专利名称：显示装置及包含此显示装置的电子设备的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种显示装置，尤其涉及具有光敏传感器并根据所感测得到的周遭光线的强度而输出光电流的显示装置及包含此显示装置的电子设备。
背景技术：
一般显示装置，其可应用于车辆导航装置及移动电话等移动电子设备，已具有根 据周遭光线的亮度来对应调整显示辉度的亮度调整功能。例如在日本专利2001-522058号 中，其公开一显示系统设有根据周遭光敏传感器所感测出的周遭光线，来改变显示器的亮 度，而可控制明暗的控制器。藉由这种功能，在白天野外等明亮的场所，可增加显示器的亮 度；在夜间或屋内等昏暗的场所，可减少显示器的亮度。一般来说，为了感测周遭光线，显示装置设有光敏传感器，以感测光线，并对应所 接收的光量来输出光电流(Photocurrent)。光电流可利用电流-电压转换器或模拟-数字 转换器等信号转换器，来转换成数字脉冲信号，而输入于可控制背光光源的控制器。此控制 器可对应所输入的信号来调整背光光源的亮度。此种用于光感测的电路例如公开于日本专 利 2008-522159 号。然而，例如在使用50或60Hz来驱动日光灯的室内中，由于设有上述传统电路的显 示装置的传感器所感测到的光强度随着日光灯的驱动频率来变动，因而具有传感器的输出 亦随之变动的问题。
发明内容
因此本发明的一个目的在于提供一种显示装置及包含此显示装置的电子设备，藉 以更精确地进行周遭光线感测。根据本发明之实施例，本发明的显示装置设有光敏传感器，用以检测周遭光线，并 输出光电流，而光电流的大小依据周遭光线的强度，其中显示装置包含电流取样部及光检 出控制部。电流取样部用以对光敏传感器所输出的光电流来进行取样，并输出取样信号来 表示光电流的大小。光检出控制部用以求得在预设时间内电流取样部所输出的所有取样信 号的平均值。其中，电流取样部回应于取样信号的终端，而开始下一取样期间。因此，本发明可对光电流进行取样，以求得若干个取样信号的平均值，且每一取样 期间的长度由取样信号的存在期间来决定，因而可更精确地进行周遭光线感测。为了电流取样部可回应于取样信号的终端，而开始下一取样期间，较佳地，光检出 控制部包含边缘检出部和重置信号产生部。边缘检出部用以检测取样信号的边缘，重置信 号产生部用以产生重置信号，藉以当边缘检出部检测到取样信号的终端时，电流取样部开 始下一取样期间。可代替的是，电流取样部亦可包括重置信号产生部，用以检测取样信号的 终端，并对应于此终端的检出来产生重置信号，开始下一取样期间。较佳地，光检出控制部更包含计数器、差分电路、存储部、计时部及平均化部。计数 器用以计算边缘检出部检测取样信号的初始端或终端的次数，差分电路用以求得由边缘检出部所检测到的取样信号的初始端与终端之间的时间差分，存储部用以存储差分电路所求得的时间差分，计时部用以计算电流取样部开始对光电流进行取样后的预设时间的经过时 间，平均化部用以当经过预设时间时，求得在预设时间内存储部所存储的时间差分的总和， 并将此总和除以计数器所计算的次数，以求得取样信号的平均值。因此，本发明可对光电流 进行取样，以求得若干个取样信号的平均值。较佳地，本发明的一实施例的显示装置更包含辉度控制部，用以根据光检出控制 部所求得的取样信号的平均值，对显示装置的显示辉度进行调整。因此，本发明可根据光敏 传感器所感测的光强度来调整显示辉度。又，本发明的一实施例的显示装置为使用背光光源的穿透式液晶显示装置或半 穿透式液晶显示装置，或者为使用具有自发光元件之有机发光二极管(Organic Light Emitting Diode, OLED)的 OLED 显示装置。本发明的一实施例的显示装置可使用于例如笔记本个人电脑(PC)、移动电话、个 人数码助理(PDA)、车辆导航系统装置、移动游戏机或可设置于屋外的显示装置等具有感测 周遭光线功能的电子设备。因此，本发明所提供的显示装置及包含此显示装置的电子设备可更精确地进行周 遭光线感测。为让本发明内容能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合附图作详细说明如 下
