专利名称：继电器磨合老化与检测系统的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及电气元件检测领域，特别涉及一种继电器磨合老化与检测系统。
背景技术：
随着继电器在工业技术中的作用日益明显，如何方便快速地检测出继电器的合格 性已成为工业技术中的焦点问题。目前，继电器老化与检测技术还不成熟，而且投入到生产 中的老化与检测装置比较落后，工作效率低，严重阻碍了继电器在工业生产中的应用。
实用新型内容有鉴于此，本实用新型的目的是提供一种继电器磨合老化与检测系统，将老化与 检测集成在一起，实现了功能的集成化，操作简单方便，同时大大提高了效率。本实用新型的继电器磨合老化与检测系统，继电器磨合老化与检测系统，其特征 在于所述继电器磨合老化与检测系统包括电源电路单元、单片机控制电路单元和老化/ 检测电路单元，所述电源电路单元包括系统电源电路I、系统电源电路II、D/A转换电路和 功率放大电路，所述系统电源电路I的电源输出端与功率放大电路的电源输入端相联接， 所述功率放大电路的信号输入端与D/A转换电路的模拟信号输出端相联接，所述D/A转换 电路的数字信号输入端与单片机控制电路单元的数字信号输出引脚相联接，所述功率放大 电路的电源输出端与老化/检测电路单元的电源输入端相联接；所述系统电源电路II为单片机控制电路单元、老化/检测电路单元、D/A转换电 路和功率放大电路提供芯片驱动电源。进一步，所述老化/检测电路单元包括继电器检测位、第一二极管、第一三极管、 第四电阻和发光二极管，所述继电器检测位包括第一接点、第二接点、第三接点和第四接 点，所述第一接点连接功率放大电路的数控直流电源输出端，所述第二接点与第一三极管 的集电极相联接，所述第一二极管的正极与第二接点相联接，其负极与第一接点相联接；所述第三接点与5V电源相联接，所述第四接点与发光二极管的正极相联接，所述 发光二极管的负极经第二电阻与第一三极管的发射极相联接，两者的公共接点接地；所述 发光二极管与第二电阻的公共接点联接至单片机控制电路单元的信号采样端口，所述第 一三极管的基极联接至单片机控制电路单元的控制端口；试验时，所述第一接点和第二接点联接受测继电器的控制线圈，所述第三接点和 第四接点分别联接受测继电器的两个触头；进一步，所述系统电源电路I包括变压器I、继电器开关I、继电器开关II、第二三 极管、第三三极管和整流桥I，所述变压器的一次绕组与220V交流电源相联接，其二次绕组 包括15V抽头、IOV抽头和5V抽头和公共抽头，所述公共抽头与整流桥I的输入端I相联 接，所述15V抽头与继电器开关I的第一开关触点相联接，所述继电器开关I的公共触点与 整流桥I的输入端II相联接，所述继电器开关I上的控制线圈一端接地后连接第三二极管 的正极，另一端联接第三二极管的负极，控制线圈与第三二极管的公共接点与第二三极管的发射极相联接，所述第二三极管的基极与单片机控制电路单元的控制端口相联接；所述IOV抽头与继电器开关II的第一开关触点相联接，所述5V抽头与继电器开 关II的第二开关触点相联接，所述继电器开关II的公共触点与继电器开关I的第二开关 触点相联接，所述继电器开关II上的控制线圈一端接地后连接第四二极管的正极，另一端 联接第四二极管的负极，控制线圈与第四二极管的公共接点与第三极管的发射极相联接， 所述第三三极管的基极与单片机控制电路单元的控制端口相联接；所述整流桥I的输出端I联接功率放大电路的电源输入端，其输出端II接地，所 述输出端I和输出端II之间并联有第二电容和第三电容；进一步，所述系统电源电路II包括变压器II、整流桥II、稳压芯片I、稳压芯片II 