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专利名称：量测头的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种量测头，尤其涉及一种应用于电子量测仪器中的量测头。
背景技术：
目前，市面上所使用的万用表接头的探针一般只有单一直径长，例如2mm，然而，电 路板上各测试点的尺寸不尽相同，若该探针直径明显大于欲电性接触的测试点的直径，且 各该测试点之间的间距较小时，若通过该探针进行量测时，会发生短路现象，而影响量测准确率。为解决上述问题，请参阅图1，为测试人员的应变方式，如图所示，将该接头1分为 绕线段11以及探测段10，该探测段10的量测直径d为2mm，该直径长度适用于电路板上直 径较大的测试点，且各测试点之间的间距也较大的测试。另外，对于电路板上直径较小的测 试点，且相邻各测试点之间的间距也较小的测试，则通过一导线110以其一端缠绕该绕线 段11中，另一端焊接端P则通过焊接方式焊接于该测试点上，以完成电性连接作业，从而便 于量测。当完成对该测试点的量测作业后，则清除该导线110与该测试点的焊接关系，而当 需更换另一测试点时，则重复上述焊接、测试、移除焊接等步骤。然而，对于电路板上各测试点的尺寸大小不一致，且相邻测试点之间的间距不同 的情形，尤其当直径较小且与相邻的测试点之间的间距也较小的测试点数量较多时，利用 前述应变方式进行量测作业，需不断重复焊接、测试、移除焊接等步骤，导致量测步骤繁琐， 造成浪费时间。因此，如何提出一种可避免现有技术中的种种缺点的量测头，实为目前亟欲解决 的技术问题。

实用新型内容鉴于上述现有技术的缺点，本实用新型的主要目的在于提供一种便于更换不同探 针尺寸的量测头。为达上述及其它目的，本实用新型提供一种量测头，其应用于电子量测仪器中，包 括第一探针头，其具有接合段及连接该接合段的第一探测段，且该第一探测段具有第一直 径；以及第二探针头，其具有接合孔与第二探测段，该接合孔用以套盖该第一探测段并收纳 该接合段，且该第二探测段具有第二直径。该第一探针头为杆状，该第二探针头为筒状；该接合段螺接或卡合该接合孔；该 第一探测段的第一直径小于该第二探测段的第二直径。相比于现有技术，本实用新型的量测头主要提供具有不同直径的第一与第二探针 头，且该第二探针头可套设该第一探针头，不仅可依实际需求而拆装探针头，且操作便利， 因此当需量测其直径较小且与相邻的测试点之间的间距较小的测试点时，不需焊线制造方 法即可完成量测作业，有效节省人力及时间成本。
图1显示了现有量测头的立体示意图；图2A显示了本实用新型的量测头的立体分解示意图；以及图2B显示了本实用新型的量测头的立体示意图。[组件标号的简单说明]1接头[0015]11绕线段[0016]10探测段[0017]110导线[0018]2量测头[0019]20第一探针头[0020]200接合段[0021]201第一探测段[0022]21第二探针头[0023]210接合孔[0024]211第二探测段[0025]3电子量测仪器本体[0026]d量测直径[0027]P焊接端[0028]D1第一直径[0029]D2第二直径
具体实施方式
以下通过特定的具体实例说明本实用新型的实施方式，本领域技术人员可由本说 明书所揭示的内容轻易地了解本实用新型的其它优点与功效。请参阅图2A至2B，显示了本实用新型的量测头的立体示意图。所述的量测头2应 用于一电子量测仪器中，例如万用表量测仪器中，通过该量测头2电性接触电路板上的测 试点以进行相应量测作业，从而可采集该测试点的相关电性数据。如图2A所示，该量测头2包括第一探针头20以及第二探针头21，以下即对本实施 例的量测头2的上述各组件进行详细说明。