专利名称：自动分析器的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种自动分析器，该自动分析器用于将样品和试剂分配到反应容器中并且测量在该反应容器中产生的反应液体的吸光度，从而分析样品。
背景技术：
传统地，已知一种自动分析器，该自动分析器用于将样品和试剂分配到反应容器中并且测量在该反应容器中产生的反应液体的吸光度，从而分析样品。这种自动分析器包括具有光源和光接收部的测光部。该光源把光照射在包含反应液体的反应容器上，并且该光接收部基于透过反应容器中的反应液体并由光接收部接收的光量，计算吸光度，从而分析该样品。用于计算吸光度的一个方法如下每当反应容器经过测光部时，测光部连续地把光照射在反应容器上的多个测量点上，而且测光部接收透过该反应液体的光并使接收到的光平均化，以便计算反应液体的吸光度。通过这个方法，可以防止对于每个测量点的光量的变化，从而计算吸光率。然而，有一种情况，其中，当存在样品和试剂没有互相充分混合的任何测量点、或者存在杂质等等与反应液体混合的任何测量点时，，要透过该反应液体的光由于这样的测量点而被阻断，并且结果，在该测量点处的光量减少，因而吸光度被计算为高于实际值的值。因此，已知另一种自动分析器，其中，在多个测量点之中，与一般化学反应中的光量不同的在测量点处的显著的光量被排除，以及其余测量点的光被平均，从而计算吸光度 (参见专利文献1)。专利文献1 日本特开第2007-198739号公报
发明内容
本发明要解决的问题然而，根据专利文献1的自动分析器，仅仅排除异常的光测量并且基于余留的光测量来计算吸光度。因此，并不总是可以从计算的吸光度获得精确的分析结果。本发明打算解决如上所述的问题。本发明的目的是，提供一种自动分析器，该自动分析器即使在异常的测量点存在于用于测量反应液体的吸光度的多个测量点之中的情况下，也能够获得精确的分析结果。解决问题的手段根据本发明的自动分析器，该自动分析器通过将样品和试剂分配到反应容器中并且使用在所述反应容器中结合的反应液体来分析所述样品，该自动分析器包括反应台，所述反应台用于沿着圆周保持多个所述反应容器，并能够沿着所述圆周转动；测光部，所述反应容器随着所述反应台的所述转动，在任意一次经过预定区域时，所述测光部多次测量所述反应容器中的所述反应液体的吸光度，每当所述反应容器经过所述预定区域时进行所述测量；标准偏差计算部，在所述反应容器任意一次经过所述预定区域时，所述标准偏差计算部计算由所述测光部测量的所述反应液体的多个吸光度的所述标准偏差，每当所述反应容器经过所述预定区域时进行所述计算。标准偏差判定部，用于判定由所述标准偏差计算部计算的多个所述标准偏差中的每一个是否小于基于均勻搅拌的反应液体中的多个吸光度的标准偏差所设定的阈值；平均值计算部，用于计算所述反应液体的所述多个吸光度的平均值，所述反应液体的所述多个吸光度具有被所述标准偏差判定部判定为小于所述阈值的标准偏差；以及吸光度确定部，用于将由所述平均值计算部计算的多个平均值中的任何一个确定为用于进行样品分析的吸光度，由此实现如上所述的目的。在一个实施例中，在根据本发明的自动分析器中，当所述多个标准偏差随时间而减小并且小于所述阈值的标准偏差的数量是2个以上时，所述吸光度确定部确定吸光度。在另一种实施例中，根据本发明的自动分析器进一步包括异常指定部，用于基于所述多个标准偏差随时间的变化来指定异常的原因。在又一个实施例中，在根据本发明的自动分析器中，当小于所述阈值的所述标准偏差的所述数量是1个以下时，所述异常指定部指定所述反应容器的所述反应液体是异常的。发明效果每当反应容器经过预定区域时，根据本发明的自动分析器计算反应液体的多个吸光度的标准偏差，随着反应台的转动，在反应容器任意一次经过预定区域时，测量吸光度； 以及该自动分析器判定多个计算的标准偏差中的每一个是否小于基于均勻搅拌的反应液体的多个吸光度的标准偏差所设定的阈值。随后，该自动分析器计算具有判定为小于阈值的标准偏差的反应液体的多个吸光度的平均值，并且将多个平均值中的任何一个确定为用于进行样品分析的吸光度。结果，允许通过使用具有适合于分析处理的吸光度的反应液体来获得分析结果。
