专利名称：触控面板测试设备的制作方法
技术领域：
本发明是关于一种测试设备，特别是关于一种触控面板测试设备，可测试触控面板、具备触控面板的显示器及具备触控面板的各式电子产品。
背景技术：
触控面板为一贴附在液晶显示器或其它显示器上的装置，一般常见有电阻式、电容式触控面板，并普及于各种尺寸的面板。触控面板从面板感应信号开始，将讯息传递至控制器(Control IC)搜集处理后，最终交由后端连结的驱动软硬件(Driver)来完成一系列的指令动作。近年，触控技术已朝多点触控发展，控制器需可辨认多于一点同时触碰的坐标。相对地，在测试触控面板或具备触控面板的电子产品时，除了单点触控测试外，新增了多点触控测试的需求。早期的触控面板测试，是以人工用手触摸的方式进行测试，但近年触控面板的市场需求大增后，人工测试方式遂渐渐被淘汰，而改采用触控面板测试机。目前，现有触控面板测试机大多是由1个点压测试机连接计算机主机所构成。其工作原理是借助笔压调整控制卡作为计算机主机与点压测试机台的界面，以控制机台上测试笔的位移及所读取的测试值与预设的标准值进行比对，判断被测触控面板是否为良品。为了提高此种测试方式的速度，近来有业者开发多测试头(测试笔)的测试机台， 例如中国台湾新型专利iC69505揭露一种三测头双台面可定位的触控面板测试机，同时测试三个触控面板，以提高测试产能。此外，甚至再设置一相邻的3测试头的测试机，以两平行机台作为待测触控面板上机(load)与下机(unload)的支持，达到不停机的持续测试状态，以提高测试效率。但是，上述触控面板测试机仍只局限于传统单点电阻或其它原理技术的单点触控面板的测试，无法因应未来技术应用主流的多点触控面板(两个以上的实际触摸点，即触控面板可检测得2点或2点以上的坐标)。多点触控面板的功能(functionality)除与触控面板本体(玻璃或塑料或两者的组合)的特性有关外，触控面板所使用的控制芯片(IC)及加载固件的搭配性与兼容性更是重要的因素。因此，开发出可针对一触控面板进行单点或同时多点测试，或者对多片触控面板同时进行单点或同时多点测试的触控面板测试机，是产业界亟欲发展的重点。
发明内容
鉴于上述的发明背景，为了符合产业上的要求，本发明提供一种测试设备。本发明的目的之一是提供一种测试设备，可切换测试电阻式及电容式两种触控面板。本发明的目的之一是提供一种测试设备，可提高测试效率。本发明的目的之一是提供一种测试设备，可针对一触控面板进行单点或同时多点测试，或者对多片触控面板同时进行单点或同时多点测试。本发明的目的之一是提供一种测试设备，可测试触控面板、具备触控面板的显示器及具备触控面板的各式电子产品。根据本发明一方面提供一种测试设备，用以测试至少一触控面板的功能。该测试设备包含一检测�？�、一控制�？榧耙蝗嘶缑婺？�。该检测�？橛靡约觳饫醋灾辽僖淮馕锏男藕徘� 产生一检测数据，该检测�？榫哂幸欢嘀峄辜爸辽僖恍骨野喔黾觳獾ピ耙恍藕糯砥鳎渲懈骷觳獾ピ喔龈胁馔罚眯股柚糜诙嘀峄股锨腋眉觳獾ピ柚糜诟眯股�。该控制�？椋敫眉觳饽？轳罱樱靡钥刂聘眉觳饽？�、接收该检测数据及处理该检测数据。该控制�？榘豢刂频ピ�、一数据存取单元及一数据分析单元。该控制单元根据一组控制参数，控制该多个检测单元的位置，该数据存取单元接收且储存该检测数据且提供该检测数据予该数据分析单元。该人机界面�？椋敫每刂颇？轳罱樱唤邮战缑�、一处理器、一输入界面及至少一显示器。该接收界面是用以接收该数据分析单元输出的信号。该处理器用以处理该接收界面输出的信号后产生一输出数据且显示于该显示器上。该输入界面是用以接收来自一使用者的输入后提供该控制参数予该控制�？椋员阋谰莞檬褂谜叩氖淙虢懈么タ孛姘宓牟馐浴Ｔ诒痉⒚鞯氖凳├校檬涑鍪菘裳∽韵铝凶迦旱囊徽呋蚱渥楹暇蔡� 争· (static sensor resolution)、_ 贞(line accuracy) > jS ^ B^ fi] (responsetime)、抖动(jitter)、手势(gesture)、可检测最高距离(proximity)及信号噪声比(SNR)。在本发明实施例中，该人机界面�？