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专利名称：一种发光二极管成品电性参数测试的校准方法
技术领域：
本发明专利涉及一种半导体芯片的测试校准方法，属于半导体技术领域
背景技术：
固态照明技术是在二十一世纪具有产业革命意义的重大技术，在世界范围内，从政府到企业都引起了很大的关注，固态照明技术的主要内容是半导体发光二极管器件在照明产业中的应用。能够在得到最准确数据的前提下再得到更高的产量，是每个LED企业追求的目标。但是在现阶段，没有一种最简单最准确的发光二极管成品电性参数测试的校准方法，导致我们在LED裸芯测试时对机器校准方面花费大量的时间。普通的发光二极管亮度校准方法为采用晶粒校准法。即在机台需要校准时，取不同规格的晶粒，在feiin和Offset都为 1,0时，测试得到一组xl、x2和x3的值，并与同组的亮度的真实值yl、y2和y3的值同时带入公式y = ax+b (Regression)得到一组feiin和Offset校准数值。此方法需要经常更换校准的样品片，制作复杂，又不易得到最准确的校准数值。因此，需要一种新的发光二极管成品电性参数测试的校准方法，减少普通校准方法需要的大量时间，提高了测试的产量。

发明内容
本发明的目的是提供一种发光二极管成品电性参数测试的校准方法，通过亮度补偿值的方法提高亮度校准的准确性，减少普通校准方法需要的大量时间，提高了测试的产量。发光二极管成品电性参数测试系统，包括半自动探针测试机台、光电参数测试仪器两部分构成，半自动探针测试机台包括载片台、xy轴移动滑杆、金相显微镜或实体显微镜、真座以及与测试仪相互通讯的接口，光电参数测试仪包括对所测试发光二极管的数据进行处理的数据处理装置、以及实现数据处理装置与半自动探针台相互通讯的接口。本发明采用如下技术方案一种发光二极管成品电性参数测试的校准方法，包括如下步骤步骤1 将半自动探针测试机台针座的压力值调至低于10g，并固定每探针台真座的压力值；步骤2 使用新更换的点测针对机器做校准，得到每台机器的固有亮度真实值直线图，得到了真实值直线图对应的kin和Offset的值；步骤3 找到阶段性亮度偏差值；步骤4:在需要校准的时间点，从本机台的偏差值曲线图上找到对应时间的亮度衰减数值，再在本机台亮度真实值直线图上补偿回来即可。步骤3所述的偏差值为由于点测针的磨损程度发生了变化，导致点测针的挡光程度发生的变化，造成测试亮度与实际亮度偏移，当亮度偏移到允许变化的范围以外，此阶段即为需要对机器做重新校准的时间；本发明的优点在于将每台半自动测试机台针座的压力值调至低于10g，将针的磨损程度降到最低，得到了每机台的亮度真实值直线图，并得到每个阶段的亮度衰减值曲线图，就可以在衰减图上找到相应的亮度衰减值，并在亮度真实值直线图上，将亮度衰减值补偿回来即可。此亮度补偿值的校准方法，比以往的晶粒校准方法可以节省至少80%的校准时间，并能够得到更精确的校准值，在保证得到准确数据的前提下还可以得到更高的产量。


图1本机台固有的亮度真实值直线图。图2本机台固有的亮度衰减值曲线图。图3本机台在固有的时间点上亮度变化直线图与真实值直线图的比较。实施例1:步骤1 将半自动探针测试机台针座的压力值调至低于10g，并固定每探针台真座的压力值；步骤2 使用新更换的点测针对机器做校准，如图1所示，X轴代表在(iain和 Offset为1和0时，测得的发光二极管的亮度值；Y轴代表发光二极管的真实亮度值。 假设图中的 X和 Y 为以下数值(xl，yl) = (3,80) ； (x2, y2) = (5,120) ； (x3, y3)= (7，150)。通过此三组数据固定了其中一台机台的亮度真实值直线图，并带入公式y = ax+b (Regression)(公式中a和b分别代表Gain和Offset的值，χ代表在Gain和Offset 为1和0时，测得的发光二极管的亮度值，y代表发光二极管的亮度真实值)，得到y = 17. 5x+29. 167,R2 = 0. 9932，即 Gain 和 Offset 的值分别为 17. 5 和 29. 167，得到的 R2 代表线性回归，R2越接近1代表数据越接近真实值；步骤3 通过做跟踪测试，得到亮度衰减值曲线图，方法为每到固定的时间点(此时间点为亮度已偏移出允许变化的范围以外时)，对步骤2的三组值做重新点测，坚持测试直到点测针需要更换时停止，即可得到亮度衰减值直线图，如图2所示X’轴代表时间，Y’轴代表亮度值。假设每隔4小时亮度超度允许变化的范围，44小时点测针需要更换，停止测试 (以上为前期的准备工作)；步骤4 如图3所示，X”轴代表在feiin和Offset为1和0时，测得的发光二极管的亮度值；Y”代表发光二极管的亮度真实值。假设在4个小时时，三点的亮度值由原来的 yl = 80 ；y2 = 120 ；y3 = 150 分别衰减到了 yl，= 78 ；y2' = 118 ；y3' = 148，即整体衰减了 2个mcd，直线方程从y = 17. 5x+29. 167变为y = 17. 5x+27. 167，从公式上看，说明此条真实值直线已经向下平移，即为此条直线的截距b发生了变化，因此在截距上将2个mcd补偿回来即可，即在b值上加上2mcd，依此类推，重复步骤4，每到亮度衰减到允许范围以外， 降低几个mcd，就在b值上补偿几个mcd。
权利要求
1.一种发光二极管成品电性参数测试的校准方法，其特征在于，包括如下步骤步骤1 将半自动探针测试机台针座的压力值调至低于10g，并固定每探针台真座的压力值；步骤2 使用新更换的点测针对机器做校准，得到每台机器的固有亮度真实值直线图， 得到了真实值直线图对应的kin和Offset的值； 步骤3 找到阶段性亮度偏差值；步骤4:在需要校准的时间点，从本机台的偏差值曲线图上找到对应时间的亮度衰减数值，再在本机台亮度真实值直线图上补偿回来即可。
2.如权利要求1所述的电性参数校准方法，点测针为铍铜针、钨针或合金针。
全文摘要
本发明介绍了一种发光二极管成品电性参数测试的校准方法，利用发光二极管成品电性参数测试系统，通过亮度补偿值的方法提高亮度校准的准确性，减少普通校准方法需要的大量时间，提高了测试的产量。
文档编号G01R35/00GK102375134SQ20101025376
公开日2012年3月14日 申请日期2010年8月6日 优先权日2010年8月6日
发明者武胜利, 王力明, 肖志国, 陈向东, 高本良, 高百卉 申请人:大连美明外延片科技有限公司