图1是图解根据本发明的实施例的自动分析器的概略构成的示意图。图2是图解根据本发明的实施例的测光部的概略构成的示意图。图3是根据本发明的实施例的反应容器的立体图。图4是图解每当反应容器经过光源和光接收部之间时，由测光部测量的吸光度随时间变化的曲线图。图5是图解在反应容器任意一次经过光源和光接收部之间时，由测光部多次测量的反应液体的吸光度随时间变化的曲线图。图6是图解在反应容器任意一次经过光源和光接收部之间时，由测光部多次测量的反应液体的吸光度随时间变化的曲线图，其中，反应液体包含样品和试剂没有较好地互相混合的部分。图7是图解在反应容器任意一次经过光源和光接收部之间时，由测光部多次测量的反应液体的吸光度随时间变化的曲线图，其中，反应液体包含样品和试剂没有较好地互相混合的部分。图8是图解在反应容器任意一次经过光源和光接收部之间时，由测光部多次测量的反应液体的吸光度随时间变化的曲线图，其中，在反应容器的侧壁上存在有刮痕。
图9是图解根据反应液体的搅拌状态的吸光度的标准偏差随时间变化的曲线图。图10是图解由根据本发明的实施例的自动分析器的控制部和确定部进行的用于确定吸光度的处理的概要的流程图。附图标记的描述
1自动分析器
2测量机构
3控制机构
Ila样品容器
lib样品架
12样品分配机构
13反应台
14试剂库
15试剂容器
16试剂分配机构
17搅拌部
18测光部
18a光源
18b光接收部
18cA/D转换器
19清洗部
20反应容器
20a、20b 侧壁
20c底壁
20d液体保持部分
20e 开口
31控制部
32输入部
33分析部
34确定部
3 标准偏差计算部
34b标准偏差判定部
34c平均值计算部
34d吸光度确定部
34e异常指定部
34f报告处理部
35记录部
36输出部
37发送和接收部
Am测光区域
BL分析光W反应液体Sl固体物质S2 刮痕
具体实施例方式以下将参考附图描述根据本发明的自动分析器的较佳实施例。应当注意，本发明不局限于以下实施例。还应当注意，在图的描述中，相同的部分给予相同的附图标记。图1是图解根据本发明的实施例的自动分析器的概略构成的示意图。如图1图解的，根据本发明的实施例的自动分析器1包括用于把试剂和样品分配到反应容器20中、在反应容器20之内使试剂和样品结合以及测量反应液体的吸光度的测量机构2 ；和用于控制包括测量机构2的整个自动分析器1以及控制来自测量机构2的测量结果的分析的控制机构3。该自动分析器1通过两个机构的合作来自动地分析多个样品。首先，将描述测量机构2。如图1中图解的，测量机构2包括用于连续地在图中的箭头方向上传送样品架lib的样品传送部11，其中样品架lib保持容纳诸如血液和尿的样品的多个样品容器Ila ；用于将在样品传送部11的预定位置处静止的样品容器Ila中容纳的样品分配到反应容器20中的样品分配机构12 ；用于沿着圆周保持多个反应容器20、并且在图中的箭头方向上转动以将反应容器20传送到预定位置的反应台13 ；用于收容多个试剂容器15的试剂库14，在试剂容器15中，容纳要被分配到反应容器20中的试剂；用于将在试剂库14内的预定位置处静止的试剂容器15中容纳的试剂分配到反应容器20中的试剂分配机构16 ；用于搅拌分配在反应容器20中的样品和试剂的搅拌部17 ；用于测量分配在反应容器20中的液体的吸光度的测光部18 ；以及在测光部18完成测量之后清洗反应容器20的清洗部19。