图1为本发明的一个实施例中包含显示装置的电子设备。图2为本发明的一个实施例中显示装置的结构方块图示意图。图3为本发明的一个实施例中电流取样部的结构示意图。图4为本发明的一个实施例中光检出控制部的结构示意图。图5A为本发明的第一实施例中利用显示装置来进行光感测动作的说明示意图。图5B为本发明的第二实施例中利用显示装置来进行光感测动作的说明示意图。图6为本发明的另一个实施例中光检出控制部的结构示意图。图7为本发明的另一个实施例中在显示装置中利用显示装置来进行光感测动作 的说明示意图。图8为本发明的另一个实施例中电流取样部的结构示意图。主要元件符号说明10:显示装置100:电子设备20 背光光源22 液晶显示模组24 辉度控制部30:光敏传感器32、32’ 电流取样部34,34'光检出控制部 310 设定单元320 测量单元330 重置信号产生部41:边缘检出部42:计数器43:差分电路44:存储部
45 计时部46 平均化部47 重置信号产生部50、60:周遭光线51、56、61 重置信号52,57,62 取样信号COMl、COM2 比较器Cs 设定电容Cm:测量电容PWpPWfPWp PWpPWf. PWm 脉冲宽度SW1、SW2、SW3 切换器 Tm 光感测时间
Ts1, Ts,.. TsN, Ts1Js,.. Tsm 取样期间V1、V2:直流电压源Vrefl、Vref 2 参考电位
具体实施例方式为让本发明的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，本说明书特举 出一系列实施例来加以说明。但值得注意的是，此些实施例只用以说明本发明的实施方式， 而非用以限定本发明。请参照图1，为本发明的一个实施例中包含显示装置的电子设备。图1的电子设备100表示为笔记本个人电脑，亦可为例如移动电话、个人数码助理 (PDA)、车辆导航系统装置、移动游戏机或其他具有感测周遭光线功能的显示装置的电子设备。请参照图2，为本发明的一个实施例中显示装置的结构方块图示意图。图2的显示装置10例如为穿透式或半穿透式的液晶显示装置，并包括背光光源 20、液晶显示(LCD)模组22及辉度控制部24。液晶显示模组22包括排列成矩阵状的液晶 像素，背光光源20配置于液晶显示模组22的背面，用以朝每一像素照射光线。液晶分子经 由电压来改变其配向，液晶显示模组22可利用液晶分子的配向改变，来允许背光光源20的 光线穿过或被遮断，以显示影像。辉度控制部24用以控制背光光源20的的动作，例如可进 行背光光源20的光照射的开/关，以及调整由背光光源20所照射的光强度，因而可调整显 示辉度。可代替的是，此显示装置10亦可为包括有机发光二极管(Organic Light Emission Diode, 0LED)显示模组的显示装置，此OLED显示模组配置有矩阵状的OLED像素， 以取代液晶显示模组22。此时，由于OLED为自发光元件，因而不需背光光源20，而辉度控 制部24可改变OLED的驱动电流，以调整显示辉度。此显示装置10更包括光敏传感器30、电流取样部32及光检出控制部34。光敏传 感器30可形成于液晶显示模组22的玻璃基板上，以感测周遭光线，并对应其受光量(亦即 周遭光线的强度)来输出光电流。通常，光敏传感器30可使用光敏二极管(Photodiode)， 若所检测的光强度愈强，则其电流愈大。