专利名称：单缝衍射光强分布测试仪的制作方法
技术领域：
本实用新型属于光强分布实验仪器设备，具体地说是一种适用于理工科高校及各中学的单缝衍射光强分布测试仪。
背景技术：
单缝衍射是物理当中的一个重要知识点，其光强分布规律的探讨更是一个重点和难点，单缝衍射相关实验也是理工科高校比较基础的物理实验。在单缝衍射光强分布测试方面，目前有以光电二极管为传感器，再通过扫描方式获取光强分布的，也有以线阵CCD为传感器进行光强分布测试的，其缺点是需在暗室环境下实验，无法获取真实的衍射条纹，直观性差；另外也有一些以面阵CCD为传感器的实验装置，虽然可直接显示衍射条纹，但其成本却较高，且通常需在暗室环境下实验，不易于推广。
实用新型内容本实用新型的目的是针对以上问题，提供一种可适用明室环境、操作简便的单缝衍射光强分布测试仪。为实现上述目的，本实用新型设计了一种单缝衍射光强分布测试仪，它由激光笔 1、偏振片组2、单缝3、半透半反镜4、CMOS图像传感器6、微型计算机8所组成，激光笔1、 偏振片组2、单缝3、半透半反镜4、CM0S图像传感器6依次同轴设置，CMOS图像传感器6以 USB连接线7与微型计算机8连接，激光笔1发出激光依次经偏振片组2、单缝3、半透半反镜4到达CMOS图像传感器6再传送到微型计算机8 ；而CMOS图像传感器6与半透半反镜4 可以是由图像传感器套筒5连接成一体的，CMOS图像传感器6与半透半反镜4是分别设置在图像传感器套筒5两端的；还有单缝3上的缝宽度可以是0. 3mm-0. 5mm。本实用新型的单缝衍射光强分布测试仪，CMOS图像传感器、半透半反镜、单缝、偏振片组、激光笔共轴设置，将CMOS图像传感器与半透半反镜通过图像传感器套筒连接成一体，达到了可明室环境实验的状态，并对单缝宽度进行了匹配设计，使单缝衍射图像士2级均能处在CMOS图像传感器上，克服了 CMOS图像传感器尺寸较小的限制。实验时，只需并适当调节相互之间的距离，单缝衍射图像则通过CMOS图像传感器由微型计算机获�。扑慊鄄饨缑姹憧墒凳毕允镜シ煅苌渫枷窦肮馇糠植记撸浣峁辜虻�、性价比高、操作方便容易、省时省事，显示直观明了，适用于理工科高校及各中学单缝衍射相关实验的教学之用。
图1是本实用新型实施例的结构示意图。图2是本实用新型实施例单缝主视图。
具体实施方式
下面对照附图，通过实施例对本实用新型作进一步的说明。下述实施例仅用于说明本实用新型的技术方案，但对本实用新型并没有限制。如图1、图2所示，本实用新型的一种适用于明室环境的单缝衍射光强分布测试仪，由激光笔1、偏振片组2、单缝3、半透半反镜4、CM0S图像传感器6、微型计算机8、图像传感器套筒5所组成的，激光笔1、偏振片组2、单缝3、半透半反镜4、CM0S图像传感器6依次同轴设置，CMOS图像传感器6与半透半反镜4由图像传感器套筒5连接成一个部件，CMOS 图像传感器6与半透半反镜4分别设置在图像传感器套筒5两端，CMOS图像传感器6以 USB连接线7与微型计算机8连接，激光笔1发出激光依次经偏振片组2、单缝3、半透半反镜4到达CMOS图像传感器6再传送到微型计算机8获�。缓蠼蠽B语言编程，以单缝衍射图像中间一行的光强分布为准，求得单缝衍射光强分布，并在主界面上实时显示单缝衍射图像及光强分布曲线。所述的CMOS图像传感器与半透半反镜通过图像传感器套筒连接成一体，可实现明室环境下单缝衍射光强分布的测试。对所述的单缝宽度进行了匹配设计，使单缝衍射图像士2级均能处在CMOS图像传感器上。上述结构的单缝衍射光强分布测试仪，CMOS图像传感器、半透半反镜、单缝、偏振片组、激光笔共轴设置，将CMOS图像传感器与半透半反镜通过图像传感器套筒连接成一体，达到了可明室环境实验的状态，并对单缝宽度进行了匹配设计，使单缝衍射图像士2级均能处在CMOS图像传感器上，克服了 CMOS图像传感器尺寸较小的限制。实验时，只需并适当调节相互之间的距离，单缝衍射图像则通过CMOS图像传感器由微型计算机获�。扑慊鄄饨缑姹憧墒凳毕允镜シ煅苌渫枷窦肮馇糠植记撸浣峁辜虻ァ⑿约郾雀�、操作方便容易、省时省事，显示直观明了，适用于理工科高校及各中学单缝衍射相关实验的教学之用。
权利要求1.一种单缝衍射光强分布测试仪，其特征在于由激光笔[1]、偏振片组[2]、单缝[3]、 半透半反镜W]、CM0S图像传感器W]、微型计算机[8]所组成，激光笔[1]、偏振片组[2]、 单缝[3]、半透半反镜W]、CM0S图像传感器[6]依次同轴设置，CMOS图像传感器[6]以USB 连接线[7]与微型计算机[8]连接，激光笔[1]发出激光依次经偏振片组[2]、单缝[3]、半透半反镜[4]到达CMOS图像传感器[8]再传送到微型计算机[8]。
2.根据权利要求1所述的一种单缝衍射光强分布测试仪，其特征在于所述的CMOS图像传感器[6]与半透半反镜[4]是由图像传感器套筒[5]连接成一体的，CMOS图像传感器 [6]与半透半反镜[4]分别设置在图像传感器套筒[5]的两端。
3.根据权利要求1所述的一种单缝衍射光强分布测试仪，其特征在于对所述的单缝 [3]的缝宽度为0. 3mm-0. 5謹。
专利摘要本实用新型涉及的一种单缝衍射光强分布测试仪，由微型计算机、CMOS图像传感器、半透半反镜、单缝、偏振片组、激光笔所构成、CMOS图像传感器与半透半反镜还加设了图像传感器套筒把它们连成一体，图像传感器套筒内一端设置CMOS图像传感器，另一端为半透半反镜。工作时，CMOS图像传感器、半透半反镜、单缝、偏振片组、激光笔调节至共轴，单缝衍射图像通过CMOS图像传感器由微型计算机获�。缓蠼蠽B语言编程，以单缝衍射图像中间一行的光强分布为准，求得单缝衍射光强分布，并在主界面上实时显示单缝衍射图像及光强分布曲线。本测试仪具有结构简单、性价比高、操作方便容易、省时省事，显示直观明了的特点。
文档编号G01J1/42GK202119533SQ20112000015
公开日2012年1月18日 申请日期2011年1月4日 优先权日2011年1月4日
发明者何绿, 叶丽军, 吴蓉蓉, 彭保进, 徐静静, 范晓珍, 许富洋 申请人:浙江师范大学
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