专利名称：测试装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种测试装置，特别涉及一种测试从光盘驱动器中弹出的光盘的长度的测试装置。
背景技术：
光盘驱动器(Optical Disk Driver)作为记录和再现光盘的装置得到了越来越广泛的应用。目前，出现了一种直插式光盘驱动器，光盘无需通过托盘承载而直接插入或弹出光盘驱动器。对于这种直插式光盘驱动器而言，光盘伸出光盘驱动器的长度必需适中，以避免光盘伸出长度较短导致光盘不容易拔出或光盘伸出长度较长导致光盘直接掉落。为避免以上情况的发生，在直插式光盘驱动器的生产过程中，通常需要对光盘伸出光盘驱动器的长度进行反复测试。目前大多通过作业员以人工作业的方式对光盘伸出光盘驱动器的长度进行测量， 并在获得测量数据后手动输入计算机以作为备份或进数据分析。然而，这种人工测试的作业方式，不仅需要耗费大量的人力增加生产成本，而且容易造成作业员疲劳导致工作效率低下。
发明内容
有鉴于此，有必要提供一种测试光盘伸出光盘驱动器的长度的测试装置。该测试装置包括导轨、装配于该导轨并可沿该导轨滑动的光发射器、光感应器及处理器。光发射器用于发出光线照射被测物体以形成反射光线。光感应器用于接收经被测物体反射后形成的反射光线并根据所接收到的反射光线感应被测物体的反射率，以及当感应到的反射率发生变化时产生侦测信号；处理器器电连接于所述光感应器，用于接收侦测信号，并根据第一次接收到的侦测信号和第二次接收到侦测信号计算出被测特体的长度。上述测试装置通过发出光线照射光盘并接收经光盘反射后所形成的反射光线来侦测光盘的反射率的变化，反射率的变化来确定光盘伸出光盘驱动器的起始位置与终端位置，并进一肯根据确定的起始位置与终端位置测出光盘伸出光盘驱动器的长度。
图1为本发明一较佳实施方式的测试装置测试从光盘驱动器中弹出来的光盘的长度时的示意图。图2为图1所示测试装置的�？橥肌Ｍ�3为图1所示测试装置发出的光线经光盘反射后的示意图。主要元件符号说明测试装置100光盘驱动器200光盘210
测试台101支架102导轨103镜面104测试头10驱动马达20光发射器110光感应器120位移传感器130输入/输出接140处理器160透视反射镜170透光面171反射面172准直镜物镜190交点S夹角α、β计算机300
具体实施例方式请参阅图1，为一较佳实施方式的测试装置100测试从光盘驱动器200中弹出来的光盘210的长度时的示意图。该测试装置100包括测试台101、垂直设置于测试台101—端的支架102、装配于该支架102的测试头10和驱动马达20。该支架102远离测试台101的一端设置有一导轨103。该导轨103朝与测试台101设置有支架102 —侧相对的另一侧水平延伸，用于支撑测试头10。该测试头10装配于该导轨103上并可沿该导轨103延伸方向来回滑动。该驱动马达20，用于驱动测试头10沿导轨103滑动。在本实施例中，该驱动马达20为步进马达或伺服电机，且测试台102台面及光盘驱动器200外壳的材质均不同于被测物体的材质。请一并参考图2，该测试装置100还包括光发射器110、光感应器120、位移传感器 130及处理器160。该光发射器110、光感应器120、位移传感器130及驱动马达20均电连接于处理器160，且该光发射器110、光感应器120、位移传感器130、处理器160及驱动马达 20均安装于该测试头10中。该光发射器110用于发出光线照射被测物体，即光盘210上以形成反射光线。在本实施例中，光发射器110为一激光发射器。被测物体放置于导轨103的正下方，且位于该导轨103相对两端之间的范围内。该光感应器120用于接收经光盘210表面反射后形成的反射光线并根据所接收到的反射光线感应被测物体的反射率，并且当被测物体的反射率发生变化时产生侦测信号。 由于具有不同材质的物体的反射率不同，因此，当光感应器120接收到经不同物体反射后形成的反射光线时，其感应到的反射率会发生改变。例如，光盘210的反射率不同于测试台 101表面的反射率，因此，当测试头10从导轨103 —端(右端)移动至相对的另一端(左端)的过程中，光线的反射面从测试台101变为光盘210时，光感应器120感应到的反射率会发生改变，从而产生一侦测信号；反射面从光盘210变为测试台101时，光感应器120感应到的反射率又会发生改变，从而产生又一侦测信号。