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专利名称：一种物件低温下密封性能快速检测的装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及密封性检测技术领域，特别是涉及一种物件低温下密封性能快速检 测的装置。
背景技术：
目前，许多工业产品对零部件的密封性能有很高的要求，某些关键部件的密封性 能直接影响到产品的质量和使用寿命，所以生产过程中对该零部件的密封性能的进行有效 的检测显得尤为重要。许多产品零部件的密封中用到了橡胶密封的方式，各种不同的橡胶在达到相应的 压缩比的情况下会有理想的密封效果，在生产过程中，需要对该类零部件的密封性能进行 检测。由于产品零部件有时需要在低温条件下使用，这时橡胶将遇冷收缩，使得产品零 部件的密封性能发生变化。但是，目前还没有一种装置，其可以在低温下对采用橡胶密封的产品零部件的密 封性能进行检测，从而检测获知采用橡胶密封的产品零部件在低温条件下的密封性能，保 证采用橡胶密封的产品零部件的正确使用。

发明内容
有鉴于此，本发明的目的是提供一种物件低温下密封性能快速检测的装置，其可 以在低温下对采用橡胶密封的产品零部件的密封性能进行检测，从而检测获知采用橡胶密 封的产品零部件在低温条件下的密封性能，保证采用橡胶密封的产品零部件的正确使用， 具有重大的生产实践意义。为此，本发明提供了一种物件低温下密封性能快速检测的装置，包括有基座4，所 述基座4顶部具有通气凹槽10，所述通气凹槽10上方覆盖设置有一个待测样品7，所述待 测样品7底面与所述基座4顶部之间具有密封垫圈3，所述待测样品7的顶部设置有压紧工 装1，所述待测样品7顶面与压紧工装1之间具有一个密封垫圈3 ；
所述压紧工装1底部具有通气凹槽10，该压紧工装1底部的通气凹槽10与待测样品7 顶部相连通；
所述基座4顶部的通气凹槽10与一个气体分子质谱检漏仪9相连通，所述压紧工装1 底部的通气凹槽10与气源6相连通。其中，所述待测样品7中部具有待测区域8，所述基座4顶部的通气凹槽10与待测 样品7中部的待测区域8底面相连通，所述压紧工装1底部的通气凹槽10与待测样品7中 部的待测区域8顶面相连通。其中，所述基座4顶部的通气凹槽10通过一根通气管道5与所述气体分子质谱检 漏仪9相连通，所述压紧工装1底部的通气凹槽10通过一根通气管道5与所述气源6相连通。
其中，所述气体分子质谱检漏仪9为氦质谱检漏仪或者氢质谱检漏仪，所述气源6 对应为氦气气源或者氢气气源。其中，所述压紧工装1顶部装有制冷剂2，所述压紧工装1顶部设置有下压工装 11，所述下压工装11的顶部与一个下压汽缸相连接。其中，所述制冷剂2为干冰或者液氮，所述密封垫圈4为橡胶材质制成的、圆环形 的垫圈。由以上本发明提供的技术方案可见，与现有技术相比较，本发明提供了一种物件 低温下密封性能快速检测的装置，其可以在低温下对采用橡胶密封的产品零部件的密封性 能进行检测，从而检测获知采用橡胶密封的产品零部件在低温条件下的密封性能，保证采 用橡胶密封的产品零部件的正确使用，具有重大的生产实践意义。


图1为本发明提供的一种物件低温下密封性能快速检测的装置的结构示意图； 图2为图1中待测样品的剖视图3为图1中待测样品的俯视图中，1为压紧工装，2为制冷剂，3为密封垫圈，4为基座，5为通气管道，6为气源，7为 待测样品，8为待测区域，9为气体分子质谱检漏仪，10为通气凹槽，11为下压工装。
具体实施例方式为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面结合附图和实施方式对本 发明作进一步的详细说明。参见图1至图3，本发明提供了一种物件低温下密封性能快速检测的装置，包括有 基座4，所述基座4顶部具有通气凹槽10，所述通气凹槽10上方覆盖设置有一个待测样品 7，所述待测样品7中部具有待测区域8，所述待测样品7的上下两侧面均设置有一个圆环 形的密封垫圈3，即所述待测样品7底面与所述基座4顶部之间具有密封垫圈3，所述基座 4顶部的通气凹槽10与待测样品7中部的待测区域8底面相连通。