亚星游戏官网-www.yaxin868.com

专利名称：一种印制线路板微电阻库方阻值的测试方法
技术领域：
本发明涉及印制线路板微电阻库方阻值的测试方法的改进。
背景技术：
印制板在加工制造过程中组，为保证成品板的电性能，在交付客户使用前，需要对板边库方进行微电阻测试，用以检验生产板基铜、镀铜、激光孔、通孔以及线条状况。在微电阻测试时，测试装置的使用必不可少。现在我们公司使用的微电阻测试装置是从专业制造厂商采购而来，采购成本相对较高，使用过程中容易损坏，不便于维修。而且在测试过程中要使用双手测试，不便于记录数据，因而降低了生产效率。

发明内容
本发明针对以上问题的提出，而研制一种印制线路板微电阻库方阻值的测试方法。所述的方法可以准确的测试库方的阻值，精度达到±0. ΙπιΩ，既能满足了客户要求，又节约了生产成本，而且所述的测试装置可以使用单手测试，方便操作，提高了加工效率。本发明采用的技术手段如下一种印制线路板微电阻库方阻值的测试方法，其特征在于包括如下步骤I)印制线路板按照设计的工艺流程加工至铣外形前；2)阻值测试库方铣加工a、在印制线路板的板边非有效图形区域，设有微电阻测试的测试库方，包括通孔测试库方和激光孔测试库方；b、对印制线路板进行铣加工作业，包括对阻值测试库方的铣加工；C、铣外形作业完成后，阻值测试库方作为一个独立的部件从印制线路板上分离下来；3)微电阻测试一手持待测阻值测试库方，一手持微电阻测试装置，将微电阻测试装置的弹簧测试针的针尖对准待测的阻值测试库方上，垂直方向下压直到微电阻测试仪显示值稳定后开始读数，并记录阻值测试数据。所述微电阻测试装置包括测试探头、导线及微电阻测试仪专用插头；所述测试探头由外壳、印制板、双刀双掷开关、弹簧测试针针套及弹簧测试针组成；所述印制板前端焊接有6支弹簧测试针针套，每支弹簧测试针针套内插入一支弹簧测试针，所述弹簧测试针分成左组、中组和右组三组，每组两支弹簧测试针，每组两支弹簧测试针的中心距为
I.3mm ;所述双刀双掷开关为桥型开关，焊接在印制板的导线焊接盘上；所述微电阻测试仪专用插头通过导线连接在印制板后端的导线焊接盘上；所述左组和中组两组弹簧测试针的间距同激光孔测试库方的间距相同，所述左组和右组两组弹簧测试针的间距同通孔测试库方的间距相同；所述微电阻测试装置的电连接关系如下双刀双掷开关掷于一端A时左组和中组两组弹簧测试针同微电阻测试仪实现电联接；双刀双掷开关掷于另一端B时左组和右组两组弹簧测试针同微电阻测试仪实现电联接。
同现有技术相比，本发明的优点是显而易见的具体如下I、外壳使用塑料材质制作，上下外壳之间用螺丝固定，结构紧固，便于拆卸清理和维修，经济环保。2、微电阻测试装置可以单手手持分别对通孔微电阻和激光孔微电阻进行阻值测试，提高测试效率。3、微电阻测试精度高达±0. ΙπιΩ，既能满足了客户要求，又节约了生产成本。


