专利名称：气体测量装置的制作方法
技术领域：
气体测量装置技术领域：
[0001]本实用新型涉及测量仪器，特别涉及一种气体测量装置。背景技术：
[0002]传统的气体分析系统中，测量气体成分时，让光线照射气体，测量通过气体的 光的强度，由于不同的气体对光的吸收不同，测量不同的光强度，进而分析气体组分。 为了提高测量气体的可靠性和灵敏度，传统的测量气体，采用高光强红外光源、高灵敏 度的测光传感器和增加电子放大器等技术，使得气体分析设备价格昂贵。
实用新型内容[0003]基于此，有必要提供一种成本较低、且提高了可靠性和灵敏度的气体测量装置。[0004]一种气体测量装置，包括光源和检测光线强度的光检测器，还包括第一反射 镜、第二反射镜、容纳测量气体的第一气体测量室和第二气体测量室，所述第一气体测 量室与所述第二气体测量室相通，所述光源和所述第一反射镜设于所述第一气体测量 室，所述光检测器和所述第二反射镜设于所述第二气体测量室，所述第一反射镜与所述 第二反射镜形成夹角，所述光源发出的光线穿过所述第一气体测量室，并经过所述第一 反射镜和所述第二反射镜反射后穿过所述第二气体测量室，到达所述光检测器。[0005]优选地，所述第一反射镜与所述第二反射镜形成夹角为90度。[0006]优选地，所述第一气体测量室和第二气体测量室平行设置。[0007]优选地，所述光线与所述第一反射镜形成夹角为锐角。[0008]优选地，所述光线与所述第一反射镜形成的夹角为45度。[0009]优选地，还包括设于所述第一气体测量室的进气口和设于所述第二气体测量室 的出气口。[0010]上述气体测量装置，采用检测通过了第一气体测量室和第二气体测量室的光线 的强度，增加了光程，提高了测量的可靠性和灵敏度，且该结构设计简单，仅仅采用两 个反射镜实现光线的发射，增加光程，成本较低，采用普通光源进行检测相比于传统高 光强红外光源，成本更低。
[0011]图1为一个实施例中气体测量装置的结构示意图。
具体实施方式
[0012]下面结合具体的实施例及附图对技术方案进行详细的描述。[0013]如图1所示，在一个实施例中，一种气体测量装置，包括提供入射光线的光源 10、容纳测量气体的第一气体测量室20和第二气体测量室50、第一反射镜30、第二反射镜40和光检测器60。其中，第一气体测量室20与第二气体测量室50相通，光源10和 第一反射镜30设于第一气体测量室20，第二反射镜40和光检测器60设于第二气体测量 室50。第一反射镜30与第二反射镜40形成夹角。光源10发出的光线穿过第一气体测 量室20，并经过第一反射镜30和第二反射镜40反射后穿过第二气体测量室50，到达光 检测器60。光检测器60可集成在PCBA (Printed Circuit Board Assembly,印刷电路集成 板)上。光源10可为普通光源。[0014]本实施例中，第一气体测量室20和第二气体测量室50均为长方体状，相通且平 行设置。光源10设置在第一气体测量室20的入光侧210处，第一反射镜30位于第一气 体测量室20的出光侧220处，第二反射镜40与第一反射镜30夹角为90度，第二反射镜 40位于第二气体测量室50的入光侧510处，第二气体测量室50与第一气体测量室20相 通且平行设置，光检测器60设置在第二气体测量室50的出光侧520处。[0015]第一反射镜30与第二反射镜40形成的夹角为90度，入射光线经过第一反射镜 30和第二反射镜40反射后形成反射光线，该反射光线与入射光线平行，如此，第一气体 测量室20和第二气体测量室50可相通且平行设置，节省了装置的空间。[0016]第一反射镜30与光源10发出的入射光线的夹角可为任意角度的锐角，如30 度、45度、60度等，优选地，该夹角为45度。