专利名称：测距装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及用激光光束测定到目标物的距离的测距装置。
背景技术：
近年来，通过将测距用的激光光束直接照射测定目标物来测定到目标物的距离的非棱镜测距装置正在得到普及。
非棱镜测距装置采用光束直径小的激光光束。用光束直径小的激光光束，能够以点来照射测定目标物，能够明确目标物的测定位置，使得对测定目标物的棱线或特定点的测定成为可能。
另外，由于照射激光光束的强度基于安全性等理由受到限制，与采用棱镜(直角棱柱体)的测距装置相比，若使用不能获得来自测定目标物的高反射的非棱镜测距装置，则测定距离变得较短。
因此，长距离测定中，采用棱镜作为测定目标物。并且，为了容易瞄准和高精度的测定，采用具有较大光束扩展的激光光束。
如上所述，非棱镜测距装置中，由于激光光束的光束直径�。岩越す夤馐丈涞嚼饩瞪希虼瞬皇屎喜捎美饩档某ぞ嗬氩舛�。
但是，由于同时装备采用棱镜的长距离用的测距装置和非棱镜测距装置不经济，因此有人提出了在一台测距装置上即可进行采用棱镜的距离测定又可进行非棱镜的距离测定的测距装置。
例如，在特开2000-88566号公报(图1、段落 ～段落 )中，提出了可在一台测距装置上进行采用棱镜的距离测定或非棱镜的距离测定的测距装置。
参照图7进行简单说明。
传统测距装置中设有发出可见激光光束1的第一光源2和发出红外激光光束3的第二光源4，所述可见激光光束1和所述红外激光光束3可以分别进行发射。另外，所述可见激光光束1是光束直径小的、平行光束的激光光束，所述红外激光光束3是发散性的激光光束。
根据测定目标物的种类，对所述可见激光光束1和红外激光光束3作出选择，例如在测定目标物5为直角棱柱体等的反射体的场合，照射发散性的所述红外激光光束3；在所述测定目标物5为建筑物等壁面的场合，照射光束直径小的所述可见激光光束1。来自所述测定目标物5的反射光11通过物镜6、滤光器7由检测器8接受，运算部12基于来自该检测器8的信号测定出到所述测定目标物5的距离。
所述滤光器7只让所述可见激光光束1、红外激光光束3的波长区的光成分透射，将不需要的日光等截�。佣岣咚黾觳馄�8对所述反射光11的检测精度。
上述的传统测距装置中，由于使用两个光源而涉及光源的控制等，从而使发光部变得复杂。另外，由于使用所述可见激光光束1和所述红外激光光束3，所述滤光器7是与两个激光光束的波长区对应的滤光器。图8表示所述滤光器7的波长透射特性A、所述检测器8的受光特性B和所述可见激光光束1、所述红外激光光束3的波长之间的关系。
由于所述滤光器7可以让所述可见激光光束1和所述红外激光光束3波长的光成分透射，因此，具有让波长比所述可见激光光束1的透射波长长的光成分透射的特性。因此，在入射该可见激光光束1、所述红外激光光束3以外的宽波长区的光束，所述检测器8接受所述反射光11时，所述反射光11相对于干扰光的S/N比变小。对于一般作为检测器8使用的雪崩光电二极管(APD)的受光特性而言，在780nm前后的波长区的灵敏度最大。特别是，用传统例的所述可见激光光束1测定的场合，在所述检测器8的灵敏度低的状态下检测所述反射光11。另外，主要的干扰光是日光，但是日光的波长分布如图9所示，在越过可见光范围的区域扩展得很宽。因此，如所述滤光器7那样，由于让波长比所述可见激光光束1长的光成分透射的特性，存在S/N比变得更低的问题。
发明内容
本发明的目的在于以单一光源进行采用棱镜的距离测定或非棱镜的距离测定，使被检测的反射光的S/N比得以改善，并实现测距精度的提高。
