专利名称：电路板测试治具的制作方法
技术领域：
本实用新型关于一种电路板测试治具，尤指可增加各接触单元的体积，而达到增 加结构强度以及延长使用寿命的功效的电路板测试治具。
背景技术：
公知的电路板测试治具结构(如图1、2及图3所示)，其主要包括一底座6、一万 用密度板�？�7、一针板8及接触单元9所构成；该底座6上设有多个可供插接各测试仪器 插头的测试插槽62，各测试插槽62连接有导线61，而该针板8则依待测电路板5的电路上 待测试的点而设有多个贯穿顶、底二侧的探针81 ；该万用密度板�？�7则包括有第一密度 板71、第二密度板72、第三密度板73及束套薄膜74，其中该束套薄膜74设于第二密度板72 及第三密度板73之间，且该第一、二及第三密度板71、72、73上设有多数相连通的孔洞711、 721、731，且于各第二及第三密度板72、73的孔洞721、731内分别容纳有接触单元9，而各接 触单元9具有一套筒91、一设于套筒91内的弹簧92，而该弹簧92与探针81之间设有一顶 针93，并使各导线61分别连接于各套筒91底部，而各套筒91刺穿该束套薄膜74后使其颈 部由束套薄膜74加以限位；如此，可使该待测电路板5经由探针81、弹簧92、导线61及测 试插槽62而与外部的测试仪器形成电连接。但是由于各接触单元9于设置时，以其套筒91的颈部由束套薄膜74加以限位，而 使得各接触单元9因受到束套薄膜74的限制而无法增其的体积，导致各接触单元9的体积 较为细�。斐烧宓慕峁骨慷冉先踅跋炱涫褂檬倜Ｒ虼耍绾未醋鞒鲆恢值缏钒宀馐灾尉撸允蛊浯锏娇稍黾痈鹘哟サピ奶寤⒔� 构强度以及延长使用寿命的功效，将是本实用新型所欲积极揭露之处。
发明内容有鉴于上述公知电路板测试治具的缺憾，实用新型人有感其未臻于完善，遂竭其 心智悉心研究克服，凭其从事该项产业多年的累积经验，进而研发出一种电路板测试治具， 以期达到可增加各接触单元的体积、结构强度以及延长使用寿命的目的。本实用新型的主要目的在提供一种电路板测试治具，其借着让各接触单元设于第 二密度板中，且使各顶针由束套薄膜加以限位，致使可增加各接触单元的体积，进而达到增 加结构强度以及延长使用寿命的目的。为达上述目的，本实用新型的电路板测试治具包含一底座；一设于底座一侧的 密度板�？椋浒邢嗷ゲ愕牡谝幻芏劝�、第二密度板及第三密度板；一设于第二及第 三密度板间的束套薄膜；以及一设于密度板�？樯系恼氚迥？椋浒幸簧栌诘谌芏� 板上的板体、分别设于第二密度板中的接触单元、分别连接各接触单元底面且延伸出第一 密度板的导线、分别活动设于各接触单元顶端且由束套薄膜加以限位的顶针、及分别与各 顶针抵接且设于板体上的探针。于本实用新型的一实施例中，该底座上设有多数插槽，而各插槽分别与导线连接。[0009]于本实用新型的一实施例中，该第一密度板、第二及第三密度板上设有多数相对 应的通孔，而各接触单元分别设于第二密度板的各通孔中，各导线分延伸出别第一密度板 的各通孔，各顶针分别设于第三密度板的各通孔中且由束套薄膜加以限位。于本实用新型的一实施例中，该各接触单元42底端与导线43连接，且顶端与顶针 44相互顶掣。藉此，本实用新型的一种电路板测试治具，可让各接触单元设于第二密度板中，且 使各顶针由束套薄膜加以限位，如此便可增加各接触单元的体积，而达到增加结构强度以 及延长使用寿命的功效。
[0012]图1为公知的电路板测试治具的分解图。[0013]图2为公知的电路板测试治具的剖视图。[0014]图3为图2的A部分的局部放大图。[0015]图4为本实用新型较佳具体实施例的分解图。[0016]图5为本实用新型较佳具体实施例的立体图。[0017]图6为本实用新型较佳具体实施例的剖面图。[0018]图7为本实用新型图6的B部分的局部放大图。[0019]主要组件符号说明[0020]底座6[0021]导线61[0022]测试插槽62[0023]万用密度板�？�7[0024]第一密度板71[0025]孔洞 711、721、731[0026]第二密度板72[0027]第三密度板73[0028]束套薄膜74[0029]针板8[0030]探针81[0031]接触单元9[0032]套筒91[0033]弹簧92[0034]顶针93[0035]底座1[0036]插槽11[0037]密度板�？�2[0038]第一密度板21[0039]通孔 211、221、231[0040]第二密度板22[0041]第三密度板23束套薄膜3针板�？�4板体 41接触单元42导线43顶针44探针45待测电路板具体实施方式