和稳压芯片III，所述变压器II的一次绕组与220V交流电源相联接，其二次绕组包括正电 压输出抽头、中间抽头和负电压输出抽头，所述正电压输出抽头和负电压输出抽头分别联 接整流桥II的输出端，所述中间抽头接地，所述整流桥II的输出端I与稳压芯片I的输入 端相联接，所述稳压芯片I的输出端输出+15V电压且与稳压芯片II的输入端相联接，所述 稳压芯片II的输出端输出+5V电压，所述整流桥II的输出端II与稳压芯片III的输入端 相联接，所述稳压芯片III的输出端输出-15V电压，所述整流桥II的输出端I与中间抽头 之间并联有第四电容和第六电容，其中第四电容的正极与输出端I相联接，其负极与中间 抽头相联接；所述整流桥II的输出端II与中间抽头之间并联有第五电容和第九电容，其 中第五电容的正极与中间抽头相联接，其负极与输出端II相联接；所述稳压芯片I的输出 端与中间抽头之间并联有第十一电容和第十二电容，其中第十一电容的正极与稳压芯片II 的输出端相联接，其负极与中间抽头相联接；所述稳压芯片II的输出端与中间抽头之间并 联有第十三电容和第十四容，其中第十三电容的正极与稳压芯片II的输出端相联接，其负 极与中间抽头相联接；所述稳压芯片I、稳压芯片II和稳压芯片III的接地端均与中间抽头联接后接 地；进一步，所述D/A转换电路包括D/A转换芯片和第一运放，所述D/A转换芯片的数 字信号输入端与单片机控制电路单元的数字信号输出引脚相联接，其Tl引脚联接第一运 放的反向输入端，其T2引脚一端接地，同时联接第一运放的正向输入端；所述第一运放的输出端联接D/A转换芯片的RFB引脚，同时也与功率放大电路的 信号输入端相联接；进一步，所述功率放大电路包括第二运放、第一电阻、第二电阻、第三电阻、第二电 容、第三电容和NPN三极管，所述D/A转换电路的模拟信号输出端通过第一电阻与第二运放 的反向输入端相联接，所述第二运放的正向输入端接地，所述第二运放的反向输入端与输 出端之间串联有第二电阻，所述第二运放的输出端与NPN三极管的基极相联接，所述NPN三 极管的发射极经第三电阻接地，所述第二电容和第三电容均与第三电阻并联，其中，第二电 容的正极与NPN三极管的发射极相联接，所述第三电阻、第二电容和第三电容的公共接点 为功率放大电路的数控直流电源输出端；进一步，所述单片机控制电路单元还外接有液晶显示装置和键盘输入装置；进一步，所述继电器磨合老化与检测系统还包括上位机，所述单片机控制电路单 元通过RS232通讯电路与上位机实现数据传输；[0019]进一步，所述单片机控制电路单元包括单片机芯片HT46RU232及其外围电路。本实用新型的有益效果是1.现有的继电器老化与检测是分开进行的，其操作繁琐，步骤多，容易出现差错， 而本产品将老化与检测集成在一起，实现了功能的集成化，操作简单方便，同时大大提高了 效率；2.本实用新型既可通过键盘来控制，也可以通过计算机来控制，满足各种工业环 境的需求；该系统既可供个人或小规模工厂使用，也可以用于大型机电公司投入生产和使 用；3.本实用新型采用大功率数控直流电源，可以适应多种类型电磁继电器的老化与 检测，如大电流摩托车启动继电器等，相对现有产品，其应用范围得到了扩展；4.本实用新型在设计上充分利用继电器老化时的断电间隙，采用分时复用技术， 大大降低了对电源供电能力的要求，从而节约成本。本实用新型的其他优点、目标，和特征在某种程度上将在随后的说明书中进行阐 述，并且在某种程度上，基于对下文的考察研究对本领域技术人员而言将是显而易见的，或 者可以从本实用新型的实践中得到教导。本实用新型的目标和其他优点可以通过下面的说 明书和权利要求书来实现和获得。
