专利名称：芯片测试台摄像机的调节装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及半导体芯片测试装置，尤其涉及一种精确定位摄像机 二维空间的芯片测试台摄像机的调节装置。
技术背景众所周知半导体芯片尺寸很�。诓馐苑盅」讨校Ｖに凶爸玫木范瘸晌鱿低车墓丶�。然而采用目测定位的方式势必会产生较大的误差，所以我们采用摄像机实时采集，通过计算机辅助系统来精确校准各个部件的精度。那么如何精确地定位摄像机则成为了首当其冲的关键问题。 实用新型内容本实用新型要解决的技术问题是提供一种在半导体芯片测试中， 通过控制X、 Y 二维方向上的调节装置来精确定位摄像机的芯片测试台摄像 机的调节装置。本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是一种芯片测试 台摄像机的调节装置，由X向调节装置与Y向调节装置组成，它包括基座、X向滑座以及Y向滑座，X向滑座在基座上做X向滑动，Y向滑 座在X向滑座上做Y向滑动，Y向滑座上固定安装有Z向底座，Z向底座上安装有摄像机夹具。进一步说，X向调节装置中包括有锁紧块和丝杠螺母，丝杠螺母和 锁紧块安装在基座上，丝杠螺母上活动安装有第一丝杠，第一丝杠上 安装有旋钮、轴承和弹簧，锁紧块上安装有锁紧把手。进一步说，X向调节装置中，X向滑座和Y向滑座上分别设置有第 二丝红，X向滑座内设置有X向直线导轨，第二丝杠在X向直线导轨内做X向直线滑动。进一步说，Y向调节装置的结构与X向调节装置的结构相同。本实用新型的有益效果是该芯片测试台摄像机的调节装置通过控制X、 Y二维方向上的调节装置，实现摄像机X、 Y二维方向上的移动，调 节摄像机到合适的位置，以达到最佳效果。该调节装置适用于各种需要X、 Y二维方向上调节的场合。
以下结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。 图1是本实用新型的结构示意图。 图2是本实用新型的X向调节装置的结构示意图。 其中l、基座，2、 X向滑座，3、 Y向滑座，4、旋钮，5、锁紧 块，6、轴承，7、弹簧，8、丝杠螺母，9、第一丝杠，10、第二丝杠， 11、 Z向底座，12、摄像机夹具，13、锁紧把手，14、 X向直线导轨。
具体实施方式
如图1、图2所示的一种芯片测试台摄像机的调节装置，由X向调节 装置与Y向调节装置组成，它包括基座1、X向滑座2以及Y向滑座3， X向滑座2在基座1上做X向滑动，基座1与X向滑座2之间通过直 线导轨相连，以保证X向滑座2在X向滑动时的平行度。Y向滑座3在X 向滑座2上做Y向滑动，X向滑座2与Y向滑座3之间通过直线导轨 相连，以保证Y向滑座3在Y向滑动时的平行度。Y向滑座3上固定安 装有Z向底座ll， Z向底座11上安装有摄像机夹具12，摄像机随Z向底座11移动而移动。X向调节装置中，包括锁紧块5和丝杠螺母8，丝杠螺母8和锁紧块5安装在基座1上，丝杠螺母8上活动安装有第一丝杠9，第一 丝杠9上安装有旋钮4、轴承6和弹簧7，锁紧块5上安装有锁紧把 手13。 X向滑座2和Y向滑座3上分别设置有第二丝杠10， X向滑座 2内设置有X向直线导轨14，第二丝杠10在X向直线导轨14内做X 向直线滑动。旋钮4带动第一丝杠9转动，第一丝杠9旋转进而推动丝 杠螺母8，丝杠螺母8推动Y向滑座3沿X向直线导轨13方向移动， 从而带动Z向底座11沿X向移动。调节位置确定后，可通过安装在锁紧 块5上的锁紧把手13锁紧。弹簧7用来消除第一丝杆9反转时的间隙。Y向调节装置的结构与X向调节装置的结构相同。该芯片测试台 摄像机的调节装置通过控制X、 Y二维方向上的调节装置，实现摄像机X、 Y 二维方向上的移动，调节摄像机到合适的位置，以达到最佳效果。该调节 装置适用于各种需要X、 Y二维方向上调节的场合。
权利要求1、一种芯片测试台摄像机的调节装置，其特征在于由X向调节装置与Y向调节装置组成，它包括基座(1)、X向滑座(2)以及Y向滑座(3)，所述的X向滑座(2)在基座(1)上做X向滑动，Y向滑座(3)在X向滑座(2)上做Y向滑动，Y向滑座(3)上固定安装有Z向底座(11)，Z向底座(11)上安装有摄像机夹具(12)。
2、 根据权利要求1所述的芯片测试台摄像机的调节装置，其特 征在于所述的X向调节装置中，包括锁紧块(5)和丝杠螺母(8)， 丝杠螺母(8)和锁紧块(5)安装在基座(1)上，丝杠螺母(8)上 活动安装有第一丝杠(9)，第一丝杠(9)上安装有旋钮(4)、轴承(6)和弹簧(7)，锁紧块(5)上安装有锁紧把手(13)。
3、 根据权利要求1或2所述的芯片测试台摄像机的调节装置， 其特征在于所述的X向调节装置中，X向滑座(2)和Y向滑座(3) 上分别设置有第二丝杠(10)， X向滑座(2)内设置有X向直线导轨(14)，第二丝杠(10)在X向直线导轨(14)内做X向直线滑动。
4、 根据权利要求1或2所述的芯片测试台摄像机的调节装置， 其特征在于所述的X向调节装置的结构与Y向调节装置的结构相同。
5、 根据权利要求3所述的芯片测试台摄像机的调节装置，其特 征在于所述的X向调节装置的结构与Y向调节装置的结构相同。
专利摘要本实用新型涉及半导体芯片测试装置，尤其涉及一种精确定位摄像机二维空间的芯片测试台摄像机的调节装置，它由X向调节装置与Y向调节装置组成，包括基座、X向滑座以及Y向滑座，X向滑座在基座上做X向滑动，Y向滑座在X向滑座上做Y向滑动，Y向滑座上固定安装有Z向底座，Z向底座上安装有摄像机夹具。该芯片测试台摄像机的调节装置通过控制X、Y二维方向上的调节装置，实现摄像机X、Y二维方向上的移动，调节摄像机到合适的位置，以达到最佳效果。
文档编号G01R31/00GK201364366SQ20092003543
公开日2009年12月16日 申请日期2009年3月23日 优先权日2009年3月23日
发明者唐国强, 沈国平, 琳 王, 云 陈, 顾方成 申请人:常州新区爱立德电子有限公司
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