为充分了解本实用新型的目的、特征及功效，兹藉由下述具体的实施例，并配合所 附的图式，对本实用新型做一详细说明，说明如后请参阅『图4、5、6及图7』，分别为本实用新型较佳具体实施例的分解图、本实用新 型较佳具体实施例的立体图、本实用新型较佳具体实施例的剖面图及本实用新型图6的B 部分的局部放大图。如图所示本实用新型的电路板测试，包含有一底座1、一密度板�？� 2、一束套薄膜3以及一针板�？�4所构成。上述所提的底座1上设有多数插槽11。该密度板�？�2设于底座1 一侧，其包含有相互层迭的第一密度板21、第二密度板 22及第三密度板23，该第一密度板21、第二及第三密度板22、23上分别设有多数相对应的 通孔 211、221、231。该束套薄膜3设于第二及第三密度板22、23之间。该针板�？�4设于密度板�？�2上，其包含有一设于第三密度板23上的板体41、 分别设于第二密度板22中的接触单元42、分别连接各接触单元42底面且延伸出第一密度 板21并与各插槽11连接的导线43、分别活动设于各接触单元42顶端且由束套薄膜3加以 限位的顶针44、及分别与各顶针44抵接且设于板体41上的探针45，其中各接触单元42分 别设于第二密度板22的各通孔221中，各导线43分延伸出别第一密度板21的各通孔211， 各顶针44分别设于第三密度板23的各通孔231中且由束套薄膜3加以限位，且各接触单 元42底端与导线43连接，且顶端与顶针44相互顶掣。当本实用新型于运用时，可将该待测电路板5则可固定于针板模块4的板体41 上，使待测电路板5上的待测试点与各探针45接触，并使信号配合各顶针44经由各接触单 元42的导线43传输至插槽11所连接的测试仪器上(图未示)形成一测试回路；而由于 本实用新型的各接触单元42设于第二密度板22中，且各顶针44穿刺束套薄膜3后加以限 位，因此，可使各接触单元42不受束套薄膜3的限制，进而增加各接触单元42的体积，达到 增加各接触单元42的结构强度以及延长其使用寿命的效果。如上所述，本实用新型完全符合专利三要件新颖性、创造性和产业上的实用性。 以新颖性和创造性而言，本实用新型借着让各接触单元设于第二密度板中，且使各顶针由 束套薄膜加以限位，致使可增加各接触单元的体积，进而达到增加结构强度以及延长使用 寿命的效用；就产业上的实用性而言，利用本实用新型所衍生的产品，当可充分满足目前市
5场的需求。 本实用新型在上文中已以较佳实施例揭露，然本领域技术人员应理解的是，该实 施例仅用于描绘本实用新型，而不应解读为限制本实用新型的范围。应注意的是，举凡与该 实施例等效的变化与置换，均应设为涵盖于本实用新型的范畴内。因此，本实用新型的保护 范围当以权利要求书所界定者为准。
权利要求一种电路板测试治具，其特征在于包含有一底座；一密度板�？椋栌诘鬃徊啵浒邢嗷ゲ愕牡谝幻芏劝�、第二密度板及第三密度板；一束套薄膜，设于第二及第三密度板之间；以及一针板�？椋栌诿芏劝迥？樯希浒幸簧栌诘谌芏劝迳系陌逄�、分别设于第二密度板中的接触单元、分别连接各接触单元底面且延伸出第一密度板的导线、分别活动设于各接触单元顶端且由束套薄膜加以限位的顶针、及分别与各顶针抵接且设于板体上的探针。
2.如权利要求1所述的电路板测试治具，其特征在于，该底座上设有多数插槽，而各插 槽分别与导线连接。
3.如权利要求1所述的电路板测试治具，其特征在于，该第一密度板、第二及第三密度 板上设有多数相对应的通孔，而各接触单元分别设于第二密度板的各通孔中，各导线分别 延伸出第一密度板的各通孔，各顶针分别设于第三密度板的各通孔中且由束套薄膜加以限 位。
4.如权利要求1所述的电路板测试治具，其特征在于，各接触单元底端与导线连接，且 顶端与顶针相互顶掣。
专利摘要本实用新型提供一种电路板测试治具，其包含一底座；一设于底座的密度板�？椋浒邢嗷ゲ愕牡谝幻芏劝�、第二及第三密度板；一设于第二及第三密度板间的束套薄膜；以及一设于密度板�？樯系恼氚迥？椋浒幸簧栌诘谌芏劝迳系陌逄�、分别设于第二密度板中的接触单元、分别连接各接触单元底面且延伸出第一密度板的导线、分别活动设于各接触单元顶端且由束套薄膜加以限位的顶针、及分别与各顶针抵接且设于板体上的探针。藉此，本实用新型的电路板测试治具，可让各接触单元设于第二密度板中，且使各顶针由束套薄膜加以限位，如此便可增加各接触单元的体积，而达到增加结构强度以及延长使用寿命的功效。
文档编号G01R1/02GK201725013SQ201020269640
公开日2011年1月26日 申请日期2010年7月21日 优先权日2010年7月21日
发明者陈俞洁 申请人:陈俞洁
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