为达成上述目的，本发明的测距装置中设有发射测距光的光源部，受光光学系统，将来自所述光源部的测距光投射到测定目标物、并将来自该测定目标物的反射测距光导入所述受光光学系统的投射光学系统，将来自所述光源部的测距光作为内部参照光导入所述受光光学系统的内部参照光学系统；所述光源部能够射出束散角相异的相同或大致相同波长的两束测距光，所述受光光学系统中有让所述测距光的窄带波长的光成分透射的滤光器。并且，本发明的测距装置中，所述光源部有发射相同或大致相同波长的测距光的两个光源，从一个光源发出的测距光经由第一光路以小的束散角投射，从另一个光源发出的测距光经由第二光路以大的束散角投射。另外，本发明的测距装置中，所述测距光是红外光。另外，本发明的测距装置中，所述滤光器设在所述内部参照光、反射测距光的共同光路上。另外，本发明的测距装置中，所述受光光学系统设有使入射到所述滤光器的光束成为平行的光学部件。本发明的测距装置中，所述光源部设有一个光源、第一光路、第二光路以及将来自所述光源的测距光导入所述第一光路或第二光路的光路切换部件；从所述第一光路投射束散角小的测距光，从所述第二光路投射束散角大的测距光。并且，本发明的测距装置中，所述光路切换部件是跨越所述第一光路和第二光路设置的、使光路偏转的偏转光学部件；该偏转光学部件可装入所述第一光路和第二光路或从所述第一光路和第二光路取下。并且，本发明的测距装置中，所述光路切换部件设有以透射光路为第一光路、反射光路为第二光路的光束分离器和二者择一地遮断所述第一光路和第二光路的光路遮断部件。并且，本发明的测距装置中，第二光路的测距光通过光纤投射。并且，本发明的测距装置中，所述光源部设有光混合部件，至少使束散角大的测距光通过所述光混合部件投射。并且，本发明的测距装置中，设有将可见激光光束沿投射光轴射出的指示用光源。
图1是表示本发明的第一实施例的主要示图。
图2是表示该第一实施例中使用的干涉滤光器的透射特性的曲线图。
图3是表示入射到所述干涉滤光器的入射光束的状态与透射特性的曲线图。
图4是第一实施例中使用的光路切换部件的主要部分的说明图，其中图4(A)是平面图、图4(B)是正面图、图4(C)是侧面图。
图5是表示另一光路切换部件的说明图。
图6是第二实施例的光源部的主要示图。
图7是传统例的说明图。
图8是该传统例中使用的滤光器的透射特性的曲线图。
图9是日光的波长分布特性的曲线图。
具体实施例方式
以下，参照附图就本发明的实施例进行说明。
图1是本发明的第一的实施例的主要示图，图中15表示光源部、16表示投射光学系统、17表示内部参照光学系统、18表示受光光学系统、19表示目镜光学系统(望远镜)。
首先，就所述光源部15进行说明。
激光光源21射出例如780nm的红外光作为测距光。在所述激光光源21的光轴20上设有第一准直透镜22、混合部件23和光路切换部件24。
再有，作为所述混合部件23使用的，例如有特开2002-196076号所公开的装置等。
特开2002-196076号所公开的该混合部件23中，设有位于光轴上的一对自聚焦透镜和插入在该自聚焦透镜之间将光路遮断的相位板，并使该相位板旋转。该相位板形成棋盘格状的凹凸，该凹凸设置成产生激光光束波长的π/2的相位差。
所述光路切换部件24可选择第一光路25与第二光路26，所述第一光路25、所述第二光路26通过所述光路切换部件24与投射光轴27相重合。
所述光路切换部件24包含例如可转动支承的菱形棱镜28，通过转动该菱形棱镜28来选择第一光路25或第二光路26。所述第一光路25被选择的状态下，来自所述激光光源21的测距光经所述混合部件23入射到所述菱形棱镜28，由该菱形棱镜28二次反射后，在与所述光轴20平行的状态下与所述投射光轴27相重合。
所述第二光路26与所述光轴20的延长线重合，在所述第二光路26上设置第二准直透镜29、光纤31、在该光纤31的射出端设置第三准直透镜32，该第三准直透镜32的光轴与所述投射光轴27相重合。
在所述光路切换部件24选择了所述第二光路26的状态下，所述菱形棱镜28成为从所述光轴20偏离的状态。来自所述混合部件23的测距光由所述第二准直透镜29会聚，从所述光纤31的入射瑞入射到该光纤31，从该光纤31射出的测距光经所述第三准直透镜32成为平行光束，沿所述投射光轴27射出。
另外，所述光源部15设有指示用光源33，采用LD作为该指示用光源33，发射可见光的指示用激光光束，该指示用激光光束经第四准直透镜34成为平行光束，从所述投射光学系统16投射到测定目标物(未作图示)。
现就该投射光学系统16进行说明。
在所述投射光轴27上设有光束分离器35、凹透镜36、第一光路偏转部件37、第二光路偏转部件38、物镜39，在所述光束分离器35和所述凹透镜36之间设有投射光量调整部件41。
