专利名称：用于将电子组件测试机校准到标准化值的补偿工具的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种用于将包括具有用于测试电子组件的多个触点的至少一个测试 模块的电子测试机(例如，多层陶瓷电容器(MLCC))校准到标准化值的设备和方法。
背景技术：
普遍已知提供可手动置于测试板的特定测试凹穴中且在单一触点台处经电测试 的具有已知值的多层陶瓷电容器(MLCC)。接着电容器循环通过其它测试台，离开测试板， 恢复，且被置于下一测试台的位置。重复此过程直到已针对每一测试台记录电容器的值为 止。此当前用于标准补偿的过程在零件跨越多个触点移动，离开测试板，恢复，且重复所述 过程时引起对MLCC的终止端的某些机械磨损。由于机械损坏的缘故，与在第一台中经测试 时MLCC所具有的电特性相比，在最终台中经测试时MLCC可具有不同的电特性。
发明内容
将需要提供一种经由组件测试器上的多个测试台测试单一组件(例如，多层陶瓷 电容器(MLCC))而不会对电容器的终止端引起不当损坏且无错过电容器的风险的方法。将 需要此程序以将机器参数校准到随后可用作标准化值的特定值。如本文所描述，电子测试机包括多个测试�？�。每一测试�？槲挥诖酉喙亓行� 轴线延伸的有角度间隔的径向线上且具有用于测试电子组件的多个触点。一种用于将电子 测试机的多个测试�？樾Ｗ嫉奖曜蓟档牟钩スぞ呖砂ň哂行嵯叩闹魈澹淇晒� 轴地与同多个测试�？橄喙亓闹行闹嵯叨宰家杂糜谌菩嵯咝讲煌俏恢茫灰约� 组件支撑部件，其可操作地与主体相关联用于转位移动，以选择性地与同位于多个测试模 块中的每一者处的每一测试位置相关联的触点对准。组件支撑部件可包括凹穴，其用于接 纳具有终止端的电子组件，所述终止端向外延伸以允许位于多个测试�？橹械拿恳徽叽Φ� 每一测试位置的电接触和测试。本文还教示一种用于通过补偿工具将电子测试机中的多个测试�？樾Ｗ嫉奖曜� 化值的过程或方法。每一测试�？槲挥诖酉喙亓行闹嵯哐由斓挠薪嵌燃涓舻木断蛳呱锨� 具有用于测试电子组件的多个触点。所述过程可包括啮合具有旋转轴线的主体，所述主体 可共轴地与同多个测试模块相关联的中心轴线对准以用于绕旋转轴线旋转到不同角位置。 所述过程还可包括使组件支撑部件相对于主体转位，以选择性地与同位于多个测试�？橹� 的每一者处的每一测试位置相关联的触点对准。组件支撑部件可包括至少一个凹穴，其用 于接纳具有终止端的电子组件，所述终止端向外延伸以允许位于多个测试�？橹械拿恳徽� 处的每一测试位置的电接触和测试。当结合附图阅读以下描述时，所属领域的技术人员将了解本发明的这些和其它应 用中的变化。
本文的描述参照附图，附图中贯穿于若干视图，相同参考标号指代相同零件，且其 中图1是具有旋转轴线的主体和组件支撑部件的透视图，所述主体共轴地与同多个 测试�？橄喙亓闹行闹嵯叨宰家杂糜谌菩嵯咝讲煌俏恢茫鲎榧С挪考� 用于转位移动以选择性地与同位于电子测试机的多个测试�？橹械拿恳徽叽Φ拿恳徊馐� 位置相关联的不同触点对准；图2是图1的主体和组件支撑部件的放大详细透视图；图3是与图1的主体可操作地相关联的组件支撑部件的放大详细透视图；图4A是图1的主体和组件支撑部件在相对于电子测试机的测试�？榈牟馐晕恢� 处的部分透视图；图4B是与图1的主体相关联且位于经径向和弓状地转位的多个测试位置的一者 处的组件支撑部件的放大详细透视图；图5是图1和图2的主体的放大详细视图，其说明用于啮合组件支撑部件的对应脊 或挡止件以用于将组件支撑部件固持于多个经转位测试位置的一者处的轨道转位掣子；图6A是沿图3中的线6A-6A截取的组件支撑部件的横截面图；图6B是沿图3中的线6B-6B截取的组件支撑部件的横截面图；图6C是沿图3中的线6C-6C截取的组件支撑部件的横截面图；图7是具有位于从中心轴线延伸的径向线上的至少一个测试�？