专利名称：Led光棒量测机具的制作方法
技术领域：
本实用新型为有关于光棒量测技术领域，尤其是一种LED光棒量测机具。
背景技术：
本实用新型是用于量测光棒80 (light bar)光学特性的机台，常见的光棒80是为如图6所显示的将各发光二极管82 (Light-Emitting Diode，下称LED)以彼此相间隔的方式穿插排序并焊接在该软性印刷电路板84 (Flexible Printing Circuit Board,简称FPCB)上，再由电路串连而成，且具有一排线槽86做为连接电力之用。在目前在面板的背光模组皆是以光棒80做为背光模组的光源，因此对于光棒80的品 质及需求也越来越高。但因为光棒80是有多个LED所组成，所以各个LED的亮度(Brightness)、光强度(LuminousIntensity)及色度等光学特性各有不同，所以对于光棒80检测的必要性也更为重要。对于现有技术量测光棒80光学特性的机台的特征在于将光学测量仪器固定于一个位置，而待测的光棒80则运用承载装置将待测的光棒80运送经过该光学测量仪器并直接对该光棒80上的各LED进行量测。因此，该光棒80是相对于光学测量仪器进行移动，此种量测方式的机台尺寸需要配合光棒80尺寸，对于大尺寸的光棒80则需要加大机台尺寸，所以相对的使机台的制造成本提升且安装机台的现场设置的环境大小也需要增加。且根据中国台湾专利第M364207号，揭露一种光棒量测机台，其特征在于以真空吸附方式固定该光棒，并以单向往复活动的光学测量仪器量测光棒的光学特性，虽克服上文所提的机台尺寸及现场设置的环境大小的问题。但由于单向往复活动的光学测量仪器仅能对于同时能量测的光棒数量有限，且如需量测多只光棒时则需调整置放光棒的载台载台位置，因此耗费人力及时间。因此，本实用新型的发明人亟需构思一种新技术以改善其问题。
实用新型内容所以本实用新型的目的是为解决上述现有技术上的问题，本实用新型中提出一种LED光棒测量机具,其目的在于改良现有技术的光棒的光学特性量测方式，应用一具有三轴移动的三维空间调整座夹持一光学量测仪器，使得在量测时的移动范围相较于现有技术可提升许多，且待测的光棒也可以视光棒尺寸及光棒载台尺寸而同时测量多只光棒。且本实用新型提出加装扩散板的方式，以测量扩散板的各区域受光棒照射时的均光性，减少对于量测运作时的震动而造成LED晶粒量测的误差，亦可降低检测的时间。且与现有技术需各LED晶粒各别量测方式有所不同，相较于现有技术而言有明显的进步性。为达到上述的目的，本实用新型提出一种LED光棒量测机具，其包含一个量测机台，包含上方量测空间及下方机件区，该上方量测空间的底面配置至少一个光棒载台，该光棒载台上主要是由四个脚架所支撑的测量平台，该测量平台上具有一个用以配置多个光棒的测量平面；以及一个三维空间调整座，位于该光棒载台的上方，用以夹持一个光学量测仪器，并使该光学量测仪器对位该光棒载台的测量平面上任一位置及在与该光棒载台的测量平面的垂直方向进行高低调整；其中，该光学量测仪器用于量测各光棒的发光强度及频谱。优选的，该光棒载台尚包含一个温度晶片，该温度晶片位于该光棒载台的下方，以对该光棒载台加热而达到量测时所需要的环境温度条件。优选的，该温度晶片位于该测量平台的下方正中央。优选的，该光学量测仪器为辉度计。优选的，所述的LED光棒量测机具尚包含一个温度控制器，位于该下方机件区，该温度控制器以电性连接该温度晶片用于控制该温度晶片，以达到所需要的温控条件。优选的，所述的LED光棒量测机具尚包含一个喷气清净机，位于该上方量测空间·的侧面，用于提供清洁的空气去清除该测量平台上的水气。优选的，所述的LED光棒量测机具尚包含一个电源供应器，该电源供应器位于该下方机件区，该电源供应器将外接电源经处理后提供电力予该量测机台上各装置及各光棒使用。优选的，所述的LED光棒量测机具尚包含一个显示器，该显示器内包含处理器外接于该量测机台，该显示器用以连结该量测机台上各装置并将接受的资讯经由处理器处理过后显示该量测机台上各装置的信息。优选的，该电源供应器为能提供给该光棒一般模式及脉冲模式两种电力模式的电源供应器；其中，该一般模式是指设定固定电流的条件，以量测光棒的参数；该脉冲模式是指设定固定的电流条件，设定该电源供应器供电时间，以量测光棒发光时的瞬间参数。优选的，所述的LED光棒量测机具，尚包含一个扩散板，该扩散板位于该光学量测仪器及该光棒载台之间，通过该扩散板具有将光棒入射的光源散射出的均光特性，使得该光学量测仪器得以直接量测该扩散板的特定位置，以判断光棒的均光程度。本实用新型是具有多轴向移动、可同时量测多数量光棒的光棒量测机具。