图I是本发明微电阻测试装置整体结构示意图；图2是本发明微电阻测试装置内部结构示意图； 图3是本发明微电阻测试装置印制板结构示意图；图4是本发明线路板结构示意图；图5是本发明激光孔微电阻测试过程示意图；图6是本发明通孔微电阻测试过程示意图。图中，I为外壳,Ia为上外壳,Ib为下外壳,Ic为固定螺丝孔,2为印制板,2a为定位孔，2b为导线焊接盘，3为双刀双掷开关，4为弹簧测试针针套，5为弹簧测试针，6为导线，7为微电阻测试仪专用插头，8为微电阻测试仪，9为线路板，9a为激光孔测试库方，9b为通孔测试库方。
具体实施例方式如图I至图6所示的一种印制线路板微电阻库方阻值的测试方法，其特征在于包括如下步骤I)印制线路板按照设计的工艺流程加工至铣外形前；2)阻值测试库方铣加工a、在印制线路板的板边非有效图形区域，设有微电阻测试的测试库方，包括通孔测试库方和激光孔测试库方；b、对印制线路板进行铣加工作业，包括对阻值测试库方的铣加工；C、铣外形作业完成后，阻值测试库方作为一个独立的部件从印制线路板上分离下来；3)微电阻测试一手持待测阻值测试库方，一手持微电阻测试装置，将微电阻测试装置的弹簧测试针的针尖对准待测的阻值测试库方上，垂直方向下压直到微电阻测试仪显示值稳定后开始读数，并记录阻值测试数据。所述微电阻测试装置包括测试探头、导线及微电阻测试仪专用插头；所述测试探头由外壳、印制板、双刀双掷开关、弹簧测试针针套及弹簧测试针组成；所述印制板前端焊接有6支弹簧测试针针套，每支弹簧测试针针套内插入一支弹簧测试针，所述弹簧测试针分成左组、中组和右组三组，每组两支弹簧测试针，每组两支弹簧测试针的中心距为
I.3mm ;所述双刀双掷开关为桥型开关，焊接在印制板的导线焊接盘上；所述微电阻测试仪专用插头通过导线连接在印制板后端的导线焊接盘上；所述左组和中组两组弹簧测试针的间距同激光孔测试库方的间距相同，所述左组和右组两组弹簧测试针的间距同通孔测试库方的间距相同；所述微电阻测试装置的电连接关系如下双刀双掷开关掷于一端A时左组和中组两组弹簧测试针同微电阻测试仪实现电联接；双刀双掷开关掷于另一端B时左组和右组两组弹簧测试针同微电阻测试仪实现电联接。具体实例如下图I是本发明微电阻测试装置整体结构示意图，图中所述的微电阻测试装置由测试探头、导线及微电阻测试仪专用插头组成，其中组测试探头由外壳I、印制板2、双刀双掷开关3、弹簧测试针针套4及弹簧测试针5组成；外壳I由上外壳Ia和下外壳Ib两部分组成，均使用塑料材质制作，具有良好的绝缘性；印制板2是由厚度为1.6mm的高Tg覆铜板板材制作而成，线条宽度为O. 5mm，镀铜厚度为10Z，具有良好的导电性、刚性及稳定性。印制板2作为一个载体,被四个M2的固定螺丝Ic通过定位孔2a固定于外壳I之内，导线6、双刀双掷开关3、弹簧测试针5分别焊接在印制板2相应位置上印制板2前端焊接6支内径# I. 05mm弹簧测试针针套4 ;每支弹簧测试针针套4内插入一支外径纟I. Omm弹簧测试针5，弹簧测试针5分为左组、中组和右组三组，每组间距取决于微电阻测试库方焊盘的设计间距，每组两支，两支针中心距为I. 3mm ;双刀双掷开关3为桥型开关，与外壳I紧密结合，开关固定于上外壳之外，其6只脚焊接在印制板2的导线焊接盘2b上，当双刀双掷开关3掷于一端A时，使用左组、中组两组弹簧测试针5测试激光孔测试库方9a阻值；当 双刀双掷开关掷于另一端B时，使用左组、右组两组弹簧测试针5测试通孔测试库方9b阻值；导线6 —端焊接在印制板I后端的导线焊接盘2b上，导线6另一端连接微电阻测试仪8的微电阻测试仪专用插头7。测试之前将微电阻测试仪专用插头7插入相应插口，如图2、3、4所示。一手持待测阻值测试库方，一手持微电阻测试装置(本实施例为，使用者手持测试探头进行测试)，将微电阻测试装置的弹簧测试针的针尖对准待测印制线路板的测试库方上，垂直方向下压直到微电阻测试仪显示值稳定后开始读数，并记录阻值测试数据。读数完成后，手持测试探头外壳I垂直方向向上抬起。至此整个测试过程完成，如图5、6所示。以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式
，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。
权利要求
1.一种印制线路板微电阻库方阻值的测试方法，其特征在于包括如下步骤 1)印制线路板按照设计的工艺流程加工至铣外形前； 2)阻值测试库方铣加工 a、在印制线路板的板边非有效图形区域，设有微电阻测试的测试库方，包括通孔测试库方和激光孔测试库方； b、对印制线路板进行铣加工作业，包括对阻值测试库方的铣加工； C、铣外形作业完成后，阻值测试库方作为一个独立的部件从印制线路板上分离下来； 3)微电阻测试一手持待测阻值测试库方，一手持微电阻测试装置，将微电阻测试装置的弹簧测试针的针尖对准待测的阻值测试库方上，垂直方向下压直到微电阻测试仪显示值稳定后开始读数，并记录阻值测试数据。
2.根据权利要求I所述的一种印制线路板微电阻库方阻值的测试方法，其特征在于所述微电阻测试装置包括测试探头、导线及微电阻测试仪专用插头；所述测试探头由外壳、印制板、双刀双掷开关、弹簧测试针针套及弹簧测试针组成；所述印制板前端焊接有6支弹簧测试针针套，每支弹簧测试针针套内插入一支弹簧测试针，所述弹簧测试针分成左组、中组和右组三组，每组两支弹簧测试针，每组两支弹簧测试针的中心距为I. 3mm ;所述双刀双掷开关为桥型开关，焊接在印制板的导线焊接盘上；所述微电阻测试仪专用插头通过导线连接在印制板后端的导线焊接盘上；所述左组和中组两组弹簧测试针的间距同激光孔测试库方的间距相同，所述左组和右组两组弹簧测试针的间距同通孔测试库方的间距相同；所述微电阻测试装置的电连接关系如下双刀双掷开关掷于一端A时左组和中组两组弹簧测试针同微电阻测试仪实现电联接；双刀双掷开关掷于另一端B时左组和右组两组弹簧测试针同微电阻测试仪实现电联接。
全文摘要
本发明公开了一种印制线路板微电阻库方阻值的测试方法，其特征在于包括如下步骤印制线路板加工至铣外形前→阻值测试库方铣加工→微电阻测试。其中，所述的微电阻测试装置由测试探头、导线及微电阻测试仪专用插头组成，其中测试探头由外壳、印制板、双刀双掷开关、弹簧测试针针套及弹簧测试针组成；所述的微电阻测试装置的外壳使用塑料材质制作，上下外壳之间用螺丝固定，结构紧固，便于拆卸清理和维修，经济环保；所述的微电阻测试装置可以单手手持分别对通孔微电阻和激光孔微电阻进行阻值测试，提高测试效率。
文档编号G01R27/02GK102967762SQ201210457180
公开日2013年3月13日 申请日期2012年11月14日 优先权日2012年11月14日
发明者王泽东, 赵占波, 马庭峰 申请人:大连太平洋电子有限公司