电流取样部32用以对由光敏传感器30输出的光 电流所转换的电压或数字信号来进行取样，并输出取样信号来表示光电流的大小。光检出 控制部34用以控制由电流取样部32对光电流的取样，并求得在预设时间内电流取样部32 所输出的所有取样信号的平均值，以提供辉度控制部24 —检测信号，其可用以表示周遭光线的强度。辉度控制部24根据光检出控制部34所提供的检测信号，来调整显示辉度。如图2中的包围虚线所示，辉度控制部24及光检出控制部34实际上由例如逻辑 ICdntegrated Circuit)或 FPGA (Fi el (!Programmable Gate Array)等单一的集成电路所 形成一体来得到。请参照图3，其显示了本发明的一个实施例中电流取样部32的结构示意图。图3 的电流取样部32包括设定单元310及测量单元320。此设定单元310为用以对测量单元320进行设定(重设)的电路，设定单元310 包括直流电压源VI、设定电容Cs、比较器COMl及切换器SW1。切换器SWl为SPDT(Single Pole Double Throw)切换器，切换器SW l的输入端耦接于设定电容Cs的第一端，且切换器 Sffl的输出端分别耦接于直流电压源Vl以及作为光敏传感器30的光敏二极管的阴极。设 定电容Cs的第一端耦接于比较器COMl的第一输入端，且Cs的第二端接地。比较器COMl 的第二输入端耦接于参考电位Vrefl，在本实施例中，参考电位Vrefl为接地电位。切换器SWl对应于由光检出控制部34传来的重置信号来进行切换。例如，当重置 信号为高位准时，切换器SWl切换设定电容Cs的第一端来耦接于电源VI，藉以使设定电容 Cs进行充电。之后，当重置信号为低位准时，切换器SWl切换设定电容Cs的第一端来耦接 于光敏传感器30的光敏二极管的阴极，藉以使光敏二极管输出对应于照射光的强度的电 流。比较器COMl可将设定电容Cs的电位与参考电位Vrefl进行比较，当设定电容Cs的电 位放电至与接地电位相等时，输出一信号，用以表示设定期间结束。另一方面，测量单元320为用以对光敏传感器30所输出的光电流(亦即所检测的 光线强度)进行测量，并输出其结果的电路。测量单元320包括直流电压源V2、测量电容 Cm、比较器COM2及二个切换器SW2、SW3。第一切换器SW2为SPDT切换器，第二切换器SW3 为SPST(Single Pole Single Throw)切换器。第一切换器SW2的输入端耦接于测量电容 Cm的第一端，且第一切换器SW2的输出端分别耦接于直流电压源V2以及光敏传感器30的 光敏二极管的阴极。测量电容Cm的第一端更藉由第二切换器SW3来耦接于比较器COM2的 第一输入端，且测量电容Cm的第二端接地。COM2的第二输入端耦接于参考电位Vref2，在 本实施例中，参考电位Vref2为接地电位。第一切换器SW2及第二切换器SW3对应于由设定单元310的比较器COMl传来的信 号来进行切换。在稳定状态时，第一切换器SW2可将测量电容Cm的第一端耦接于电源V2， 藉以对测量电容Cm进行充电。然而，当比较器COMl的输出信号为有效时，第一切换器SW2 即切换测量电容Cm的第一端来耦接于光敏传感器30的光敏二极管的阴极，藉以使光敏二 极管输出对应于照射光的强度的电流。在稳定状态时，第二切换器SW3为开启状态，然而， 当比较器COMl的输出信号为有效时，第二切换器SW3即切换测量电容Cm的第一端来耦接 于比较器COM2的第一输入端。因此，比较器COM2可将测量电容Cm的电位与参考电位Vref2 进行比较，当测量电容Cm的电位放电至与接地电位相等时，输出具有高位准的脉冲信号。藉此，若光敏传感器30所感测的光强度愈强，本实施例的电流取样部32可输出持 续存在期间愈短的脉冲信号。