为了使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本实用 新型作进一步的详细描述图1为本实用新型的各�？榱邮疽馔迹煌�2为系统电源电路I的电路连接图；图3为系统电源电路II的电路连接图；图4为D/A转换电路的电路连接图；图5为功率放大电路的电路连接图；图6为老化/检测电路的电路连接图；图7为采用分时复用架构的老化/检测电路的电路连接图；图8为RS232通讯电路的电路连接图；图9为继电器磨合老化与检测流程示意图。
具体实施方式
以下将参照附图，对本实用新型的优选实施例进行详细的描述。应当理解，优选实 施例仅为了说明本实用新型，而不是为了限制本实用新型的保护范围。如图1所示(图中虚线箭头为信号控制回路，实线箭头为供电回路)，本实用新型 的继电器磨合老化与检测系统包括电源电路单元、单片机控制电路单元1和老化/检测电 路单元6，电源电路单元包括系统电源电路I 2、系统电源电路II 3、D/A转换电路4和功 率放大电路5，其中，系统电源电路I 2的电源输出端与功率放大电路5的电源输入端相联 接，功率放大电路5的信号输入端与D/A转换电路4的模拟信号输出端相联接，D/A转换电 路4的数字信号输入端与单片机控制电路单元1的数字信号输出引脚相联接，功率放大电路5的电源输出端与老化/检测电路单元6的电源输入端相联接；系统电源电路II 3为单片机控制电路单元1、老化/检测电路单元6、D/A转换电 路4和功率放大电路5提供芯片驱动电源。为实现直观视图和操作简便的目的，单片机控制电路单元1还外接有液晶显示装 置8和键盘输入装置7。本实施例中，继电器磨合老化与检测系统还包括上位机9，单片机控制电路单元1 通过RS232通讯电路与上位机9实现数据传输，RS232通讯电路如图7所示。本实施例中，单片机控制电路单元1包括单片机芯片HT46RU232及其外围电路。如图2所示，系统电源电路I 2包括变压器I TF1、继电器开关I K1、继电器开关 II K2、第二三极管Q2、第三三极管Q3和整流桥I Bi，变压器I TFl的一次绕组与220V交 流电源相联接，其二次绕组包括15V抽头、IOV抽头和5V抽头和公共抽头，公共抽头与整流 桥I Bl的输入端I相联接，15V抽头与继电器开关I Kl的第一开关触点相联接，继电器开 关I Kl的公共触点与整流桥I的输入端II相联接，继电器开关I Kl上的控制线圈一端接 地后连接第三二极管D3的正极，另一端联接第三二极管D3的负极，控制线圈与第三二极管 D3的公共接点与第二三极管Q2的发射极相联接，第二三极管Q2的基极与单片机控制电路 单元1的控制端口 PA6相联接；IOV抽头与继电器开关II K2的第一开关触点相联接，5V抽头与继电器开关II K2 的第二开关触点相联接，继电器开关II K2的公共触点与继电器开关I Kl的第二开关触点 相联接，继电器开关II K2上的控制线圈一端接地后连接第四二极管D4的正极，另一端联 接第四二极管D4的负极，控制线圈与第四二极管D4的公共接点与第三三极管Q3的发射极 相联接，第三三极管Q3的基极与单片机控制电路单元1的控制端口 PA6相联接；整流桥I Bl的输出端I联接功率放大电路5的电源输入端，其输出端II接地，输 出端I和输出端II之间并联有第二电容C2和第三电容C3。