榭晌患扑慊�。在本发明实施例中，该多轴机构可为具备x、y及ζ轴的三轴机构，χ及y轴的位移速度范围为Omm/sec 300mm/seco在本发明实施例中，该多个感测头可沿χ或y轴设置排成一列，借助该旋转机构可使该多个感测头沿y或χ轴排列，以便对触控面板进行χ及y轴二轴的多点测试。另外，可借助该旋转机构的旋转，对触控面板进行二对角线的多点测试。此外，该旋转机构可任意调整该多个感测头排列的方向。在本发明实施例中，该待测物的对角线尺寸可为2. 2时 60时。本发明的有益技术效果是本发明的测试设备，因具备多个感测头配合多轴及旋转机构，借助适当地控制�？榈目刂疲捎行У靥岣卟馐孕剩铱烧攵砸淮タ孛姘褰械サ慊蛲倍嗟悴馐裕蛘叨远嗥タ孛姘逋苯械サ慊蛲倍嗟悴馐裕⒖刹馐源タ孛姘濉⒕弑复タ孛姘宓南允酒骷熬弑复タ孛姘宓母魇降缱硬�。
图1显示根据本发明的一实施例的测试设备的示意图。图2A显示根据本发明的一实施例的检测�？榈母┦邮疽馔�。图2B显示图2A中该检测模块的侧视示意图。图3显示根据本发明的一实施例的感测头与待测物的位置关是。图4显示根据本发明的一实施例的感测头与待测物的位置关系。图5A显示根据本发明的另一实施例的测试设备的示意图。
图5B显示图5A中该检测�？榈牟嗍邮疽馔�。图6显示根据本发明的一实施例的感测头与待测物的位置关系。
具体实施例方式
以下，详细说明本发明的实施态样。本发明的一实施例揭露一测试设备100。图1显示根据本发明的一实施例的测试设备100的示意图。该测试设备100包含一检测�？�200、一控制�？�300及一人机界面模块 400。图2A显示根据本发明的一实施例的检测�？�200的俯视示意图，图2B显示图2A 中该检测�？�200的侧视示意图。该检测�？�200具有xyz三轴机构210及一旋转机构 211，该旋转机构211设置于三轴机构210上。该检测�？�200包含1个检测单元220及一信号处理器230。该检测单元220设置于该旋转机构211上且包含3个感测头221，例如该感测头221可为模拟手指。该感测头221检测来自一待测物10 (例如电容式触控面板)的信号且产生一检测数据。于一实施例中，该感测头221为接触该待测物10的感测头，而于另一实施例中，该感测头221可为不接触该待测物10的电阻式感测头。于另一实施例中， 该感测头221为不接触该待测物10的电容式感测头，亦即该测试设备100可对电容式触控面板进行非接触式多点测试。参照图1，该控制模块300，与该检测模块200耦接，用以控制该检测�？�、接收该检测数据及处理该检测数据。该控制�？�300包含一控制单元310、一数据存取单元320及一数据分析单元330。该控制单元根据一组控制参数CP，控制该检测单元220的位置(例如xyz坐标及旋转角度)，该数据存取单元320接收且储存该检测数据且提供该检测数据予该数据分析单元330。该检测�？�300可为控制板，可对待测物10进行单点或同时多点测试。于一实施例中，该控制�？�300为可拆换式的控制器，用以选择测试电阻式触控面板或电容式触控面板。参照图1，该人机界面�？�400，与该控制�？�300耦接。该人机界面�？�400包含一接收界面410、一处理器420、一输入界面430及一显示器440。该接收界面410接收该数据分析单元330输出的信号后传递给该处理器420。该处理器420处理该接收界面410 输出的信号后产生一输出数据OD且显示于该显示器440上。该输入界面430用以接收来自一使用者的输入后提供控制参数CP予该控制�？�300，以便依据该使用者的输入进行该触控面板的测试。例如该人机界面�？�400可为计算机，该处理器420可为中央处理器，该接收界面410可为设置于计算机插槽中的适配卡，该输入界面430可为键盘或鼠标，该显示器440可为液晶显示器或其它显示器。该输出数据OD可选自下列族群的一者或其任意组合静态感应器分辨率(static sensor resolution)、线精准度(line accuracy)、应答时间(response time)、抖动 (jitter)、手势(gesture)、可检测最高距离(proximity)及信号噪声比(SNR)。