其次，将描述控制机构3。控制机构3包括控制部31 ；输入部32 ；分析部33 ；确定部34 ；记录部35 ；输出部36 ；以及发送和接收部37。输入部32、分析部33、确定部34、记录部35、输出部36以及发送和接收部37与控制部31电连接。控制部31由CPU等实现，并且控制自动分析器1的各个部分的处理与操作。控制部31对自动分析器1的各个构成部分输入的信息进行给定处理，还把已经经过给定处理的信息输出到各个构成部分。输入部32由键盘、鼠标、具有输入输出功能的触摸板等等实现，并且从外部获取样品分析所必需的各种信息、用于分析操作的指示信息等等。分析部33基于由测光部18测量的吸光度的测量结果，进行样品的成分分析等等。确定部34将由测光部18测量的多个吸光度中的任何一个作为用于样品分析的吸光度。该确定部34包括标准偏差计算部3 ；标准偏差判定部34b ；平均值计算部3 ；吸光度确定部34d ；异常指定部3 ；以及报告处理部34f。该标准偏差计算部3 计算每当反应容器20经过测光部18时的反应液体的多个吸光度的标准偏差，在反应容器20任意一次经过测光部18时，由测光部18测量该多个吸光度。标准偏差判定部34b判定由标准偏差计算部3 计算的多个标准偏差中的每一个是否小于基于均勻搅拌的反应液体的多个吸光度的标准偏差而设定的阈值。平均值计算部3 计算在反应容器20任意一次经过测光部18时由测光部18测量的反应液体的多个吸光度的平均值，该反应容器20具有由标准偏差判定部34b判定为小于基于均勻搅拌的反应液体的多个吸光度的标准偏差而设定的阈值的标准偏差。吸光度确定部34d将由平均值计算部3 计算的多个平均值中的任何一个确定作为用于进行样品分析的吸光度。异常指定部3 基于在反应容器20任意一次经过测光部18时由测光部18测量的反应液体的多个吸光度的标准偏差按时间的变化，指定异常的原因，该标准偏差由标准偏差计算部3 计算。报告处理部34f通过控制部31，将表示由异常指定部3 指定的异常原因的信息输出到输出部36。记录部35利用磁性地存储信息的硬盘以及存储器实现，当自动分析器1进行处理时，该存储器用于从硬盘装载和电存储各种程序，该程序与处理相关。记录部35存储包括样品的分析结果等等的各种信息。记录部35可以包括能够读取存储在存储介质上的信息的辅助存储设备，该存储介质诸如是CD-ROM、DVD-ROM、PC卡等等。输出部35由显示器、打印机、扬声器等等构成，用于输出各个种类的信息。发送和接收部37具有作为接口的功能，用于经由通信网络(未显示)按照预定格式发送和接收信息。在如上述配置的自动分析器1中，试剂分配机构16从试剂库14的试剂容器15中将试剂分配到在反应台13上被连续地传送的多个反应容器20中。随后，样品分配机构12 从处于样品吸入位置的样品容器Ila分配样品。随后，测光部18测量通过结合试剂和样品获得的反应液体的吸光度，并且分析部33基于该测量结果进行分析，从而自动地进行样品的成分分析等等。随后，在测光部18完成测量之后，在反应容器20被传送的同时，清洗部 19清洗被传送的反应容器20。接下来，将描述测光部18和反应容器20。图2是图解测光部18的概略构成的示意图。图3是该反应容器的立体图。如图2图解的，测光部18包括光源18a;光接收部18b和模数转换器(A/D转换器)18c。光源18a和光接收部18b被安置在彼此面对的位置，由反应台13保持的反应容器20被插入到光源18a和光接收部18b之间。