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专利名称：一种n式结构检测治具的制作方法
技术领域：
本实用新型属于检测器具技术，尤其涉及一种N式结构检测治具。
背景技术：
目前使用测量产品的治具结构为L式结构，将产品从L形的前端放入测量，产品测量中无法稳定测量、对产品大小存在限制、测量作业时不易操作。

实用新型内容本实用新型的目的在于提供一种N式结构检测治具，旨在解决现有L式结构治具产品测量中无法稳定测量、对产品大小存在限制、测量作业时不易操作等问题。本实用新型是这样实现的，一种N式结构检测治具，该治具包括N型框架、测量仪表、测量仪低杆、治具底座；所述N型框架固定在所述治具底座上，所述测量仪表安装在所述测量仪低杆上，所述测量仪低杆安装在所述N型框架上。进一步，所述测量仪低杆通过通孔安装于所述N型框架上。进一步，所述测量仪表是电子千分表。本实用新型通过采用N型框架、测量仪表、测量仪低杆等结构，消除了产品尺寸大小受制和产品不宜操作等存在的缺点和不足，解决了现有L式结构检具的所有问题，可适于最大尺寸范围，并且更具稳定性及操作性。

图1是本实用新型提供的N式结构检测治具的结构示意图；图2是本实用新型提供的N式结构检测治具的主视图；图3是本实用新型提供的N式结构检测治具的俯视图；图4是本实用新型提供的N式结构检测治具的左视图。图中1、N型框架；2、测量仪表；3、测量仪低杆；4、治具底座。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，
以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。图1-4示出了本实用新型实施例提供的的N式结构检测治具的结构示意图。为了便于说明，仅仅示出了与本实用新型实施例相关的部分。如图2所示，该治具包括N型框架1、测量仪表2、测量仪低杆3、治具底座4 ；N型框架1固定在治具底座4上，测量仪表2固定在测量仪低杆3上，测量仪低杆 3固定在N型框架1上。在本实用新型实施例中，测量仪低杆3通过通孔固定在在N型框架1上。[0018]在本实用新型实施例中，，测量仪表2可以是电子千分表。
以下结合附图及具体实施例对本实用新型的应用原理作进一步描述。本实用新型实施例的框架是N式结构，从而使治具更具稳定性及操作性并且增大了产品检测范围。把待测样品放置在治具底座4和测量仪低杆3之间，调节测量仪表2进行测量，并读出数据。本实用新型通过采用N型框架1、测量仪表2、测量仪低杆3等结构，消除了产品尺寸大小受制和产品不宜操作等存在的缺点和不足，解决了现有L式结构检具的所有问题， 可适于最大尺寸范围，并且更具稳定性及操作性。以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1.一种N式结构检测治具，其特征在于，该治具包括N型框架、测量仪表、测量仪低杆、 治具底座；所述N型框架固定在所述治具底座上，所述测量仪表安装在所述测量仪低杆上， 所述测量仪低杆安装在所述N型框架上。
2.如权利要求1所述的治具，其特征在于，所述测量仪低杆通过通孔安装于所述N型框1 ο
3.如权利要求1所述的治具，其特征在于，所述测量仪表是电子千分表。
专利摘要本实用新型适用于检测器具技术，提供了一种N式结构检测治具，该治具包括N型框架、测量仪表、测量仪低杆、治具底座；所述N型框架固定在所述治具底座上，所述测量仪表安装在所述测量仪低杆上，所述测量仪低杆安装在所述N型框架上。本实用新型通过采用N型框架、测量仪表、测量仪低杆等结构，消除了产品尺寸大小受制和产品不宜操作等缺点和不足，解决了现有L式结构检具的所有问题，可适于最大尺寸范围，并且更具稳定性及操作性。
文档编号G01B21/00GK202141442SQ20112019529
公开日2012年2月8日 申请日期2011年6月10日 优先权日2011年6月10日
发明者陈昱成 申请人:宇瀚光电科技(苏州)有限公司