同理，当测试头10从导轨103 —端 (左端)移动至相对的另一端(右端)的过程中，光感应器120感应到的反射率会先后发生两次改变，并先后产生两个侦测信号。该位移传感器130用于感测测试头10的坐标信息，具体为，该位移传感器130用于感测测试头10沿导轨103滑动时的坐标信息。该处理器160还用于接收光感应器120所产生的侦测信号，且当第一次接收到侦测信号时控制位移传感器130记录测试头10的第一坐标信息，并当第二接收到侦测信号时控制位移传感器130记录测试头10的第二坐标信息。该处理器160还用于根据位移传感器130所记录的第一坐标信息和第二坐标信息，计算出测试头10沿导轨103滑动的距离。 由于反射率变化时所得到的第一坐标信息和第二坐标信息对应于被测物体相对两端的坐标信息，因此，测试头10沿导轨103滑动的距离即为被测物体的长度。另外，该处理器160 还用于控制驱动马达20驱动测试头10在导轨103相对两端之间来回滑动。请进一步参阅图3，优选的，该光发射器110发出的光线垂直照射光盘210。为使垂直照射光盘210的光线经光盘210表面反射后形成的反射光线能被光感应器120接收， 该测试装置100还包括透视反射镜170，用于将经光盘210表面反射后形成的反射光线进一步反射至光感应器120。该透视反射镜170装设于测试头10中且设置于光发射器110发出的光线的传输方向上，且与光线相交的交点为S。该透视反射镜170包括透光面171及与透光面171相背的反射面172。为保证线经光盘210表面反射后形成的反射光线能被光感应器120接收，光感应器120与交点S连线后所形成的与反射面172的夹角α等于反射面 172与光线传送方向之间形成的夹角β。在本实施例中，α、β均为45度，也即，光感应器 120与交点S的连接与光线的传输方向垂直。此外，为便于光发射器110发出的光线经透视反射镜170后能聚焦至光盘210上， 该测试装置100还包括准直镜180和物镜190。该准直镜180和物镜190设置于所述光线的传送方向上并位于透视反射镜170的反射面172 —侧。另外，为了增强光感应器120的灵敏度，该测试台101上设置一反射率不同于光盘 210的镜面104，以使测试台101表面的反射率保持一致。为便于说明测试装置100的工作原理，下面以测量图1中所示的从光盘驱动器200 中弹出的光盘210的长度为例进行说明。当需要测试从光盘驱动器200中弹出的光盘210的长度时，首先，将光盘驱动器 200固定于测试台101的镜面104上，并使光盘处于导轨103的正下方。开启测试装置100， 光发射器110发出光线，驱动测试头10自导轨103右端向左端滑动。如图1所示，当光发射器110发出的光线移到光盘210的右端Ml (起始位置)时，光线的反射面由测试台101上的镜面104变为光盘210表面，光感应器120感应到反射率第一发生改变，并第一次产生侦测信号；处理器160(第一次)接收到光感应器120第一次产生的侦测信号并控制位移传感器130记录测试头10对应于光盘右端Ml的坐标信息，例如(13，0)。当测试头10在驱动马达20的驱动下向左滑动至光盘210伸出光盘驱动器的左端M2 (终端位置)时，光线的反射面由光盘210变为光盘驱动器200上表面，光感应器120感应到反射率第二发生改变，并第二次产生侦测信号；处理器160(第二次)接收到光感应器120第二次产生的侦测信号时， 控制位移传感器130记录测试头10对应于光盘右端M2的坐标信息，例如(1，0)。最后，处理器160根据获取的M1、M2的坐标信息计算出测试头10沿导轨103滑动的距离，也即测出从光盘驱动器200中伸出的光盘210的长度。同理，当需要测试从另一个光盘驱动器(未示出)中伸出的光盘的长度时，只需驱动测试头10从导轨103左端滑回右端即可完成从该另一光盘驱动器中伸出的光盘的长度。因此，在本实施例中，测试头10沿导轨103来回滑动一次，便可完成两次测试，提高了测试效率，同时降低了测试成本。另外，该测试装置100还包括一输入/输出接口 140。