换言之，在本实施例中，脉冲信号的存在期间反比于光线的强 度(亦即光电流的大小)。因此，可利用观测此脉冲信号的存在期间，来得知光敏传感器30 所感测的周遭光线的强度。又，图3所示的结构仅为一实施例，电流取样部32亦可由其他结构来形成。例如，当光敏传感器30所感测的光强度愈强时，电流取样部32亦可输出持续存在期间愈长的脉 冲信号。换言之，此时，脉冲信号的存在期间正比于光线的强度(亦即光电流的大小)。请参照图4，为本发明的一个实施例中光检出控制部34的结构示意图。 图4的光检出控制部34包括边缘检出部41、计数器42、差分电路43、存储部44、 计时部45、平均化部46及重置信号产生部47。边缘检出部41可检测出电流取样部32所 输出的脉冲信号的开始与结束，计数器42可计算由边缘检出部41所检测出之脉冲信号的 开始或结束的次数，差分电路43可用以求得由边缘检出部41所检测到的脉冲信号从开始 至结束之间的时间差分，藉以得到脉冲信号的存在期间(以下称为“脉冲宽度PW”)。存储 部44可存储由差分电路43所求得的脉冲宽度PW，计时部45可用以计算进行光感测的预设 光感测时间的经过时间。平均化部46可接收由计时部45在得知经过此预设时间后所发出 的信号，并读出存储部44在此时间内所存储的所有脉冲宽度PW，且可利用计数器42所计算 的次数来求得脉冲宽度的平均值。重置信号产生部47用以产生重置信号，其在一取样期间 开始时提供给电流取样部32，此取样期间短于预设的光感测时间。因此，计时部45更可计 算取样期间的经过时间。请参照图5A，为本发明的一个实施例中利用显示装置来进行光感测动作的说明示 意图。在图5A所说明的光感测动作中，所感测的光线为太阳光等不经常变动且强度固定的 光线。在图5A中，线段51表示由光检出控制部34提供至电流取样部32的重置信号，线 段52表示由电流取样部32所输出的取样信号(在本实施例中为脉冲信号)。在本实施例 中，利用显示装置的光感测动作进行于预设的光感测时间Tm之间。因此，光检出控制部34 在此时间Tm之间仅以预设次数N来对光敏传感器30所输出的光电流进行取样，并在每一 固定的时间间隔Ts中提供重置信号，此时间间隔Ts短于光感测时间Tm。由提供重置信号 到下一次提供重置信号之间的固定时间期间，一般称为取样期间。例如，当光感测时间Tm 为100毫秒(ms)且所期望的取样次数N为10次时，任一取样期间TSi、TV"TSn等于10ms。对于一个取样期间Tsi (i为1 N的任意数)，电流取样部32接收由光检出控制部 34所提供的重置信号，并在设定期间后输出具有脉冲宽度PWiW脉冲信号，此设定期间由设 定电容Cs的电容量来决定，此脉冲宽度PWi对应于光敏传感器30所感测的光线强度，且脉 冲宽度PWiF仅仅相关于光线的强度，亦应相关于所选择的测量电容Cm的电容容量。因此， 根据本实施例的显示装置，测量电容Cm的电容量需被适当地选择，藉以使脉冲宽度PWi位 于取样期间Tsi的预设持续时间中。利用电流取样部32所输出的脉冲信号由光检出控制部34所接收，光检出控制部 34利用边缘检出部41来检测出脉冲信号的开始与结束，并利用差分电路43求得脉冲宽度 PWi,且储存于存储部44。再者，在光检出控制部34的计数器42中，则计算由边缘检出部 41所检测出的脉冲信号的开始或结束为1次，亦即计数器42可计算取样次数。光检出控 制部34设有计时部45，藉以分别得知预设的取样期间Τ8ι、Τ ν··Τ%及光感测时间Tm的经 过时间。若光感测时间Tm经过时，则光检出控制部34利用平均化部46来读出和加总存 储部44所存储的所有的脉冲宽度PWp PW^PWN，并将所得到的脉冲宽度的总和PWJPW2+"-+PWn来除于计数器42所计算的取样次数N。藉此，光检出控制部34可求得脉冲宽度的平 均值PW(AVG)，并提供至辉度控制部24。