如图3所示，系统电源电路II 3包括变压器II TF2、整流桥II B2、稳压芯片I U2、稳压芯片II U4和稳压芯片III U3，变压器II TF2的一次绕组与220V交流电源相联 接，其二次绕组包括正电压输出抽头、中间抽头和负电压输出抽头，正电压输出抽头和负电 压输出抽头分别联接整流桥Π B2的输入端，中间抽头接地，整流桥II B2的输出端I与稳 压芯片I U2的输入端相联接，稳压芯片I U2的输出端输出+15V电压且与稳压芯片II U4 的输入端相联接，稳压芯片II U4的输出端输出+5V电压，整流桥II B2的输出端II与稳 压芯片III U3的输入端相联接，稳压芯片III U3的输出端输出-15V电压，整流桥II B2 的输出端I与中间抽头之间并联有第四电容C4和第六电容C6，其中第四电容C4的正极与 输出端I相联接，其负极与中间抽头相联接；整流桥II B2的输出端II与中间抽头之间并 联有第五电容C5和第九电容C9，其中第五电容C5的正极与中间抽头相联接，其负极与输出 端II相联接；稳压芯片I U2的输出端与中间抽头之间并联有第十一电容Cll和第十二电 容C12，其中第十一电容Cll的正极与稳压芯片II U4的输出端相联接，其负极与中间抽头 相联接；稳压芯片II U4的输出端与中间抽头之间并联有第十三电容C13和第十四容C14， 其中第十三电容C13的正极与稳压芯片II U4的输出端相联接，其负极与中间抽头相联接； 本电路中，第四电容C4和第六电容C6、第五电容C5、第九电容C9、第i^一电容C11、第十二 电容C12、第十三电容C13和第十四容C14主要起到一个滤波作用。
8[0046]稳压芯片I U2、稳压芯片II U4和稳压芯片III U3的接地端均与中间抽头联接 后接地。本实施例中，稳压芯片I U2、稳压芯片II U3均采用78L15，稳压芯片II U4采用 78L05。如图4所示，D/A转换电路4包括D/A转换芯片Ml和第一运放Fl，D/A转换芯片 Ml的数字信号输入端与单片机控制电路单元1的数字信号输出引脚相联接，其T1引脚联接 第一运放F1的反向输入端，其T2引脚一端接地，同时联接第一运放F1的正向输入端；第一运放的输出端联接D/A转换芯片Ml的RFB引脚，同时也与功率放大电路5的 信号输入端相联接。本实施例中，D/A转换芯片Ml采用DAC0832。如图5所示，功率放大电路5包括第二运放F2、第一电阻R1、第二电阻R2、第三电 阻R3、第二电容C2、第三电容C3和NPN三极管Q4，D/A转换电路4的模拟信号输出端通过 第一电阻R1与第二运放F2的反向输入端相联接，第二运放F2的正向输入端接地，第二运 放F2的反向输入端与输出端之间串联有第二电阻R2，第二运放的输出端与NPN三极管Q4 的基极相联接，NPN三极管的发射极经第三电阻接地，第二电容C2和第三电容C3均与第三 电阻R3并联，其中，第二电容C2的正极与NPN三极管Q4的发射极相联接，第三电阻R3、第 二电容C2和第三电容C3的公共接点为功率放大电路的数控直流电源输出端。如图6所示，老化/检测电路单元6包括继电器检测位(虚线方框内)、第一二极 管D1、第一三极管Q1、第四电阻R4和发光二极管L1，继电器检测位包括第一接点P1、第二 接点P2、第三接点P3和第四接点P4，第一接点P1连接功率放大电路5的数控直流电源输 出端，第二接点P2与第一三极管Q1的集电极相联接，第一二极管D1的正极与第二接点P2 相联接，其负极与第一接点P1相联接；第三接点P3与5V电源相联接，第四接点P4与发光二极管L2的正极相联接，发光 二极管L2的负极经第二电阻R2与第一三极管Q1的发射极相联接，两者的公共接点接地； 发光二极管L2与第二电阻R2的公共接点联接至单片机控制电路单元1的信号采样端口 PA3，第一三极管Q1的基极联接至单片机控制电路单元1的控制端口 PA0 ；试验时，第一接点P1和第二接点P2联接受测继电器的控制线圈，第三接点P3和 第四接点P4分别联接受测继电器的两个触头，通过检测PA3的电平高低以及观察发光二极 管的通断情况可以得知继电器的触头之间是否连通。