图I为本实用新型的装置位置示意。图2为本实用新型的LED载台的示意图。图3为本实用新型的三轴空间调整座与其他元件的相对位置示意图。图4为本实用新型为光学量测仪器在测量时的移动示意图。图5为本实用新型的扩散板相对位置及搭配扩散板时的测量示意图。图6为现有常用的光棒示意图。其中:10量测机台12上方量测空间14下方量测空间16三维空间调整座18光学量测仪器20光棒载台[0034]22脚架24测量平面30温度晶片32温度控制器40扩散板50喷气清净机60电源供应器70显示器80光棒82发光二极管84软性印刷电路板86排线槽。
具体实施方式
兹谨就本案的结构组成，及所能产生的功效与优点，配合图式，举本案之一较佳实施例详细说明如下。请参考图1，本实用新型的LED光棒80量测机具，是用于量测光棒80的光学特性，其中包含—量测机台10,包含一上方量测空间12及一下方机件区14。该上方量测空间12的底面配置至少一光棒载台20，该光棒载台20上主要是位于四边的四个脚架22及由四个脚架22所支撑的测量平台，该测量平台上具有一测量平面24用以配置多个光棒80。如图2所显不,其中该光棒载台20尚包含一温度晶片30,该温度晶片30位于该光棒载台20的下方可以对该光棒载台20加热而达到量测时所需要的环境温度条件；较佳者，该温度晶片30位于该测量平台的下方正中央。如图3所显示，一三维空间调整座16，位于该光棒载台20的上方用以夹持一光学量测仪器18 ;该三维空间调整座16可令该光学量测仪器18对位该光棒载台20的测量平面24上任一位置，以对该光棒载台20上的各光棒80进行对位及量测，且该三维空间调整座16可以在与该光棒载台20的测量平面24的垂直方向进行高低调整以达到所需要的高度，使该光学量测仪器18与该光棒载台20保持一特定垂直距离。其中该光学量测仪器18用于量测各光棒80的发光强度及频谱等光学特性；较佳者该光学量测仪器18可为一辉度计。如图4所示，其中在量测过程中可先应用该光学量测仪器18的电荷耦合元件(Charge Coupled Device,简称(XD)先行对位并找出各光棒80的量测中心点；再利用该三维空间调整座16调整该光学量测仪器18至该光棒80的量测中心点，并以往复的方式沿着该光棒80的方向移动及测量该LED棒上的各LED晶粒的光学特性，且量测完一光棒80后，再调整该光学量测仪器18至下一只光棒80的量测中心点依照上述规则依序量测。其中图中的黑色箭头是为该光学量测仪器18的移动方向。如图5所不,其中本案尚包含一扩散板40,该扩散板40位于该光学量测仪器18及该光棒80之间，借助该扩散板40具有将所入射的光源散射出的均光特性，使得该光学量测仪器18得以直接量测该扩散板40的特定位置，运用量测区域均光的优点，可克服对于量测运作时的震动而造成LED晶粒量测的误差，亦可降低检测的时间。其中在量测时，如图5所显示，先利用该三维空间调整座16调整该光学量测仪器18至该光棒80的量测中心点，并以往复的方式沿着该光棒80的方向移动及测量该扩散板40上所设定的各点( 图中显示量测相对于该光棒80长度等分出的三点)。且量测完一光棒80后，再调整该光学量测仪器18至下一只光棒80的量测中心点依照上述规则依序量测。其中图中所显示的量测点数量并不用以限制本实用新型的范围。因此，按照上文的叙述，整个量测过程中，只有该三维空间调整座16在进行移动；而各光棒80则安置于该光棒载台20的测量平面24上，且不需要移动。一温度控制器32，位于该下方机件区14。该温度控制器32以电性连接该温度晶片30用于控制该温度晶片30，以达到所需要的温控条件。其中在进行光棒80的光学特性量测时，该温度控制器32可以驱动该温度晶片30加热该光棒载台20，使得整个测试环境提升至特定温度。一喷气清净机50，位于该上方量测空间12的侧面，可以提供清洁的空气，以清除该光棒载台20上的水气。一电源供应器60，该电源供应器60位于该下方机件区14，该电源供应器60将外接电源经处理后提供电力给该量测机台10上的各装置及各光棒80。其中该电源供应器60提供给该光棒80的电力模式,配合量测可设定一般模式及脉冲模式，该一般模式是指设定固定电流的条件，量测光棒80的参数；该脉冲模式是指设定固定的电流条件，设定该电源供应器60供电时间，以量测光棒80发光时的瞬间参数。