该投射光量调整部件41由步进马达等具有位置确定功能的光量调整马达42转动，它设有透射光量在圆周方向连续或分级变化的光量调整板43，该光量调整板43设置成将所述投射光轴27遮断。
所述凹透镜36配置成使该凹透镜36的焦点位置和所述物镜39的焦点位置相重合，它与该物镜39一起构成光束扩展器，它能够将引导到所述凹透镜36的平行光束扩展并加以投射。因此，能够将所述光束分离器35、光量调整板43等光学部件带来的影响减至最小。另外，与将所述激光光源21配置在所述物镜39的焦点位置的结构相比，投射效率得到提高。
所述光束分离器35将来自所述激光光源21的测距光(红外光)的大部分透射，将其一部分反射，并将来自所述指示用光源33的指示用激光光束(可见光)全反射；所述第一光路偏转部件37是反射镜，所述第二光路偏转部件38是半反射镜。
现就所述内部参照光学系统17进行说明。
该内部参照光学系统17设于所述光源部15和后述的所述受光光学系统18之间，所述内部参照光学系统17有与所述光束分离器35的透射光轴一致的内部参照用光轴44，该内部参照用光轴44上设有聚光透镜45、浓度滤光器46、分色棱镜47。
在所述投射光轴27和所述内部参照用光轴44之间跨接地设置斩光器部件48。该斩光器部件48设有将所述投射光轴27和所述内部参照用光轴44遮断的斩光器板49以及转动该斩光器板49并确定其位置的斩光器马达51。所述斩光器板49遮断所述投射光轴27的状态时所述内部参照用光轴44为通过状态，所述斩光器板49遮断所述内部参照用光轴44的状态时所述投射光轴27为通过状态。
而且，通过使所述斩光器板49转动，可以择一地选择是让来自所述光源部15的测距光照射到所述投射光轴27上，还是作为内部参照光照射到所述内部参照用光轴44。
所述浓度滤光器46调整内部参照光的光强度，使得来自测定目标物的反射测距光和内部参照光和的光强度大致相等。
以下说明所述受光光学系统18。
该受光光学系统18具有与所述内部参照用光轴44的延长线重合的受光光轴52，该受光光轴52上设有所述分色棱镜47、环形透镜53、受光光纤54、第五准直透镜55、干涉滤光器56、聚光透镜57、受光元件58。作为该受光元件58，例如采用雪崩光电二极管(APD)，所述干涉滤光器56具有透过窄带、例如图2所示的800nm附近的波长带的特性。所述受光元件58接受反射测距光时，受光信号被传送到运算部65，该运算部65基于受光信号计算到测定目标物的距离。
以下说明所述目镜光学系统19。
该目镜光学系统19有目镜光轴60，该目镜光轴60与透过所述分色棱镜47的所述物镜39光轴的延长线重合。在所述目镜光轴60上设有设置成可沿该目镜光轴60移动的聚焦透镜61、将像变换为正像的正像棱镜62、设有十字等瞄准线的瞄准板63、目镜透镜64。
以下就工作过程进行说明。
首先，将所述指示用光源33开启，发出指示用激光光束。该指示用激光光束由所述光束分离器35反射，经所述第一光路偏转部件37、第二光路偏转部件38后再通过所述物镜39照射到测定目标物。所述指示用激光光束与所述投射光轴27同轴地投射，因此正确地照射到测定点。通过所述目镜光学系统19观察所述指示用激光光束的照射点，确定测定点。测定点一旦确定，就将所述指示用光源33关闭。
由于所述指示用光源33只在必要时开启，可以大幅度减少在工作场所激光光束照射到工作人员与行人眼睛的危险性，不会给工作人员与行人造成炫目，使它们感到讨厌。
用建筑物的壁面等作为测定目标物进行非棱镜距离测定时，选择非棱镜测定。
选择非棱镜测定的场合，所述菱形棱镜28的位置确定为将所述第二光路26、投射光轴27遮挡。所述激光光源21发出的测距光在所述混合部件23中混合。通过混合可消除光量的不匀、改善测定精度。所述菱形棱镜28使光路向所述第一光路25偏转，透过所述光束分离器35，再经所述投射光学系统16投射到测定目标物。
投射的测距光的光束直径、束散角与发光源的大小相关联。采用半导体激光(LD)时，所述激光光源21的光点直径约为3μm，可进行微细直径的测距光照射。