楹陀糜诓馐缘� 子组件的多个触点的电子测试机的简化透视图；图8是具有旋转轴线的主体和可径向移动的组件支撑部件的简化分解透视图，所 述主体共轴地与同多个测试�？橄喙亓闹行闹嵯叨宰家杂糜谌菩嵯咝讲煌� 位置，所述可径向移动的组件支撑部件用于转位移动以选择性地与同位于电子测试机的多 个测试�？橹械拿恳徽叽Φ拿恳徊馐晕恢孟喙亓牟煌サ愣宰迹煌�9是图8的主体和组件支撑部件的装配详细透视图；图IOA和IOB是由组件支撑部件载运的可能替代性凹穴的简化透视图；以及图11是具有旋转轴线的主体和可有角度旋转的组件支撑部件的简化透视图，所 述主体共轴地与同多个测试�？橄喙亓闹行闹嵯叨宰家杂糜谌菩嵯咝讲煌� 位置，所述可有角度旋转的组件支撑部件用于转位移动以选择性地与同位于电子测试机的 多个测试�？橹械拿恳徽叽Φ拿恳徊馐晕恢孟喙亓牟煌サ愣宰�。
具体实施例方式简要地参看图6B、图6C和图7，电子测试机10具有测试�？�12的至少一个上部 触点14和至少一个下部触点15。每一测试�？�12可位于从相关联中心轴线延伸的有角度 间隔的径向线上，且具有用于测试电子组件的相对触点对14、15。生产测试板或盘20可包 括多个凹穴54(由图1中的实例部分展示)。每一凹穴54将电子组件32载运到待电插入 于测试�？�12的上部触点14与下部触点15之间的测试位置28，以便在电子组件32上执 行一个或一个以上测试。测试板20可绕其中心轴线旋转，以将电子组件32转移到测试位 置28以及从测试位置28转移电子组件32，所述测试位置28与不同测试模块12的对应上部触点14和下部触点15相关联。现参看图1到图4B和图7，用于将电子测试机10的多个测试模块12校准到标准 化值的补偿工具16包括具有旋转轴线的主体22，所述主体22可共轴地与同多个测试模块 12相关联的中心轴线对准，以用于绕旋转轴线旋转到不同角位置。中心轴线可由测试板20 的中心轴18界定。借助实例而非限制，如图1到图6C中所说明，主体22包括与其相关联的 槽24。如图8和图9所示，主体22还可包括具有与其相关联的槽24a的安装(mounting) 部分22a。借助实例而非限制，例如图1到图6C或图8到图9中所说明，组件支撑部件26、 26a为滑件(slide)，其可在与主体22相关联的槽24、24a内啮合，用于转位移动以选择性 地与同位于多个测试�？�12中的每一者处的每一测试位置28相关联的不同触点14对准。 组件支撑部件26、26a包括凹穴30，其用于接纳具有终止端34的电子组件32，所述终止端 34向外延伸以允许在多个测试�？�12中的每一者处的电接触和测试。单一电子组件32可有角度且径向地与同多个测试�？�12中的每一者的每一测试 位置28相关联的触点14、15对准。针对位于多个测试�？�12中的每一者处的每一测试位 置28记录单一电子组件32的值的读数。基于针对单一电子组件32所读取的已记录值校 准每一测试位置28。如图3、图5、图6A和图6B所示，主体22和组件支撑部件26界定允许组件支撑部 件26相对于主体22转位移动的相对互补界面38、36。借助实例而非限制，如图5中最佳所 见，多个轨道转位掣子40沿主体22和组件支撑部件26的相对界面38、36之间的槽24的表 面定位。至少一个挡止件44(参见图6C)与对应于电子组件32的每一径向间隔的测试位 置28的至少一个掣子40交互。