根据反射原理及第一反射镜30与第二反 射镜40夹角成90度可知，经过第一反射镜30和第二反射镜40反射后的光线与入射光线 平行，且入射光线在第一气体测量室10和第二气体测量室50中穿过，相比于单程气体检 测，增加了光程。当入射光线与第一反射镜30的夹角为45度时，刚好为双光程，相当 于被测气体的厚度增加了一倍，便于计算光程。[0017]如图1所示，上述气体测量装置还包括设于第一气体测量室20的进气口 70和设 于第二气体测量室50的出气口 80。方便进行气体测量。[0018]上述气体测量装置的工作过程是通过进气口 70注入测量气体到第一气体测量 室20和第二气体测量室50内，开启光源10发出平行的入射光线，入射光线穿过第一气 体测量室20受到气体吸收后，照射到第一反射镜30和第二反射镜40反射后穿过第二气 体测量室50受到气体吸收后，到达光检测器60，被光检测器60检测到光线的光强度。 根据检测的光强度进行分析气体。分析后，可将注入的测量气体通过出气口 80排出。[0019]上述气体测量装置测量的原理是利用气体分子对特定波长的红外光有吸收作 用，通过测量被气体分子吸收后的光强，进行分析。气体分子对光的吸收作用服从朗 伯-比尔(Lambert-Beer)吸收定律。假设入射光为平行光，其强度为Itl,出射光的强度为 I，气体介质的厚度为L。当由气体介质中的分子数dN的吸收造成的光强减弱为dl时， 根据朗伯-比尔吸收定律可得[0020]
权利要求1.一种气体测量装置，包括光源和检测光线强度的光检测器，其特征在于，还包括 第一反射镜、第二反射镜、容纳测量气体的第一气体测量室和第二气体测量室，所述第 一气体测量室与所述第二气体测量室相通，所述光源和所述第一反射镜设于所述第一气 体测量室，所述光检测器和所述第二反射镜设于所述第二气体测量室，所述第一反射镜 与所述第二反射镜形成夹角，所述光源发出的光线穿过所述第一气体测量室，并经过所 述第一反射镜和所述第二反射镜反射后穿过所述第二气体测量室，到达所述光检测器。
2.根据权利要求1所述的气体测量装置，其特征在于，所述第一反射镜与所述第二反 射镜形成夹角为90度。
3.根据权利要求2所述的气体测量装置，其特征在于，所述第一气体测量室和第二气 体测量室平行设置。
4.根据权利要求1或2所述的气体测量装置，其特征在于，所述光线与所述第一反射 镜形成夹角为锐角。
5.根据权利要求4所述的气体测量装置，其特征在于，所述光线与所述第一反射镜形 成的夹角为45度。
6.根据权利要求1所述的气体测量装置，其特征在于，还包括设于所述第一气体测量 室的进气口和设于所述第二气体测量室的出气口。
专利摘要一种气体测量装置，包括光源和检测光线强度的光检测器，还包括第一反射镜、第二反射镜、容纳测量气体的第一气体测量室和第二气体测量室，所述第一气体测量室与所述第二气体测量室相通，所述光源和所述第一反射镜设于所述第一气体测量室，所述光检测器和所述第二反射镜设于所述第二气体测量室，所述第一反射镜与所述第二反射镜形成夹角，所述光源发出的光线穿过所述第一气体测量室，并经过所述第一反射镜和所述第二反射镜反射后穿过所述第二气体测量室，到达所述光检测器。上述气体测量装置，采用检测通过了双气体测量室的光线的强度，增加了光程，提高了测量的可靠性和灵敏度，仅仅采用两个反射镜，成本较低，采用普通光源，成本更低。
文档编号G01N21/31GK201811920SQ20102055990
公开日2011年4月27日 申请日期2010年10月12日 优先权日2010年10月12日
发明者姚永年, 王长青 申请人:深圳市世纪天源环保技术有限公司
专业数控铣床产品供应商
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