参见图1，所述待测样品7的顶部设置有圆柱形的压紧工装1，所述待测样品7顶 面与压紧工装1之间具有一个圆环形的密封垫圈3，所述压紧工装1底部具有通气凹槽10， 该压紧工装1底部的通气凹槽10与待测样品7中部的待测区域8顶面相连通。需要说明的是，在实际生产检测过程中，待测样品7和待测区域8可以时任意形 状，只要保证基座4、待测样品7和压紧工装1之间密封良好即可。所述待测样品7为对其 密封性能有严格要求的零部件，所述零部件的待测区域的密封性能在低温下会受影响，其 密封性能会降低。在本发明中，所述基座4顶部的通气凹槽10通过一根通气管道5与一个气体分子 质谱检漏仪9 (例如氦质谱检漏仪)相连通，当所述气体分子质谱检漏仪9为氦质谱检漏仪 时，可以进行低温氦检测，即将待测样品7下方的通气凹槽10(即所述基座4顶部的通气凹 槽)抽成真空，然后检验其中的氦分子浓度。所述压紧工装1底部的通气凹槽10通过一根通气管道5与气源6相连通，在需要 对待测样品7进行密封性检测时，所述气源6通过该通气管道5向待测样品7上方的通气凹槽10 (即压紧工装1底部的通气凹槽10)中吹入气体(例如氦气)。参见图1，在本发明中，所述压紧工装1顶部具有向上开口的空腔，该空腔内装满 有制冷剂2，起到降温作用，基于温度传递原理，使得待测样品7处于低温状态。所述压紧工 装1顶部设置有下压工装11，所述下压工装11的顶部与一个下压汽缸(未画出)相连接，由 下压汽缸驱动进行下压，保证压紧工装1、待测样品7、基座4相互之间压紧，下压的压力要 求能使压紧工装1、密封垫圈3、待测样品7、基座4之间密封效果良好，同时不会损伤压紧工 装1、密封垫圈3和待测样品7。需要说明的是，在本发明中，通过制冷剂2对待测样品7进行冷却，由气体分子质 谱检漏仪9对待测样品7的密封性能进行检测。需要说明的是，所述压紧工装1为硬质金属制成，在承受到较大压力时也不变形， 且导热性能良好。所述基座4的材质为聚四氟丙烯，其作用是待测样品可以平稳地放置，在下压汽 缸压紧时所述压紧工装1、待测样品7、基座4之间具有良好的密封性。所述密封垫圈4为橡胶材质制成的、圆环形的垫圈，密封垫圈4的形状和大小可视 待测样品7的形状大小而定，密封垫圈4在受到下压汽缸的下压作用时，保证可以压紧工装 1、待测样品7、基座4之间具有良好的密封性，以保证检测的正常进行。具体实现上，所述制冷剂2可以为干冰或液氮等具有制冷效果的物品。所述气体 分子质谱检漏仪9可以为氦质谱检漏仪或者氢质谱检漏仪，对应地，所述气源6为氦气气源 或者氢气气源。为了检测待测样品的低温密封性能，本发明提供的一种物件低温下密封性能快速 检测的装置，其具体操作步骤如下
步骤一、将密封垫圈3置于基座4上，将待测样品7置于密封垫圈3上，保证待测样品 7的待测区域8位置合适，能被完全检测，即完全与基座4顶部的通气凹槽10相连通，所述 待测样品7上再放置一个密封垫圈3 ；
步骤二、将压紧工装1顶部的空腔内装满制冷剂，压紧工装1下部压在密封垫圈3上； 步骤三、该下压工装11在相连接的下压汽缸的作用下进行下压，此时待测样品7上下 两侧的两个密封垫圈3被压缩，待测样品7的上下部分皆能保证良好的密封性；
步骤四、在下压汽缸下压后，打开气体分子质谱检漏仪9，例如氦质谱检漏仪，对待测样 品7下方的通气凹槽10 (即所述基座4顶部的通气凹槽)抽成真空，并检验其氦气分子浓 度，当检漏仪显示达到1.0E-7 mbar*L/S或以下时，通过通气管道5向待测样品7上方的通 气凹槽10 (即压紧工装1底部的通气凹槽10)通入氦气，此时，若氦质谱检漏仪的检验示数 增大，则说明待测样品7的待测区域8的密封性能不合格，待测样品7上方通气凹槽10内 通入的氦气可以透过待测区域8进校入到待测样品7下方的通气凹槽10内；如果氦质谱检 漏仪的检验示数持续减小至稳定，则说明待测样品7上方通入的氦气没有透过待测区域8， 氦气对待测样品7下方的通气凹槽10没有影响，其待测样品7的待测区域8的密封性能合 格。实施本发明提供所述的检测装置，可以针对特定待测样品的低温密封性检验。