图3图表示感测头221与待测物10的位置关系，其中感测头221与待测物10的距离为d，感测头的直径为W。如图3所示，感测头221可在χ及y方向上自由移动，d大于0时，进行非接触式测试，d等于0或小于0时，进行接触式测试，此时可测试的数据包含有线精准度、应答时间、抖动、可检测最高距离及信号噪声比。此外，图4表示感测头221与待测物10的位置关系，其中感测头221与待测物10的距离为d，感测头的直径为W。如图4所示，感测头221沿 (a)、(b)、(c)、(d)、(e)、(f)行程循环持续进行测试，(a)、(b)、(d)、(e)可为d等于0时进行测试，此时可测试的数据包含有线性度、应答时间及可检测最高距离。上述该三轴机构210，其χ及y轴的位移速度范围为Omm/sec 300mm/sec。各轴位移的解析能力为0. 001mm，重复精度为士0. 01mm。根据本发明，该旋转机构可旋转检测单元，使多个感测头沿任意角度排列。于一实施例中，该3个感测头沿χ轴设置排成一列，借助该旋转机构可使该3个感测头沿y轴排列，如此可对触控面板进行χ及y轴二轴 同时多点测试(例如2点测试)。此外，该3个感测头可沿y轴设置排成一列，借助该旋转机构可使该3个感测头沿χ轴排列，如此可对触控面板进行χ及y轴二轴的同时多点测试。另外，借助该旋转机构可使该3个感测头沿对角线进行同时多点测试。本发明的另一实施例揭露一测试设备101。图5A显示根据本发明的另一实施例的测试设备101的示意图，图5B显示图5A中该检测�？�201的侧视示意图。该测试设备 101包含一检测�？�201、一控制�？�301及一人机界面�？�401。该控制�？�301及该人机界面�？�401的构成与测试设备100的控制�？�300及该人机界面�？�400类似，在此， 其相同部分不再赘述。该检测模块201具有xyz三轴机构210’及旋转机构211’及211” 且包含2个检测单元220’、220”及一信号处理器230’。各检测单元220’、220”分别设置于该旋转机构211，及211”上且包含3个感测头221，及221”。该控制�？�301根据控制参数CP分别控制该检测单元220’、220”，对待测物11及12同时进行测试。说明至此，熟悉本领域的技术者应能理解检测模块的构成，检测单元与旋转机构及三轴机构的运作方式与原理，在此不再赘述。例如检测�？榭删哂�3、4或6个测试单元，可同时测试3、4或6片待测物。于本实施例中，该输出数据OD可选自下列族群的一者或其任意组合静态胃 争· (static sensor resolution)、_ 贞(line accuracy) > jS ^ B^ fi] (responsetime)、抖动(jitter)、手势(gesture)、可检测最高距离(proximity)及信号噪声比(SNR)。该三轴机构210’，其χ及y轴的位移速度范围为Omm/sec 300mm/sec。各轴位移的解析能力为0. 001mm，重复精度为士0. 01mm。此外，图6显示根据本发明的一实施例的感测头221”’与待测物13的位置关系。 如图6所示，于该实施例中，检测单元220”’可包含有2个感测头221”’，使用2个感测头221”，检测待测物13，其中2个感测头221”’的直径分别为Wl及W2，Wl及W2可为相同或相异，感测头221”’与待测物13的距离为d，可测试的数据包含有静态感应器分辨率 (static sensor resolution)、线精准度(line accuracy)、应答时间(response time)、抖动(jitter)、手势(gesture)、可检测最高距离(proximity)及信号噪声比(SNR)。根据本发明的实施例，该待测物可为例如选自个人数字助理(PDA)、智能型手机 (Smart phone)、导航机(GPS)、影音播放器(MP3、MP4)、摄影机(DSC)、电子书(E-book)、笔记本计算机(NB)、工业计算机、一体成型计算机(AIO)中任一种电子产品所使用的电容式或电阻式触控面板。以上虽以特定实施例说明本发明，但并不因此限定本发明的范围，只要不脱离本发明的要旨，熟悉本技术者了解在不脱离本发明的意图及范围下可进行各种变形或变更。