该第一探针头20具有接合段200及连接该接合段200的第一探测段201，该接合 段200的一端连接该电子量测仪器本体3，以利于将该探测段所采集的电性数据回传至该 电子量测仪器，而进行相应的量测作业；该第一探测段201具有第一直径D1。该第二探针头21具有一体成型的接合孔210与第二探测段211，该接合孔210用 以套盖该第一探测段201并收纳该接合段200，且该第二探测段211具有第二直径D2。如图所示，该第一探针头20为杆状，而该第二探针头21为筒状，通过该第二探针 头21套盖该第一探针头20，以达到转换量测尺寸大小的目的，且该第二探针头21通过该接 合段200电性导通该电子量测仪器，以将从电路板的测试点所采集的相关电性数据回传至 该电子量测仪器。[0036]该第一探测段201的第一直径D1小于该第二探测段211的第二直径D2，通过该第 一及第二直径D1、D2尺寸的不同，而可因应不同尺寸的测试点的量测作业。如图2A所示， 具有第一直径D1的第一探测段201适用于电路板上直径较小的测试点，且各测试点之间的 间距较小的测试；如图2B所示，具有第二直径D2的第二探测段211适用于电路板上直径较 大的测试点，且各测试点之间的间距较大的测试。本实用新型的量测头2便于转换，当欲使用具有第一直径D1的第一探测段201 时，只需将该第二探针头21自该接合段200分离而外露该第一探测段201即可，而当欲使 用具有第二直径D2的第二探测段211时，只需将该第二探针头21套设于该接合段200上 而屏蔽该第一探测段201即可，相比于现有技术中的通过焊线以量测直径较小的测试点， 本实用新型操作极为简易，且节省时间。另外，该接合段200的外壁可为外螺纹结构，且该接合孔210的内壁为对应该外螺 纹结构的内螺纹结构，使该接合段200螺接该接合孔210;然而，在其它实施例中，该接合段 200也可卡合该接合孔210，即该接合段200与接合孔210的接合方式并无特别限制，凡是 可便于该接合段200套设于该接合孔210且可产生电性接触的结合方式，均属于本实用新 型的应用范畴，故不再赘述。综上所述，本实用新型的量测头提供具有不同直径的第一及第二探针头，且该第 二探针头可套设该第一探针头，以令使用者操作极为便利，而无需额外使用导线进行焊接 等作业，即可依待测试的测试点尺寸进行更换，大幅节省时间、人力成本。上述实施例仅例示性说明本实用新型的原理及其功效，而非用于限制本实用新 型。任何本领域技术人员均可在不违背本实用新型的精神及范畴下，对上述实施例进行修 饰与改变。因此，本实用新型的权利保护范围，应如权利要求书所列。
权利要求一种量测头，应用于电子量测仪器中，其特征在于，该量测头包括第一探针头，其具有接合段及连接该接合段的第一探测段，且该第一探测段具有第一直径；以及第二探针头，其具有接合孔与第二探测段，该接合孔用以套盖该第一探测段并收纳该接合段，且该第二探测段具有第二直径。
2.根据权利要求1所述的量测头，其特征在于，该第一探针头为杆状，该第二探针头为 筒状。
3.根据权利要求1所述的量测头，其特征在于，该接合段螺接该接合孔。
4.根据权利要求1所述的量测头，其特征在于，该接合段卡合该接合孔。
5.根据权利要求1所述的量测头，其特征在于，该第一探测段的第一直径小于该第二 探测段的第二直径。
专利摘要一种量测头，其应用于电子量测仪器中，包括第一及第二探针头，第一探针头具有接合段及连接该接合段的第一探测段，且该第一探测段具有第一直径；第二探针头具有接合孔与第二探测段，且该第二探测段具有第二直径，该接合孔可套盖该第一探测段并收纳该接合段，因而能够提供可依需求更换不同直径的探针头，且操作极为便利。
文档编号G01R15/12GK201561990SQ20092026676
公开日2010年8月25日 申请日期2009年11月20日 优先权日2009年11月20日
发明者吴铭燿, 朱莉 申请人:英业达股份有限公司