辉度控制部24根据所提供的脉冲宽度的平均值PW(AVG)，来调整由背光光源20所照射的光强度，或者改变OLED的驱动电流，以调整显示辉度。如上所述，在本实施例中，由于所感测的光线为经常固定强度的光线，在每一取样 期间Ts1JVTSn中，由电流取样部32所输出的脉冲信号的脉冲宽度PWpPW^ PWn皆为相 同，因而 Pff1 = Pff2 =…=PWn = Pff(AVG)。请参照图5B，为本发明的第二个实施例中利用显示装置来进行光感测动作的说明 示意图。在图5B所说明的光感测动作中，所感测的光线为以预设频率来驱动之日光灯所照 射的具有强度变动的光线。
在图5B中，线段56表示由光检出控制部34提供至电流取样部32的重置信号，线 段57表示由电流取样部32所输出的取样信号(在本实施例中为脉冲信号)。又，在图5B 中，为了参考，亦显示有所感测的光线强度的变动情形(线段50)。在本实施例中，利用显 示装置的光感测动作亦进行于预设的光感测时间Tm之间。因此，光检出控制部34在此时 间Tm之间仅以预设次数N来对光敏传感器30所输出的光电流进行取样，并在每一固定的 取样期间Ts开始时提供重置信号，此取样期间Ts短于光感测时间Tm。在本实施例中，其与参照于图5A的上述实施例之间的差异为本实施例的光敏传 感器30所感测的光线并非强度经常固定的光线50。因此，在每一取样期间TSl、TS2-TSN 中，由电流取样部32所输出的脉冲信号的脉冲宽度PWp PW^PWn亦相对具有变化。例如， 如图5B所示，在第一取样期间Ts1中，光强度短暂地增加，因而输出相对较短的脉冲宽度PW1 的脉冲信号。另一方面，在第二取样期间Ts2中，光强度短暂地减少，因而输出相对较长的 脉冲宽度PW2的脉冲信号。因此，在每一取样期间TSl、TS2-TSn中，所输出的脉冲信号的脉冲宽度PW1, PW^ PWn分别受到感测光线50的强度的影响而改变。然而，最终提供至辉度控制部24的用以表 示光敏传感器30所感测的光强度的检测信号为脉冲宽度的平均值PW(AVG)，其在预设的光 感测时间Tm中，将每一取样期间TSl、TS2-TSn中所输出的脉冲信号的脉冲宽度PW1, PW^ PWn的总和除于取样次数N来求得。藉由此平均化动作，可减少光强度的变动对于光感测结 果的影响。当光强度相对较弱时，在每一取样期间TSl、TS2-TSn中所输出的脉冲信号的脉冲 宽度PWp PW^PWn相对较长，则此平均化动作可有效地确保光感测的精确度。然而，当光 强度相对较强时，由于在每一取样期间TSl、Ts2-TSn中所输出的脉冲信号的脉冲宽度PW1. PW^PWn会相对较短，即使进行平均化，仍会出现光强度的变动对于光感测结果的影响。为 了解决此问题，图6显示本发明的另一实施例的显示装置的光检出控制部34’的结构。请参照图6，其显示另一实施例的光检出控制部34’的结构示意图。相较于上述图 4的光检出控制部34，图6的光检出控制部34’与其不同的是，重置信号产生部47对应于 边缘检出部41对于脉冲信号的结束的检测，来提供重置信号。藉此，每一取样期间的持续 时间具有变化，而取样次数亦具有变化。具有此光检出控制部34’的显示装置的光感测动 作显示于图7。请参照图7，为本发明的另一实施例中利用显示装置来进行光感测动作的说明示 意图。相似于上述图5的动作，在图7所说明的光感测动作中，所感测的光线(线段60)为 以预设频率来驱动的照明灯的照射光等具有强度变动的光线。
