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非接触式门窗测量装置的制作方法

时间:2025-06-09    作者: 管理员

专利名称:非接触式门窗测量装置的制作方法
技术领域:
本实用新型涉及一种测量装置,具体说是一种门窗行业对成品门窗尺寸进行非接触式测量的测量装置。
背景技术:
目前传统的检验成品门窗尺寸都是用卷尺或游标卡尺,卷尺的缺点是检测工具本身精度差,人工读数误差较大;而游标卡尺的缺点是对一些大尺寸如大于3米的很难买到合适的卡尺,且卡尺较大时重量较大,劳动强度大为增强,人工读数误差不可避免。

实用新型内容实用新型目的本实用新型的目的在于克服现有技术的不足,提供一种采用非接触测量的方式测量成品门窗尺寸的测量装置。技术方案为了实现上述目的,本实用新型提供了一种非接触式门窗测量装置,它包括磁栅传感器、非接触式测量头和控制器,非接触式测量头与磁栅传感器连接,磁栅传感器与控制器连接。作为本实用新型的优化方案,所述非接触式测量头包括非接触式测量头A和非接触式测量头B ;所述磁栅传感器包括X向磁栅传感器和Y向磁栅传感器;非接触式测量头A和非接触式测量头B分别与X向磁栅传感器、Y向磁栅传感器连接,X向磁栅传感器、Y 向磁栅传感器分别与控制器连接。本实用新型中各部件作用如下非接触式测量头A、非接触式测量头B 用于测量出测量头所处位置X向、Y向的数据;X向磁栅传感器、Y向磁栅传感器利用磁栅与磁头的磁作用进行测量的位移传感器,用于记录和传输非接触式测量头的位置数据;控制器用于控制各部件的运行及整个测量过程,将非接触测量装置采集的数据进行处理、存储和输出。有益效果本实用新型所述的非接触式门窗测量装置,与现有技术相比具有如下优点本实用新型中采用了非接触式测量,避免了人工测量误差的出现,大大提高了测量精确度,加快了测量速度,提高了测量工作效率,简化了测量过程。

图1为本实用新型所述非接触式门窗测量装置的结构示意图。
具体实施方式
下面结合具体实施例,进一步阐明本实用新型,应理解这些实施例仅用于说明本实用新型而不用于限制本实用新型的范围,在阅读了本实用新型之后,本领域技术人员对本实用新型的各种等价形式的修改均落于本申请所附权利要求所限定。
实施例如图所示的一种非接触式门窗测量装置,它包括非接触式测量头A 1、非接触式测量头B 2、X向磁栅传感器3、Y向磁栅传感器4和控制器5 ;所述非接触式测量头A 1与 X向磁栅传感器3、Y向磁栅传感器4连接;非接触式测量头B 2也与X向磁栅传感器3、Y 向磁栅传感器4连接;X向磁栅传感器3、Y向磁栅传感器4分别与控制器5连接。当非接触式门窗测量装置对成品的门框进行测量时,首先将该非接触式门窗测量装置安装于可移动的支架上,支架推动非接触式门窗测量装置在X向和Y向上运动。当本实施例所述非接触式门窗测量装置对一个成品门框的长方形内径尺寸测量时,具体工作过程如下1.将待测的成品门框放在工作台上定位。2.操纵非接触式测量头A 1、非接触式测量头B 2伸到成品门框上方,非接触式测量头A 1安装于非接触式测量头B 2的左上侧。3.当进行X向长度测量时支架带动非接触式测量头A 1向左移动,当检测到成品门框在X向的内径边缘时支架停止运动,非接触式测量头A 1感应当前位置,然后X向磁栅传感器3将非接触式测量头A 1当前X向的位置值送入控制器5中存储;然后支架带动非接触式门窗测量装置向右移动,当非接触式测量头B 2感应到成品门框X向右端边缘后支架停止运动,X向磁栅传感器3将非接触式测量头B 2当前X向位置值送入控制器5中存储;然后支架带动非接触式门窗测量装置回到成品门框中间,控制器5对测量数据进行计算处理得到X方向长度数值。4.当进行Y向长度测量时支架带动非接触式测量头B 2在Y向运动,当非接触式测量头B 2检测到成品门框Y向内径边缘时停止;非接触式测量头B 2感应当前位置并通过Y向磁栅传感器4将非接触式测量头B 2当前Y向位置值送入控制器5中存储;然后支架带动非接触式门窗测量装置做反向运动,当非接触式门窗测量装置上的非接触式测量头A 1感应到成品门框Y向内径另一侧边缘时停止;Y向磁栅传感器4将非接触式测量头A 1当前Y向位置值送入控制器5中存储;然后支架带动非接触式门窗测量装置回到成品门框的中间,控制器5对测量数据进行计算处理得到Y方向长度数值。5. X,Y向长度数值储存于控制器5中,此时该成品门框测量完成。
权利要求1.一种非接触式门窗测量装置,其特征是,它包括磁栅传感器、非接触式测量头和控制器,非接触式测量头与磁栅传感器连接,磁栅传感器与控制器连接。
2.根据权利要求1所述的非接触式门窗测量装置,其特征是,所述非接触式测量头包括非接触式测量头A (1)和非接触式测量头B (2);所述磁栅传感器包括X向磁栅传感器(3)和Y向磁栅传感器(4);非接触式测量头A (1)和非接触式测量头B (2)分别与X向磁栅传感器(3)、Y向磁栅传感器(4)连接;X向磁栅传感器(3)、Υ向磁栅传感器(4)分别与控制器(5)连接。
专利摘要本实用新型公开了一种非接触式门窗测量装置,它包括磁栅传感器、非接触式测量头和控制器,非接触式测量头与磁栅传感器连接,磁栅传感器与控制器连接。本实用新型中采用了非接触式测量,避免了人工测量误差的出现,大大提高了测量精确度,加快了测量速度,提高了测量工作效率,简化了测量过程。
文档编号G01B7/00GK201964869SQ20102059204
公开日2011年9月7日 申请日期2010年11月4日 优先权日2010年11月4日
发明者刘刚, 张志龙, 施浩昆, 高猛 申请人:太仓威格玛机械设备有限公司

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