一显示器70，该显示器70内包含一处理器外接于该量测机台10，该显示器70用以连结该量测机台10上各电子装置(包括各测试元件，如光学量测仪器18)并将接受的资讯经由处理器处理过后显示该量测机台10上各电子装置的信息，如该光学量测仪器18的位置。在本实用新型中，其目的在于改良现有技术的光棒80的光学特性量测方式，应用一具有三轴移动的三维空间调整座16夹持一光学量测仪器18，使得在量测时的移动范围相较于现有技术可提升许多，且待测的光棒80也可以视光棒80尺寸及光棒载台20尺寸而同时测量多只光棒80。且本实用新型提出加装扩散板40的方式，以测量扩散板40的各区域受光棒80照射时的均光性，减少对于量测运作时的震动而造成LED晶粒量测的误差，亦可降低检测的时间。且与现有技术需各LED晶粒各别量测方式有所不同，相较于现有技术而言有明显的进步性。惟以上所述者，仅为本实用新型的较佳实施例而已，当不能以此限定本实用新型实施范围；故，凡依本实用新型申请专利范围及创作说明书内容所作的简单的等效变化与修饰，皆应仍属本实用新型专利涵盖之范围内。
权利要求1.一种LED光棒量测机具,其特征在于,包含 一个量测机台，包含上方量测空间及下方机件区，该上方量测空间的底面配置至少一个光棒载台，该光棒载台上主要是由四个脚架所支撑的测量平台，该测量平台上具有一个用以配置多个光棒的测量平面；以及 一个三维空间调整座，位于该光棒载台的上方，用以夹持一个光学量测仪器，并使该光学量测仪器对位该光棒载台的测量平面上任一位置及在与该光棒载台的测量平面的垂直方向进行闻低调整； 其中，该光学量测仪器用于量测各光棒的发光强度及频谱。
2.如权利要求I所述的LED光棒量测机具,其特征在于该光棒载台尚包含一个温度晶片，该温度晶片位于该光棒载台的下方，以对该光棒载台加热而达到量测时所需要的环境温度条件。
3.如权利要求2所述的LED光棒量测机具，其特征在于该温度晶片位于该测量平台的下方正中央。
4.如权利要求I所述的LED光棒量测机具，其特征在于该光学量测仪器为辉度计。
5.如权利要求2所述的LED光棒量测机具,其特征在于尚包含一个温度控制器，位于该下方机件区，该温度控制器以电性连接该温度晶片用于控制该温度晶片，以达到所需要的温控条件。
6.如权利要求I所述的LED光棒量测机具,其特征在于尚包含一个喷气清净机，位于该上方量测空间的侧面，用于提供清洁的空气去清除该测量平台上的水气。
7.如权利要求I所述的LED光棒量测机具，其特征在于尚包含一个电源供应器，该电源供应器位于该下方机件区，该电源供应器将外接电源经处理后提供电力予该量测机台上各装置及各光棒使用。
8.如权利要求I所述的LED光棒量测机具，其特征在于尚包含一个显示器，该显示器内包含处理器外接于该量测机台，该显示器用以连结该量测机台上各装置并将接受的资讯经由处理器处理过后显示该量测机台上各装置的信息。
9.如权利要求7所述的LED光棒量测机具，其特征在于该电源供应器为能提供给该光棒一般模式及脉冲模式两种电力模式的电源供应器；其中，该一般模式是指设定固定电流的条件，以量测光棒的参数；该脉冲模式是指设定固定的电流条件，设定该电源供应器供电时间，以量测光棒发光时的瞬间参数。
10.如权利要求I所述的LED光棒量测机具,其特征在于尚包含一个扩散板，该扩散板位于该光学量测仪器及该光棒载台之间，通过该扩散板具有将光棒入射的光源散射出的均光特性，使得该光学量测仪器得以直接量测该扩散板的特定位置，以判断光棒的均光程度。
专利摘要一种LED光棒量测机具，包含一个量测机台，包含一上方量测空间及一下方机件区，该上方量测空间的底面配置至少一光棒载台，该光棒载台上主要是由四个脚架所支撑的测量平台，该测量平台上具有一测量平面用以配置多个光棒;以及一个三维空间调整座，位于该光棒载台的上方用以夹持一光学量测仪器，该三维空间调整座可令该光学量测仪器对位该光棒载台的测量平面上任一位置，且该三维空间调整座可以在与该光棒载台的测量平面的垂直方向进行高低调整以达到所需要的高度;其中，该光学量测仪器用于量测各光棒的发光强度及频谱等光学特性。因此本实用新型是具有多轴向移动、可同时量测多数量光棒的光棒量测机具。
文档编号G01J1/00GK202793746SQ201220453620
公开日2013年3月13日 申请日期2012年9月7日 优先权日2012年9月7日
发明者余章凯 申请人:光达检测科技有限公司
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