测距光由所述投射光学系统16投射到测定目标物，由测定目标物反射的反射测距光通过所述投射光轴27入射到所述分色棱镜47，再经该分色棱镜47反射后射入所述受光光纤54。反射测距光由该受光光纤54引导至所述第五准直透镜55，经过所述第五准直透镜55后成为平行光束，再由所述干涉滤光器56将干扰光遮断。
该干涉滤光器56的透射特性如图2所示。图中，B表示所述受光元件58的受光特性、C表示测距光、D表示所述干涉滤光器56的透射特性。该干涉滤光器56的透射特性是只让所述测距光C的波长附近的波长区的光成分透过。也就是，反射测距光是在干扰光大部分被遮断的状态下入射到所述受光元件58。通过经所述斩光器部件48将测距光和内部参照光切换，内部参照光入射到所述受光元件58，进行距离测定。
图3表示所述干涉滤光器56的另一透射特性。图3表示入射光束垂直入射(图中实线表示)和倾斜入射(图中虚线表示)到该干涉滤光器56的情况，如图所示，垂直入射和倾斜入射时的波长区有偏移。由于该干涉滤光器56具有只透过反射测距光的波长区附近的光成分的特性，倾斜入射该干涉滤光器56时，透过该干涉滤光器56的反射测距光的光量就大幅减少。所述第五准直透镜55使所述受光光纤54射出的反射测距光成为平行光束，使入射到所述干涉滤光器56的反射测距光成为垂直入射的状态，从而使反射测距光的光量不因该干涉滤光器56而减少。
所述光量调整马达42按照距离测定的要求转动所述光量调整板43，调整从该光量调整板43射出的测距光的强度，不论到测定目标物的距离如何，使所述受光元件58接受的反射测距光的强度成为恒定。另外，所述斩光器部件48对测距光是投射到测定目标物、还是作为内部参照光入射到所述受光光学系统18加以切换，所述浓度滤光器46调整内部参照光的光强度，使内部参照光和反射测距光的光强度大致相同。
所述受光元件58将所述反射测距光和内部参照光的受光信号传送给所述运算部65，该运算部65基于来自所述受光元件58的受光信号计算到测定目标物的距离。如上所述，由于所述干涉滤光器56将干扰光除去，只让反射测距光的波长带透过，所述受光元件58接受的反射测距光的S/N比大幅度提高，从而能够进行高精度的测距。
这里，就所述受光元件58接受的反射测距光的S/N比进行说明。再有，所述受光元件58采用雪崩光电二极管(APD)。
已经获知，APD中的散粒噪声(shot noise)In由下式给出。
In=(2·q·IL·M2·F·B)]]>q电子电荷ILM＝1时的光电流M倍增率
F系数B带宽这里，q、M、F、B是电路设计时以及元件的常数。因此，因干扰光而变化的项是IL。将采用所述干涉滤光器56的场合与图8所示的采用滤光器的场合相比，干扰光预期可降低到约1/4，这时，散粒噪声In’由下式给出In′=(2·q·IL×(1/4)·M2·F·B)]]>In′/In=(1/4)=0.5]]>而且，透过采用所述干涉滤光器56，可将散粒噪声降低到0.5，将S/N比改善到1/0.5＝2.0倍，从而能够维持高的测定精度。
再有，由于所述第二光路偏转部件38配置在所述投射光轴27上等所述投射光学系统16结构上的原因，导入所述受光光学系统18得到反射测距光成为中心部缺少的光束。因此，测定目标物为近距离时，反射测距光的光束缺少的部分与所述受光光纤54的入射端面相重合，从而出现反射测距光不射入所述受光光学系统18的情况。所述环形透镜53使反射测距光周边的光束折射，并使之射入所述受光光纤54。结果，不论测距距离的远近，反射测距光都被导入所述受光光学系统18。
棱镜测定中，为了减少因望远镜的视轴和测距光轴的偏差引起的误差，射出束散角大的光束。
选择了棱镜测定的场合，所述菱形棱镜28的位置被确定在偏离所述第二光路26、投射光轴27的状态。所述激光光源21发出的测距光由所述混合部件23混合。通过混合消除光量斑，从而提高测定精度。
测距光经所述第二准直透镜29会聚并射入所述光纤31的入射端面。该光纤31的出射端面位于所述投射光轴27上，经所述第三准直透镜32聚光后，测距光透过所述光束分离器35，通过所述投射光学系统16投射到测定目标物。
如上所述，投射的测距光的光束直径、束散角与发光源的大小相关联，棱镜测定中所述光纤31的出射端面用作二次光源，该光纤31的端面的直径为300μm，与上述非棱镜测定中的半导体激光(LD)的直径3μm相比足够大，于是透射束散角大的测距光。
