专利名称：一种用于太阳能硅芯片检测机台的缓冲输送检测装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种缓冲输送检测装置，特别是一种用于太阳能硅芯片检测机台 的缓冲输送检测装置。
背景技术：
太阳能板之主要构成部件为太阳能硅芯片，太阳能硅芯片既轻且�。谧远� 造与检测过程中，倘若稍有不慎，即有可能造成破损、缺角、或割损，甚至产生肉眼无法察觉 的微细裂缝，这些问题应该竭尽可能避免，以提升太阳能硅芯片在制造及检测过程中的合 格率。现有太阳能硅芯片检测机台，太阳能硅芯片在太阳能硅芯片检测机台输送过程 中，由一组承载输送件承载传送，请参考如图1所示，以皮带轮承载模式示意，此承载输送 件11设置在一基座12上，太阳能硅芯片3通过承载输送件11之承载的传送，沿着一个特 定方向输送，至一个预定受测位置进行检测作业。此处的检测作业可大概分为一组光学检测及一组光电检测，所谓光学检测是指由 例如摄影机等光学影像摄取装置，获得太阳能硅芯片3的外部影像数据，例如外表是否有刮 痕、微裂、或布线是否良好，用以判断太阳能硅芯片3是否有外表瑕疵，另如太阳能硅芯片3的 外表色泽等用以后续分类的特性。至于光电检测，则是由检测器13模拟太阳光的光源发光， 照射到受测太阳能硅芯片3上，再用检测器13中的探针导接接触到太阳能硅芯片3的汇流电 极，导出太阳能硅芯片3受光照所发的电能，从而判断其接收光能转换为电能输出的转换效 率是否良好；或者，是由检测器13中的探针输出电能给太阳能硅芯片3，并且由红外线摄影机 取得待测太阳能硅芯片3的红外线影像，藉以判断硅芯片中是否存在内部瑕疵。然而，太阳能硅芯片3厚度甚�。以谥圃旃讨心衙獬鱿智嵛⑶糖钟谢� 的基座12在对应检测器13的探针位置是平坦的硬质承载平面，因此当探针向下抵触到太 阳能硅芯片3时，太阳能硅芯片3同时受到检测器13与基座12的挤压，对本身翘曲情形较 严重的太阳能硅芯片3，将如图2所示，造成受测太阳能硅芯片3的破损或缺角，使得检测过 程中增加不必要的损坏，合格率因此降低。尤其如图3所示，当被挤压破损的太阳能硅芯片3被承载输送件11传送到下一 站，少许残留的破片将遗留在基座12上，下一片受测太阳能硅芯片3持续被传送到检测位 置时，更会受到残留的破片支撑而被架高，当探针下压时更容易破片损坏，即使仅是因此而 受到刮伤，仍然会降低合格率；由此，一片受压而破损将造成后续更多太阳能硅芯片3的损 伤，大大影响机台的工作效率。因此，提供一种降低太阳能硅芯片因为受到检测器与基座的挤压而破损的几率， 进而提升太阳能硅芯片的合格率，增加机台检测效率，是现有技术尚未解决的问题。
实用新型内容本实用新型之一目的，在于提供一种在检测过程无损坏受测太阳能硅芯片的用于太阳能硅芯片检测机台的缓冲输送检测装置。本新型之另一目的，在于提供一种提升太阳能硅芯片在自动化制造与检测过程中 合格率的用于太阳能硅芯片检测机台的缓冲输送检测装置。本新型之再一目的，在于提供一种减少太阳能硅芯片受测过程中，因检测过程破 片，导致必须停机清除处理的机率的用于太阳能硅芯片检测机台的缓冲输送检测装置。本实用新型是这样实现的，一种用于太阳能硅芯片检测机台的缓冲输送检测装 置，该太阳能硅芯片检测机台包含一组基座、一组处理装置、一组接受该处理装置指令的分 类装置、及设置于该基座的缓冲输送检测装置，且该等受测太阳能硅芯片分别具有复数供 传输电能的汇流电极，该缓冲输送检测装置包含一组设置于该基座、沿着输送方向承载该等受测太阳能硅芯片经过一个预定受测 位置的承载输送件；一组对应该承载输送件、检测该等受测太阳能硅芯片、并输出检验数据至该处理 装置的检测器；其中，该检测器包括一组与该预定受测位置对应、抵接该等汇流电极的探针；以及 该承载输送件在对应该预定受测位置处，与下方的基座保持有一个缓冲下压距离。更具体的，该抵接该等汇流电极的探针为一组探针，该检测器更包括一组驱动该 组探针升降的机械臂。更具体的，该检测器更包括一组高亮度光源。更具体的，该承载输送件包括复数组皮带轮，及复数分别受该等复数组皮带轮带 动、承载该等受测太阳能硅芯片的皮带。