专利名称：单线圈测量井下介质电阻率的方法及系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种单线圈测量井下介质电阻率的方法及系统，属于井下測量技术领域。
背景技术：
现有的电磁波传播测量电阻率的测井方法为了实现测量地层介质电阻率目的，使用了多个线圏。在经典的单发双收系统中，其中一个是发射线圈，两个是接收线圈。在每ー次测量时由扫频信号发生器给提供高频交流信号，经功率放大后送入发射线圈，然后分别測量接收线圈I和接受线圈2上电磁感应得到的信号的幅度和相位，并计算两个信号的幅度比和相位差，再通过定标和反演等方法，根据信号的幅度比和相位差推算出被测地层的电阻率。现有的方法存在着系统复杂，接收电路复杂，计算复杂，成本高的缺点。
发明内容
针对现有技术存在的缺点，本发明提供一种单线圈测量井下介质电阻率的方法及系统。本发明中利用仿真分别计算了在单层均匀各项同性介质中，介质电阻率改变时，发射线圈的反射系数的变化情况；又仿真了在双层介质中，内层厚度不变，外层厚度无限大并且电阻率变化时发射线圈反射系数的变化情況。电阻率变化范围被设置为在ο. Γι之间。一种单线圈测量井下介质电阻率的方法，将单个发射线圈视为线圈探头，发射线圈将电磁波信号送入被测地层，测得发射线圈的反射系数和阻抗，由此计算得出地层的电阻率，方法包括以下步骤I)在钻铤上安装发射线圈，在线圈上加载高频信号，并测量发射线圈接收到的反射回来的高频信号；2)在不同电阻率的盐水中定标测量线圈的反射系数，将测量获得的反射系数，和盐水电阻率的对应关系制作成表，用于钻井测量时查询。3)測量系统通过计算反射信号\和发射信号Vi,得到反射系数，计算公式如下
权利要求
1.一种单线圈测量井下介质电阻率的方法，其特征在于，将单个发射线圈视为线圈探头，发射线圈将电磁波信号送入被测地层，测得发射线圈的反射系数和阻抗，由此计算得出地层的电阻率，方法包括以下步骤 1)在钻铤上安装发射线圈，在线圈上加载高频信号，并测量发射线圈接收到的反射回来的高频信号； 2)在不同电阻率的盐水中定标测量线圈的反射系数，将测量获得的反射系数，和盐水电阻率的对应关系制作成表，用于钻井测量时查询。
3)測量系统通过计算反射信号\和发射信号\，得到反射系数，计算公式如下
2.一种单线圈测量井下介质电阻率的系统，其特征在于，系统包括S參数测定仪，网络分析仪和发射线圈，以及数据处理PC机；扫频信号发生器包含在S參数测定仪内部；发射线圈通过50欧负载匹配的同轴线和S參数测定仪的端ロ I连接，S參数测定仪的端ロ 2空置数测定仪和网络分析仪通过50欧的同轴电缆连接，S參数测定仪与PC机连接{參数测定仪、网络分析仪均为集成在电路板上的电路�？�。
全文摘要
单线圈测量井下介质电阻率的方法及系统，属于井下测量技术领域。设计了基于测量方法的测量系统。该方法是将套接在钻铤上的金属线圈视为探头，通过扫频信号发生器产生高频信号，经50欧同轴线送入发射线圈，测得发射线圈的反射系数，由此计算得出发射线圈的阻抗和介质电阻率,从而得到地层的电磁特性。本发明中仿真了单个线圈S参数与地层介质电阻率之间的关系。本发明中设计的测量系统包括扫频信号发生器、发射线圈、S参数测定仪、网络分析仪。该系统能准确地测量出井下地层的介质电阻率，因此可以用于分析地层的油气，矿物等储存信息。
文档编号G01V3/30GK102692653SQ20121018465
公开日2012年9月26日 申请日期2012年6月6日 优先权日2012年6月6日
发明者李康, 盛世威 申请人:山东大学
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