用总线集成电路测试系统，其 可以有效提高测试的效率和精度。本实用新型通过这样的技术方案解决上述的技术问题一种MTS通用总线集成电路测试系统，其主要包括上位控制电脑、系统电源、 VXI通用总线背板及测试选件模组，测试选件模组包括多个测试选件，其中所述VXI通 用总线背板设有通用接口插槽，测试选件模组通过通用接口插槽与VXI通用总线背板连 接；所述MTS通用总线集成电路测试系统进一步包括与测试选件模组连接的器件接口板 以及与器件接口板连接的DUT接口。[0013]作为进一步改进，测试选件模组中的每个测试选件均设置了与通用接口插槽相 配套的VXI通用总线接口。作为进一步改进，测试选件模组中每个测试选件均设置了探针连接器，其与器 件接口板相连。作为进一步改进，所述探针连接器与测试选件的VXI通用总线接口均设置在朝 向VXI通用总线背板的一侧。作为进一步改进，其进一步包括一个测试头，所述测试头集成了 VXI通用总线 背板、通用接口插槽、测试选件模组、器件接口板以及DUT接口。作为进一步改进，其进一步包括一个用于安装测试头的操控支架。作为进一步改进，上位控制电脑可通过操控支架与测试头连接，操控支架可在 上位控制电脑的控制下升降或者旋转，带动测试头升降或者旋转。作为进一步改进，系统电源可通过操控支架与测试头连接。与现有技术相比较，本实用新型具有以下优点1、抛弃测试选件模组通过线缆与测试卡接口连接的方式，有效缩短测试选件与 目标器件之间的信号传输距离。2、整个系统采用VXI通用总线设计，所有的测试选件可以在VXI通用总线背板 的通用总线插槽中任意插放。3、每个测试选件上的探针连接器和测试选件的VXI通用总线接口同方向设计， 这样可以将VXI通用总线背板与器件接口板结合为一体。4、测试头为可移动，便于与外部的探针台(Prober)或机械手(Handler)进行连接。
图1是与现有技术中集成电路测试系统的连接示意图。图2是本实用新型中MTS通用总线集成电路测试系统的连接示意图。图3是本实用新型中MTS通用总线集成电路测试系统的总线系统结构示意图。图3是本实用新型中MTS通用总线集成电路测试系统的硬件结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图详细说明本实用新型的具体实施方式
。请参阅图2、图3以及图4，本实用新型提供一种MTS通用总线集成电路测试系 统，其包括上位控制电脑11、系统电源12、VXI通用总线背板13、通用接口插槽14、测 试选件模组15、器件接口板16(DIB)以及DUT接口 17。其中，上位控制电脑11和系统电源12分别连接到VXI通用总线背板13上，上 位控制电脑11用于控制整个测试系统的工作，根据测试选件模组15测量的数据，分析 目标器件的各个测试参数是否符合预设的要求，判断目标器件是否合格，并将测试结果 与外部的探针台(Prober)或机械手(Handler)通讯，实现目标器件18的测试分选。在本 实用新型的较佳实施例中，上位控制电脑11通过PCI总线(PCI BUS)、接口板(Interface Board)与VXI通用总线背板13连接。上位控制电脑11通过PCI总线、通用总线接口(GPIB，General-Purpose Interface Bus)与外部的探针台或机械手通讯。系统电源12为整个测试系统供电。测试选件模组15可包括多个测试选件。DUT 接口 17是一种允许用户自定义的信号接口，其可与被测目标器件接触，完成测试系统对 被测目标器件18的信号施加和目标器件18输出信号的测量。VXI通用总线背板13上设有通用接口插槽14，通用接口插槽14是可供测试选 件进行任意插槽插放的总线插槽。通过该通用接口插槽14可与多个测试选件进行连接。 每个测试选件通过器件接口板16以及DUT接口 17与目标器件18连接。