专利名称：红外线测温仪校准测试架的制作方法
技术领域：
本实用新型一种红外线测温仪校准测试架，主要用于检测仪器测试校准领域，尤 其是用于小型手持式红外线测温仪器测定架。
背景技术：
近几年，红外线测温仪被大量、广泛地应用于各种公共场合和企事业单位，由于其 检测结果直接关系到被检人的利益和其他人的利益，所以对其检测精度要求非常高，仪器 的检测误差非常低，这就要求对测温仪必须实施定期测试，并且测试精度也相应要求非常
尚ο现有技术进行测试主要是采用手持式红外线测温校准仪，此种方法由于测试位置 的不确定性、不精确性造成测试的精度不高，测量误差大，其测量结果的数据没有分析可比 性，不能找到其系统性误差。
发明内容本实用新型的目的是提供一种红外线测温仪校准测试架，它克服了现有测试技术 的缺陷，可以减小由于辐射源靶面温度的不均勻性所带来的测量误差，也可以对温度计的 测温误差进行线性分析，使校准结果更科学，准确。本实用新型红外线测温仪校准测试架，包括校准仪平台1，其特征在于校准仪平台 1固定在一平直轨道2上，在所述轨道2上有距离标尺21，还有一能在所述轨道2上滑动的 仪器架3。上述的红外线测温仪校准测试架，所述仪器架3为龙门架。上述的红外线测温仪校准测试架，所述仪器架3包括高度调节装置31、位移调节 装置32、测温仪夹具33。上述的红外线测温仪校准测试架，所述高度调节装置31和位移调节装置32为齿 轮齿条传动机构。上述的红外线测温仪校准测试架，所述高度调节装置31和位移调节装置32为涡 轮蜗杆传动机构。上述结构的红外线测温仪校准测试架，可以使温度计按照设定距离固定在测试架 上。在整个校准过程中，始终保持在同一位置对辐射源的同一范围进行温度测量。可以减 小由于辐射源靶面温度的不均勻性所带来的测量误差，也可以对温度计的测温误差进行线 性分析。使校准结果更科学，准确。
图1是本实用新型红外线测温仪校准测试架主视图。图2是图1所示俯视图。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型作进一步详述见图1、图2所示，本实用新型红外线测温仪校准测试架包括校准仪平台1，其上 放置红外线测温校准仪，此校准仪平台1固定在一平直轨道2上，在所述轨道2上有距离标 尺21，还有一在所述轨道2上滑动的仪器架3，图中所示仪器架3为龙门架，此种结构稳定 性较强，当然也可以采用其他结构。所述仪器架3包括高度调节装置31、位移调节装置32、 测温仪夹具33，所述高度调节装置31和位移调节装置32为齿轮、齿条传动机构或者涡轮、 涡杆传动机构。校准时，将红外线校准仪放置于校准仪平台1上，将红外线测温仪固定于左端的 测试夹具33上，然后调整高度调节装置31，使测温仪测试孔与校准仪的热辐射靶中心位置 保持水平。再根据红外线测温仪的设计距离和热辐射靶的直径大小，调节左侧测试夹具33 与热辐射靶之间的距离，也即根据轨道2上的距离标尺21调整仪器架3与校准仪平台1 之间的距离，使之符合其设计距离要求。例如型号为UT301A的红外线测温仪设计距离为 12 1，那么当热辐射靶的直径为50mm时，则其测温距离不能超过600mm，此距离可通过仪 器架3的左右移动，根据轨道2上的距离标尺21来确定。用此测试架校准红外线温度计，可以使温度计按照设定距离固定在仪器架上。在 整个校准过程中，始终保持在同一位置对辐射源的同一范围进行温度测量。可以减小由于 辐射源靶面温度的不均勻性所带来的测量误差，也可以对温度计的测温误差进行线性分 析，使校准结果更科学，准确。
权利要求红外线测温仪校准测试架，包括校准仪平台(1)，其特征在于校准仪平台(1)固定在一平直轨道(2)上，在所述轨道(2)上有距离标尺(21)，还有一能在所述轨道(2)上滑动的仪器架(3)。
2.根据权利要求1所述的红外线测温仪校准测试架，其特征在于所述仪器架(3)为龙 门架。
3.根据权利要求1或2所述的红外线测温仪校准测试架，其特征在于所述仪器架(3) 包括位移调节装置(32)、测温仪夹具(33)。
4.根据权利要求3所述的红外线测温仪校准测试架，其特征在于所述仪器架(3)还包 括高度调节装置(31)。
5.根据权利要求4所述的红外线测温仪校准测试架，其特征在于所述高度调节装置 (31)和位移调节装置(32)为齿轮、齿条传动机构。
6.根据权利要求4所述的红外线测温仪校准测试架，其特征在于所述高度调节装置 (31)和位移调节装置(32)为涡轮、涡杆传动机构。
专利摘要本实用新型一种红外线测温仪校准测试架，主要用于测试、校准小型手持式红外线测温仪器测定架。包括校准仪平台(1)固定在一平直轨道(2)上，在所述轨道(2)上有距离标尺(21)，还有一能在所述轨道(2)上滑动的仪器架(3)。本结构的红外线测温仪校准测试架，可以使温度计按照设定距离固定在测试架上。在整个校准过程中，始终保持在同一位置对辐射源的同一范围进行温度测量，可以减小由于辐射源靶面温度的不均匀性所带来的测量误差，也可以对温度计的测温误差进行线性分析。使校准结果更科学，准确。
文档编号G01J5/02GK201751816SQ20102010511
公开日2011年2月23日 申请日期2010年1月27日 优先权日2010年1月27日
发明者冯社雄, 高军 申请人:东莞市世通仪器检测服务有限公司
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