光源18a被安置在靠近反应台13的内圆周的那侧上。光接收部18b被安置在靠近反应台13的外圆周的那侧上。光源18a以卤素灯等等实现，并且把用于分析的光照射在反应容器20之上。光接收部18b具有诸如凹面衍射光栅的衍射光栅；光接收元件阵列，该光接收元件阵列用于对于由测量种类确定的每个光谱测量由衍射光栅分离的光，并且输出对应于它们的光量的信号；以及诸如CCD传感器和CMOS传感器的光接收传感器。A/D转换器18c把从光接收部 18b输出的信号转换成为数字值，并且把该数字值输出到控制部31。如图3图解的，反应容器20是具有几nL到几mL的体积的非常小的容器。用于保持液体的液体保持部分20d形成有侧壁20a、侧壁20b和底壁20c，并且开口 20e位于液体保持部分20d的上部。对于反应容器20，使用诸如包括耐热玻璃的玻璃或者包括环状烯烃和聚苯乙烯的人造树脂的透明材料，从而使从测光部18的光源18a照射的分析光BL(340 纳米到380纳米)中包含的光的80%以上透射。反应容器20被放置成侧壁20b面对反应台13的半径方向。此外，当反应容器20随着反应台13的转动经过由测光部18的光源照射的分析光BL时，侧壁20b的底部被用作测光区域Am，分析光BL通过该测光区域Am。图4是图解每当反应容器20经过光源18a和光接收部18b之间时，由测光部18测量的吸光度随时间变化的曲线图。图4中图解的曲线Ll表示每当容纳反应液体的反应容器20经过光源18a和光接收部18b之间时，由测光部18测量的吸光度随时间的变化。此外，横轴表示时间而纵轴表示吸光度。在此，反应容器20经过光源18a和光接收部18b之间的时间被表示为测光点Pn(其中，η = 0，1. . . 27)。如图4图解的，测光部18对于每个反应容器20总计测量28次吸光度，包括在第一试剂的分配之后的反应容器20中的液体的吸光度，以及经过样品的分配和第二试剂的分配的反应容器20中的液体的吸光度。更具体的，测光点PO表示紧接在第一试剂的分配之后的吸光度，而测光点Ρ5表示紧接在样品的分配之后的吸光度，以及测光点Ρ14表示紧接在第二试剂的分配之后的吸光度。分析部33基于从第二试剂被分配到反应容器20中时测量吸光度的时间经过预定时间之后的吸光度来分析样品。更具体的，如图4图解的，基于根据在测光点Ρ14到Ρ27的吸光度的每单位时间的吸光度的斜率或者吸光度的数值变化， 分析样品。图5是图解在反应容器20任意一次经过光源18a和光接收部18b之间时，由测光部18多次测量的反应液体W的吸光度随时间变化的曲线图。曲线L21、L22、L23以及LM 分别表示在测光点P14、P21、PM处随时间的变化，图解了反应液体W的搅拌状态良好的情况。注意，在图5中，时间轴中描述的时间点tn(其中，n = 1,2...8)的间隔全部恒定为 At。如图5图解的，随着反应台13的转动，在时间tl到时间伪期间，反应容器20中的反应液体W经过测光部18。在这期间由测光部测量的吸光度小于当侧壁20a经过时由测光部18测量的吸光度，并且吸光度基本上表示定值。此外，如曲线L21到LM表示的，在各个测光点的吸光度中的变化基本上是恒定变化，并且吸光度的值随着时间前进而减小。期间反应容器20经过测光部18的时间伪-tl = 7 Δ t根据反应台13的转速而改变。根据A/ D转换器18c的性能定义反应台13的转速。图6是图解在反应容器20任意一次经过光源18a和光接收部18b之间时，由测光部18多次测量的反应液体W的吸光度随时间变化的曲线图，其中，反应液体W包含样品和试剂没有较好地互相混合的部分Si。