在本实用新型中，测试选件模组15中每个测试选件均设置了与器件接口板16相 连的探针连接器(Pogo Pin)以及与通用接口插槽14相配套的VXI通用总线接口。所述 探针连接器与测试选件的VXI通用总线接口设计在同一方向，均朝向VXI通用总线背板 13的一侧。本实用新型提供的MTS通用总线集成电路测试系统包括如下优点1、每个测试选件通过探针连接器与器件接口板16相连，器件接口板16与DUT 17连接，有效缩短了测试选件模组15与目标器件18之间的信号传输距离。2、每个测试选件上的探针连接器和测试选件的VXI通用总线接口同方向设计， 这样可以将VXI通用总线背板13与器件接口板16结合为一体。在本实用新型的实际应用中，可将VXI通用总线背板13、通用接口插槽14、测 试选件模组15、器件接口板16(DIB)以及DUT接口 17均集成到一个测试头内，所述测 试头可安装在一个带有轨道的操控支架(Manipulator)上。上位控制电脑11和系统电源 12可通过操控支架与测试头通讯连接。上位控制电脑11可控制测试头在操控支架的轨道 上升降或者旋转，便于与外部的探针台或机械手进行衔接。以上所述仅为本实用新型的较佳实施方式，本实用新型的保护范围并不以上述 实施方式为限，但凡本领域普通技术人员根据本实用新型所揭示内容所作的等效修饰或 变化，皆应纳入权利要求书中记载的保护范围内。
权利要求1.一种MTS通用总线集成电路测试系统，其主要包括上位控制电脑、系统电源、 VXI通用总线背板及测试选件模组，测试选件模组包括多个测试选件，其特征在于所 述VXI通用总线背板设有通用接口插槽，测试选件模组通过通用接口插槽与VXI通用总 线背板连接；所述MTS通用总线集成电路测试系统进一步包括与测试选件模组连接的器 件接口板以及与器件接口板连接的DUT接口。
2.根据权利要求1所述的MTS通用总线集成电路测试系统，其特征在于测试选件 模组中的每个测试选件均设置了与通用接口插槽相配套的VXI通用总线接口。
3.根据权利要求1所述的MTS通用总线集成电路测试系统，其特征在于测试选件 模组中每个测试选件均设置了探针连接器，其与器件接口板相连。
4.根据权利要求3所述的MTS通用总线集成电路测试系统，其特征在于所述探针 连接器与测试选件的VXI通用总线接口均设置在朝向VXI通用总线背板的一侧。
5.根据权利要求1所述的MTS通用总线集成电路测试系统，其特征在于其进一 步包括一个测试头，所述测试头集成了 VXI通用总线背板、通用接口插槽、测试选件模 组、器件接口板以及DUT接口。
6.根据权利要求5所述的MTS通用总线集成电路测试系统，其特征在于其进一步 包括一个用于安装测试头的操控支架。
7.根据权利要求6所述的MTS通用总线集成电路测试系统，其特征在于上位控 制电脑可通过操控支架与测试头连接，操控支架可在上位控制电脑的控制下升降或者旋 转，带动测试头升降或者旋转。
8.根据权利要求6所述的MTS通用总线集成电路测试系统，其特征在于系统电源 可通过操控支架与测试头连接。
专利摘要本实用新型涉及一种MTS通用总线集成电路测试系统，涉及集成电路测试领域。其主要包括上位控制电脑、系统电源、VXI通用总线背板及测试选件模组，测试选件模组包括多个测试选件，其中所述VXI通用总线背板设有通用接口插槽，测试选件模组通过通用接口插槽与VXI通用总线背板连接；所述MTS通用总线集成电路测试系统进一步包括与测试选件模组连接的器件接口板以及与器件接口板连接的DUT接口。
文档编号G01R31/28GK201796117SQ20102028478
公开日2011年4月13日 申请日期2010年8月6日 优先权日2010年8月6日
发明者张书恒 申请人:上�：瓴獍氲继蹇萍加邢薰�
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