专利名称：一种基于球面近场扫描外推的天线方向图测试方法
技术领域：
本发明属于微波测量领域，具体涉及一种基于球面近场扫描外推的天线方向图测试方法。
背景技术：
在天线测试中，总希望能得到天线远场时的方向图，用图示的方法来表示天线辐射能量在空间的分布。一般当测试频率较高和天线的物理尺寸较大时，普通室内测试场地就很难满足测试条件，则需要采用外场测试，但是外场测试除了其高昂的费用外，由于本身的距离远，环境的开放性使测试极易受到外界干扰，也不利于保密。而目前工程测试只是通过绘制天线的E面和H面来来分析天线性能，很难得到天线远场的三维方向图。若采用近场测试时，频率的高端为3GHz，波长λ = 10cm，天线长宽高都是lm，满足 近场条件的距离R可由下式计算，即
权利要求
1.一种基于球面近场扫描外推的天线方向图测试方法，其特征在于步骤如下: 步骤1:在微波暗室中对被测天线进行近场方向图测试，测试距离R = 2m，从而得到被测天线的近场数据U(民炉),其中Θ为测试俯仰角，P为测试的方位角； 步骤2:计算天线远场数据
全文摘要
本发明涉及一种基于球面近场扫描外推的天线方向图测试方法，通过近场测试，对得到的数据进行算法外推可获得远场方向图，这样不但缩减了测试距离，而且无需柱面波测试所要求的平面波条件。最终得到天线的三维方向图，可以更加清晰、直观的分析天线性能，具有很大的工程实用价值。本发明可以实现近距离有效的天线测试，节约测试成本和降低测试难度，同时也为了能得到被测天线的三维方向图，更加准确的分析天线性能。
文档编号G01R29/10GK103245841SQ201310153288
公开日2013年8月14日 申请日期2013年4月28日 优先权日2013年4月28日
发明者李南京, 王剑飞, 冯引良, 李瑛 , 刘宁, 杨博, 陈卫军, 刘琦, 郭淑霞 申请人:西北工业大学
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