权利要求
1.一种测试设备，用以测试至少一触控面板的功能，其特征在于，该测试设备包含有一检测�？椋靡约觳饫醋灾辽僖淮馕锏男藕徘也患觳馐荩眉觳饽？榫哂幸欢嘀峄辜爸辽僖恍骨野喔黾觳獾ピ耙恍藕糯砥鳎渲懈骷觳獾ピ喔龈胁馔罚眯股柚糜诟枚嘀峄股锨腋眉觳獾ピ柚糜诟眯股希灰豢刂颇？椋罱痈眉觳饽？椋靡钥刂聘眉觳饽？椤⒔邮崭眉觳馐菁按砀眉觳馐荩每刂颇？榘豢刂频ピ�、一数据存取单元及一数据分析单元，该控制单元根据一组控制参数，控制该多个检测单元的位置，该数据存取单元接收且储存该检测数据且提供该检测数据予该数据分析单元；以及一人机界面模块，耦接该控制�？椋唤邮战缑�、一处理器、一输入界面及至少一显示器，该接收界面用以接收该数据分析单元输出的信号，该处理器用以处理该接收界面输出的信号后产生一输出数据且显示于该显示器上，该输入界面用以接收来自一使用者的输入后提供该控制参数予该控制�？椋员阋谰莞檬褂谜叩氖淙虢懈么タ孛姘宓牟馐�。
2.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，该测试设备是对一触控面板进行单点测试或同时对多片触控面板进行单点测试，或者对一触控面板同时进行多点测试或同时对多片触控面板进行多点测试。
3.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，该输出数据是选自下列族群的一者或其组合静态感应器分辨率、线精准度、应答时间、抖动、手势、可检测最高距离及信号噪声比。
4.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，该多轴机构为具备χ、y及ζ轴的三轴机构，X及y轴的位移速度范围为Omm/sec 300mm/sec。
5.根据权利要求4所述的测试设备，其特征在于，该多个感测头是沿χ轴或y轴设置排成一列，借助该旋转机构可使该多个感测头沿y轴或χ轴排列，以便对触控面板进行χ及y 轴的多点测试。
6.根据权利要求4所述的测试设备，其特征在于，该多个感测头是沿χ轴设置排成一列，借助该旋转机构的旋转，对触控面板进行二对角线的多点测试。
7.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，该控制�？槲刹鸹皇降目刂破髑腋胁馔肺刹鸹皇降拇衅鳎靡匝≡癫馐缘缱枋酱タ孛姘寤虻缛菔酱タ孛姘�。
8.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，该感测头为接触该待测物的感测头或不接触该待测物的感测头。
9.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，该待测物为触控面板、液晶显示器或附有触控面板的电子制品其中之一。
10.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，该待测物的对角线尺寸可为2.2 吋 60吋。
全文摘要
本发明是一种触控面板测试设备，用以测试电容式或电阻式触控面板的功能。该测试设备可对一触控面板进行单点测试或同时对多片触控面板进行单点测试，或者对一触控面板同时进行多点测试或同时对多片触控面板进行多点测试。该测试设备包含一检测�？�、一控制�？榧耙蝗嘶缑婺？�。该检测模块包含多个检测单元及一信号处理器，其中各检测单元包含多个感测头。该测试设备除可测试触控面板外，亦可测试具备触控面板的显示器及具备触控面板的各式电子装置。
文档编号G01R31/00GK102193038SQ201010134409
公开日2011年9月21日 申请日期2010年3月5日 优先权日2010年3月5日
发明者倪瑞铭, 周聪顺, 张泽湖, 方赞铭, 杜文生, 林韦丞 申请人:启迪科技股份有限公司
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