应了解，掣子40和挡止件44可位于槽24和组件支撑部件 26的相对表面的任一者上。在此实例中，多个掣子40位于槽24的相对侧46、48的表面上 以与同组件支撑部件26相关联的至少一个挡止件44啮合。在图8和图9所示的实例中， 多个掣子40a位于面向槽24a的部件26a的相对表面处，且挡止件44a位于面向部件26a 的槽24a的相对表面处以便啮合多个掣子40a。当然，可交换至少一个挡止件44a与多个掣 子4a的位置。在这些实例的每一者中，如图6B所见，适型(conformable)材料50可定位 于用于接纳电子组件32的凹穴30中。如上所述，如图1到图6C或图8到图9中所说明，组件支撑部件26、26a包括可 啮合在与主体22相关联的槽24、24a内用于测试位置28之间的径向转位移动的滑件。然 而，本发明并非限于此组合。如图11所示，主体22可经可旋转地安装以用于绕由(如图8 和图9的实例中的)测试板20的中心轴18界定的轴线旋转。在图11中，相比之下，组件 支撑部件26b包括可绕孔24b旋转的盘，所述孔24b界定与用于不同测试位置28之间旋转 转位移动的部件26b相关联的旋转轴线，其中孔24b (且因此旋转轴线)从主体22的中心 轴线偏移。部件26、26a、26b和槽24、24a或孔24b可被界定为以任何合适的方式(例如， 通过机械扣件、化学粘合剂、材料结合，或其任何组合)装配到主体22的单独组件。借助实 例而非限制，用于接纳电子组件32的凹穴30可如图1到图4B、图6A、图6B、图8、图9或图 11中所说明，或可如图IOA或图IOB中所说明。说明于图IOA中的凹穴30a被分成具有用 于在电子组件32与凹穴30a之间提供压配合(pressure fit)的槽31a的两个部分。如图 IOB中所说明，凹穴30b包括向内延伸用于在电子组件32与凹穴30b之间提供压配合的指 状物31b。如上文所提及，适型材料50(如图6B中最佳所见)可定位于用于接纳电子组件
632的凹穴30、30a、30b的任一者中。本文还教示一种用于通过补偿工具16将电子测试机10中的多个测试�？�12校 准到标准化值的过程或方法。每一测试�？�12位于从与多个测试模块12相关联的中心 轴线延伸的有角度间隔的径向线上，且具有用于测试电子组件的多个触点14、15，如先前所 述。主体22共轴地与测试板20的中心轴18的中心轴线对准以用于绕旋转轴线旋转到不 同角位置。所述过程包括相对于主体22转位组件支撑部件26以选择性地与同位于多个测 试�？�12中的每一者处的每一测试位置28相关联的触点14、15对准。组件支撑部件26 包括至少一个凹穴30，其用于接纳具有终止端34的电子组件32，所述终止端34向外延伸 以允许在多个测试�？�12中的每一者处的每一测试位置28处的电接触和测试。所述过程可包括使单一电子组件32有角度且径向地与同待测试的多个测试�？� 12中的每一者的每一测试位置28相关联的触点14、15对准。可针对位于多个测试�？�12 中的每一者处的每一测试位置28记录针对单一电子组件32所读取的值。接着可基于针对 单一电子组件32所读取的已记录值校准每一测试位置28。所述过程可包括通过位于组件支撑部件26与主体22之间的相对互补界面36、38 使组件支撑部件26相对于主体22转位移动。至少一个挡止件44可与沿主体22位于主体 22和组件支撑部件26的相对界面38、36之间的多个轨道转位掣子40中的一者交互。多个 掣子40中的每一者可对应于电子组件32的每一径向间隔的测试位置28。