如图7所示，老化/检测电路单元6还可以做成分时复用结构，包括了两组如图6 所示的单组结构，两组结构的三极管的基极之间通过非门74F04相联接，采用这种架构的 作用在于采用分时复用端口技术，不仅可以充分利用端口资源，还可以降低对电源I功率 的要求。当PA0为高电平时老化1#继电器；当PA0转为低电平时老化2#继电器，且其老化 时间分配是可调的，如通2S断2S(通/断是指单片机引脚的高/低电平)。如果采用多组 单片机的引脚，在相同时间内可以增加继电器老化的个数，提高了效率。图8为RS232通讯电路的电路连接图，通过采用VB编程和串口通信技术，实现对 继电器老化与检测的自动控制，操作更为简单方便。图9为继电器老化与检测流程示意图，从图中可以了解本实用新型的整个操作流 程如下1.继电器老化在继电器老化模拟工作环境中，让继电器在规定的时间内不停地吸合和释放，消
9除触点间的毛刺，使机械接触更加吻合，提高整机优质率。2.继电器检测鉴于电磁继电器的吸合电压和释放电压都有额定范围，在此范围内吸合或释放， 就确定这类继电器为合格产品，否则，则断定此类继电器是不合格的。测试时，在继电器的额定工作电压范围内，数控直流电源电压步进式地上升(下 降)，通过检测PA3的状态来得知继电器触点是否吸合(释放)，从而判断继电器的合格性。 当PA3为高电平时，继电器吸合；PA3端口为低电平时，继电器释放。在继电器检测期间，按照一定的采样周期读取PA3接口的状态，通过读入数据的0 和1的改变情况可以判断触点的状态，从而可以求得继电器时间参数(吸合时间、释放时 间)。系统基于单片机控制和大功率数控直流电源，实现了对多种继电器的老化与检 测。该系统有两种控制方案，一种是通过键盘直接控制单片机，方便快捷；另一种是通过串 口实现单片机与计算机之间的通信，提供可视化界面，便于人工管理。选择其中一种控制方 案，设定相应参数，通过单片机系统调节数控直流电源，以满足待测继电器的电压标准，并 通过继电器老化与检测部分获得检测结果，由分析所得结果判断继电器的合格性。最后说明的是，以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制，尽管参 照较佳实施例对本实用新型进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本 实用新型的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本技术方案的宗旨和范围，其均应 涵盖在本实用新型的权利要求范围当中。
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权利要求继电器磨合老化与检测系统，其特征在于所述继电器磨合老化与检测系统包括电源电路单元、单片机控制电路单元(1)和老化/检测电路单元(6)，所述电源电路单元包括系统电源电路I(2)、系统电源电路II(3)、D/A转换电路(4)和功率放大电路(5)，所述系统电源电路I(2)的电源输出端与功率放大电路(5)的电源输入端相联接，所述功率放大电路(5)的信号输入端与D/A转换电路(4)的模拟信号输出端相联接，所述D/A转换电路(4)的数字信号输入端与单片机控制电路单元(1)的数字信号输出引脚相联接，所述功率放大电路(5)的电源输出端与老化/检测电路单元(6)的电源输入端相联接；所述系统电源电路II(3)为单片机控制电路单元(1)、老化/检测电路单元(6)、D/A转换电路(4)和功率放大电路(5)提供芯片驱动电源。