在图7中，线段61表示由光检出控制部34’提供至电流取样部32的重置信号，线 段62表示由电流取样部32所输出的取样信号(在本实施例中为脉冲信号)。在本实施例 中，利用显示装置的光感测动作亦进行于预设的光感测时间Tm之间。然而，由提供重置信 号到下一次提供重置信号之间的期间，亦即取样期间的持续时间，为不固定。因此，取样次 数并不限于预设次数N，例如，在本实施例中，最终的取样次数为M次。对于一个取样期间Tsi (i为1 M的任意数)，电流取样部32接收由光检出控制 部34’所提供的重置信号，并在设定期间后输出具有脉冲宽度PWi的脉冲信号，此设定期间 由设定电容Cs的电容量来决定，此脉冲宽度PWi对应于光敏传感器30所感测的光线60的 强度。电流取样部32所输出的脉冲信号由光检出控制部34’所接收，光检出控制部34’利用边缘检出部41来检测出脉冲信号的开始与结束，并利用差分电路43来求得脉冲宽度 PWi,且储存于存储部44。再者，在光检出控制部34’的计数器42中，则计算由边缘检出部 41所检测出的脉冲信号的开始或结束为1次，亦即计数器42可计算取样次数。又，当边缘 检出部41检测出脉冲信号的结束时，光检出控制部34’利用重置信号产生部47来提供重 置信号至电流取样部32，电流取样部32接收此重置信号，并开始下一取样期间Tsi+1。光检出控制部34’设有计时部45，藉以得知预设的光感测时间Tm的经过时间。此 时，利用计数器42所计算的最终的取样次数为M次。若光感测时间Tm经过时，则光检出控 制部34’利用平均化部46来读出和加总存储部44所存储的所有的脉冲宽度PWpPW^PWm, 并将所得到的脉冲宽度的总和PWi+PWf· +PWm来除于计数器42所计算的取样次数M。藉 此，光检出控制部34可求得脉冲宽度的平均值PW(AVG)，并提供至辉度控制部24。辉度控 制部24根据所提供的脉冲宽度的平均值PW(AVG)，来调整由背光光源20所照射的光强度， 或者改变OLED的驱动电流，以调整显示辉度。如上所述，在本实施例中，光敏传感器可感测由于各种原因而具有强度变动的光 线60。因此，电流取样部32所输出的脉冲信号的脉冲宽度PWp PW^PWm对应于光线来变 化，进而每一取样期间Τ8ι、Τ82···Τ%的持续时间及取样次数M亦具有变化。例如，如图7所 示，在第一、第二取样期间TSl、Ts2中，由于光强度短暂地增加，因而输出相对较短的脉冲宽 度PWp Pff2的脉冲信号。在第三取样期间Ts3中，由于光强度短暂地减少，因而输出相对较 短的脉冲宽度PW3的脉冲信号。其中，第一、第二取样期间TSl、Ts2的持续时间短于第三取 样期间Ts3的持续时间。因此，藉由取样期间的持续时间对应于脉冲信号的脉冲宽度，光强度愈强，则在预 设时间内的取样次数愈增加。因此，即使当光强度相对较强时，脉冲宽度PWpPW^PWn相对 较短，亦可减少光强度的变动对于光感测结果的影响。可代替的是，上述图7中的动作亦可利用图8所示的电流取样部的结构来实现。请参照图8，为另一实施例的电流取样部32’的结构示意图。相较于上述图3的电 流取样部32，图8的电流取样部32’与其不同的是，电流取样部32’包括重置信号产生部 330。此重置信号产生部330可检测出测量单元320的比较器COM2所输出的脉冲信号的结 束。当检测到脉冲信号的结束时，重置信号产生部330可产生重置信号来提供至设定单元 310。因此，此时，可不需设有光检出控制部34’的重置信号产生部47。 综上所述，虽然本发明已用较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，本发明所属技术领域中具有通常知识者，在不脱离本发明之精神和范围内，当可作各种之更动 与润饰。例如，在上述实施例中，参照于图5A、图5B及图7，虽然电流取样部对应于光感应器所感测的光强度来输出高位准的脉冲信号，但亦可输出低位准的脉冲信号。若使用此电 流取样部来进行图7所说明的光感测动作时，重置信号由对应于电流取样部所输出的脉冲 信号的开始来产生。虽然本发明已用较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，本发明所属技 术领域中的技术人员，在不脱离本发明之精神和范围内，当可作各种变动与润饰，因此本发 明之保护范围当以权利要求为准。