借助实例而非限 制，如图1到图6C中所说明，所述过程可包括将与组件支撑部件26相关联的至少一个挡止 件44与位于形成于主体22中的槽24的相对侧46、48的表面上的多个掣子40中的至少一 者啮合。类似地，形成于主体22、22a的槽24a中的至少一个挡止件44a可与位于组件支撑 部件26a的面向表面上的多个掣子40a中的至少一者啮合。或者，如图11中所说明，所述 过程可包括将与组件支撑部件26b或与主体22相关联的至少一个挡止件与位于主体22或 盘26b上的多个掣子中的至少一者啮合。所述过程还可包括将适型材料50定位于用于接 纳电子组件32的凹穴30中。可用玻璃纤维、环氧树脂或类似组合物以两个或两个以上部分制成校准或补偿工 具16。第一部分或主体22可配合于测试板20的中心轴18上，或可以任何合适的方式共轴 地与中心轴线对准。如图8所示，例如，主体22本身可包含一个以上部分，例如栓接或焊接 于主体22上的单独安装部分22a。如图1和图4A中所说明，主体22可用键固定到驱动销 52。在一个实例中，此第一部分22经由经转位到(例如)八个位置的经机械加工的槽24、 24a而接受第二部分或组件支撑部件26、26a，从而允许第二部分26、26a移动以与特定测试 位置28的八个中的一个(或任何数目)对准。此第二部分26、26a可具有将接受特定尺寸 的电子组件32(例如，MLCC)且紧固地固持所述零件(其中终止端34指向外面以允许电接 触和测试)的凹穴30、30a、30b或载板(图6B、图6C)。可使其它组件尺寸与具有适合用于 所述特定零件的厚度的工具材料相适应。此工具16在具有对零件最小量的机械损坏或磨损的情况下，允许经由多个测试 台测试具有已知值的单一组件(例如MLCC)，且减小在所述程序期间错过零件或损坏零件 的风险。此补偿工具16不需要使组件经历离开和恢复过程，借此减少行进通过处理机构的 量，且减少机械损坏的机会。通过此工具16，将具有已知值的组件置于机器中，仅移动到合 适的测试台，测试，移动回到开放区域，针对下一位置调整，移入适当位置，且重复测量。重复此过程直到已针对每一测试台记录组件的值为止。此工具16在对组件的物理条件具有最小影响的情况下，允许测试和重测试单一 组件。滑件机构26减少所需的组件的处理，且使在测试位置变化期间错过被测试零件的风 险最小化。虽然已结合某些实施例描述本发明，但应了解，本发明并不限于所揭示的实施例， 而是相反地，本发明希望涵盖所附权利要求书的范围中所包括的各种修改和等效布置，所 述范围应被赋予最广泛的解释以便涵盖如法律所许可的所有此类修改和等效结构。
权利要求
一种电子测试机，其包括位于从中心轴线延伸的有角度间隔的径向线上的多个测试�？椋恳徊馐阅？榫哂杏糜诓馐缘缱幼榧亩喔龃サ悖龅缱硬馐曰奶卣髟谟诓钩スぞ撸溆糜诮龅缱硬馐曰乃龆喔霾馐阅？樾Ｗ嫉奖曜蓟担霾钩スぞ甙哂行嵯叩闹魈澹涔仓岬赜胨鲋行闹嵯叨宰家杂糜谌扑鲂嵯咝讲煌慕俏恢茫灰约白榧С挪考浒ü岽┑陌佳ǎ鲎榧С挪考刹僮鞯赜胨鲋魈逑喙亓杂糜谧灰贫匝≡裥缘厥顾霭佳ㄓ胪伤龆喔霾馐阅？榻缍ǖ拿恳徊馐晕恢孟喙亓牟煌喽源サ愣宰迹鲎榧С挪考乃霭佳ň渲靡越幽删哂卸俗拥牡缱幼榧龆俗酉蛲庋由煲栽市碓诿恳徊馐晕恢么Φ牡缃哟ズ筒馐�。
2.根据权利要求1所述的电子测试机，其中单一电子组件可经由所述凹穴有角度且径 向地与同待测试的所述多个测试�？橹械拿恳徽叩拿恳徊馐晕恢孟喙亓拇サ愣宰�。
3.根据权利要求1所述的电子测试机，其中所述主体包含与所述中心轴线共轴地安装 的环形板，所述主体界定径向对准的槽；且其中所述组件支撑部件包含可在多个经转位位 置中与所述主体的所述槽啮合的滑件。
