专利名称：抗干扰镀层厚度测量仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及测量技术领域，具体涉及一种镀层厚度测量技术。
背景技术：
在生活、生产中经常会用到镀膜产品，镀膜技术在工业生产中是材料技术中的重要技术领域。对于镀膜产品质量鉴定的重要指标是镀层的厚度，以及镀层的均匀性。因为镀层厚度往往极�。饬看戳撕艽竽讯�。现有的技术中往往是通过检测镀层的透光性，来测定镀层的厚度。通过光对射检测装置的发光光源对镀层的一侧进行照射，将光对射检测装置的光敏器件设置在镀层的另一侧，从而获得镀层透光性数据，进而测定镀层的厚度。现有的光对射检测装置尚存在精度低、易受外界光线干扰等不足。
实用新型内容本实用新型的目的在于，提供一种抗干扰镀层厚度测量仪，以解决上述技术问题。本实用新型所解决的技术问题可以采用以下技术方案来实现抗干扰镀层厚度测量仪，包括一设备支架，至少一固定在所述设备支架上的光检测装置，所述光检测装置连接一微型处理器系统，其特征在于，所述光检测装置设有一光源，所述光源采用红外LED灯；所述光检测装置设有一光敏元件，所述光敏元件采用红外光敏二极管；所述设备支架设有一条状开口，所述红外LED灯与所述红外光敏二极管分别位于所述条状开口两侧，呈对射关系。将需要检测的镀有镀层的镀膜薄膜穿过所述条状开口，打开光检测装置，通过检测投射光线的强度参数。光检测装置将所检测到的数据传送给微型处理器系统，经过数据分析最终获得镀层的厚度。所述红外LED灯采用发光波段为860nnT960nm的红外LED灯。所述红外光敏二极管采用敏感波段为860nnT960nm的红外光敏二极管。860nnT960nm的红外光在自然界难以自然发出，因此可以有效减少外界光线对设备的干扰。采用本技术，可以检测0.1nm厚度的镀层。所述光检测装置设有一振荡信号发射模块，所述振荡信号发射模块连接所述红外LED灯；所述光检测装置设有一与所述振荡信号发射模块频率对应的选频模块，所述选频�？榱铀龊焱夤饷舳堋Ｍü焱釲ED灯加载振荡频率，使光线产生闪烁。可以更加有效的降低外界干扰，并提供检测精度。所述设备支架上设有至少5个所述光检测装置，至少5个所述光检测装置沿所述条状开口排列。[0017]两个所述光检测装置之间的距离小于10cm。以便于密集检测镀层面的各个位置的厚度。
图1，为本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
为了使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体图示进一步阐述本实用新型。参照图1，抗干扰镀层厚度测量仪，包括一设备支架1，至少一固定在设备支架I上的光检测装置2，光检测装置2连接一微型处理器系统，光检测装置2设有一光源，光源采用红外LED灯。光检测装置2设有一光敏元件，光敏元件采用红外光敏二极管。设备支架I设有一条状开口 3，红外LED灯与红外光敏二极管分别位于条状开口 3两侧，呈对射关系。一组光检测装置2中，装有红外LED灯的部分位于条状开口 3 —侧；装有红外光敏二极管的部分位于条状开口 3另一侧。将需要检测的镀有镀层的镀膜薄膜穿过条状开口 3，打开光检测装置2，通过检测投射光线的强度参数。光检测装置2将所检测到的数据传送给微型处理器系统，经过数据分析最终获得镀层的厚度。红外LED灯采用发光波段为860nnT960nm的红外LED灯。红外光敏二极管采用敏感波段为860nnT960nm的红外光敏二极管。860nnT960nm的红外光在自然界难以自然发出，因此可以有效减少外界光线对设备的干扰。光检测装置2设有一振荡信号发射�？椋竦葱藕欧⑸淠？榱雍焱釲ED灯；光检测装置2设有一与振荡信号发射模块频率对应的选频�？椋∑的？榱雍焱夤饷舳�。通过为红外LED灯加载振荡频率，使光线产生闪烁。可以更加有效的降低外界干扰，并提供检测精度。设备支架I上设有至少5个光检测装置2，至少5个光检测装置2沿条状开口 3排列。两个光检测装置2之间的距离小于10cm。以便于密集检测镀层面的各个位置的厚度。采用本技术，可以检测O.1nm厚度的镀层。以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。
权利要求1.抗干扰镀层厚度测量仪，包括一设备支架，至少一固定在所述设备支架上的光检测装置，所述光检测装置连接一微型处理器系统，其特征在于， 所述光检测装置设有一光源，所述光源采用红外LED灯； 所述光检测装置设有一光敏元件，所述光敏元件采用红外光敏二极管； 所述设备支架设有一条状开口，所述红外LED灯与所述红外光敏二极管分别位于所述条状开口两侧，呈对射关系。
2.根据权利要求1所述的抗干扰镀层厚度测量仪，其特征在于，所述红外LED灯采用发光波段为860nnT960nm的红外LED灯。
3.根据权利要求1所述的抗干扰镀层厚度测量仪，其特征在于，所述红外光敏二极管采用敏感波段为860nnT960nm的红外光敏二极管。
4.根据权利要求1、2或3所述的抗干扰镀层厚度测量仪，其特征在于，所述光检测装置设有一振荡信号发射�？椋稣竦葱藕欧⑸淠？榱铀龊焱釲ED灯；所述光检测装置设有一与所述振荡信号发射模块频率对应的选频�？椋鲅∑的？榱铀龊焱夤饷舳堋�
5.根据权利要求4所述的抗干扰镀层厚度测量仪，其特征在于，所述设备支架上设有至少5个所述光检测装置，至少5个所述光检测装置沿所述条状开口排列。
6.根据权利要求4所述的抗干扰镀层厚度测量仪，其特征在于，两个所述光检测装置之间的距离小于10cm。
专利摘要本实用新型涉及测量技术领域，具体涉及一种镀层厚度测量技术。抗干扰镀层厚度测量仪，包括一设备支架，至少一固定在设备支架上的光检测装置，光检测装置连接一微型处理器系统，光检测装置设有一光源，光源采用红外LED灯；光检测装置设有一光敏元件，光敏元件采用红外光敏二极管；设备支架设有一条状开口，红外LED灯与红外光敏二极管分别位于条状开口两侧，呈对射关系。将需要检测的镀有镀层的镀膜薄膜穿过条状开口，打开光检测装置，通过检测投射光线的强度参数。光检测装置将所检测到的数据传送给微型处理器系统，经过数据分析最终获得镀层的厚度。
文档编号G01B11/06GK202903142SQ201220549900
公开日2013年4月24日 申请日期2012年10月25日 优先权日2012年10月25日
发明者陈显东, 陈生贩, 江裕捺, 陈生镇, 陈发杰 申请人:上�：觋黄笠捣⒄褂邢薰�
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