图6中图解的曲线L31到L34表示在反应容器20任意一次经过光源18a和光接收部18b之间时由测光部18多次测量的反应液体W的吸光度随时间的变化，其中，反应液体W包含样品和试剂没有较好地互相混合的部分Sl。如图6图解的，在由于反应液体W的搅拌状态而存在样品和试剂没有较好地互相混合的部分Si的情况下，样品和试剂没有较好地互相混合的部分Sl阻断或者吸收分析光 BL。结果，经过反应液体W的光量减少。因此，如曲线L31到L34图解的，在反应容器20任意一次经过光源18a和光接收部18b之间时存在样品和试剂没有较好地互相混合的部分Sl 的时间，或者更具体地，在测光点P14处的曲线L31的时间，是时间点t5-t7 = 2At之久。 在这个时间期间的吸光度表示高的值。随后，因为通过反应台13的移动和停止来搅拌反应容器20中的反应液体W，所以样品和试剂没有较好地互相混合的部分Sl随着测光点前进而减少。因此，每当反应容器20经过光源18a和光接收部18b时，样品和试剂没有较好地互相混合的时间也逐渐的缩短。更具体的，比较在测光点P14处的曲线31和在测光点P27处的曲线L34，在曲线L31中样品和试剂没有较好地互相混合的时间为时间点t5-t7 = 2At 之久。另一方面，在曲线L34中样品和试剂没有较好地互相混合的时间为时间点t6-t7 = Δ t之久，是较短的。在这种情况下，虽然样品和试剂没有较好的互相混合的时间随着时间的流逝而变得较短，但是并不意味着反应液体W被均勻地混合。因此，反应液体W的搅拌状态不是良好的。图7是图解在反应容器20任意一次经过光源18a和光接收部18b之间时，由测光部18多次测量的反应液体W的吸光度随时间变化的曲线图，其中，反应液体W包含样品和试剂没有较好地互相混合的部分Si。图7中图解的曲线L41到L42表示在反应容器20任意一次经过光源18a和光接收部18b之间时由测光部18多次测量的反应液体W的吸光度随时间的变化，其中，反应液体W包含样品和试剂没有较好地互相混合的部分Si。此外，曲线L43到L44表示在样品和试剂没有较好地互相混合的部分Sl已经从反应液体W消失之后，在反应容器20任意一次经过光源18a和光接收部18b之间时由测光部18多次测量的反应液体W的吸光度随时间的变化。如图7中图解的，由于通过反应台13的移动和停止来搅拌反应容器20中的反应液体W，所以样品和试剂没有较好地互相混合的部分Sl被减少，并且样品和试剂没有较好地互相混合的部分Sl在测量期间消失。因此，如曲线L43和L44图解的，每当反应容器20 经过光源18a和光接收部18之间时，在测光点处的吸光度中的变化被表示为基本上恒定， 并且反应液体的搅拌状态变得良好。图8是图解在反应容器20任意一次经过光源18a和光接收部18b之间时，由测光部18多次测量的反应液体W的吸光度随时间变化的曲线图，其中，在反应容器20的侧壁 20b上存在刮痕S2。图8中图解的曲线51到LM表示在反应容器20任意一次经过光源 18a和光接收部18b之间时，由测光部18多次测量的反应液体W的吸光度随时间的变化，其中，在反应容器20的侧壁20b上存在刮痕S2。如图8图解的，在反应容器20的侧壁20b上存在刮痕S2的情况下，刮痕S2反射或者阻断分析光BL，从而减少透过反应液体W的光量。因此，如曲线L51到L54图解的，在反应容器20任意一次经过光源18a和光接收部18b之间时存在刮痕S2的时间具体地是时间点t6-t7= At之久。在这个时间的吸光度表示高的值。在这种情况下，除非更换反应容器20，否则，刮痕S2存在的时间不会消失。即使反应液体W的搅拌状态是良好的，吸光度也被测量为比实际值高的值。虽然在如上所述的任何情况下，吸光度随着时间的流逝而变化，但是变化的方式也改变。