4.根据权利要求1所述的电子测试机，其中所述主体包含与所述中心轴线共轴地安装 的环形板；且其中所述组件支撑部件包含可绕与所述中心轴线分离的旋转轴线旋转、且可 在多个经转位位置中与所述主体啮合的环形板。
5.根据权利要求1所述的电子测试机，其进一步包含所述主体和所述组件支撑部件界定允许所述组件支撑部件相对于所述主体转位移动 的相对互补界面。
6.根据权利要求5所述的电子测试机，其进一步包含多个轨道转位掣子，其位于所述主体和所述组件支撑部件的所述相对界面之间，至少 一个挡止件与对应于所述电子组件的每一径向间隔的测试位置的至少一个轨道转位掣子交互。
7.根据权利要求6所述的电子测试机，其进一步包含所述多个轨道转位掣子位于槽的相对侧上，以用于与同所述组件支撑部件相关联的至 少一个挡止件啮合。
8.根据权利要求1所述的电子测试机，其中所述主体包含与所述中心轴线共轴地安装 于一端上的矩形板，所述主体界定径向对准的槽；且其中所述组件支撑部件包含可在多个 经转位位置中与所述主体的所述槽啮合的滑件。
9.一种用于将电子测试机中的多个测试�？樾Ｗ嫉奖曜蓟档姆椒ǎ恳徊馐阅？槲� 于从中心轴线延伸的有角度间隔的径向线上，且具有用于测试电子组件的多个触点，所述 方法包含使具有旋转轴线的主体共轴地与所述中心轴线对准，以用于绕所述旋转轴线旋转到不 同角位置；以及相对于所述主体转位组件支撑部件，以选择性地与同位于所述多个测试�？橹械拿恳� 者处的每一测试位置相关联的不同触点对准，所述组件支撑部件包括至少一个凹穴，所述 凹穴用于接纳具有端子的电子组件，所述端子向外延伸以允许每一测试位置处的电接触和测试。
10.根据权利要求9所述的方法，其进一步包含使单一电子组件有角度且径向地与同待测试的所述多个测试�？橹械拿恳徽叩拿恳� 测试位置相关联的触点对准。
11.根据权利要求10所述的方法，其进一步包含针对位于待测试的所述多个测试�？橹械拿恳徽叽Φ拿恳徊馐晕恢茫锹妓龅ヒ坏� 子组件的值。
12.根据权利要求11所述的方法，其进一步包含基于针对所述单一电子组件所读取的所述已记录值，校准每一测试位置。
13.根据权利要求9所述的方法，其进一步包含通过位于所述组件支撑部件与所述主体之间的相对互补界面，使所述组件支撑部件相 对于所述主体转位移动。
14.根据权利要求13所述的方法，其进一步包含使至少一个挡止件与位于所述主体和所述组件支撑部件的所述相对互补界面之间的 多个轨道转位掣子中的一者交互，至少一个掣子对应于所述电子组件的每一径向间隔的测 试位置。
全文摘要
本发明提供一种用于将位于电子测试机的多个测试�？榇Φ拿恳徊馐晕恢眯Ｗ嫉奖曜蓟档牟钩スぞ吆凸�。每一测试模块位于从相关联中心轴线延伸的有角度间隔的径向线上，且具有用于测试电子组件的多个触点。所述补偿工具包括具有旋转轴线的主体，其可共轴地与所述中心轴线对准以用于旋转到不同角位置；以及组件支撑部件，其可操作地与所述主体相关联以用于转位移动，以选择性地与同每一测试位置相关联的不同触点对准。所述组件支撑部件包括凹穴，其用于接纳具有终止端的电子组件，所述终止端向外延伸以允许在每一测试位置处的电接触和测试。
文档编号G01R31/02GK101978279SQ200980109923
公开日2011年2月16日 申请日期2009年3月6日 优先权日2008年3月21日
发明者尼克·A·塔布斯, 斯科特·L·蔡尔德 申请人:电子科学工业有限公司
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