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专利名称：连续光谱双向透射分布函数测量装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种测量装置，特别涉及一种连续光谱双向透射分布函数测量装置。
背景技术：
双向透射分布函数(Bidirectionaltransmission Distribution Function,简称BTDF)是从辐射度学出发、在几何光学的基础上描述各种材料光谱透射特性的物理量。它表示了不同入射角条件下材料在任意观测角的透射特性，参照图I。双向透射分布函数是描述材料透射特性的具有唯一确定性的函数，该函数定义为某一透射方向上的透射辐亮度与入射到材料表面的入射辐照度的比值，其数学表达式为
权利要求
1.连续光谱双向透射分布函数测量装置，其特征在于，它包括照明系统(I)、探测系统(2)、机械转角系统(3)、控制系统(4)和数据处理系统(5)； 照明系统(I)的照明光纤探头固定安装在机械转角系统(3)的照明光纤探头的旋转支架上，照明系统(I)的光源信号输出端与数据处理系统(5)的光源信号输入端连接，探测系统(2)的探测光纤探头固定安装在机械转角系统(3)的探测光纤探头的旋转支架上，探测系统(2)的测量信号输出端与数据处理系统(5)的测量信号输入端连接，控制系统(4)的旋转控制信号输出端与探测系统(2)的旋转制信号输入端连接。
2.根据权利要求I所述的连续光谱双向透射分布函数测量装置，其特征在于，照明系统(I)包括照明光源(1-1 )、照明光纤探头(1-3)和准直放大组件(1-4); 照明光源(1-1)的光源输出端通过光纤与照明光纤探头(1-3)的光源输入端连接，照明光纤探头(1-3)的光源输出端的与准直放大组件(1-4)的光源输入端连接，准直放大组件(1-4)的光源输出端是照明系统(I)的光源信号输出端。
3.根据权利要求I所述的连续光谱双向透射分布函数测量装置，其特征在于，探测系统(2 )包括光谱仪(2-1)和探测光纤探头(2-3 )，探测光纤探头(2-3 )的探测信号输出端通过光纤与光谱仪(2-1)的探测信号输入端连接，光谱仪(2-1)的信号输出端是探测系统(2)的测量信号输出端。
4.根据权利要求I所述的连续光谱双向透射分布函数测量装置，其特征在于，机械转角系统(3)包括照明光纤探头的轨道(3-1)、探测光纤探头的轨道(3-2)，样品环(3-3)、旋转平台(3-4)、步进电机(3-5)和平台(3-6)； 平台(3-6)的中心设置通孔，旋转平台(3-4)嵌入并固定在平台(3-6)的通孔内，旋转平台(3-4)的中心设置一通孔； 样品环(3-3)位于旋转平台(3-4)的通孔中心位置，且与平台(3-6)固定接； 照明光纤探头的轨道(3-1)为1/4圆周轨道，探测光纤探头的轨道(3-2)为1/4圆周轨道，照明光纤探头的轨道(3-1)与探测光纤探头的轨道(3-2)的曲率半径相同，并且照明光纤探头的轨道(3-1)与探测光纤探头的轨道(3-2)的圆心点重合于样品环(3-3)的中心位置； 照明光纤探头的轨道(3-1)与探测光纤探头的轨道(3-2)对称设置在旋转平台(34)的上下两侧，并且照明光纤探头的轨道(3-1)与探测光纤探头的轨道(3-2)位于同一平面内，所述平面垂直于旋转平台(3-4)的旋转平面； 照明光纤探头的轨道(3-1)与探测光纤探头的轨道(3-2)均与旋转平台(3-4)固定连接； 步进电机(3-5)用于驱动旋转平台(3-4)旋转； 照明光纤探头位于照明光纤探头的轨道(3-1)上，并且能够在步进电机的驱动下沿所述照明光纤探头的轨道(3-1)滑动；探测光纤探头位于探测光纤探头的轨道(3-2)上，并且能够在步进电机的驱动下沿所述探测光纤探头的轨道(3-2)滑动；照明光纤探头输出的光束穿过样品环(3-3 );探测光纤探头用于探测样品环(3-3 )透射的光。
全文摘要
连续光谱双向透射分布函数测量装置，涉及一种双向透射分布函数测量装置。为了解决目前获得双向透射分布函数的装置测量精度低的问题。它包括照明系统、探测系统、机械转角系统、控制系统和数据处理系统；照明系统的照明光纤探头固定安装在机械转角系统的照明光纤探头的轨道上，照明系统的光源信号输出端与数据处理系统的光源信号输入端连接，探测系统的探测光纤探头固定安装在机械转角系统的探测光纤探头的轨道上，探测系统的测量信号输出端与数据处理系统的测量信号输入端连接，控制系统的旋转控制信号输出端与探测系统的旋转制信号输入端连接。用于测量连续光谱双向透射分布函数。
文档编号G01N21/59GK102809550SQ201210305239
公开日2012年12月5日 申请日期2012年8月24日 优先权日2012年8月24日
发明者汪洪源, 刘彬, 王付刚, 张伟 申请人:哈尔滨工业大学