2.根据权利要求1所述的继电器磨合老化与检测系统，其特征在于所述老化/检测 电路单元(6)包括继电器检测位、第一二极管(D1)、第一三极管(Q1)、第四电阻(R4)和发 光二极管(L1)，所述继电器检测位包括第一接点(P1)、第二接点(P2)、第三接点(P3)和第 四接点(P4)，所述第一接点(P1)连接功率放大电路(5)的数控直流电源输出端，所述第二 接点(P2)与第一三极管(Q1)的集电极相联接，所述第一二极管(D1)的正极与第二接点 (P2)相联接，其负极与第一接点(P1)相联接；所述第三接点(P3)与5V电源相联接，所述第四接点(P4)与发光二极管(L2)的正极相 联接，所述发光二极管(L2)的负极经第二电阻(R2)与第一三极管(Q1)的发射极相联接， 两者的公共接点接地；所述发光二极管(L2)与第二电阻(R2)的公共接点联接至单片机控 制电路单元(1)的信号采样端口(PA3)，所述第一三极管(Q1)的基极联接至单片机控制电 路单元(1)的控制端口 (PA0)；试验时，所述第一接点(P1)和第二接点(P2)联接受测继电器的控制线圈，所述第三接 点(P3)和第四接点(P4)分别联接受测继电器的两个触头。
3.根据权利要求1所述的继电器磨合老化与检测系统，其特征在于所述系统电源电 路I⑵包括变压器I (TF1)、继电器开关I (K1)、继电器开关II (K2)、第二三极管(Q2)、第 三三极管(Q3)和整流桥I，所述变压器I(TF1)的一次绕组与220V交流电源相联接，其二 次绕组包括15V抽头、10V抽头和5V抽头和公共抽头，所述公共抽头与整流桥I的输入端I 相联接，所述15V抽头与继电器开关I(K1)的第一开关触点相联接，所述继电器开关I(K1) 的公共触点与整流桥I的输入端II相联接，所述继电器开关I (K1)上的控制线圈一端接地 后连接第三二极管(D3)的正极，另一端联接第三二极管(D3)的负极，控制线圈与第三二极 管(D3)的公共接点与第二三极管(Q2)的发射极相联接，所述第二三极管(Q2)的基极与单 片机控制电路单元(1)的控制端口(PA6)相联接；所述10V抽头与继电器开关II (K2)的第一开关触点相联接，所述5V抽头与继电器开 关II(K2)的第二开关触点相联接，所述继电器开关II(K2)的公共触点与继电器开关I(K1) 的第二开关触点相联接，所述继电器开关II(K2)上的控制线圈一端接地后连接第四二极 管(D4)的正极，另一端联接第四二极管(D4)的负极，控制线圈与第四二极管(D4)的公共 接点与第三三极管(Q3)的发射极相联接，所述第三三极管(Q3)的基极与单片机控制电路 单元(1)的控制端口(PA6)相联接；所述整流桥I的输出端I联接功率放大电路(5)的电源输入端，其输出端II接地，所 述输出端I和输出端II之间并联有第二电容(C2)和第三电容(C3)。
4.根据权利要求1或2或3所述的继电器磨合老化与检测系统，其特征在于所述系统 电源电路II⑶包括变压器II (TF2)、整流桥II、稳压芯片I (U2)、稳压芯片II (U4)和稳压 芯片III (U3)，所述变压器II (TF2)的一次绕组与220V交流电源相联接，其二次绕组包括正 电压输出抽头、中间抽头和负电压输出抽头，所述正电压输出抽头和负电压输出抽头分别 联接整流桥II的输入端，所述中间抽头接地，所述整流桥II的输出端I与稳压芯片I (U2) 的输入端相联接，所述稳压芯片I (U2)的输出端输出+15V电压且与稳压芯片II (U4)的输 入端相联接，所述稳压芯片II (U4)的输出端输出+5V电压，所述整流桥II的输出端II与稳 压芯片III (U3)的输入端相联接，所述稳压芯片III (U3)的输出端输出-15V电压，所述整 流桥II的输出端I与中间抽头之间并联有第四电容(C4)和第六电容(C6)，其中第四电容 (C4)的正极与输出端I相联接，其负极与中间抽头相联接；所述整流桥II的输出端II与中 