换句话说，在反应容器20任意一次经过光源18a和光接收部18b之间时由测光部 18测量的反应液体W的多个吸光度的标准偏差在每个情况下是不同的。在下面的描述中， 在反应容器20任意一次经过光源18a和光接收部18b之间时由测光部18测量的反应液体 W的多个吸光度的标准偏差将简单地称为吸光度的标准偏差。图9是图解根据反应液体W的搅拌状态的吸光度的标准偏差随时间变化的曲线图。在图9中，曲线L61表示当反应液体W的搅拌状态是良好时(对应于图5)的吸光度的标准偏差随时间的变化。曲线L62表示在测量期间当反应液体W的搅拌状态变得良好时 (对应于图7)的吸光度的标准偏差随时间的变化。曲线L63表示当反应液体W的搅拌状态不是良好时(对应于图6)的吸光度的标准偏差随时间的变化。曲线L64表示当在反应容器20的侧壁20b上存在刮痕S2时(对应于图8)的吸光度的标准偏差随时间的变化。注意，横轴指的是时间，以及纵轴指的是标准偏差。如图9图解的，当反应液体W的搅拌状态良好时，如曲线L61图解的，在每个测光点的吸光度的每个标准偏差小于阈值LT，并且在测光点P14到P27之间维持定值。在测量期间当反应液体W的搅拌状态变得良好时，在每个测光点的吸光度的标准偏差随时间而减�。⑶以诓饬科诩浔涞眯∮阢兄礚T，如曲线L62图解的。当反应液体W的搅拌状态不是良好时，在每个测光点的吸光度的标准偏差超过阈值LT，同时随时间而减�。缜週63图解的。当在反应容器20的侧壁20b上存在刮痕S2时，在每个测光点的吸光度的标准偏差超过阈值LT，同时维持为定值，如曲线L64图解的。注意，根据均勻搅拌的反应液体W的多个吸光度的标准偏差来设定阈值LT。每当反应容器20经过光源18a和光接收部18b之间时，标准偏差计算部34a计算吸光度的标准偏差。随后，标准偏差判定部34b判定由标准偏差计算部34a计算的在测光点P14到P27处的吸光度的标准偏差是否小于阈值LT。平均值计算部34c计算在反应容器 20任意一次经过光源18a和光接收部18b之间时由测光部多次测量的反应容器20中的反应液体W的吸光度的平均值，该反应液体W具有小于阈值LT的吸光度的标准偏差。随后， 吸光度确定部34d将由平均值计算部34c计算的多个平均值中的任何一个确定作为用于进行样品分析的吸光度。更具体地，根据分析方法、分析种类、试剂等等，确定用于进行样品分析的吸光度。此外，异常指定部34e基于吸光度的标准偏差按时间的变化，来指定异常的原因。更具体地，当吸光度的标准偏差超过阈值LT并且从测光点P14到P27减小时，反应液体 W的搅拌状态被指定为不良好的；并且当吸光度的标准偏差超过阈值LT并且从测光点P14 到P27维持为定值时，反应容器20被指定为异常的。以下，将参考图10中图解的流程图描述由自动分析器1进行的用于确定吸光度的处理。以下，将描述在第二试剂被分配到反应容器20中之后对于样品进行确定吸光度的处理的情况下的处理过程。首先，测光部18进行测光处理，该测光处理用于在反应容器20任意一次经过光源 18a和光接收部18b之间时，多次测量反应容器20中的反应液体W的吸光度(步骤S101)。随后，标准偏差计算部34a经由控制部31从记录部35获得在反应容器20任意一次经过测光部18时由测光部18测量的反应液体的多个吸光度(步骤S102)，并且计算吸光度的标准偏差(步骤S103)。随后，控制部31关于经过测光部18的反应容器20，判定测光部18是否已经进行了预定次数的测光处理(步骤S104)。如果测光部18没有进行预定次数的测光处理(步骤 S104 否)，则处理进入步骤S101。另一方面，如果测光部18已经进行了预定次数的测光处理(步骤S104 是)，则处理进入步骤S105。