棱镜测定中，束散角大且均匀的测距光成为进行高精度测距的条件。通过投射的测距光被所述混合部件23混合再透过所述光纤31，经多次反射而多模化，因此可防止激光光束的可干涉性产生的斑纹，抑制光量斑的发生。
再有，在棱镜测定方式的测距中，所述干涉滤光器56将干扰光遮断，S/N比得到改善。另外，所述第五准直透镜55将入射到所述干涉滤光器56的反射测距光设为垂直入射的状态，从而防止了反射测距光经所述干涉滤光器使56光量减少，这与非棱镜测定时相同。
参照图4就所述光路切换部件24进行说明。
所述菱形棱镜28由棱镜夹66支持，转轴67从该棱镜夹66突出，所述菱形棱镜28凭借该转轴67被自由转动支承。另外，所述转轴67与马达(未作图示)、螺线管等致动器(未作图示)相连接，借助于该致动器，所述菱形棱镜28可以转动到所要的角度，以插入或离开所述第二光路26、投射光轴27。
图5表示另一光路切换部件24。
图5中，与图1中相当的部分用相同的符号表示。
在所述第二光路26上设置第一半反射镜68作为光束分离器，在所述投射光轴27上设置第二半反射镜69作为光束分离器，所述第一半反射镜68和所述第二半反射镜69平行地相对配置，以机械方式固定于测距装置的机架等。而且，通过平行地设置所述第二光路26和所述投射光轴27，在所述第一半反射镜68和所述第二半反射镜69之间形成所述第一光路25，经所述第一半反射镜68反射、通过所述第一光路25后又经所述第二半反射镜69反射的测距光，通过所述投射光轴27后由所述投射光学系统16投射出去。另外，光束切换器71横跨地设置在所述第二光路26和所述第一光路25之间。所述光束切换器71中设有带透射孔(未作图示)的光束切换板72和使该光束切换板72转动的马达73。在所述第二光路26开通的状态下，所述光束切换板72将所述第一光路25遮断，在该第一光路25开通的状态下将所述第二光路26遮断。
而且，所述光束切换器71将透过所述第一半反射镜68的测距光导引到所述光纤31，并将经所述第一半反射镜68反射的测距光经所述第二半反射镜69导引到所述投射光学系统16。
图6表示第二实施例。
该第二实施例中，说明分别设置棱镜测定用的光源和非棱镜测定用的光源的情况。再有，图6中示出光源部15，其他结构与图1所示的光源相同，图示省略。
光轴20上设有作为非棱镜用光源的激光光源21，以及第一准直透镜22、混合部件23和光束分离器74。另外，该光束分离器74中，与所述光轴20垂直相交的第二光路26上设有副激光光源75、副第一准直透镜76、副混合部件77、第二准直透镜29、光纤31、第三准直透镜32；所述副激光光源75射出的副测距光设置成入射到所述光束分离器74。再有，所述副激光光源75采用与所述激光光源21相同规格的LD。
另外，所述激光光源21和所述副激光光源75设置成由光源控制部78实施发光、开闭等控制。
进行非棱镜测定的场合，所述激光光源21开启，所述副激光光源75关闭。来自该激光光源21的测距光经所述第一准直透镜22聚光后，由所述混合部件23混合，再透过所述光束分离器74沿所述投射光轴27投射出去，或由斩光器部件48切换光路，沿内部参照用光轴44导向受光光学系统18(这里未作图示，参照图1)。如上所述，可得到所述激光光源21的发光点直径小的、适合于非棱镜测定的测距光。
另外，进行棱镜测定的场合，所述副激光光源75开启，所述激光光源21关闭。副测距光由所述副第一准直透镜76聚光、所述副混合部件77混合后，经所述第二准直透镜29会聚到所述光纤31的入射端面。透过该光纤31的副测距光经所述第三准直透镜32成为平行光束，再经所述光束分离器74反射后沿所述投射光轴27投射出去，或者经所述斩光器部件48切换光路，沿所述内部参照用光轴44导向所述受光光学系统18(这里未图示，参照图1)。
在棱镜测定的场合，所述光纤31的射出端成为二次光源，该光纤31的射出端的直径为300μm，因此可得到适合于棱镜测定的大束散角的副测距光。另外，由于所述光纤31使副测距光多模化，因此投射出无光量斑的均匀的副测距光。