间抽头之间并联有第五电容(C5)和第九电容(C9)，其中第五电容(C5)的正极与中间抽头 相联接，其负极与输出端II相联接；所述稳压芯片I (U2)的输出端与中间抽头之间并联有 第十一电容(Cll)和第十二电容(C12)，其中第十一电容(Cll)的正极与稳压芯片II (U4) 的输出端相联接，其负极与中间抽头相联接；所述稳压芯片II (U4)的输出端与中间抽头之 间并联有第十三电容(C13)和第十四容(C 14)，其中第十三电容(C13)的正极与稳压芯片 II (U4)的输出端相联接，其负极与中间抽头相联接；所述稳压芯片I (U2)、稳压芯片II (U4)和稳压芯片III (U3)的接地端均与中间抽头联 接后接地。
5.根据权利要求1所述的继电器磨合老化与检测系统，其特征在于所述D/A转换电 路(4)包括D/A转换芯片和第一运放，所述D/A转换芯片的数字信号输入端与单片机控制 电路单元(1)的数字信号输出引脚相联接，其Tl引脚联接第一运放的反向输入端，其T2引 脚一端接地，同时联接第一运放的正向输入端；所述第一运放的输出端联接D/A转换芯片的RFB引脚，同时也与功率放大电路(5)的 信号输入端相联接。
6.根据权利要求1所述的继电器磨合老化与检测系统，其特征在于所述功率放大电 路(5)包括第二运放、第一电阻(Rl)、第二电阻(R2)、第三电阻(R3)、第二电容(C2)、第三 电容(C3)和NPN三极管(Q4)，所述D/A转换电路(4)的模拟信号输出端通过第一电阻(Rl) 与第二运放的反向输入端相联接，所述第二运放的正向输入端接地，所述第二运放的反向 输入端与输出端之间串联有第二电阻(R2)，所述第二运放的输出端与NPN三极管(Q4)的基 极相联接，所述NPN三极管(Q4)的发射极经第三电阻接地，所述第二电容(C2)和第三电容 (C3)均与第三电阻(R3)并联，其中，第二电容(C2)的正极与NPN三极管(Q4)的发射极相 联接，所述第三电阻(R3)、第二电容(C2)和第三电容(C3)的公共接点为功率放大电路的数 控直流电源输出端。
7.根据权利要求1所述的继电器磨合老化与检测系统，其特征在于所述单片机控制 电路单元(1)还外接有液晶显示装置(8)和键盘输入装置(7)。
8.根据权利要求1所述的继电器磨合老化与检测系统，其特征在于所述继电器磨合 老化与检测系统还包括上位机(9)，所述单片机控制电路单元(1)通过RS232通讯电路与上 位机(9)实现数据传输。
9.根据权利要求1所述的继电器磨合老化与检测系统，其特征在于所述单片机控制3电路单元(1)包括单片机芯片HT46RU232及其外围电路。
专利摘要本实用新型公开了一种继电器磨合老化与检测系统，包括电源电路单元、单片机控制电路单元和老化/检测电路单元，电源电路单元包括系统电源电路I、系统电源电路II、D/A转换电路和功率放大电路，系统电源电路I的电源输出端与功率放大电路的电源输入端相联接，系统电源电路II为单片机控制电路单元、老化/检测电路单元、D/A转换电路和功率放大电路提供芯片驱动电源，本实用新型克服了现有继电器老化与检测由于分开进行导致的操作繁琐的缺点，将老化与检测集成在一起，实现了功能的集成化，操作简单方便，大大提高了效率，同时还能满足多种工业环境的需求。
文档编号G01R31/327GK201716399SQ20102022646
公开日2011年1月19日 申请日期2010年6月13日 优先权日2010年6月13日
发明者刘 文, 宋培森, 张晓华, 王中华, 谭小川, 陈剑飞, 陈安冲 申请人:重庆师范大学
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