专利名称：一种薄膜电阻测试夹具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及电阻元件的测试夹具，尤其涉及用于薄膜电阻元件的测试夹具。
背景技术：
现有的薄膜电阻测试是采用金属夹子或测试笔，用夹子的夹力来夹住待侧元件进 行测试，或者手持测试笔直接测试待侧元件。使用夹子进行测试时，由于夹子的力度大，容 易破坏薄膜电阻元件的表面，影响测试出来的电阻结果的真实性。比如常见的鳄鱼钳式测 试夹，直接夹在待测元件上测试，由于鳄鱼钳式夹子的力度过大且夹子与元件的接触面是 齿状的，鳄鱼钳式夹子在测试时也没有固定，在测试时鳄鱼钳式夹子会有一定的移动，很容 易把薄膜电阻元件表面的薄膜夹破或划破，会影响到待侧元件测试结果的真实性和准确 性。还有常见的手持测试笔测试时，首先、人的手施加在每支测试笔上的力度很难掌握至同 一力度，且每次测试时的力度都不同；其次，在测试过程中测试人员的手存有抖动现象，这 样，一是元件表面薄膜层很容易被划破，二是测试的结果不稳定，影响待侧元件测试结果的 真实性、准确性及稳定性。
实用新型内容本实用新型要解决的技术问题是提供一种结构简单、可靠性高、稳定性好的薄膜 电阻测试夹具。为了实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是这样的一种薄膜电阻测试夹 具，包括底板、压板和测试触杆，所述底板上端面设有测试槽，测试槽与薄膜电阻匹配；所述 压板的下端与底板铰接，其上端设有一个平台；所述平台上对应薄膜电阻设有贯通孔，测试 触杆从贯通孔中穿过且能够上下滑动；所述测试触杆上端设有挡片，在平台和挡片之间的 测试触杆上套装有弹簧。作为优�。龅装逵镁挡牧现瞥伞Ｗ魑叛。鲅拱逵镁挡牧现瞥�。再进一步，所述测试触杆具有圆滑的下端部，这样可以防止测试触杆将薄膜电阻 表面划破。与现有技术相比，本实用新型的优点在于本测试夹具结构简单、可靠、稳定性好， 可以提高测试薄膜电阻时的稳定性和准确性。
图1为本实用新型的结构示意图；图2为图1的A-A剖面示意图。
具体实施方式
以下结合附图及具体实施例对本实用新型作进一步的详细说明。参见图1和图2，一种薄膜电阻测试夹具，包括底板1、压板2和测试触杆5，所述底板1上端面设有测试槽3，测试槽3与薄膜电阻匹配；所述压板2的下端与底板1铰接，其 上端设有一个平台；所述平台上对应薄膜电阻设有贯通孔4，测试触杆5从贯通孔中穿过且 能够上下滑动；所述测试触杆5上端设有挡片7，在平台和挡片7之间的测试触杆5上套装 有弹簧6，所述底板1和压板2用绝缘材料制成，所述测试触杆5具有圆滑的下端部。 使用中，将需测试的薄膜电阻置于底板1的测试槽3中，再将压板2压好，用测试 仪表的测试笔直接触压压板2上的挡片7，即可对薄膜电阻进行测试。由于测试槽3的作 用，被测量的薄膜电阻在测试时不会乱移动或摆动；另外，由于测试触杆5具有圆滑的下端 部及弹簧6和挡片7对其的限制，测试触杆5很不容易把薄膜电阻元件表面的薄膜划破，不 会影响对元件测试结果的真实性和准确性。
权利要求一种薄膜电阻测试夹具，包括底板(1)、压板(2)和测试触杆(5)，其特征在于所述底板(1)上端面设有测试槽(3)，测试槽(3)与薄膜电阻匹配；所述压板(2)的下端与底板(1)铰接，其上端设有一个平台；所述平台上对应薄膜电阻设有贯通孔(4)，测试触杆(5)从贯通孔中穿过且能够上下滑动；所述测试触杆(5)上端设有挡片(7)，在平台和挡片(7)之间的测试触杆(5)上套装有弹簧(6)。
2.如权利要求1所述薄膜电阻测试夹具，其特征在于所述底板(1)用绝缘材料制成。
3.如权利要求1所述薄膜电阻测试夹具，其特征在于所述压板(2)用绝缘材料制成。
4.如权利要求1所述薄膜电阻测试夹具，其特征在于所述测试触杆(5)具有圆滑的 下端部。
专利摘要本实用新型公开了一种薄膜电阻测试夹具，包括底板、压板和测试触杆，所述底板上端面设有测试槽，测试槽与薄膜电阻匹配；所述压板的下端与底板铰接，其上端设有一个平台；所述平台上对应薄膜电阻设有贯通孔，测试触杆从贯通孔中穿过且能够上下滑动；所述测试触杆上端设有挡片，在平台和挡片之间的测试触杆上套装有弹簧。这种测试夹具结构简单、可靠、稳定性好，可以提高测试薄膜电阻时的稳定性和准确性。
文档编号G01R1/04GK201673178SQ20102022766
公开日2010年12月15日 申请日期2010年6月17日 优先权日2010年6月17日
发明者王世平 申请人:成都凯裕电子电器有限公司
专业数控铣床产品供应商
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