本发明还提供了一种太阳能硅芯片检测机台，该检测机台包含一组基座；一组处理装置；一组接受该处理装置指令的分类装置；及一组设置于该基座的缓冲输送检测装置，包括一组设置于该基座、沿着输送方向承载该等受测太阳能硅芯片经过一个预定受测 位置的承载输送件；及一组对应该承载输送件、检测该等受测太阳能硅芯片、并输出检验数据至该处理 装置的检测器；其中，该检测器包括一组供对应该预定受测位置、抵接该等汇流电极的探针；该承 载输送件在对应该预定受测位置处，与下方之基座保持有一个缓冲下压距离。更具体的，该缓冲输送检测装置包括至少一组光学检模块，及一组光电检�？椤１臼涤眯滦吞峁┑囊恢钟糜谔裟芄栊酒觳饣ǖ幕撼迨渌图觳庾爸茫裟� 硅芯片被承载输送件传送到该对应预定受测位置处，因承载输送件与下方之基座保持有一 个缓冲下压距离，所以当检测器抵接到太阳能硅芯片时，太阳能硅芯片的受力可部分转移 到承载输送件，凭借承载输送件的缓冲变形，吸收部分下压力，检测器则可顺利抵接并提供 电能或接收太阳能硅芯片所发电能，并且大幅降低太阳能硅芯片受抵压而破损的困扰，提 供更佳的测试效率与更佳产品合格率。
图1是现有太阳能硅芯片检测示意图；图2是现有太阳能硅芯片受测挤压破损示意图；图3是现有太阳能硅芯片输送检测示意图；图4是本实用新型实施例的太阳能硅芯片检测机台立体示意图；图5是本实用新型实施例的处理装置连结方块图；图6是本实用新型实施例的缓冲输送检测装置立体示意图；图7是本实用新型实施例的太阳能硅芯片承载输送示意图；图8是本实用新型实施例的太阳能硅芯片至预定受测位置示意及图9是本实用新型实施例的太阳能硅芯片检测侧视图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，
以下结合附图及实施 例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释 本实用新型，并不用于限定本实用新型。请参阅图4及图5所示，应用本实用新型的太阳能硅芯片检测机台4包含一组基 座41、一组处理装置42、一组接受处理装置42指令的分类装置43、及设置于基座41的缓 冲输送检测装置44，其中缓冲输送检测装置44包括至少一组光学检测�？�441及光电检测 �？�442。且为便于说明起见，定义前述缓冲输送检测装置44承载受测太阳能硅芯片3的 方向为检测输送方向。而受测太阳能硅芯片3分别具有复数供传输电能的汇流电极。受测太阳能硅芯片3经缓冲输送检测装置44承载传送至对应预定受测位置接受 检测，并通过设置于光学检测�？�441内例如包括有多组摄影机等光学影像摄取器4411， 分别将受测太阳能硅芯片3的表面影像及颜色等影像数据摄取下来，并将所得数据输出至 处理装置42，作为受测太阳能硅芯片3置放至对应分类位置的依据。请一并参考图6，本实用新型的太阳能硅芯片检测机台用的缓冲输送检测装置44 更包含一组承载输送件443及检测器444，其中承载输送件443在本实施例中为包括两组 设置于基座41的皮带轮4431，及两组分别受皮带轮4431带动且用以承载受测太阳能硅芯 片3的皮带4432 ；而检测器444包括探针4441、机械臂4442及高亮度光源4443，并设置于 光电检测模块442中，而光电检测流程请一并参考图7、8及9所示，首先如图7所示由皮带 4432将受测太阳能硅芯片3依箭头方向输送，并输送至如图8所示位于光电检测�？�442 的检测位置，而探针4441系由机械臂4442驱动升降。其中，皮带4432在对应预定受测位 置处，是与下方的基座41保持有一个缓冲下压距离。当受测太阳能硅芯片3被皮带4432沿着检测输送方向承载经过一个预定受测位 置，此时如图9所示，机械臂4442驱动探针4441向受测太阳能硅芯片3抵接，碰触到受测 太阳能硅芯片3上的复数供传输电能的汇流电极31，此时检测器444中的高亮度光源4443 被点亮，受测太阳能硅芯片3随即将所接收的光能转换为电能，并经由汇流电极31与探针 4441将检验的数据由光电检测模块442输出至处理装置42。