专利名称：接触式粒度检测装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及矿物处理工艺过程中磨矿、分级作业工序物料粒度的检验领域， 特别涉及一种专门检测样品中最大颗粒的接触式粒度检测装置。
背景技术：
目前在线检验或离线检验物料粒度所用的激光粒度仪、超声波粒度仪均为检验样品全粒度分布，仪器结构复杂，价格昂贵。现有技术中，专利号“03208683. 0” “载流接触式矿浆粒度检测仪”中公开了一种粒度检测仪，结构稍微简单些，其测量头是由测量马达经传动组件带动的，作用是检验矿浆中的粒度分布，其造价也不低。在很多场合，如磨矿、分级作业中，不需要知道样品中全部粒度的分布状况，只要连续地知道最大颗粒的状况就可以了。目前专门检测样品中最大颗粒的粒度检测装置，还没见有报道。
发明内容本实用新型的目的是提供一种接触式粒度检测装置，克服现有技术的不足，适应矿物分级作业中对粒度检测的需要，专门检测样品中最大颗粒的粒度。为解决上述技术问题，本实用新型的技术方案是—种接触式粒度检测装置，包括有壳体、活动检测柱、固定检测头和储液囊，在密闭的壳体底部设有进样空间，活动检测柱设在壳体下部，活动检测柱与壳体侧壁构成滑动副，活动检测柱上部设有固定检测头，固定检测头内设有位移传感器，壳体顶部出口依次与储液阀和储液囊相连，进样空间一侧设有样品阀，进样空间另一侧设有高位放液阀和低位放液阀，样品阀侧还设有清水阀。所述位移传感器为涡流位移传感器或激光位移传感器。高位放液阀和低位放液阀设置高度差为15mm-40mm。与现有技术相比，本实用新型的有益效果是1)适应矿物分级作业中对粒度检测的需要，专门检测样品中最大颗粒的粒度。2)结构简单，成本低。3)适用于浓度低于60% 的固液混合物，粒度检测范围为0. 02mm-3mm。
图1是本实用新型实施例结构示意图。图中1-清水阀 2-样品阀 3-壳体 4-活动检测柱 5-储液囊 6_储液阀 7-固定检测头8-高位放液阀9-低位放液阀10-进样空间
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型的具体实施方式
作进一步说明[0014]见图1，是本实用新型一种接触式粒度检测装置实施例结构示意图，包括有壳体 3、活动检测柱4、固定检测头7和储液囊5，在密闭的壳体3底部设有进样空间10，活动检测柱4设在壳体3下部，活动检测柱4与壳体3侧壁构成滑动副，活动检测柱4上部设有固定检测头7，固定检测头7内设有位移传感器，位移传感器为涡流位移传感器或激光位移传感器。壳体3顶部出口依次与储液阀6和储液囊5相连，储液囊5的作用是储存和释放活动检测柱4上方的液体；进样空间10 —侧设有样品阀2，进样空间10另一侧设有高位放液阀8和低位放液阀9，高位放液阀8和低位放液阀9设置高度差为15mm-40mm，样品阀侧进样空间10底部设有清水阀1，储液阀6与其它阀门配合可使活动检测柱4在壳体3内起落浮动。本实用新型的使用方法，是向活动检测柱4底部进样空间10注入少量固液混合物样品，活动检测柱4降下后会被样品中的固体大颗粒硌�。灰拼衅骷觳獾交疃觳庵�4 前后位置差即为样品的最大颗粒粒度值，其具体步骤如下1)活动检测柱抬起清水阀1打开，储液阀6打开，向容器3内注入清水，储液囊5 充水同时活动检测柱4抬起；2)冲洗储液囊5充满后，关闭储液阀6，同时打开高位放液阀8和低位放液阀9， 对活动检测柱4底部进样空间10进行冲洗，冲洗10-30秒钟；3)校准关闭清水阀1，打开储液阀6，储液囊5中的水快速从高位放液阀8和低位放液阀9中流出，活动检测柱4落至容器3底部，位移传感器检测此时活动检测柱4的位置记为“0”；4)活动检测柱二次抬起清水阀1打开，储液阀6打开，向容器3内注入清水，储液囊5充水同时活动检测柱4抬起；5)进样关闭清水阀1和储液阀6，打开样品阀2和高位放液阀8，向活动检测柱4 底部进样空间10注入样品，注入量为5-15ml ；6)测量计算打开储液阀6和和高位放液阀8，储液囊5释放清水，活动检测柱4 在重力和储液囊5与高位放液阀8之间压力差作用下缓慢下沉，直到活动检测柱4位置不再变化，位移传感器检测活动检测柱的位置即为样品的最大颗粒粒度值；7)重复上述步骤1)-步骤6)，可实现连续测量，所测得数据可列表给出，可作曲线表达，也可采用数学模型(例如统计学方法)来进行数据分析，使检验结果更真实反映实际，为生产工艺过程提供时实可靠的控制依据。本实用新型动作步骤如下表1 表 1
权利要求1.一种接触式粒度检测装置，其特征在于，包括有壳体、活动检测柱、固定检测头和储液囊，在密闭的壳体底部设有进样空间，活动检测柱设在壳体下部，活动检测柱与壳体侧壁构成滑动副，活动检测柱上部设有固定检测头，固定检测头内设有位移传感器，壳体顶部出口依次与储液阀和储液囊相连，进样空间一侧设有样品阀，进样空间另一侧设有高位放液阀和低位放液阀，样品阀侧还设有清水阀。
2.根据权利要求1所述的一种接触式粒度检测装置，其特征在于，所述位移传感器为涡流位移传感器或激光位移传感器。
3.根据权利要求1所述的一种接触式粒度检测装置，其特征在于，高位放液阀和低位放液阀设置高度差为15mm-40mm。
专利摘要本实用新型涉及一种接触式粒度检测装置，包括有壳体、活动检测柱、固定检测头和储液囊，在密闭的壳体底部设有进样空间，活动检测柱设在壳体下部，活动检测柱与壳体侧壁构成滑动副，活动检测柱上部设有固定检测头，固定检测头内设有位移传感器，壳体顶部出口依次与储液阀和储液囊相连，进样空间一侧设有样品阀，进样空间另一侧设有高位放液阀和低位放液阀，样品阀侧还设有清水阀。与现有技术相比，本实用新型的有益效果是1)适应矿物分级作业中对粒度检测的需要，专门检测样品中最大颗粒的粒度。2)结构简单，成本低。3)适用于浓度低于60％的固液混合物，粒度检测范围为0.02mm-3mm。
文档编号G01N15/02GK202166588SQ20112025203
公开日2012年3月14日 申请日期2011年7月16日 优先权日2011年7月16日
发明者吴晓元, 都业富 申请人:吴晓元
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