再有，就所述光束分离器74的反射率、透射率而言，由于棱镜测定中即使光量少于非棱镜测定也行，因此可将测距光的透射率设置得较高，将副测距光的反射率设置得较低。
本第二实施例中，所述副激光光源75和所述激光光源21之间由所述光源控制部78进行切换，因此第一实施例中所示的光路切换部件24可以省去。另外，由于所述激光光源21和所述副激光光源75在制造上存在个体差别，不能产生完全相同波长的测距光，但其误差程度不影响它们被包含在所述干涉滤光器56(参照图1)的透射波长带中，实用上并无问题。从而能够发出实质上波长相同的测距光，获得与第一实施例同样高的S/N比，维持高的测定精度。
第二实施例中，所述混合部件23可以省去。
依据本发明，设有发出测距光的光源部；受光光学系统；将来自所述光源部的测距光投射到测定目标物并将来自该测定目标物的反射测距光导入所述受光光学系统的投射光学系统；以及将来自所述光源部的测距光作为内部参照光导入所述受光光学系统的内部参照光学系统。所述光源部能够射出束散角相异的波长相同或大致相同的两束测距光，所述受光光学系统设有使所述测距光的窄带波长的光成分透过的滤光器，因此可大幅度阻断干扰光，改善所述测距光的S/N比，从而提高测定精度。
权利要求
1.一种测距装置，其中设有发出测距光的光源部，受光光学系统，将来自所述光源部的测距光投射到测定目标物并将来自该测定目标物的反射测距光导入所述受光光学系统的投射光学系统，以及将来自所述光源部的测距光作为内部参照光导入所述受光光学系统的内部参照光学系统；所述光源部能够射出束散角相异、波长相同或大致相同的两束测距光，所述受光光学系统设有使所述测距光的窄带波长的光成分透过的滤光器。
2.如权利要求1所述的测距装置，其特征在于所述光源部包括发射波长相同或大致相同的测距光的两个光源，从一个光源发出的测距光经由第一光路以小束散角投射，从另一个光源发出的测距光经由第二光路以大束散角投射。
3.如权利要求1或权利要求2所述的测距装置，其特征在于所述测距光是红外光。
4.如权利要求1或权利要求2所述的测距装置，其特征在于所述滤光器配置在所述内部参照光、反射测距光的共同光路上。
5.如权利要求1或权利要求2所述的测距装置，其特征在于所述受光光学系统设有使入射到所述滤光器的光束成为平行的光学部件。
6.如权利要求1所述的测距装置，其特征在于所述光源部设有一个光源，第一光路，第二光路，以及将来自所述光源的测距光导入所述第一光路或第二光路的光路切换部件；从所述第一光路投射束散角小的测距光，从所述第二光路投射束散角大的测距光。
7.如权利要求6所述的测距装置，其特征在于所述光路切换部件是跨越所述第一光路和第二光路设置、使光路偏转的偏转光学部件，该偏转光学部件可插入或脱离所述第一光路和第二光路。
8.如权利要求6所述的测距装置，其特征在于所述光路切换部件设有透射光路为第一光路、反射光路为第二光路的光束分离器，以及择一地将所述第一光路和第二光路遮断的光路遮断部件。
9.如权利要求2、权利要求6、权利要求7或权利要求8所述的测距装置，其特征在于第二光路的测距光通过光纤后投射。
10.如权利要求1所述的测距装置，其特征在于所述光源部设有光混合部件，至少使束散角大的测距光通过所述光混合部件后投射。
11.如权利要求1所述的测距装置，其特征在于设有将可见激光光束沿投射光轴射出的指示用光源。
全文摘要
设有发射测距光的光源部；受光光学系统；将来自所述光源部的测距光投射到测定目标物并将来自该测定目标物的反射测距光导入所述受光光学系统的投射光学系统；以及将来自所述光源部的测距光作为内部参照光导入所述受光光学系统的内部参照光学系统。所述光源部能够射出束散角相异、波长相同或大致相同的两束测距光，所述受光光学系统包括将所述测距光的窄带波长的光成分透过的滤光器。
文档编号G01C15/00GK1512136SQ20031012445
公开日2004年7月14日 申请日期2003年12月24日 优先权日2002年12月26日
发明者大友文夫, 熊谷薰, 古平纯一, 一 申请人:株式会社拓普康
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