随后，标准偏差判定部34b判定由标准偏差计算部34a计算的吸光度的多个标准偏差中的每一个是否小于阈值LT (步骤S105)。如果吸光度的多个标准偏差中的每一个小于阈值LT (步骤S105 是)，则处理进入步骤S106。另一方面，如果吸光度的多个标准偏差中的每一个没有小于阈值LT (步骤S105 否)，则处理进入步骤S107。在步骤S107，异常指定部34e判定由标准偏差计算部34a计算的吸光度的多个标准偏差是否随时间而减小(步骤S107)。如果吸光度的多个标准偏差随时间而减小(步骤 S107 是)，则处理进入步骤S108。另一方面，如果吸光度的多个标准偏差没有随时间而减小(步骤S107 否)则处理进入步骤S109，并且报告处理部34f允许输出部36经由控制部 31输出表示反应容器20异常的信息(步骤S109)，从而结束该处理。
在步骤S108，异常指定部34e判定小于阈值LT的吸光度的标准偏差的数量是否是2个以上(步骤S108)。如果小于阈值LT的吸光度的标准偏差的数量是2个以上(步骤 S108 是)，则处理进入步骤S110。另一方面，如果小于阈值LT的吸光度的标准偏差的数量小于2个(步骤S108 否)，则处理进入步骤Slll。在步骤S110，异常指定部34e判定具有小于阈值LT的吸光度的标准偏差的测光点是否是用于样品分析的测光点(步骤S110)。如果具有小于阈值LT的吸光度的标准偏差的测光点是用于样品分析的测光点(步骤S110:是)，则处理进入步骤S106。另一方面，如果具有小于阈值LT的吸光度的标准偏差的测光点不是对于样品分析的测光点(步骤SllO 否)，则处理进入步骤S111，并且报告处理部34f允许输出部36经由控制部31输出表示反应液体W异常的信息(步骤S111)，从而结束该处理。在步骤S106，平均值计算部34c计算在测光点的反应液体的多个吸光度的平均值，该测光点具有由标准偏差判定部34b判定为小于阈值LT的吸光度的标准偏差(步骤 S106)。随后，吸光度确定部34d将由平均值计算部34c计算的多个平均值确定作为用于执行样品分析的吸光度(步骤S112)，从而结束该处理。在本发明的实施例中，测光部18在反应容器20任意一次经过光源18a和光接收部18b之间时，多次测量反应容器20中的反应液体W的吸光度；每当反应容器20经过光源 18a和光接收部18b之间时，标准偏差计算部34a计算吸光度的标准偏差；标准偏差判定部 34b判定吸光度的标准偏差中的每一个是否小于阈值LT。随后，平均值计算部34c计算具有判定为小于阈值LT的吸光度的标准偏差的反应液体W的多个吸光度的平均值；并且吸光度确定部34d确定多个平均值中的任何一个为用于样品分析的吸光度，从而获得使用具有适合于分析处理的吸光度的反应液体W的分析结果。此外，由于异常指定部34e被配置为基于标准偏差按时间的变化来指定异常的原因，所以当再次执行分析时，没有使用具有刮痕S2的反应容器20。由此，允许防止归因于反应容器20上的刮痕S2的分析结果中的异常值，结果，允许防止一系列的分析处理中的处理效率被降低。根据如上所述的实施例，在小于阈值LT的标准偏差的数量是2个以上的情况下， 在具有小于阈值LT的标准偏差的反应容器20任意一次经过光源18a和光接收部18b光源时，由测光部18多次测量的反应液体W的吸光度的平均值中的任何一个被用作用于样品分析的吸光度。然而，小于阈值LT的标准偏差的数量可以根据分析方法、分析种类、试剂等等而改变。例如，小于阈值LT的标准偏差的数量可以是1个以上。此外，根据如上所述的实施例，在分配第二试剂之后，判定吸光度的标准偏差是否小于阈值LT。然而，可以根据分析方法、分析种类、试剂等等，调节用于判定的时间。