鉴 于待测样品中的密封部件在常温下检测时密封性可能良好，但在制冷剂的冷却作用下，待 测样品中的密封部件将遇冷收缩，其密封性能将发生变化，此时在对其密封性能进行检测，若其密封性合格，即可以保证该零部件在使用过程中遇到各种异常情况时仍能保证良好的 密封性能；且在本发明中，在制冷剂的冷却作用下，待测样品在很短的时间内被冷却，并通 过气体分子质谱检测仪(如氦质谱检漏仪)检测待测样品的密封性，能保证检验迅速且有 效。综上所述，与现有技术相比较，本发明提供的一种物件低温下密封性能快速检测 的装置，其可以在低温下对采用橡胶密封的产品零部件的密封性能进行检测，从而检测获 知采用橡胶密封的产品零部件在低温条件下的密封性能，保证采用橡胶密封的产品零部件 的正确使用，具有重大的生产实践意义。以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人 员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应 视为本发明的保护范围。
权利要求
1.一种物件低温下密封性能快速检测的装置，其特征在于，包括有基座(4)，所述基座 (4)顶部具有通气凹槽(10)，所述通气凹槽(10)上方覆盖设置有一个待测样品(7)，所述待 测样品(7)底面与所述基座(4)顶部之间具有密封垫圈(3)，所述待测样品(7)的顶部设置 有压紧工装(1 )，所述待测样品(7)顶面与压紧工装(1)之间具有一个密封垫圈(3)；所述压紧工装(1)底部具有通气凹槽(10)，该压紧工装(1)底部的通气凹槽(10)与待 测样品(7)顶部相连通；所述基座(4)顶部的通气凹槽(10)与一个气体分子质谱检漏仪(9)相连通，所述压紧 工装(1)底部的通气凹槽(10)与气源(6)相连通。
2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述待测样品(7)中部具有待测区域(8)，所 述基座(4)顶部的通气凹槽10与待测样品(7)中部的待测区域(8)底面相连通，所述压紧 工装(1)底部的通气凹槽(10)与待测样品(7)中部的待测区域(8)顶面相连通。
3.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述基座(4)顶部的通气凹槽(10)通过一 根通气管道(5)与所述气体分子质谱检漏仪(9)相连通，所述压紧工装(1)底部的通气凹槽 (10)通过一根通气管道(5)与所述气源(6)相连通。
4.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述气体分子质谱检漏仪(9)为氦质谱检漏 仪或者氢质谱检漏仪，所述气源(6)对应为氦气气源或者氢气气源。
5.如权利要求1至4中任一项所述的装置，其特征在于，所述压紧工装(1)顶部装有制 冷剂(2 )，所述压紧工装(1)顶部设置有下压工装(11)，所述下压工装(11)的顶部与一个下 压汽缸相连接。
6.如权利要求5所述的装置，其特征在于，所述制冷剂(2)为干冰或者液氮，所述密封 垫圈(3)为橡胶材质制成的、圆环形的垫圈。
全文摘要
本发明公开了一种物件低温下密封性能快速检测的装置，包括有基座，所述基座顶部具有通气凹槽，所述通气凹槽上方覆盖设置有一个待测样品，所述待测样品底面与所述基座顶部之间具有密封垫圈，所述待测样品的顶部设置有压紧工装，所述待测样品顶面与压紧工装之间具有一个密封垫圈；所述压紧工装底部具有通气凹槽，该压紧工装底部的通气凹槽与待测样品顶部相连通；所述基座顶部的通气凹槽与一个气体分子质谱检漏仪相连通，所述压紧工装底部的通气凹槽与气源相连通。本发明公开的物件低温下密封性能快速检测的装置，可在低温下对采用橡胶密封的产品零部件的密封性能进行检测，检测获知采用橡胶密封的产品零部件在低温条件下的密封性能。
文档编号G01M3/20GK102121868SQ20101059500
公开日2011年7月13日 申请日期2010年12月20日 优先权日2010年12月20日
发明者王广华, 王金勇, 薛龙均, 赵程, 邱慧敏 申请人:天津力神电池股份有限公司