由于皮带4432与下方的基座 41保持有一个缓冲下压距离，所以，当探针4441抵压到受测太阳能硅芯片3时，受测太阳 能硅芯片3也向下挤压到皮带4432，此时，皮带4432不会直接抵触到基座41而有所缓冲，受测太阳能硅芯片3也就不会被探针4441抵压而破损，最后再由处理装置42判断，并由接 受处理装置42指令的分类装置43进行太阳能硅芯片3的分类。本实用新型提供的缓冲输送检测装置，太阳能硅芯片被承载输送件传送到该对应 预定受测位置处，因承载输送件与下方之基座保持有一个缓冲下压距离，所以当检测器抵 接到太阳能硅芯片时，太阳能硅芯片的受力可部分转移到承载输送件，凭借承载输送件的 缓冲变形，吸收部分下压力，检测器则可顺利抵接并提供电能或接收太阳能硅芯片所发电 能，并且大幅降低太阳能硅芯片受抵压而破损的困扰，提供更佳的测试效率与更佳产品合 格率。综上所述，本实用新型的太阳能硅芯片检测机台用的缓冲输送检测装置确实可以避 免受测太阳能硅芯片在检测过程受损，且提升太阳能硅芯片在自动化制造与检测过程中的 合格率，更进一步减少因破片而需要停机清理的困扰。以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本 实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型 的保护范围之内。
权利要求1.一种用于太阳能硅芯片检测机台的缓冲输送检测装置，该太阳能硅芯片检测机台包 含一组基座、一组处理装置、一组接受该处理装置指令的分类装置、及设置于该基座的缓冲 输送检测装置，且该等受测太阳能硅芯片分别具有复数供传输电能的汇流电极，其特征在 于，该缓冲输送检测装置包含一组设置于该基座、沿着输送方向承载该等受测太阳能硅芯片经过一个预定受测位置 的承载输送件；一组对应该承载输送件、检测该等受测太阳能硅芯片、并输出检验数据至该处理装置 的检测器；其中，该检测器包括一组与该预定受测位置对应、抵接该等汇流电极的探针；以及该承 载输送件在对应该预定受测位置处，与下方的基座保持有一个缓冲下压距离。
2.根据权利要求1所述的缓冲输送检测装置，其特征在于，该抵接该等汇流电极的探 针为一组探针，该检测器更包括一组驱动该组探针升降的机械臂。
3.根据权利要求1或者2所述的缓冲输送检测装置，其特征在于，该检测器更包括一组 高亮度光源。
4.根据权利要求1或者2所述的缓冲输送检测装置，其特征在于，该承载输送件包括复 数组皮带轮，及复数分别受该等复数组皮带轮带动、承载该等受测太阳能硅芯片的皮带。
5.一种太阳能硅芯片检测机台，其特征在于，该检测机台包含一组基座；一组处理装置；一组接受该处理装置指令的分类装置；及一组设置于该基座的缓冲输送检测装置，包括一组设置于该基座、沿着输送方向承载该等受测太阳能硅芯片经过一个预定受测位置 的承载输送件；及一组对应该承载输送件、检测该等受测太阳能硅芯片、并输出检验数据至该处理装置 的检测器；其中，该检测器包括一组供对应该预定受测位置、抵接该等汇流电极的探针；该承载输 送件在对应该预定受测位置处，与下方之基座保持有一个缓冲下压距离。
6.根据权利要求5所述的检测机台，其特征在于，该缓冲输送检测装置包括至少一组 光学检�？椋耙蛔楣獾缂炷？�。
专利摘要本实用新型提供的一种用于太阳能硅芯片检测机台的缓冲输送检测装置，太阳能硅芯片被承载输送件传送到该对应预定受测位置处，因承载输送件与下方之基座保持有一个缓冲下压距离，所以当检测器抵接到太阳能硅芯片时，太阳能硅芯片的受力可部分转移到承载输送件，凭借承载输送件的缓冲变形，吸收部分下压力，检测器则可顺利抵接并提供电能或接收太阳能硅芯片所发电能，并且大幅降低太阳能硅芯片受抵压而破损的困扰，提供更佳的测试效率与更佳产品合格率。
文档编号G01N21/88GK201820770SQ20102021950
公开日2011年5月4日 申请日期2010年6月8日 优先权日2010年6月8日
发明者陈建安 申请人:致茂电子(苏州)有限公司
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