例如， 可以在分配第一试剂之后进行判定。此外，根据如上所述的实施例，在反应容器20任意一次经过光源18a和光接收部 18b之间时，由测光部18多次测量的反应容器20中的反应液体W的吸光度的平均值被确定为用于样品分析的吸光度。然而，并不局限于这种情况，还可以使用在反应容器20任意一次经过光源18a和光接收部18b之间时，由测光部18多次测量的反应容器20中的反应液体W的吸光度的最大值或者最小值。作为选择，还可以使用反应液体的多个吸光度中的一个。
此外，根据如上所述的实施例，当吸光度的标准偏差超过阈值LT的同时维持定值时，异常指定部34e指定在反应容器20上有刮痕S2。然而，并不局限于这种情况，还可以指定有粘附在反应容器20上的污点、有混合在反应液体W中的气泡或者有混合在反应液体W 中的杂质。工业应用性如上所述，根据本发明的自动分析器可用于获得使用具有适合于分析处理的吸光度的反应液体的分析结果，并且尤其是适用于自动分析器。
权利要求
1.一种自动分析器，所述自动分析器通过将样品和试剂分配到反应容器中并且使用在所述反应容器中结合的反应液体来分析所述样品，其特征在于，所述自动分析器包括反应台，用于沿着圆周保持多个所述反应容器，并能够沿着所述圆周转动； 测光部，随着所述反应台的所述转动，在所述反应容器任意一次经过预定区域时，所述测光部多次测量所述反应容器中的所述反应液体的吸光度，每当所述反应容器经过所述预定区域时进行所述测量；标准偏差计算部，在所述反应容器任意一次经过所述预定区域时，所述标准偏差计算部计算由所述测光部测量的所述反应液体的多个吸光度的所述标准偏差，每当所述反应容器经过所述预定区域时进行所述计算；标准偏差判定部，用于判定由所述标准偏差计算部计算的多个所述标准偏差中的每一个是否小于基于均勻搅拌的反应液体中的多个吸光度的标准偏差所设定的阈值；平均值计算部，用于计算所述反应液体的所述多个吸光度的平均值，所述反应液体的所述多个吸光度具有被所述标准偏差判定部判定为小于所述阈值的标准偏差；和吸光度确定部，用于将由所述平均值计算部计算的多个平均值中的任何一个确定为用于进行样品分析的吸光度。
2.如权利要求1所述的自动分析器，其特征在于，当所述多个标准偏差随时间而减小并且小于所述阈值的标准偏差的数量是2个以上时，所述吸光度确定部确定吸光度。
3.如权利要求1或2所述的自动分析器，其特征在于，进一步包括异常指定部，用于基于所述多个标准偏差随时间的变化来指定异常的原因。
4.如权利要求3所述的自动分析器，其特征在于，当小于所述阈值的所述标准偏差的所述数量是1个以下时，所述异常指定部指定所述反应容器的所述反应液体是异常的。
全文摘要
提供一种自动分析器，能够获得使用具有适合于分析处理的吸光度反应液体的分析结果。为此，该分析器包括标准偏差计算部，每当反应容器经过测光部时，计算在反应容器任意一次经过测光部时由测光部测量的反应液体的吸光度的标准偏差；标准偏差判定部，用于判定由标准偏差计算部计算的多个所述标准偏差是否小于基于均匀搅拌的反应液体的吸光度的标准偏差所设定的阈值；以及吸光度确定部，用于将多个吸光度的平均值中的任一个作为用于样品分析的吸光度，多个吸光度具有由平均值计算部计算的由标准偏差判定部判定为小于阈值的标准偏差。
文档编号G01N35/00GK102272607SQ20098015433
公开日2011年12月7日 申请日期2009年3月19日 优先权日2009年1月9日
发明者岡林理 申请人:贝克曼考尔特公司
专业数控铣床产品供应商
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