该测试装置100通过该输入 /输出接口 140与一外部计算机300连接以将计算得到的数据传送至外部计算机300。优选的，所述处理器160还用于接收来自所述计算机300的控制指令，并根据接收到的控制指令执行相应动作，如开启或关闭测试装置100等。由上可知，上述测试装置100通过发出光线照射光盘210并接收经光盘210反射后所形成的反射光线来感测光盘210的反射率，并通过侦测反射率的变化确定与光盘210 相对两端Ml、M2相对应的坐标信息，并进一步根据所得到坐标信息便可测出光盘210伸出光盘驱动器200的长度。综上所述，尽管为说明目的已经公开了本发明的优选实施例，然而，本发明不只局限于如上所述的实施例，在不超出本发明基本技术思想的范畴内，相关行业的技术人员可对其进行多种变形及应用。
权利要求
1.一种测试装置，用于测试被测物体的长度，该测试装置包括导轨及装配于该导轨并可沿该导轨滑动的光发射器，该光发射器用于发出光线照射被测物体以形成反射光线，其特征在于该测试装置还包括光感应器，用于接收经被测物体反射后形成的反射光线并根据所接收到的反射光线感应被测物体的反射率，以及当感应到的反射率发生变化时产生侦测信号；处理器电连接于所述光感应器，用于接收侦测信号，并根据第一次接收到的侦测信号和第二次接收到侦测信号计算出被测特体的长度。
2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于所述测试装置还包括位移传感器，该位移传感器电连接于所述处理器，用于感测被测物体的坐标信息。
3.如权利要求2所述的测试装置，其特征在于所述处理器用于当第一次接收到侦测信号时控制所述位移传感器记录光发射器沿导轨滑动过中的第一位置从而得到第一坐标信息，及当第二次接收到侦测信号时控制所述位移传感器记录光发射器沿导轨滑动过中的第二位置从而得到第二坐标信息，并根据该第一坐标信息和第二坐标信息计算出被测物体的长度。
4.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于所述被测物体放置于所述导轨的正下方，且位于所述导轨相对两端之间的范围内。
5.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于所述光发射器发出的光线垂直照射被测物体。
6.如权利要求5所述的测试装置，其特征在于该测试装置还包括透视反射镜，该透视反射镜设置于所述光发射器发出的光线的传输方向上并与光线相交形成一交点，用于将所述经被测物体表面反射后形成的反射光线反射至所述光感应器。
7.如权利要求5所述的测试装置，其特征在于所述透视反射镜包括透光面与与透光线平行的反射面，光感应器与所述交点连线后与反射面形成夹角与反射面与光线传送方向之间形成的夹角相等。
8.如权利要求7所述的测试装置，其特征在于所述反射面与光线传送方向之间形成的夹角为45度。
9.如权利要求7所述的测试装置，其特征在于所述测试装置还包括准直镜及物镜，该准直镜和物镜设置于所述光线的传送方向上并位于透视反射镜与光发射器相背的一方，用于聚焦所述光发射器发出的光线及经光盘表面反射后光线。
10.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于该测试装置还包括驱动马达，用于驱动光发射器沿导轨来回滑动。
全文摘要
一种测试装置，用于测试被测物体的长度。该测试装置包括导轨、装配于该导轨并可沿该导轨滑动的光发射器、光感应器及处理器。光发射器用于发出光线照射被测物体以形成反射光线。光感应器用于接收经被测物体反射后形成的反射光线并根据所接收到的反射光线感应被测物体的反射率，以及当感应到的反射率发生变化时产生侦测信号；处理器器电连接于所述光感应器，用于接收侦测信号，并根据第一次接收到的侦测信号和第二次接收到侦测信号计算出被测特体的长度。
文档编号G01B11/02GK102466466SQ20101055110
公开日2012年5月23日 申请日期2010年11月19日 优先权日2010年11月19日
发明者陈鹏宇 申请人:富泰华工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