权利要求
一种显示装置，设有光敏传感器，用以检测周遭光线，并输出光电流，而所述光电流的大小依据所述周遭光线的强度，其特征在于，所述显示装置包含电流取样部，用以对所述光敏传感器所输出的所述光电流来进行取样，并输出取样信号来表示所述光电流的大�。灰约肮饧斐隹刂撇浚靡郧蟮迷谠ど枋奔淠谒龅缌魅⊙克涑龅乃腥⊙藕诺钠骄担黄渲校龅缌魅⊙炕赜τ谒鋈⊙藕诺闹斩耍枷乱蝗⊙诩�。
2.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，所述光检出控制部包含 边缘检出部，用以检测所述取样信号的边缘；以及重置信号产生部，用以当所述边缘检出部检测到所述取样信号的终端时，产生重置信 号，使所述电流取样部开始下一取样期间。
3.根据权利要求2所述的显示装置，其特征在于，所述光检出控制部更包含 计数器，用以计算所述边缘检出部检测所述取样信号的初始端或终端的次数；差分电路，用以求得由所述边缘检出部所检测到的所述取样信号的初始端与终端之间 的时间差分；存储部，用以存储所述差分电路所求得的时间差分；计时部，用以计算所述电流取样部开始对光电流进行取样后的预设时间的经过时间；以及平均化部，用以当经过所述预设时间时，求得在所述预设时间内所述存储部所存储的 所述时间差分的总和，并将所述总和除以所述计数器所计算的次数，以求得所述取样信号 的平均值。
4.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，所述电流取样部所输出的取样信号 的存在期间正比于所述光电流的大小。
5.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，所述电流取样部所输出的取样信号 的存在期间反比于所述光电流的大小。
6.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，所述电流取样部包含重置信号产生 部，用以产生重置信号，藉以检测所述取样信号的终端，并回应于所述取样信号的终端的检 出，而使得所述电流取样部开始下一取样期间。
7.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，更包含辉度控制部，用以根据所述 光检出控制部所求得的所述取样信号的平均值，对所述显示装置的显示辉度进行调整。
8.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，所述显示装置为穿透式液晶显示装 置、半穿透式液晶显示装置或有机发光二极管显示装置。
9.一种具有如权利要求1所述的显示装置的电子设备。
全文摘要
一种显示装置及包含此显示装置的电子设备。此显示装置设有光敏传感器，用以检测周遭光线，并输出光电流，而光电流的大小依据周遭光线的强度，其中显示装置包含电流取样部及光检出控制部。电流取样部用以对光敏传感器所输出的光电流来进行取样，并输出取样信号来表示光电流的大小。光检出控制部用以求得在预设时间内电流取样部所输出的所有取样信号的平均值。其中，电流取样部回应于取样信号的终端，而开始下一取样期间。
文档编号G01J1/42GK101846550SQ20101014654
公开日2010年9月29日 申请日期2010年3月17日 优先权日2009年3月27日
发明者松木史朗 申请人:统宝光电股份有限公司
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